CN206114708U - 一种测试支架及测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测试支架及测试装置，包括：第一侧框，及与所述第一侧框相对设置的第二侧框；旋转轴，可旋转地设置在所述第一侧框和所述第二侧框之间；支撑面，固定在所述旋转轴上，用于支撑设置在所述支撑面上的被测天线；其中，当所述旋转轴受到外界旋转力时，所述旋转轴将发生转动，进而带动所述支撑面发生转动，以使所述被测天线发生转动。通过本实用新型提供的技术方案，用于解决现有技术中存在俯仰方向图测试的精确度较低的技术问题。

Description

一种测试支架及测试装置

技术领域

本实用新型涉及测试领域，特别涉及一种测试支架及测试装置。

背景技术

目前，俯仰方向测试一般在具有二维转台及测试支架的微波暗室进行。测试支架设置在二维转台上，相控阵天线设置在测试支架上，通过二维转台的转动带动测试支架转动，进而带动相控阵天线转动，以完成俯仰方向测试。

而现有技术中，二维转台有两种，第一种是二维转台的俯仰关节在旋转关节下方，旋转关节的旋转轴随着俯仰关节的转动而倾斜，使得测试结果并不能够达到期望结果；第二种是二维转台的俯仰关节在旋转关节上方，旋转关节的转轴都保持固定，但是第二中二维转台在旋转过程中，被测天线位置并不固定，存在较大摆幅，导致测试精度受到影响。

可见，现有技术中存在俯仰方向图测试的精确度较低的技术问题。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种测试支架及测试装置，用于解决现有技术中存在俯仰方向图测试的精确度较低的技术问题，以达到提高俯仰方向图测试的精度的技术效果。

本申请实施例提供一种测试支架，包括：

第一侧框，及与所述第一侧框相对设置的第二侧框；

旋转轴，可旋转地设置在所述第一侧框和所述第二侧框之间；

支撑面，固定在所述旋转轴上，用于支撑设置在所述支撑面上的被测天线；

其中，当所述旋转轴受到外界旋转力时，所述旋转轴将发生转动，进而带动所述支撑面发生转动，以使所述被测天线发生转动。

可选的，所述测试支架还包括：

角度测量部件，设置在所述第一侧框或所述第二侧框上与所述旋转轴的端部对应的第一位置处，用于测量所述旋转轴的旋转角度。

可选的，所述角度测量部件包括：

调节板，所述调节板的边缘设置有角度刻度；

调节杆，设置在所述调节板上，所述调节杆能够在所述外界旋转力作用下发生转动以摆动至所述调节板上的不同刻度；

其中，所述调节杆与所述旋转轴连接，以使所述调节杆在所述外界旋转力作用下发生转动时，能够带动所述旋转轴发生转动，进而带动所述支撑面在与一水平面参考面垂直的垂直面上发生转动。

可选的，所述测试支架还包括：

紧锁部件，设置在所述调节杆和所述调节板之间，用于在所述调节杆摆动至所述调节板上的第一刻度时，将所述调节杆固定在所述第一刻度处。

可选的，所述紧锁部件包括：

固定件；

其中，所述固定件穿过所述调节杆和开设在所述调节板上的通孔后将所述调节杆固定。

可选的，所述调节板为扇形调节板，相应的，所述通孔为弧形通孔。

可选的，所述调节板上的角度刻度范围大于等于120度。

另一方面，本申请实施例还提供一种测试装置，包括：

测试支架，包括：第一侧框，及与所述第一侧框相对设置的第二侧框；旋转轴，可旋转地设置在所述第一侧框和所述第二侧框之间；支撑面，固定在所述旋转轴上，用于支撑设置在所述支撑面上的被测天线；其中，当所述旋转轴受到外界旋转力时，所述旋转轴将发生转动，进而带动所述支撑面发生转动，以使所述被测天线发生转动；

旋转台，用于支撑设置在所述旋转台上的测试支架；

其中，在所述旋转台在外力作用下发生转动时，能够带动所述测试支架在一水平面参考面上发生转动。

本申请实施例中的上述一个或多个技术方案，至少具有如下一种或多种技术效果：

一、由于本申请实施例中的技术方案，测试支架包括：第一侧框，及与所述第一侧框相对设置的第二侧框；旋转轴，可旋转地设置在所述第一侧框和所述第二侧框之间；支撑面，固定在所述旋转轴上，用于支撑设置在所述支撑面上的被测天线；其中，当所述旋转轴受到外界旋转力时，所述旋转轴将发生转动，进而带动所述支撑面发生转动，以使所述被测天线发生转动。即不会像现有技术中，测试支架仅仅用于支撑被测天线，在将测试支架设置在旋转台上进行测试过程中，一方面由于俯仰关节的设置位置或被测天线在转动过程中的摆动使得测试精度受到影响。而在本技术方案中，在测试支架上设置旋转轴及支撑面，以起到俯仰关节的作用，且被测天线设置在能够旋转的支撑面上，从而避免被测天线在转动过程中发生摆动，所以，能够有效解决现有技术中存在俯仰方向图测试的精确度较低的技术问题，进而达到提高俯仰方向图测试精确度的技术效果。

二、由于本申请实施例中的技术方案，测试支架还包括：角度测量部件，设置在所述第一侧框或所述第二侧框上与所述旋转轴的端部对应的第一位置处，用于测量所述旋转轴的旋转角度。即在本技术方案中，通过角度测量装置能够精确的设置测试支架的旋转轴的旋转角度，进一步达到提高俯仰方向图测试精确度的技术效果。

附图说明

图1为本申请实施例一提供的一种测试支架的结构示意图；

图2A-图2B为本申请实施例一提供的一种测试支架中侧横梁的两种实现示意图；

图3为本申请实施例一提供的一种测试支架还包括部件的结构示意图；

图4为本申请实施例二提供的一种测试装置的结构示意图。

具体实施方式

本申请实施例提供的技术方案，用于解决现有技术中存在俯仰方向图测试的精确度较低的技术问题，以达到提高俯仰方向图测试的精确度的技术效果。

本申请实施例中的技术方案，为解决上述技术问题，总体思路如下：

第一侧框，及与所述第一侧框相对设置的第二侧框；

旋转轴，可旋转地设置在所述第一侧框和所述第二侧框之间；

支撑面，固定在所述旋转轴上，用于支撑设置在所述支撑面上的被测天线；

其中，当所述旋转轴受到外界旋转力时，所述旋转轴将发生转动，进而带动所述支撑面发生转动，以使所述被测天线发生转动。

在上述技术方案中，测试支架包括：第一侧框，及与所述第一侧框相对设置的第二侧框；旋转轴，可旋转地设置在所述第一侧框和所述第二侧框之间；支撑面，固定在所述旋转轴上，用于支撑设置在所述支撑面上的被测天线；其中，当所述旋转轴受到外界旋转力时，所述旋转轴将发生转动，进而带动所述支撑面发生转动，以使所述被测天线发生转动。即不会像现有技术中，测试支架仅仅用于支撑被测天线，在将测试支架设置在旋转台上进行测试过程中，一方面由于俯仰关节的设置位置或被测天线在转动过程中的摆动使得测试精度受到影响。而在本技术方案中，在测试支架上设置旋转轴及支撑面，以起到俯仰关节的作用，且被测天线设置在能够旋转的支撑面上，从而避免被测天线在转动过程中发生摆动，所以，能够有效解决现有技术中存在俯仰方向图测试的精确度较低的技术问题，进而达到提高俯仰方向图测试精确度的技术效果。

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例一

请参考图1，为本申请实施例一提供的一种测试支架，包括：

第一侧框10，及与所述第一侧框相对设置的第二侧框11；

旋转轴12，可旋转地设置在所述第一侧框10和所述第二侧框11之间；

支撑面13，固定在所述旋转轴12上，用于支撑设置在所述支撑面13上的被测天线；

其中，当所述旋转轴12受到外界旋转力时，所述旋转轴12将发生转动，进而带动所述支撑面13发生转动，以使所述被测天线发生转动。

在本申请实施例中，测试支架包括第一侧框和第二侧框，第一侧框和第二侧框中每个侧框均包括两根立柱以及连接两个立柱的侧横梁。在具体实现过程中，请参考图2A-图2B，侧横梁具体可以为一根横梁用于连接两根立柱，也可以是由第一横梁和第二横梁组成，具有一定角度或具有一定弧度的用于支撑旋转轴的横梁，

进一步，本申请实施例中的测试支架还包括旋转轴。在具体实现过程中，旋转轴可以为一根旋转轴，也可以是由第一旋转轴和第二旋转轴组合而成。

无论旋转轴采用上述两种实现方式中的哪一种实现方式，旋转轴在第一框架和第二框架上均有两种设置方式，分别对应于与侧横梁的两种实现方式。其中，当侧横梁为一根横梁时，旋转轴则可旋转的穿设在侧横梁上；当侧横梁由第一侧横梁和第二侧横梁组成时，旋转轴则可直接搭设在侧横梁上，本领域普通技术人员还可以根据实际需要采用其它设置方式，在本申请实施例中不作具体限定。

进一步，在本申请实施例中，测试支架还包括支撑面，用于支撑设置在所述支撑面上的被测天线。在具体实现过程中，对应不同类型的旋转轴，支撑面的设置方式也不相同，下面则分别进行阐述。

第一种情况，旋转轴为一根，支撑面的设置方式有两种。

第一、支撑面固定穿设在旋转轴上，以使得旋转轴受到外界旋转力时，旋转轴发生转动，进而带动支撑面在与水平面垂直的垂直面发生转动。

第二、支撑面直接固定在旋转轴的外表面上，即旋转轴位于支撑面的下表面，这样当旋转轴受到外界旋转力，旋转轴发生转动时也能带动支撑面在与水平面垂直的垂直面发生转动。

第二种情况，旋转轴包括第一旋转轴和第二旋转轴，在此种情况下，支撑面的设置方式也有两种。

第一、支撑面的两端面固定设置在第一旋转轴和第二旋转轴之间，这样当旋转轴受到外界旋转力发生转动时，能够带动支撑面在与水平面垂直的垂直面发生转动。

第二、支撑面固定在旋转轴的外表面，即第一旋转轴和第二旋转轴位于支撑面的下表面，这样当旋转轴受到外力旋转力发生转动时，带动支撑面在与水平面垂直的垂直面发生转动。

进一步，在本申请实施例中，具体请参考图3，测试支架还包括：

角度测量部件14，设置在所述第一侧框或所述第二侧框上与所述旋转轴的端部对应的第一位置处，用于测量所述旋转轴的旋转角度。

在本申请实施例中，由于在测试支架上设置旋转轴及支撑面，进而起到俯仰关节的作用，且被测天线设置在能够旋转的支撑面上，从而避免被测天线在转动过程中发生摆动，所以，能够有效解决现有技术中存在俯仰方向图测试的精确度较低的技术问题，进而达到提高俯仰方向图测试精确度的技术效果。

在具体实现过程中，角度测量部件包括：

调节板140，所述调节板的边缘设置有角度刻度；

调节杆141，设置在所述调节板140上，所述调节杆141能够在所述外界旋转力作用下发生转动以摆动至所述调节板140上的不同刻度；

其中，所述调节杆141与所述旋转轴12连接，以使所述调节杆141在所述外界旋转力作用下发生转动时，能够带动所述旋转轴12发生转动，进而带动所述支撑面13在与一水平面参考面垂直的垂直面上发生转动。

在具体实现过程中，在调节板的边缘设置有角度刻度。在本申请实施例中，角度刻度的范围大于等于120度，优选的从-60度到+60度之间，本领域普通技术人员也可以根据实际需要设置角度刻度从-50度到+50度之间，或从-40到+40之间，也可以为其它刻度范围，在本申请实施例中不作具体限定。

在本申请实施例中，调节板具体可以为扇形调节板、正方形调节板、或长方形调节板，或为其它形状的调节板，本领域普通技术人员可以根据实际需要进行选择，在本申请实施例中不作具体限定。

在本申请实施例中，角度测量装置还包括调节杆，调节杆与旋转轴连接，以通过调节杆带动旋转轴旋转，同时能够通过调节杆所指向的角度刻度够准确知道旋转轴的旋转角度，进而进一步达到提高俯仰方向图测试精确度的技术效果。

在本申请实施例中，为保持调整后的支撑面保持在设定角度不同，继续参考图3，本申请实施例中的测试支架还包括：

紧锁部件15，设置在所述调节杆和所述调节板之间，用于在所述调节杆摆动至所述调节板上的第一刻度时，将所述调节杆固定在所述第一刻度处。

在本申请实施例中，紧锁部件15包括：

固定件；

其中，所述固定件穿过所述调节杆和开设在所述调节板上的通孔后将所述调节杆固定。

在具体实现过程中，固定件具体可以螺栓或螺钉，在需要将支撑面固定时，则可以将螺栓或螺钉穿过调节杆和开设在调节板上的通孔后由螺母固定即可；固定件具体还可以为卡扣，在需要将支撑面固定时，则可以将卡扣穿过调节杆和开设在调节板上的瞳孔后卡设在于卡扣对应的卡槽中，从而将调节杆固定，进而起到将旋转轴固定的作用，在旋转轴固定的情况下，当然支撑面也就被固定，本领域普通技术人员也可以根据实际需要设置其它形式的固定件，在本申请实施例中不作具体限定。

在本申请实施例中，当所述调节板为扇形调节板，时，在调节板上开设的通孔的弧形通孔。

实施例二

请参考图4，本申请实施例还提供一种测试装置包括：

如实施例一中描述的测试支架40；

旋转台41，用于支撑设置在所述旋转台上的测试支架40；

其中，在所述旋转台在外力作用下发生转动时，能够带动所述测试支架在一水平面参考面上发生转动。

在本申请实施例中，旋转台具体有三种实现方式，下面分别对这三种实现方式进行描述。

第一种实现方式。

旋转台包括俯仰关节和旋转关节，俯仰关节设置在旋转关节的下方。

当旋转台在第一种实现方式下，在将测试支架设置在旋转台上时，由于测试支架上已经设置有旋转轴及支撑面，已能够起到俯仰关节的作用，那么在实际使用过程中，则可以将旋转台上本身设置的俯仰关节调节至水平后锁死。

第二种实现方式。

旋转台同样包括俯仰关节和旋转关节，而俯仰关节设置在旋转关节的上方。

当旋转台在第二种实现方式下，在将测试支架设置在旋转台上时，由于测试支架上已经设置有旋转轴及支撑面，已能够起到俯仰关节的作用。那么，在具体实现过程，则可以将旋转台上本身设置的俯仰关节调节至水平后锁死。

在本技术方案中，在对现有技术中的测试支架进行改进之后，即在测试支架上设置旋转轴和支撑面，以起到俯仰关节的作用。在将测设支架设置在旋转台上进行俯仰方向图测试时，不仅能够提到俯仰方向图的测试精确度，同时也无需对现有技术中的旋转台进行改进，只需要将俯仰关节调节至水平后锁死即可，从而达到达到降低制造成本的技术效果。

第三种实现方式。

旋转台可以仅仅包含旋转关节，在将测试支架设置在旋转关节上之后，通过旋转关节的旋转即可带动测试支架的旋转。

在本申请实施例中，旋转台无论采用上述三种实现方式中的任意一种，在对被测天线的俯仰角方向测试时，如：需要测试水平角为θ，俯仰角为Φ的俯仰方向图时，可以通过调节杆调整旋转轴在垂直面上发生转动至Φ并锁死，然后通过波束控制器控制相控阵天线波束至俯仰角Φ、水平角θ，启动测试***让旋转台在水平参考面上旋转一周，即可测得被测天线的波束在俯仰角为Φ、水平角为θ的俯仰方向图。

在本申请实施例中，旋转台用于承载测试支架，因此，旋转台的旋转关节不会随测试支架上的旋转轴的转动而转动，同时，被测天线设置在旋转轴和支撑面上，因此可以避免被测天线在转动过程中产生的摆动，因此，能够提高俯仰俯仰方向测试的精确度。

本申请实施例中的上述一个或多个技术方案，至少具有如下一种或多种技术效果：

一、由于本申请实施例中的技术方案，测试支架包括：第一侧框，及与所述第一侧框相对设置的第二侧框；旋转轴，可旋转地设置在所述第一侧框和所述第二侧框之间；支撑面，固定在所述旋转轴上，用于支撑设置在所述支撑面上的被测天线；其中，当所述旋转轴受到外界旋转力时，所述旋转轴将发生转动，进而带动所述支撑面发生转动，以使所述被测天线发生转动。即不会像现有技术中，测试支架仅仅用于支撑被测天线，在将测试支架设置在旋转台上进行测试过程中，一方面由于俯仰关节的设置位置或被测天线在转动过程中的摆动使得测试精度受到影响。而在本技术方案中，在测试支架上设置旋转轴及支撑面，以起到俯仰关节的作用，且被测天线设置在能够旋转的支撑面上，从而避免被测天线在转动过程中发生摆动，所以，能够有效解决现有技术中存在俯仰方向图测试的精确度较低的技术问题，进而达到提高俯仰方向图测试精确度的技术效果。

二、由于本申请实施例中的技术方案，测试支架还包括：角度测量部件，设置在所述第一侧框或所述第二侧框上与所述旋转轴的端部对应的第一位置处，用于测量所述旋转轴的旋转角度。即在本技术方案中，通过角度测量装置能够精确的设置测试支架的旋转轴的旋转角度，进一步达到提高俯仰方向图测试精确度的技术效果。

以上所述，以上实施例仅用以对本申请的技术方案进行了详细介绍，但以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想，不应理解为对本实用新型的限制。本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种测试支架，包括：

第一侧框，及与所述第一侧框相对设置的第二侧框；

旋转轴，可旋转地设置在所述第一侧框和所述第二侧框之间；

支撑面，固定在所述旋转轴上，用于支撑设置在所述支撑面上的被测天线；

其中，当所述旋转轴受到外界旋转力时，所述旋转轴将发生转动，进而带动所述支撑面发生转动，以使所述被测天线发生转动。

2.如权利要求1所述的测试支架，其特征在于，所述测试支架还包括：

角度测量部件，设置在所述第一侧框或所述第二侧框上与所述旋转轴的端部对应的第一位置处，用于测量所述旋转轴的旋转角度。

3.如权利要求2所述的测试支架，其特征在于，所述角度测量部件包括：

调节板，所述调节板的边缘设置有角度刻度；

调节杆，设置在所述调节板上，所述调节杆能够在所述外界旋转力作用下发生转动以摆动至所述调节板上的不同刻度；

其中，所述调节杆与所述旋转轴连接，以使所述调节杆在所述外界旋转力作用下发生转动时，能够带动所述旋转轴发生转动，进而带动所述支撑面在与一水平面参考面垂直的垂直面上发生转动。

4.如权利要求3所述的测试支架，其特征在于，所述测试支架还包括：

紧锁部件，设置在所述调节杆和所述调节板之间，用于在所述调节杆摆动至所述调节板上的第一刻度时，将所述调节杆固定在所述第一刻度处。

5.如权利要求4所述的测试支架，其特征在于，所述紧锁部件包括：

固定件；

其中，所述固定件穿过所述调节杆和开设在所述调节板上的通孔后将所述调节杆固定。

6.如权利要求5所述的测试支架，其特征在于，所述调节板为扇形调节板，相应的，所述通孔为弧形通孔。

7.如权利要求6所述的测试支架，其特征在于，所述调节板上的角度刻度范围大于等于120度。

8.一种测试装置，包括：

如权利要求1-7所述的测试支架；

旋转台，用于支撑设置在所述旋转台上的测试支架；

其中，在所述旋转台在外力作用下发生转动时，能够带动所述测试支架在一水平面参考面上发生转动。