CN205809175U - 一种pcb板阻抗测试探头 - Google Patents

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黄继茂
刘艳华
邵洋
金敏
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Abstract

本实用新型公开了一种PCB板阻抗测试探头,包括探头本体,所述探头本体的一端设有测量探针及弹性接地金属片,所述探头本体的另一端与信号传输电缆连接,所述测量探针与所述探头本体内的信号线连接,所述弹性接地金属片与所述探头本体内的接地线连接,所述弹性接地金属片的长度大于所述测量探针的长度。本实用新型用弹性接地金属片代替现有技术中的接地探针,当按压弹性接地金属片时,弹性接地金属片发生弯折变形,从而调整探头的测试距离,以实现对预设有阻抗试样条的PCB板的直接阻抗测试,而不需要在PCB板上另行设置阻抗试样条,其有效地降低了测试成本。

Description

一种PCB板阻抗测试探头
技术领域
本实用新型涉及半导体测试装置领域,具体涉及一种PCB板阻抗测试探头。
背景技术
PCB板中的阻抗线非常短,直接对PCB板进行阻抗测试非常困难,因此需要在PCB板上专门设计一定长度的阻抗试样条(Coupon),通过测试阻抗试样条即可以完成对PCB板的阻抗测试。请参加图1,其示出了一种阻抗试样条,其包括测量孔24、接地孔25及与所述测量孔24连接的微带线25。
为了完成阻抗试样条的阻抗测量,需要使用专门的阻抗测试探头。请参见图2,其示出了现有技术中的一种阻抗测试探头的结构示意图,其包括探头本体23、焊接在探头本体23一端的测量探针21及接地探针22,所述测量探针21与接地探针22之间保持有固定的测试距离。测量过程中,需要将测量探针21与阻抗试样条的测量孔24接触,接地探针22与接地孔25接触,以形成测试回路。
可见,为了完成阻抗测量,阻抗试样条上的测量孔24与接地孔25之间的距离必须等于阻抗测试探头上的测量探针21与接地探针22之间测试距离。
目前,为了方便后续的测试,越来越多的PCB板厂商已经预先在PCB板内设置好阻抗试样条,但是由于应用需求及生产标准的差异,不同厂商、不同型号的PCB板上的阻抗试样条上的测量孔与接地孔之间的距离各不相同。因此,为了完成对不同厂商、不同型号的PCB板的阻抗测试,PCB板测试厂商还是需要在这些PCB板上另行设置与阻抗测试探头相匹配的阻抗试样条。
现有技术中的阻抗测试探头存在如下缺陷:(1)测量探针与接地探针之间的测试距离是固定的,因此必须在被测PCB板上设置与之匹配的测试阻抗试样条,极大地增加了测量成本。(2)测量探针和接地探针固定焊接在探头上,难于更换。
实用新型内容
本实用新型针对上述问题,提供了一种新型的PCB板阻抗测试探头,其采用具有弹性、可弯曲的金属片替代现有技术中的接地探针,以使得测量探针与弹性接地金属片之间的测试距离能否实现一定范围的调节,满足多种类型的预设有阻抗测试条的PCB板的测量要求。其详细技术方案如下:
一种PCB板阻抗测试探头,包括探头本体,所述探头本体的一端设有测量探针及弹性接地金属片,所述探头本体的另一端与信号传输电缆连接,所述测量探针与所述探头本体内的信号线连接,所述弹性接地金属片与所述探头本体内的接地线连接,所述弹性接地金属片的长度大于所述测量探针的长度。
其技术效果为:用弹性接地金属片代替现有技术中的接地探针,弹性接地金属片的长度大于测量探针的长度,当按压弹性接地金属片时,弹性接地金属片发生弯折变形,从而调整探头的测试距离,以实现对预设有阻抗试样条的PCB板的直接阻抗测试,而不需要在PCB板上另行设置阻抗试样条,其有效地降低了测试成本。
进一步的,所述探头本体的另一端通过安装螺帽与信号传输电缆可拆卸连接。
其技术效果在于:实现探头本体与信号传输电缆的可拆卸连接。
进一步的,所述探头本体内设有插接板,所述插接板上穿设有第一插接孔及第二插接孔,所述测量探针通过所述第一插接孔插接在所述插接板上,所述弹性接地金属片通过第二插接孔插接在所述插接板上,所述第一插接孔与所述信号线连接,所述第二插接孔与所接地线连接。
其技术效果在于:实现测量探针及弹性接地金属片与探头本体的可拆卸连接,便于更换测量探针及弹性接地金属片。
进一步的,所述弹性接地金属片的材质为不锈钢。
其技术效果在于:不锈钢材质的弹性接地金属片具有良好的弹性性能及导电性能。
附图说明
图1为一种阻抗试样条的结构示意图;
图2为现有技术中的阻抗测试探头的结构示意图;
图3为本实用新型的阻抗测试探头的结构示意图;
图4为图3中的插接板的结构示意图。
具体实施方式
为使本实用新型的上述目的、特征和优点、能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。
如图3至图4所示,本实用新型的PCB板阻抗测试探头包括探头本体1、测量探针2、弹性接地金属片3、插接板4及安装螺帽5。
所述探头本体1一端内部设有所述插接板4,所述插接板4上穿设有第一插接孔41及第二插接孔42,所述第一插接孔41与所述探头本体1内部的信号线(未图示)连接,所述第二插接孔42与所述探头本体1内部的接地线(未图示)连接。
所述测量探针2的一端插接在所述第一插接孔41中并与所述信号线(未图示)连接,其另一端延伸至所述探头本体1的外部;所述弹性接地金属片3为条状结构,其一端插接在所述第二插接孔42中并与所述接地线(未图示)连接,其另一端延伸至所述探头本体1的外部。
所述弹性接地金属片3的长度大于所述测量探针2的长度,当按压所述弹性接地金属片3时,其能够发生弯折变形,从而调整本实用新型的测试距离(测量探针2的针头与接地金属片3的顶端之间的距离)。
测量过程中,先将弹性接地金属片3的顶端与PCB板的阻抗试样条上的接地孔接连,然后按压弹性接地金属片3以调整测试距离,使得测量探针2能够接触PCB板的阻抗试样条上的测量孔。
本实用新型的测量探针2及弹性接地金属片3均插接在所述插接板4上,可以方便地实现更换。
在一个具体实施例中,所述弹性接地金属片3的材质为不锈钢。
所述探头本体1的另一端通过所述安装螺帽5与信号传输电缆6实现可拆卸连接。当探头本体1与信号传输电缆6连接完成后,所述信号线(未图示)及所述接地线(未图示)与所述信号传输电缆6实现电连接,从而将本实用新型测得的PCB板的阻抗信号通过信号传输电缆6传送给外部信号处理设备。
上文对本实用新型进行了足够详细的具有一定特殊性的描述。所属领域内的普通技术人员应该理解,实施例中的描述仅仅是示例性的,在不偏离本实用新型的真实精神和范围的前提下做出所有改变都应该属于本实用新型的保护范围。本实用新型所要求保护的范围是由所述的权利要求书进行限定的,而不是由实施例中的上述描述来限定的。

Claims (4)

1.一种PCB板阻抗测试探头,包括探头本体,其特征在于:所述探头本体的一端设有测量探针及条状的弹性接地金属片,所述探头本体的另一端与信号传输电缆连接,所述测量探针与所述探头本体内的信号线连接,所述弹性接地金属片与所述探头本体内的接地线连接,所述弹性接地金属片的长度大于所述测量探针的长度。
2.如权利要求1所述的PCB板阻抗测试探头,其特征在于:所述探头本体的另一端通过安装螺帽与信号传输电缆可拆卸连接。
3.如权利要求1所述的PCB板阻抗测试探头,其特征在于:所述探头本体内设有插接板,所述插接板上穿设有第一插接孔及第二插接孔,所述测量探针通过所述第一插接孔插接在所述插接板上,所述弹性接地金属片通过第二插接孔插接在所述插接板上,所述第一插接孔与所述信号线连接,所述第二插接孔与所接地线连接。
4.如权利要求1所述的PCB板阻抗测试探头,其特征在于:所述弹性接地金属片的材质为不锈钢。
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CN112230026A (zh) * 2020-11-09 2021-01-15 中国电子科技集团公司第二十九研究所 一种用于微***局部性能检测的微波探头

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