CN205785019U - 一种用于凹坑深度测定的检测尺 - Google Patents

一种用于凹坑深度测定的检测尺 Download PDF

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王家庆
晏嘉陵
郑文祥
陈强
周公文
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Abstract

本实用新型公开了一种用于凹坑深度测定的检测尺,包括带有标尺刻度的检测尺本体,其中,检测尺本体设置有一个“T”字形凹槽,标尺刻度沿凹槽的上边沿设置,在凹槽中滑动设置有一个与凹槽相配的滑块,滑块的一端设置有可以***被测凹槽的探针,在检测尺本体伸出探针侧端面是一个磁性端面,所述磁性端面是一个垂直于所述凹槽的平面。本实用新型可实现单一检验工具全面凹坑(裂纹)深度检测的工作需要,大幅度提高检验工作效率;可以精确测定凹坑(裂纹)的深度。

Description

一种用于凹坑深度测定的检测尺
技术领域
本实用新型属于检测工具,特别涉及一种用于凹坑深度测定的检测尺,是针对电站锅炉的检验凹坑(裂纹)深度测定的检测尺。
背景技术
目前针对电站锅炉检验过程中部件表面凹坑深度的测定主要依靠钢尺或焊接检验尺,针对不同类型的凹坑(裂纹)检测需要配备相应的测量工具,且对于深度大,开口度小的凹坑或裂缝无法开展精确的深度测定。
随着电力行业的高速发展,发电机组装机台数不断增加,电站锅炉检验工作中凹坑(裂纹)深度测定的工作量不断加大,现有检测工具对窄间隙缝深度的精确测定存在一定的困难。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种用于凹坑深度测定的检测尺,通过在测量探头设置滑块和尖头塞尺实现对凹坑(裂纹)检测。
本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的。
一种用于凹坑深度测定的检测尺,包括带有标尺刻度的检测尺本体,其中,检测尺本体设置有一个“T”字形凹槽,标尺刻度沿凹槽的上边沿设置,在凹槽中滑动设置有一个与凹槽相配的滑块,滑块的一端设置有可以***被测凹槽的探针,在检测尺本体伸出探针侧端面是一个磁性端面,所述磁性端面是一个垂直于所述凹槽的平面。
方案进一步是:所述磁性端面是通过在检测尺本体上固定一个永磁金属块实现的。
方案进一步是:所述检测尺本体是非金属材料。
方案进一步是:所述检测尺本体是可磁化的金属材料,在永磁金属块与检测尺本体之间设置有隔磁层。
方案进一步是:所述隔磁层是铜金属或环氧树脂玻璃布层。
方案进一步是:所述滑块上设置有便于手拨动滑块的凸起拨块。
本实用新型的有益效果:
(1)本实用新型可实现单一检验工具全面凹坑(裂纹)深度检测的工作需要,大幅度提高检验工作效率;
(2)本实用新型可以精确测定凹坑(裂纹)的深度。
下面结合附图及具体实施方式对本实用新型作进一步详细说明。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图;
图2为本实用新型使用状态1示意图;
图3为本实用新型使用状态2示意图。
具体实施方式
一种用于凹坑深度测定的检测尺,参见图1,图2和图3,所述检测尺包括带有标尺刻度101的检测尺本体1,其中,检测尺本体设置有一个“T”字形凹槽102,标尺刻度沿凹槽的上边沿设置,在凹槽中滑动设置有一个与凹槽相配的滑块2,滑块的一端设置有可以***被测凹槽的探针201,在检测尺本体伸出探针侧端面103是一个磁性端面,所述磁性端面是一个垂直于所述凹槽的平面。
其中:所述磁性端面是通过在检测尺本体上固定一个永磁金属块3实现的。
为了方便使用:所述检测尺本体是非金属材料,例如塑料。
或者:所述检测尺本体是可磁化的金属材料,如钢制,在永磁金属块与检测尺本体之间设置有隔磁层。
其中:所述隔磁层是铜金属或环氧树脂玻璃布板。
实施例中,为了方便操作:所述滑块上设置有便于手拨动滑块的凸起拨块202。
使用时,如图2和图3所示,将检测尺本体的磁性面吸贴在锅炉4的表面,拨动滑块2将探针201伸进锅炉开裂的缝隙401中,通过读取在检测尺本体上的标尺刻度了解缝隙的深度。本实用新型可实现单一检验工具全面凹坑深度检测的工作需要,大幅度提高检验工作效率;本实用新型可以精确测定凹坑(裂纹)的深度。

Claims (6)

1.一种用于凹坑深度测定的检测尺,包括带有标尺刻度的检测尺本体,其特征在于,检测尺本体设置有一个“T”字形凹槽,标尺刻度沿凹槽的上边沿设置,在凹槽中滑动设置有一个与凹槽相配的滑块,滑块的一端设置有可以***被测凹槽的探针,在检测尺本体伸出探针侧端面是一个磁性端面,所述磁性端面是一个垂直于所述凹槽的平面。
2.根据权利要求1所述的检测尺,其特征在于,所述磁性端面是通过在检测尺本体上固定一个永磁金属块实现的。
3.根据权利要求1所述的检测尺,其特征在于,所述检测尺本体是非金属材料。
4.根据权利要求1所述的检测尺,其特征在于,所述检测尺本体是可磁化的金属材料,在永磁金属块与检测尺本体之间设置有隔磁层。
5.根据权利要求4所述的检测尺,其特征在于,所述隔磁层是铜金属或环氧树脂玻璃布层。
6.根据权利要求1所述的检测尺,其特征在于,所述滑块上设置有便于手拨动滑块的凸起拨块。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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