CN205992038U - 一种显示面板的测试***、以及显示器件 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例公开了一种显示面板的测试***、以及显示器件，该测试***包括：显示面板和测试治具；显示面板包括：相对设置的第一基板和第二基板，位于第一基板上的多个显示测试点，位于第二基板上的多个触控测试点；测试治具包括：显示测试板，分别与显示测试板和多个显示测试点电连接的显示连接部件，触控测试板，分别与触控测试板和多个触控测试点电连接的触控连接部件，触控连接部件上设置有屏蔽层，显示测试板通过显示连接部件对显示面板进行显示测试，同时地，触控测试板通过触控连接部件对显示面板进行触控测试。本实用新型的测试***能够实现对显示面板同时进行显示测试和触控测试，人力成本低且产品良率高。

Description

一种显示面板的测试***、以及显示器件

技术领域

本实用新型实施例涉及面板测试技术，尤其涉及一种显示面板的测试***、以及显示器件。

背景技术

现有的液晶显示器多集成有触摸面板功能，即触摸面板与液晶面板一体化设计，由此可实现LCD液晶显示器的轻量化和薄型化。为了保证LCD液晶显示器合格的显示性能和触摸性能，LCD液晶显示器在出厂前需要经过多次显示测试和触摸测试，具体是在显示面板生产完成后进行性能测试以剔除不合格品。

若对显示面板同时进行显示测试和触摸测试，则接入显示面板的显示信号和触摸信号之间会互相干扰，从而影响测试结果的准确性，因此现有的显示面板分开测试显示性能和触摸性能。

如图1A所示的显示测试***中，采用显示测试治具对显示面板进行显示性能的检测。具体的电源10给显示测试板11供给显示测试电压，显示测试板11通过显示测试探针12与阵列基板21上的显示测试点22电连接，显示测试板11内存储有显示测试程序，则显示测试板11输出显示测试信号以驱动点亮显示面板，在背光装置30的配合下，人眼观察显示面板的画面是否出现坏点、横纹等显示缺陷。

如图1B所示的触摸测试***中，采用触摸测试治具对显示面板进行触摸性能的检测。具体的触控测试板41通过触摸柔性电路板42与彩膜基板23上的触摸测试点24电连接，则TP测试电脑50内存储有触控测试软件，触控测试时，TP测试电脑50内的触控测试软件运行并通过触摸测试板41向彩膜基板23输出触摸检测信号，并接收彩膜基板23反馈的触摸感测信号，则TP测试电脑50根据触摸检测信号和触摸感测信号的对比分析显示面板的触摸性能。

显而易见的，现有的显示面板在同一个制程阶段需要经过两个测试工站进行测试即分时通过显示测试***和触摸测试***进行测试，以及接入两次信号即分时接入显示测试信号和触摸检测信号。基于现有的测试技术，可知产品测试过程中显示测试和触摸测试的分时进行使得人时成本高、测试过程繁琐复杂，并且产品需要经过4次检测岗位，每次检测都是采用手动作业，人员的不确定因素，导致产品在作业过程中被损坏的风险加大，造成产品制造过程中损耗率高且测试效率低。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种显示面板的测试***、以及显示器件，以解决现有显示面板测试过程人力成本高、产品损耗高且测试效率低的问题。

第一方面，本实用新型实施例提供了一种显示面板的测试***，该测试***包括：显示面板和测试所述显示面板的测试治具；

所述显示面板包括：相对设置的第一基板和第二基板；位于所述第一基板相对所述第二基板的一侧上的多个显示测试点；位于所述第二基板背离所述第一基板的一侧上的多个触控测试点；

所述测试治具包括：显示测试板；与所述显示测试板电连接的显示连接部件，所述显示连接部件还与所述多个显示测试点假压电连接；触控测试板；与所述触控测试板电连接的触控连接部件，所述触控连接部件与所述多个触控测试点假压电连接；

所述触控连接部件上设置有屏蔽层，用于对所述显示连接部件传输的显示测试信号进行屏蔽；所述显示测试板通过所述显示连接部件对所述显示面板进行显示测试，同时地，所述触控测试板通过所述触控连接部件对所述显示面板进行触控测试。

第二方面，本实用新型实施例还提供了一种显示器件，该显示器件包括如上所述的显示面板，采用如上所述的测试***对所述显示面板同时进行显示测试和触控测试；

所述显示面板包括：相对设置的第一基板和第二基板，位于所述第一基板相对所述第二基板的一侧上的多个显示测试点，位于所述第二基板背离所述第一基板的一侧上的多个触控测试点。

本实用新型实施例提供的测试***、以及显示器件，显示测试板通过显示连接部件对显示面板进行显示测试，同时地，触控测试板通过触控连接部件对显示面板进行触控测试；在此测试治具对显示面板同时进行显示测试和触控测试，不仅简化了测试流程且提高了测试效率，还相应减少了测试人力成本并有效降低了手动作业过程损坏产品的风险，达到提高产品制造过程中良品率的效果；此外触控连接部件上设置有屏蔽层，能够屏蔽同步接入显示面板的显示测试信号对触控测试信号的干扰，解决了现有技术中同步接入双信号互相干扰的问题，相应提高了测试结果准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1A为现有技术提供的显示面板的显示测试***的示意图；

图1B为现有技术提供的显示面板的触摸测试***的示意图；

图2是本实用新型一个实施例提供的一种测试***的示意图；

图3是本实用新型又一个实施例提供的一种测试***的示意图；

图4A是本实用新型另一个实施例提供的一种测试***的示意图；

图4B是图4A沿A-A'的剖视图；

图5A是本实用新型再一个实施例提供的一种测试***的示意图；

图5B是图5A沿B-B'的剖视图；

图6A是本实用新型还一个实施例提供的一种测试***的示意图；

图6B是图6A中触控连接部件的示意图；

图7是本实用新型再一个实施例提供的一种测试***的示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，以下将参照本实用新型实施例中的附图，通过实施方式清楚、完整地描述本实用新型的技术方案，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图2所示，为本实用新型实施例一提供的显示面板的测试***的示意图。本实施例提供的显示面板的测试***，具体包括：显示面板和测试显示面板的测试治具；显示面板包括：相对设置的第一基板101和第二基板102；位于第一基板101相对第二基板102的一侧上的多个显示测试点103；位于第二基板102背离第一基板101的一侧上的多个触控测试点104；测试治具包括：显示测试板211；与显示测试板211电连接的显示连接部件212，显示连接部件212还与多个显示测试点103假压电连接；触控测试板221；与触控测试板221电连接的触控连接部件222，触控连接部件222与多个触控测试点104假压电连接；触控连接部件222上设置有屏蔽层223，用于对显示连接部件212传输的显示测试信号进行屏蔽；显示测试板211通过显示连接部件212对显示面板进行显示测试，同时地，触控测试板221通过触控连接部件222对显示面板进行触控测试。

在本实施例中显示面板还包括设置在第一基板101的背离第二基板102的一侧的背光装置120。在此第一基板101可选为阵列基板，第二基板102可选为彩膜基板，本领域技术人员可以理解，第一基板和第二基板的设置不限于此，任何集成有触控显示功能的显示面板的结构均落入本实用新型的保护范围。在此显示面板的显示测试点103和触控测试点104可选为金属材质的导电点，用于接入显示测试信号和触控测试信号，本领域技术人员可以理解，测试点的材质包括多种，在本实用新型中不进行具体限制。

在本实施例中显示测试板211通过显示连接部件212对显示面板进行显示测试，同时地，触控测试板221通过触控连接部件212对显示面板进行触控测试。其中，显示测试板211通过显示连接部件212向第一基板101传输显示测试信号进行显示面板的显示测试，同时地，触控测试板221通过触控连接部件222向第二基板102传输触控测试信号进行显示面板的触控测试。在本实施例中测试治具能够对显示面板同时进行显示测试和触控测试，由此简化了测试流程且提高了测试效率。

具体的，测试治具向显示面板传输显示测试信号进行显示测试时，显示面板中的液晶分子在显示测试信号的驱动下发生翻转，在背光装置120的背光源的配合下，测试人员人眼观察显示面板的画面是否出现坏点、横纹和明暗等显示缺陷，由此实现对显示面板的显示测试；同时地，测试治具向显示面板传输触控测试信号，测试治具根据显示面板反馈的触控反馈信号进行信号变化检测，由此实现对显示面板的触控性能。测试治具结合一个人员即可同时进行显示测试和触控测试，减少了测试人力成本，相应的人力成本在测试流程中的减少降低了手动作业过程损坏产品的风险，由此提高了产品制造过程中的良品率。

需要说明的是，显示连接部件212与多个显示测试点103假压电连接，以及触控连接部件222与多个触控测试点104假压电连接。在此假压是指预压，即连接部件与测试点对位后预连接，没有固化导电。假压的目的在于便于绑定和拆卸，由此一套测试治具可检测多个显示面板，提高检测效率，假压的优势在于所采用的温度低、压力低、连接部件与测试点的对位时间短。本领域技术人员可以理解显示连接部件与多个显示测试点的假压过程，以及理解触控连接部件与多个触控测试点的假压过程，在此不再赘述。

在本实施例中，第一基板101、第二基板102、显示测试点103和触控测试点104的结构设置，使得测试治具通过双层测试方式同时对显示面板接通显示测试信号和触控测试信号。可选的，显示测试板211与蓄电池310电连接，蓄电池310向显示测试板211提供显示测试电压，以使显示测试板211通过显示连接部件212向多个显示测试点103传输显示测试信号；同时，触控测试板221与触控测试电脑320连接，触控测试电脑320向触控测试板221提供触控测试信号，以使显示面板通过多个触控测试点104接收触控测试信号，以及触控测试电脑320通过触控测试板221获取显示面板的触控反馈信号。

本领域技术人员可以理解，在其他实施例中还可选电源与显示测试板电连接并为显示测试板提供显示测试电压，或者，在其他实施例中还可选触控测试电脑同时还与显示测试板电连接并为显示测试板提供显示测试电压，在本实用新型中不限制向显示测试板提供电压的设备。

现有技术中大张玻璃切割成单体显示面板后，需要依次进行显示性能测试和触控性能测试；在显示面板上贴附偏光片后还要再次分时进行显示性能测试和触控性能测试，因此测试流程为4次且需要4个人员负责测试，测试人力仅为150人*时/5500片。而本实施例中显示面板测试时，触控测试电脑320自动触发其中的触控测试软件运行，触控测试软件运行并向显示面板传输触控测试信号进行触控测试，在触控测试软件运行的同时，显示测试板211内存储的显示测试软件向显示面板接入显示测试信号，则人员同步进行显示测试。因此显示性能测试和触控性能测试同时进行，相应的本实施例中仅有2次测试流程且测试岗位仅需2个人员，测试人力也可达到80人*时/5500片，与现有技术相比提高了测试效率、降低了人力成本。

在上述技术方案的基础上，可选显示测试信号的幅值绝对值小于或等于20V，即显示测试信号的电压在±20V之间变化；触控测试信号的幅值绝对值小于或等于0.5V，即触控测试信号的电压在±0.5V之间变化。在本实施例中可选显示测试信号和触控测试信号均为方波信号。本领域技术人员可以理解，不同显示面板所需的显示测试信号和触控测试信号的幅值大小可能不同，测试人员可根据显示面板的性能合理设置显示测试信号和触控测试信号的幅值大小。

在本实施例中还可选蓄电池310输出小于或等于+5V的直流信号。在此采用蓄电池310输出+5V的显示测试电压进行测试供电的原因在于，蓄电池310能够产生纯净的直流电压并输出，该直流电压没有其他杂波和干扰，能够减小显示测试信号对触控测试信号的干扰。

需要说明的是，当显示连接部件212和触控连接部件222叠加并向显示面板输入信号时，显示测试信号和触控测试信号会互相干扰，尤其是显示测试信号对触控测试信号的干扰。虽然蓄电池输出的直流电压能够减小显示测试信号对触控测试信号的干扰，但是防干扰效果有限。

为了有效解决同时测试引起的显示测试信号和触控测试信号的互相干扰问题，在本实施例中触控连接部件222上设置有屏蔽层223。该屏蔽层223能够屏蔽其他信号对触控测试信号的干扰，相应的同时测试时屏蔽层223的设置有效降低了显示连接部件212传输的显示测试信号对触控连接部件222传输的触控测试信号的干扰，解决了现有技术中同时接入显示信号和触控信号互相干扰的问题，达到了提高测试结果准确性的效果。在此可选触控连接部件222与显示连接部件212交叠的区域设置有屏蔽层223。

本实用新型实施例提供的测试***，显示测试板通过显示连接部件对显示面板进行显示测试，同时地，触控测试板通过触控连接部件对显示面板进行触控测试；在此测试治具对显示面板同时进行显示测试和触控测试，不仅简化了测试流程且提高了测试效率，还相应减少了测试人力成本并有效降低了手动作业过程损坏产品的风险，达到提高产品制造过程中良品率的效果；此外触控连接部件上设置有屏蔽层，能够屏蔽同步接入显示面板的显示测试信号对触控测试信号的干扰，解决了现有技术中同步接入双信号互相干扰的问题，相应提高了测试结果准确性。

示例性的，在上述技术方案的基础上，如图2所示可选触控连接部件222为触控柔性电路板，显示连接部件212为显示柔性电路板。在此触控柔性电路板与触控测试点104假压电连接并将触控测试信号接入第二基板102中，显示柔性电路板与显示测试点103假压电连接并将显示测试信号接入第一基板101中。柔性电路板能够量产且其与测试点假压电连接的过程简单易操作，能够提高测试效率。

在此可选触控连接部件222的屏蔽层223包括：设置在触控柔性电路板的相对第一基板101的一面上的电磁屏蔽膜，该电磁屏蔽膜为金属膜，并且该电磁屏蔽膜与触控柔性电路板的地端电连接。基于电磁屏蔽膜的设置，同时测试时，显示测试信号对触控测试信号所产生的信号干扰被电磁屏蔽膜导入触控柔性电路板的地端，进而信号干扰被屏蔽在触控柔性电路板之外，从而提高了测试结果的准确性。

在此还可选显示柔性电路板的面向第二基板102的一面上贴合有隔离层330，即显示柔性电路板和触控柔性电路板之间设置有隔离层330。以及可选在垂直于第一基板101的方向上，隔离层330和显示柔性电路板的高度之和小于或等于第二基板102的高度。在本实施例中可选隔离层330为PI(聚亚酰胺)补强板，PI补强板的设置提高了插接部位的强度，解决了柔性电路板的柔韧度性，并且也便于产品的整体组装，方便显示柔性电路板与显示测试点103假压电连接，以及触控柔性电路板与触控测试点104假压电连接。需要说明的是，若隔离层和显示柔性电路板的高度之和大于第二基板的高度，则会增加触控柔性电路板与触控测试点假压电连接的工艺难度。

在本实施例中以手机显示面板为例，手机显示面板中的第二基板的高度通常为0.15～0.7mm，在此以第二基板的高度为0.2mm为例，则可选显示测试探针和隔离层的高度之和为0.2mm，显而易见的，隔离层提高了插接部位显示柔性电路板和触控柔性电路板的强度。在其他实施例中还可选封装在第二基板和第一基板之间的液晶层以及第二基板的高度之和大于或等于所述隔离层和所述显示柔性电路板的高度之和，优选液晶层和第二基板的高度之和等于隔离层和显示柔性电路板的高度之和。

在其他实施例中还可选显示连接部件的面向第二基板的一面上也设置有屏蔽层，且该屏蔽层包括：设置在显示柔性电路板的相对第二基板的一面上的电磁屏蔽膜，该电磁屏蔽膜为金属膜，并且该电磁屏蔽膜与显示柔性电路板的地端电连接。该屏蔽层可用于屏蔽触控测试信号对显示测试信号的干扰，具体过程在此不再赘述。

本实施例的制造工艺过程可选为，首先将显示连接部件212与显示测试点103假压电连接，然后，设置隔离层330，最后，将触控连接部件222与触控测试点104假压电连接。

本实用新型实施例二还提供一种测试***，该测试***与上述实施例所述测试***相比，如图3所示测试***的显示连接部件可选包括：与多个显示测试点103一一对应设置的多个显示测试探针2121、以及电连接显示测试探针2121和显示测试板211的显示测试线2122。触控连接部件222为触控柔性电路板，触控柔性电路板的相对第一基板101的一面上设置有屏蔽膜223，在此不再赘述。在本实施例中显示连接部件和触控连接部件222之间无需设置隔离层。在本实施例中显示测试探针2121与显示测试点103一一对应设置且假压电连接，在此探针与测试点的假压工艺与现有技术类似，在此不再赘述和限制。本实施例测试***与上述实施例的测试***的相同结构在此不再赘述，且沿用上述实施例的相同结构的附图标记。

为了避免显示测试探针2121与触控柔性电路板接触，以及降低触控柔性电路板与触控测试点104假压电连接的工艺难度，在此可选在垂直于第一基板101的方向上，显示测试探针2121的高度小于第二基板102的高度。则在工艺上显示测试探针2121与显示测试点103假压电连接后，便于将触控柔性电路板与触控测试点104假压电连接。在本实施例中以手机显示面板为例，手机显示面板中的第二基板的高度通常为0.15～0.7mm，在此以第二基板的高度为0.2mm为例，则可选显示测试探针的高度为0.15mm。基于显示测试探针的高度小于第二基板的高度，以及第一基板和第二基板之间还具有非常薄的液晶层，显而易见的，显示测试探针不会与触控柔性电路板接触。在其他实施例中还可选封装在第二基板和第一基板之间的液晶层以及第二基板的高度之和大于显示测试探针的高度。

需要说明的是，在其他实施例中还可选显示连接部件上设置有屏蔽层，其中该屏蔽层包括：分别包裹每根显示测试探针和显示测试线的绝缘膜，以及包裹绝缘膜的电磁屏蔽膜，可选该电磁屏蔽膜为金属膜，且该电磁屏蔽膜接地。在此显示连接部件上电磁屏蔽膜的设置可屏蔽外部信号的干扰，尤其是触控测试信号的干扰，避免显示测试信号中出现干扰和杂波。当显示连接部件和触控连接部件上均设置有屏蔽层时，能够有效屏蔽了显示测试信号对触控测试信号的干扰，以及触控测试信号对显示测试信号的干扰，有效提高了显示测试信号和触控测试信号的稳定性，避免出现干扰和杂波。

本实施例的制造工艺过程可选为，首先将显示测试探针2121与显示测试点103假压电连接，然后，将触控连接部件222与触控测试点104假压电连接。

本实用新型实施例三还提供一种测试***，该测试***与上述任意实施例所述测试***相比，如图4A所示测试***的触控连接部件可选包括：与多个触控测试点104一一对应设置的多个触控测试探针2221、以及电连接触控测试探针2221和触控测试板221的触控测试线2222。显示连接部件212为显示柔性电路板。在本实施例中显示连接部件212和触控连接部件之间无需设置隔离层。在本实施例中触控测试探针2221与触控测试点104一一对应设置且假压电连接，在此探针与测试点的假压工艺与现有技术类似，在此不再赘述和限制。本实施例测试***与上述任意实施例的测试***的相同结构在此不再赘述，且沿用上述任意实施例的相同结构的附图标记。

在本实施例中还可选触控连接部件上设置有屏蔽层，图4A沿A-A'的剖视图如图4B所示，其中触控连接部件的屏蔽层包括：分别包裹每根触控测试探针2221和触控测试线2222的绝缘膜224，以及包裹绝缘膜224的电磁屏蔽膜225，可选该电磁屏蔽膜225为金属膜，且该电磁屏蔽膜225接地，在此以触控测试线222外的屏蔽层为例进行图示。在此该电磁屏蔽膜225将显示测试信号对触控测试信号的干扰导入到地，由此可屏蔽显示测试信号对触控测试信号的干扰，避免触控测试信号中出现干扰和杂波。

需要说明的是，在其他实施例中还可选显示连接部件上设置有屏蔽层，该屏蔽层包括：设置在显示柔性电路板的相对第二基板的一面上的电磁屏蔽膜，可选该电磁屏蔽膜为金属膜且该电磁屏蔽膜与显示柔性电路板的地端电连接。同时测试时，触控测试信号对显示测试信号所产生的信号干扰被屏蔽层导入显示柔性电路板的地端，进而信号干扰被屏蔽在显示柔性电路板之外，从而提高了测试结果的准确性。

本实施例的制造工艺过程可选为，首先将显示连接部件212与显示测试点103假压电连接，然后，将触控测试探针2221与触控测试点104假压电连接。

本实用新型实施例四还提供一种测试***，该测试***与上述任意实施例所述测试***相比，如图5A所示测试***的显示连接部件可选包括：与多个显示测试点103一一对应设置的多个显示测试探针2121、以及电连接显示测试探针2121和显示测试板211的显示测试线2122。可选触控连接部件包括：与多个触控测试点104一一对应设置的多个触控测试探针2221、以及电连接触控测试探针2221和触控测试板221的触控测试线2222。本实施例测试***与上述任意实施例的测试***的相同结构在此不再赘述，且沿用上述任意实施例的相同结构的附图标记。

在本实施例中显示连接部件和触控连接部件之间无需设置隔离层。在本实施例中测试探针与测试点的假压工艺与现有技术类似，在此不再赘述和限制。

为了避免显示测试探针2121与触控测试线2222接触，以及降低触控测试探针2221与触控测试点104假压电连接的工艺难度，在此可选在垂直于第一基板101的方向上，显示测试探针2121的高度小于第二基板102的高度。则在工艺上显示测试探针2121与显示测试点103假压电连接后，便于将触控测试探针2221与触控测试点104假压电连接。

在本实施例中还可选触控连接部件上设置有屏蔽层，其中触控连接部件的屏蔽层包括：分别包裹每根触控测试探针2221和触控测试线2222的绝缘膜(未示出)，以及包裹绝缘膜的电磁屏蔽膜(未示出)，可选该电磁屏蔽膜为金属膜，且该电磁屏蔽膜接地。在此该电磁屏蔽膜将显示测试信号对触控测试信号的干扰导入到地，由此可屏蔽显示测试信号对触控测试信号的干扰，避免触控测试信号中出现干扰和杂波。

需要说明的是，在本实施例或其他实施例中还可选显示连接部件上设置有屏蔽层，图5A沿B-B'的剖视图如图5B所示，其中该屏蔽层包括：分别包裹每根显示测试探针2121和显示测试线2122的绝缘膜213，以及包裹绝缘膜213的电磁屏蔽膜214，可选该电磁屏蔽膜214为金属膜，且该电磁屏蔽膜214接地，在此以显示测试线2122外的屏蔽层为例进行图示。在此显示连接部件上电磁屏蔽膜214的设置可屏蔽外部信号的干扰，尤其是触控测试信号的干扰，避免显示测试信号中出现干扰和杂波。

当显示连接部件和触控连接部件上均设置有屏蔽层时，能够有效屏蔽了显示测试信号对触控测试信号的干扰，以及触控测试信号对显示测试信号的干扰，有效提高了显示测试信号和触控测试信号的稳定性，避免出现干扰和杂波。

本实施例的制造工艺过程可选为，首先将显示测试探针2121与显示测试点103假压电连接，然后，将触控连接部件222与触控测试点104假压电连接。

本实用新型实施例五还提供一种测试***，该测试***与上述任意实施例所述测试***相比，如图6A所示测试***的显示连接部件可选包括：与多个显示测试点103一一对应设置的多个显示测试探针2121、以及电连接显示测试探针2121和显示测试板211的显示测试线2122。触控连接部件222为触控柔性电路板。图6B为图6A中触控连接部件的示意图。

在本实施例中触控柔性电路板的对应多个显示测试点103的位置一一对应设置有多个通孔226，显示测试探针2121通过对应的通孔226与对应的显示测试点103电连接，在平行于所述第一基板的方向上，所述显示测试探针的尺寸小于所述通孔的尺寸。在此显示测试点103与通孔226一一对应设置，具体的，在设计测试治具时，首先确定待测试的显示面板中显示测试点和显示测试探针的结构如间距、尺寸和数量等，然后根据显示面板的结构在触控柔性电路板的对应显示测试点的位置处制造通孔，最后再设计触控柔性电路板的线路，以使触控柔性电路板的功能不受通孔影响。

在本实施例中显示测试探针2121穿过对应的通孔226后能够与显示测试点103电连接，则显示测试探针2121的高度不受限制，在实际应用中根据工艺条件和生产所需可自行设置探针高度。此外，在平行于第一基板101的方向上，通孔226的尺寸必须大于显示测试探针2121的尺寸，以便于显示测试探针2121 能够穿过通孔226并不与通孔226直接接触，避免显示测试信号和触控柔性电路板的线路之间产生干扰。

已知触控测试和显示测试同时进行，为了避免显示测试信号对触控测试信号的干扰，在本实施例中可选，触控连接部件222的屏蔽层223包括：设置在触控柔性电路板的背离第一基板101的一面上的电磁屏蔽膜，并且电磁屏蔽膜延伸并覆盖多个通孔226的孔壁；电磁屏蔽膜为金属膜；电磁屏蔽膜与触控柔性电路板的地端电连接。

本实施例测试***与上述实施例的测试***的相同结构在此不再赘述，且沿用上述实施例的相同结构的附图标记。需要说明的是，在其他实施例中还可选显示连接部件上设置有屏蔽层，其中该屏蔽层包括：分别包裹每根显示测试探针和显示测试线的绝缘膜，以及包裹绝缘膜的电磁屏蔽膜，可选该电磁屏蔽膜为金属膜，且该电磁屏蔽膜接地。

本实施例的制造工艺过程可选为，首先将触控连接部件222与触控测试点104假压电连接，然后，将显示测试探针2121通过触控连接部件222的通孔226与显示测试点103假压电连接。

本实用新型实施例六还提供一种测试***，该测试***与上述任意实施例所述测试***相比，如图7所示测试***的显示连接部件可选包括：与多个显示测试点103一一对应设置的多个显示测试探针2121、以及电连接显示测试探针2121和显示测试板211的显示测试线2122。触控连接部件222为触控柔性电路板。

在本实施例中触控柔性电路板从对应第二基板102的边缘的位置处沿着第一基板101指向第二基板102的方向弯折并与触控测试板221电连接。由此触控柔性电路板与第一基板101之间的距离较大，相应的无需严格限制显示测试探针2121的高度。在本实施例中可选在触控柔性电路板和/或显示连接部件上设置屏蔽膜以提高屏蔽干扰效果。此外触控柔性电路板与第一基板之间的距离较大，也使得触控测试信号和显示测试信号之间的干扰比较小，则在其他实施例中也可选无需在触控柔性电路板和/或显示连接部件上设置屏蔽膜。

具体的，触控柔性电路板的弯折高度受显示测试探针2121高度的影响，且必须大于显示测试探针2121的高度，避免触控柔性电路板与显示测试探针2121接触。在本发明中不对触控柔性电路板的弯折位置进行具体限制，如在其他实施例中还可选在显示测试探针的上方弯折触控柔性电路板以使其与第一基板、显示测试探针和显示测试线的距离远。

本实施例测试***与上述任意实施例的测试***的相同结构在此不再赘述，且沿用上述任意实施例的相同结构的附图标记。

本实施例的制造工艺过程可选为，首先将显示测试探针2121通过触控连接部件222的通孔226与显示测试点103假压电连接，然后将触控连接部件222与触控测试点104假压电连接并对触控连接部件222进行弯折以避免触控连接部件222与显示测试探针2121的接触和靠近。

本实用新型实施例还提供一种显示器件，该显示器件包括如上任意实施例所述的显示面板，采用如上任意实施例所述的测试***对所述显示面板同时进行显示测试和触控测试。在此该显示器件可以为应用在手机或电脑等集成有触控和显示功能的电子设备中。

注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (29)

1.一种显示面板的测试***，其特征在于，包括：显示面板和测试所述显示面板的测试治具；

所述显示面板包括：相对设置的第一基板和第二基板；位于所述第一基板相对所述第二基板的一侧上的多个显示测试点；位于所述第二基板背离所述第一基板的一侧上的多个触控测试点；

所述测试治具包括：显示测试板；与所述显示测试板电连接的显示连接部件，所述显示连接部件还与所述多个显示测试点假压电连接；触控测试板；与所述触控测试板电连接的触控连接部件，所述触控连接部件与所述多个触控测试点假压电连接；

所述触控连接部件上设置有屏蔽层，用于对所述显示连接部件传输的显示测试信号进行屏蔽；所述显示测试板通过所述显示连接部件对所述显示面板进行显示测试，同时地，所述触控测试板通过所述触控连接部件对所述显示面板进行触控测试。

2.根据权利要求1所述的测试***，其特征在于，所述显示连接部件包括：与所述多个显示测试点一一对应设置的多个显示测试探针、以及电连接所述显示测试探针和所述显示测试板的显示测试线。

3.根据权利要求1所述的测试***，其特征在于，所述触控连接部件为触控柔性电路板。

4.根据权利要求1所述的测试***，其特征在于，所述触控连接部件包括：与所述多个触控测试点一一对应设置的多个触控测试探针、以及电连接所述触控测试探针和所述触控测试板的触控测试线。

5.根据权利要求1所述的测试***，其特征在于，所述显示连接部件为显示柔性电路板。

6.根据权利要求1所述的测试***，其特征在于，所述显示连接部件为显示柔性电路板；所述触控连接部件为触控柔性电路板。

7.根据权利要求1所述的测试***，其特征在于，所述显示连接部件包括：与所述多个显示测试点一一对应设置的多个显示测试探针、以及电连接所述显示测试探针和所述显示测试板的显示测试线；所述触控连接部件为触控柔性电路板。

8.根据权利要求7所述的测试***，其特征在于，所述触控柔性电路板的对应所述多个显示测试点的位置一一对应设置有多个通孔，所述显示测试探针通过对应的所述通孔与对应的所述显示测试点电连接，在平行于所述第一基板的方向上，所述显示测试探针的尺寸小于所述通孔的尺寸。

9.根据权利要求8所述的测试***，其特征在于，所述触控连接部件的屏蔽层包括：设置在所述触控柔性电路板的背离所述第一基板的一面上的电磁屏蔽膜，并且所述电磁屏蔽膜延伸并覆盖所述多个通孔的孔壁；所述电磁屏蔽膜为金属膜；所述电磁屏蔽膜与所述触控柔性电路板的地端电连接。

10.根据权利要求7所述的测试***，其特征在于，所述触控柔性电路板从对应所述第二基板的边缘的位置处沿着所述第一基板指向所述第二基板的方向弯折并与所述触控测试板电连接。

11.根据权利要求2所述的测试***，其特征在于，在垂直于所述第一基板的方向上，所述显示测试探针的高度小于所述第二基板的高度。

12.根据权利要求4所述的测试***，其特征在于，所述触控连接部件的屏蔽层包括：分别包裹每根所述触控测试探针和所述触控测试线的绝缘膜，以及包裹所述绝缘膜的电磁屏蔽膜。

13.根据权利要求12所述的测试***，其特征在于，所述电磁屏蔽膜为金属膜。

14.根据权利要求12所述的测试***，其特征在于，所述电磁屏蔽膜接地。

15.根据权利要求3或6所述的测试***，其特征在于，所述触控连接部件的屏蔽层包括：设置在所述触控柔性电路板的相对所述第一基板的一面上的电磁屏蔽膜。

16.根据权利要求15所述的测试***，其特征在于，所述电磁屏蔽膜为金属膜。

17.根据权利要求15所述的测试***，其特征在于，所述电磁屏蔽膜与所述触控柔性电路板的地端电连接。

18.根据权利要求2或7所述的测试***，其特征在于，所述显示连接部件上设置有屏蔽层，该屏蔽层包括：分别包裹每根所述显示测试探针和所述显示测试线的绝缘膜，以及包裹所述绝缘膜的电磁屏蔽膜。

19.根据权利要求18所述的测试***，其特征在于，所述电磁屏蔽膜为金属膜。

20.根据权利要求18所述的测试***，其特征在于，所述电磁屏蔽膜接地。

21.根据权利要求5或6所述的测试***，其特征在于，所述显示连接部件上设置有屏蔽层，该屏蔽层包括：设置在所述显示柔性电路板的相对所述第二基板的一面上的电磁屏蔽膜。

22.根据权利要求21所述的测试***，其特征在于，所述电磁屏蔽膜为金属膜。

23.根据权利要求21所述的测试***，其特征在于，所述电磁屏蔽膜与所述显示柔性电路板的地端电连接。

24.根据权利要求5或6所述的测试***，其特征在于，所述显示柔性电路板的面向所述第二基板的一面上贴合有隔离层。

25.根据权利要求24所述的测试***，其特征在于，在垂直于所述第一基板的方向上，所述隔离层和所述显示柔性电路板的高度之和小于或等于所述第二基板的高度。

26.根据权利要求1所述的测试***，其特征在于，所述显示测试板与蓄电池电连接，所述蓄电池向所述显示测试板提供显示测试电压，以使所述显示测试板通过所述显示连接部件向所述多个显示测试点传输显示测试信号；同时，

所述触控测试板与触控测试电脑连接，所述触控测试电脑向所述触控测试板提供触控测试信号，以使所述显示面板通过所述多个触控测试点接收触控测试信号，以及所述触控测试电脑通过所述触控测试板获取所述显示面板的触控反馈信号。

27.根据权利要求26所述的测试***，其特征在于，所述显示测试信号的幅值绝对值小于或等于20V；所述触控测试信号的幅值绝对值小于或等于0.5V。

28.根据权利要求26所述的测试***，其特征在于，所述蓄电池输出小于或等于+5V的直流信号。

29.一种显示器件，其特征在于，包括如权利要求1所述的显示面板，采用如权利要求1-28任一项所述的测试***对所述显示面板同时进行显示测试和触控测试；

所述显示面板包括：相对设置的第一基板和第二基板，位于所述第一基板相对所述第二基板的一侧上的多个显示测试点，位于所述第二基板背离所述第一基板的一侧上的多个触控测试点。