CN205719523U - 电子器具的功能及寿命的测试设备 - Google Patents

Abstract

一种电子器具的功能及寿命的测试设备，包括安装机柜、按键功能测试模组、按键寿命测试模组及控制***，按键功能测试模组包括功能测试治具、功能测试按压装置、功能测试移动***及功能测试分析装置；按键寿命测试模组包括寿命测试治具、压紧机构、寿命测试按压装置、寿命测试移动***及寿命测试分析装置；控制***分别与按键功能测试模组、按键寿命测试模组电连接。当进行电子器具的功能和寿命测试时，只要将电子器具置于对应的功能测试治具、寿命测试治具上即可，便可进行相应的自动化测试，有效避免采用人工手压按压测试带来的按压力度无法掌控、按压的数据不准、员工劳动强度过大、以及容易因人工操作不到位而导致不良流程的发生问题。

Description

电子器具的功能及寿命的测试设备

技术领域

本实用新型涉及测试设备的技术领域，尤其涉及一种适于上身乏力的体弱人士的电子器具的功能及寿命的测试设备。

背景技术

目前，对于电子器具的测试，如遥控器的功能和寿命测试，其大多采用的是人工手压按压测试。但是，采用手工按压测试存在以下问题：按压力度无法掌控、按压的数据不准，员工劳动强度过大。而且，采用此种测试，容易因人工操作不到位而导致不良流程的发生。

因此，有必要提供一种技术手段以解决上述缺陷。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术之缺陷，提供电子器具的功能及寿命的测试设备，以解决现有技术中采用人工手压按压测试以检测电子器具的功能和寿命合格与否而存在按压力度无法掌控、按压的数据不准、员工劳动强度过大、以及容易因人工操作不到位而导致不良流程的发生的问题。

本实用新型是这样实现的，一种电子器具的功能及寿命的测试设备，所述电子器具包括一壳体及设于所述壳体上的若干个按键，所述测试设备包括：

安装机柜，所述安装机柜包括柜台、及设于所述柜台上以供位于所述柜台上方的部件安装设置的支撑框架；

按键功能测试模组，所述按键功能测试模组包括位于所述柜台的一侧端上以供所述电子器具放置的功能测试治具、可移动靠向所述功能测试治具以按压置于所述功能测试治具上的所述电子器具的按键的功能测试按压装置、设于所述安装机柜上并与所述功能测试按压装置连接以驱使所述功能测试按压装置移动的功能测试移动***、及设于所述安装机柜上以通过计量若干个所述按键分别被所述功能测试按压装置按压的次数与若干个所述按键分别被按压后发出的执行信号的次数是否对应而分析判断所述电子器具的功能是否通过的功能测试分析装置；

按键寿命测试模组，所述按键寿命测试模组包括位于所述柜台的另一侧端上以供所述电子器具放置的寿命测试治具、设于所述柜台的另一侧端上并靠近所述寿命测试治具以将置于所述寿命测试治具上的所述电子器具压紧固定的压紧机构、可移动靠向所述寿命测试治具以按压置于所述寿命测试治具上的所述电子器具的按键的寿命测试按压装置、设于所述安装机柜上并与所述寿命测试按压装置连接以驱使所述寿命测试按压装置移动的寿命测试移动***、及设于所述安装机柜上以通过计量关键的所述按键被所述寿命测试按压装置按压的次数与关键的所述按键被按压后发出的执行信号的次数是否对应而分析判断所述电子器具的寿命是否通过的寿命测试分析装置；

控制***，所述控制***设置于安装机柜上，并分别与所述按键功能测试模组、所述按键寿命测试模组电连接。

具体地，所述柜台的上端面上定义有X轴方向、与所述X轴方向垂直的Y轴方向、及竖直于所述X轴方向和所述Y轴方向的Z轴方向；

所述功能测试移动***包括可沿所述X轴方向移动设于所述柜台的一侧端上的X轴移动平台、设于所述支撑框架上并与所述功能测试按压装置连接以驱动所述功能测试按压装置沿所述Y轴方向移动的Y轴移动装置、及设于所述支撑框架上并与所述功能测试按压装置连接以驱动所述功能测试按压装置沿所述Z轴方向移动的Z轴移动装置，所述功能测试治具设于所述X轴移动平台上。

进一步地，所述Y轴移动装置包括可沿所述Y轴方向移动设于所述支撑框架上的Y轴移动架、设于所述支撑框架上以用于驱动所述Y轴移动架移动的Y轴驱动源、及一端与所述Y轴移动架而另一端与所述Y轴驱动源连接以将所述Y轴驱动源产生的动力传至所述Y轴移动架的Y轴传动机构；

所述Z轴移动装置包括可沿所述Z轴方向移动设于所述Y轴移动架上的Z轴移动架、设于所述Y轴移动架上并与所述Z轴移动架连接以用于驱动所述Z轴移动架移动的Z轴驱动源，所述功能测试按压装置设于所述Z轴移动架上。

较佳地，所述功能测试移动***还包括设于所述柜台内并与所述X轴移动平台连接以驱动所述X轴移动平台移动的X轴驱动源、及一端与所述X轴移动平台而另一端与所述X轴驱动源连接以将所述X轴驱动源产生的动力传至所述X轴移动平台的X轴传动机构。

具体地，所述寿命测试移动***包括可沿所述Z轴方向移动设于所述柜台的另一侧端上的寿命测试移动杆、设于所述寿命测试移动杆上并朝所述寿命测试移动杆的径向方向延伸且与所述寿命测试治具相对设置的寿命测试安装板、及设于所述柜台内以用于驱动所述寿命测试移动杆移动的寿命测试驱动源、及一端与所述寿命测试移动杆而另一端与所述寿命测试驱动源连接以将所述寿命测试驱动源产生的动力传至所述寿命测试移动杆的寿命测试传动机构，所述寿命测试按压装置设于所述寿命测试安装板上。

进一步地，所述寿命测试驱动源为一电机，所述寿命测试传动机构包括套设于所述电机上的偏心轮、一端连接于所述偏心轮而另一端连接于所述寿命测试移动杆的连杆。

具体地，所述功能测试按压装置包括一功能测试按压砝码。

具体地，所述寿命测试按压装置包括一寿命测试按压砝码。

具体地，所述功能测试分析装置包括设于所述安装机柜上以设定所述功能测试按压装置分别按压若干个所述按键的次数的触摸屏、设于所述柜台内以计算若干个所述按键分别被所述功能测试按压装置按压的次数的PLC计算模块、及设于所述柜台的一侧端上以接收由若干个所述按键被按压后发出的执行信号的功能测试信号接收器，所述触摸屏、所述PLC计算模块和所述功能测试信号接收器均与所述控制***电连接。

具体地，所述寿命测试分析装置包括设于所述柜台上以设置所述寿命测试按压装置按压关键的所述按键的次数的寿命测试定量器、设于所述柜台上以计算关键的所述按键被所述功能测试按压装置按压的次数的寿命测试计数器、及设于所述柜台的一侧端上以接收由关键的所述按键被按压后发出的执行信号的寿命测试信号接收器，所述寿命测试定量器、所述寿命测试计数器和所述寿命测试信号接收器均与所述控制***电连接。。

本实用新型的电子器具的功能及寿命的测试设备的技术效果为：当进行电子器具的功能测试时，将电子器具置于功能测试治具上，然后通过控制功能测试移动***以使功能测试按压装置按压电子器具上的所有按键，接着，借由功能测试分析装置分析得出相应结果，其具体为，通过计量所有按键分别被功能测试按压装置按压的次数与所有按键分别被按压后发出的执行信号的次数是否对应而分析判断电子器具的功能是否通过；而当进行电子器具的寿命测试时，将电子器具置于寿命测试治具上，并借由压紧机构以将电子器具紧致压紧，然后通过控制寿命测试移动***以使寿命测试按压装置按压电子器具上的关键按键，接着，借由寿命测试分析装置分析得出相应结果，其具体为，通过计量关键按键被寿命测试按压装置按压的次数与关键按键被按压后发出的执行信号的次数是否对应而分析判断电子器具的寿命是否通过。整个电子器具的功能测试和寿命测试均为自动化测试，有效避免采用人工手压按压测试带来的按压力度无法掌控、按压的数据不准、员工劳动强度过大、以及容易因人工操作不到位而导致不良流程的发生问题。

另外，一个测试设备上可以同时实施电子器具的功能测试和寿命测试，一设备多功能、多应用，既便于用户的使用，也有利于降低测试使用者的购买成本。

附图说明

图1为本实用新型的电子器具的功能及寿命的测试设备的立体图；

图2为本实用新型的电子器具的功能及寿命的测试设备去掉部分安装机柜的部件的示意图，以展示测试设备的内部结构；

图3为图2的电子器具的功能及寿命的测试设备去掉部分安装机柜的部件的另一角度的示意图；

图4为本实用新型的电子器具的功能及寿命的测试设备去掉部分安装机柜的部件的示意图，以展示X轴传动机构的结构。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

请参阅图1和图2，下面对本实用新型的电子器具的功能及寿命的测试设备的实施例进行阐述。

本实施例的电子器具的功能及寿命的测试设备100，主要为应用于电子器具的功能测试和寿命测试，其中，在本实施例中，该电子器具为遥控器，其包括一壳体及设于壳体上的若干个按键；当然，该电子器具亦可采用其它带有按键的电子产品。而测试设备100包括安装机柜10、按键功能测试模组20、按键寿命测试模组30及控制***40，下面对该测试设备100的各部件作进一步说明：

安装机柜10包括方形体的柜台11、及设于柜台11上以供位于柜台11上方的部件安装设置的支撑框架12，其中，支撑框架12包括两个竖直分设于柜台11两侧上的竖直支撑侧板121、竖直设于柜台11的后侧端上并分别与两个竖直支撑侧板121连接的竖直支撑后板122、设于两个竖直支撑侧板121的上端并分别与两个竖直支撑侧板121连接的支撑前板123、及设于两个竖直支撑侧板121和竖直支撑后板122的顶端并分别与两个竖直支撑侧板121、竖直支撑后板122连接的支撑顶板124，其中，该支撑顶板124与柜台11的上端面相对设置；

按键功能测试模组20包括位于柜台11的一侧端上以供遥控器放置的功能测试治具21、可移动靠向功能测试治具21以按压置于功能测试治具21上的遥控器的按键的功能测试按压装置22、设于安装机柜10上并与功能测试按压装置22连接以驱使功能测试按压装置22移动的功能测试移动***23、及设于安装机柜10上以通过计量若干个按键分别被功能测试按压装置22按压的次数与若干个按键分别被按压后发出的执行信号的次数是否对应而分析判断遥控器的功能是否通过的功能测试分析装置24；

按键寿命测试模组30包括位于柜台11的另一侧端上以供遥控器放置的寿命测试治具31、设于柜台11的另一侧端上并靠近寿命测试治具31以将置于寿命测试治具上的遥控器压紧固定的压紧机构32、可移动靠向寿命测试治具31以按压置于寿命测试治具31上的遥控器的按键的寿命测试按压装置33、设于安装机柜10上并与寿命测试按压装置33连接以驱使寿命测试按压装置33移动的寿命测试移动***34、及设于安装机柜10上以通过计量关键的按键被寿命测试按压装置33按压的次数与关键的按键被按压后发出的执行信号的次数是否对应而分析判断遥控器的寿命是否通过的寿命测试分析装置35；

控制***40设置于安装机柜10上，具体地，其设置于安装机柜10的柜台11内，并分别与按键功能测试模组20、按键寿命测试模组30电连接，以可控制按键功能测试模组20、按键寿命测试模组30的工作。

当进行遥控器的功能测试时，将遥控器置于功能测试治具21上，然后通过控制功能测试移动***23以使功能测试按压装置22按压遥控器上的所有按键，接着，借由功能测试分析装置24分析得出相应结果，其具体为，通过计量所有按键分别被功能测试按压装置22按压的次数与所有按键分别被按压后发出的执行信号的次数是否对应而分析判断遥控器的功能是否通过；而当进行遥控器的寿命测试时，将遥控器置于寿命测试治具31上，并借由压紧机构32以将遥控器紧致压紧，然后通过控制寿命测试移动***34以使寿命测试按压装置33按压遥控器上的关键按键，接着，借由寿命测试分析装置35分析得出相应结果，其具体为，通过计量关键按键被寿命测试按压装置33按压的次数与关键按键被按压后发出的执行信号的次数是否对应而分析判断遥控器的寿命是否通过。

整个遥控器的功能测试和寿命测试均为自动化测试，有效避免采用人工手压按压测试带来的按压力度无法掌控、按压的数据不准、员工劳动强度过大、以及容易因人工操作不到位而导致不良流程的发生问题。

另外，一个测试设备100上可以同时实施遥控器的功能测试和寿命测试，一设备多功能、多应用，既便于用户的使用，也有利于降低测试使用者的购买成本。

请参阅图1和图2，具体地，柜台11的上端面上定义有X轴方向、与X轴方向垂直的Y轴方向、及竖直于X轴方向和Y轴方向的Z轴方向；

功能测试移动***23包括可沿X轴方向移动设于柜台11的一侧端上的X轴移动平台231、设于支撑框架12上并与功能测试按压装置22连接以驱动功能测试按压装置22沿Y轴方向移动的Y轴移动装置232、及设于支撑框架12上并与功能测试按压装置22连接以驱动功能测试按压装置232沿Z轴方向移动的Z轴移动装置233，功能测试治具21设于X轴移动平台231上。

由此，当要获取所需的三轴位置以使功能测试按压装置22按压遥控器上指定的按键时，具体为，可分别控制X轴移动平台231、Y轴移动装置232、Z轴移动装置233移动，以分别调节功能测试按压装置22相对于遥控器上指定的按键的XYZ轴位置，以此可有效保证功能测试按压装置22准确按压遥控器上指定的按键。

而Y轴移动装置232的优选实施方式为，其包括可沿Y轴方向移动设于支撑框架12上的Y轴移动架2321、设于支撑框架12上以用于驱动Y轴移动架2321移动的Y轴驱动源2322、及一端与Y轴移动架2321而另一端与Y轴驱动源2322连接以将Y轴驱动源2322产生的动力传至Y轴移动架2321的Y轴传动机构2323。

其中，为了便于设置及安装，支撑框架12内设有一安装支撑板125，Y轴移动架2321可沿Y轴方向移动设于支撑框架12上；同时地，该Y轴驱动源2322为一Y向步进电机，而Y轴传动机构2323包括套于Y向步进电机的输出轴上并可转动设于支撑框架12一侧端上的第一Y向传动轮23231、转动设于支撑框架12另一侧端上并与第一Y向传动轮23231相对设置的第二Y向传动轮23232、及一端卷设于第一Y向传动轮23231上而另一端卷设于第二Y向传动轮23232上并朝着Y轴方向传动的Y向传动带23233，Y向传动带23233与Y轴移动架2321连接，据此，当要使到Y轴移动架2321沿Y轴方向移动时，可通过控制***40控制Y向步进电机工作，而Y向步进电机会将其动力自第一Y向传动轮23231传至Y向传动带23233上，再由Y向传动带23233带动Y轴移动架2321移动。

而较佳地，为了保证Y轴移动架2321准确地朝向Y轴方向移动，Y轴移动装置232还包括Y轴导向机构，该Y轴导向机构包括设于安装支撑板125上并沿Y轴方向延伸设置的Y轴导轨23241、及设于Y轴移动架2321上并与Y轴导轨23241滑动配合的Y轴导槽23242。

请参阅图2和图3，Z轴移动装置233的优选实施方式为，其包括可沿Z轴方向移动设于Y轴移动架2321上的Z轴移动架2331、及设于Y轴移动架2321上并与Z轴移动架2331连接以用于驱动Z轴移动架2331移动的Z轴驱动源2332，功能测试按压装置22设于Z轴移动架2331上。其中，Z轴驱动源2332可以为一气缸或者电动推杆，以便于取材及安装设置。

而且，较佳地，为了保证Z轴移动架2331准确地朝向Z轴方向移动，Z轴移动装置233还包括Z轴导向机构，该Z轴导向机构包括设于Y轴移动架2321上并沿Z轴方向延伸设置的Z轴导轨23331、及设于Z轴移动架2331上并与Z轴导轨23331滑动配合的Z轴导槽23332。

请参阅图4，并结合图2，本实施例中的功能测试移动***23还包括设于柜台11内并与X轴移动平台231连接以驱动X轴移动平台移动231的X轴驱动源234、及一端与X轴移动平台231而另一端与X轴驱动源234连接以将X轴驱动源234产生的动力传至X轴移动平台231的X轴传动机构235，以此，可通过控制***40电动控制X轴移动平台231移动工作，减轻测试人员的劳动强度。

其中，较佳地，该X轴驱动源234为一X向步进电机，而X轴传动机构235包括套于X向步进电机的输出轴上并可转动设于柜台11的上侧板底侧的一侧端上的第一X向传动轮2351、转动设于柜台11的上侧板底侧的另一侧端上并与第一X向传动轮2351相对设置的第二X向传动轮2352、及一端卷设于第一X向传动轮2351上而另一端卷设于第二X向传动轮2352上并朝着X轴方向传动的X向传动带2353，X向传动带2353与X轴移动平台231连接，据此，当要使到X轴移动平台231沿X轴方向移动时，可通过控制***40控制X向步进电机工作，而X向步进电机会将其动力自第一X向传动轮2351传至X向传动带2353上，再由X向传动带2353带动X轴移动平台231移动。

请参阅图3，本实施例中的寿命测试移动***34的优选实施方式为，其包括可沿Z轴方向移动设于柜台11的另一侧端上的寿命测试移动杆341、设于寿命测试移动杆341上并朝寿命测试移动杆341的径向方向延伸且与寿命测试治具31相对设置的寿命测试安装板342、及设于柜台11内以用于驱动寿命测试移动杆341移动的寿命测试驱动源343、及一端与寿命测试移动杆341而另一端与寿命测试驱动源343连接以将寿命测试驱动源342产生的动力传至寿命测试移动杆341的寿命测试传动机构344，寿命测试按压装置33设于寿命测试安装板342上。

由此，当要通过寿命测试移动***34的移动以调整寿命测试按压装置33对向于遥控器上的关键按键的相应位置时，可通过控制***40控制寿命测试驱动源343工作，而寿命测试驱动源343会通过寿命测试传动机构344将其产生的动力传至寿命测试移动杆341，以可由寿命测试移动杆341通过寿命测试安装板342带动寿命测试按压装置33，使该寿命测试按压装置33移至所需位置，整个为电动控制，而且简单方便，有利于减轻测试人员的劳动强度，并保证寿命测试的测试效果。

而较佳地，寿命测试驱动源343为一步进电机，寿命测试传动机构344包括套设于步进电机上的偏心轮3441、一端连接于偏心轮3441而另一端连接于寿命测试移动杆341的连杆3442，其中，由于偏心轮3441具有最高端及最低端，那么，当偏心轮3441被步进电机驱动转动时，便可以通过连杆3442以拉动寿命测试移动杆341的上下移动。

请参阅图2，本实施例中的功能测试按压装置22包括一功能测试按压砝码221，以可向测试对象施予标注的按压力。

而同时地，寿命测试按压装置33包括一寿命测试按压砝码331，以可向测试对象施予标注的按压力。

请参阅图1，本实施例中的压紧机构32包括一压紧件321，该压紧件321包括沿竖直方向朝上延伸设置的压紧延伸段、及与压紧延伸段相连并朝向寿命测试治具31的水平方向延伸设置且与寿命测试治具31相对的压紧接触段。

请参阅图1和图2，本实施例中的功能测试分析装置24的优选实施方式为，其包括设于安装机柜10上以设定功能测试按压装置22分别按压若干个按键的次数的触摸屏241、设于柜台11内以计算若干个按键分别被功能测试按压装置22按压的次数的PLC计算模块242、及设于柜台11的一侧端上以接收由若干个按键被按压后发出的执行信号的功能测试信号接收器243，触摸屏241、PLC计算模块242和功能测试信号接收器243均与控制***40电连接，其中，为了便于安装设置以及测试人员的适于，该触摸屏241为设置在支撑框架12的支撑前板123上。

那么，在进行功能测试时，先在触摸屏241上找出已设置好的参数并确定；接着，将遥控器放在功能测试治具21上，然后启动相应的开关，以对产品进行测试；而当功能测试按压装置22按压遥控器上的按键一次，则PLC计算模块242会对应地自动计数一次，功能测试信号接收器243也会接收由该按键被按压后发出的执行信号并且计数一次；测试完成后，当PLC计算模块242计算的按压次数与功能测试信号接收器243计算的次数相等时，则说明遥控器的功能OK，反之，则NG。

同时地，为了便于测试人员知晓功能测试结果，功能测试分析装置24还包括设于支撑框架12上的功能测试指示结构244，其中，该功能测试指示结构244为功能测试指示灯，那么，当功能测试指示灯亮时，则说明遥控器的功能OK，反之，则NG。

而寿命测试分析装置35的优选实施方式为，其包括设于柜台11的前侧板上以设置寿命测试按压装置33按压关键的按键的次数的寿命测试定量器351、设于柜台11上以计算关键的按键被功能测试按压装置33按压的次数的寿命测试计数器352、及设于柜台11的一侧端上以接收由关键的按键被按压后发出的执行信号的寿命测试信号接收器353，寿命测试定量器351、寿命测试计数器352和寿命测试信号接收器353均与控制***40电连接。

那么，在进行寿命测试时，先在寿命测试定量器351上设置好需要按压的次数；接着，将遥控器放在寿命测试治具31上，然后启动相应的开关，以对产品进行测试；而当寿命测试按压装置33按压遥控器上的关键按键一次，则寿命测试计数器352会对应地自动计数一次，寿命测试信号接收器353也会接收由该关键按键被按压后发出的执行信号并且计数一次；测试完成后，当寿命测试计数器352计算的按压次数与寿命测试信号接收器353计算的次数相等时，则说明遥控器的寿命OK，反之，则NG。

同时地，为了便于测试人员知晓寿命测试结果，寿命测试分析装置35还包括设于支撑框架12上的功能测试指示结构354，其中，该寿命测试指示结构354为寿命测试指示灯，那么，当寿命测试指示灯亮时，则说明遥控器的寿命OK，反之，则NG。

以上所述仅为本实用新型较佳的实施例而已，其结构并不限于上述列举的形状，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电子器具的功能及寿命的测试设备，所述电子器具包括一壳体及设于所述壳体上的若干个按键，其特征在于，所述测试设备包括：

安装机柜，所述安装机柜包括柜台、及设于所述柜台上以供位于所述柜台上方的部件安装设置的支撑框架；

按键功能测试模组，所述按键功能测试模组包括位于所述柜台的一侧端上以供所述电子器具放置的功能测试治具、可移动靠向所述功能测试治具以按压置于所述功能测试治具上的所述电子器具的按键的功能测试按压装置、设于所述安装机柜上并与所述功能测试按压装置连接以驱使所述功能测试按压装置移动的功能测试移动***、及设于所述安装机柜上以通过计量若干个所述按键分别被所述功能测试按压装置按压的次数与若干个所述按键分别被按压后发出的执行信号的次数是否对应而分析判断所述电子器具的功能是否通过的功能测试分析装置；

按键寿命测试模组，所述按键寿命测试模组包括位于所述柜台的另一侧端上以供所述电子器具放置的寿命测试治具、设于所述柜台的另一侧端上并靠近所述寿命测试治具以将置于所述寿命测试治具上的所述电子器具压紧固定的压紧机构、可移动靠向所述寿命测试治具以按压置于所述寿命测试治具上的所述电子器具的按键的寿命测试按压装置、设于所述安装机柜上并与所述寿命测试按压装置连接以驱使所述寿命测试按压装置移动的寿命测试移动***、及设于所述安装机柜上以通过计量关键的所述按键被所述寿命测试按压装置按压的次数与关键的所述按键被按压后发出的执行信号的次数是否对应而分析判断所述电子器具的寿命是否通过的寿命测试分析装置；

控制***，所述控制***设置于安装机柜上，并分别与所述按键功能测试模组、所述按键寿命测试模组电连接。

2.如权利要求1所述的电子器具的功能及寿命的测试设备，其特征在于：所述柜台的上端面上定义有X轴方向、与所述X轴方向垂直的Y轴方向、及竖直于所述X轴方向和所述Y轴方向的Z轴方向；

所述功能测试移动***包括可沿所述X轴方向移动设于所述柜台的一侧端上的X轴移动平台、设于所述支撑框架上并与所述功能测试按压装置连接以驱动所述功能测试按压装置沿所述Y轴方向移动的Y轴移动装置、及设于所述支撑框架上并与所述功能测试按压装置连接以驱动所述功能测试按压装置沿所述Z轴方向移动的Z轴移动装置，所述功能测试治具设于所述X轴移动平台上。

3.如权利要求2所述的电子器具的功能及寿命的测试设备，其特征在于：所述Y轴移动装置包括可沿所述Y轴方向移动设于所述支撑框架上的Y轴移动架、设于所述支撑框架上以用于驱动所述Y轴移动架移动的Y轴驱动源、及一端与所述Y轴移动架而另一端与所述Y轴驱动源连接以将所述Y轴驱动源产生的动力传至所述Y轴移动架的Y轴传动机构；

所述Z轴移动装置包括可沿所述Z轴方向移动设于所述Y轴移动架上的Z轴移动架、设于所述Y轴移动架上并与所述Z轴移动架连接以用于驱动所述Z轴移动架移动的Z轴驱动源，所述功能测试按压装置设于所述Z轴移动架上。

4.如权利要求2所述的电子器具的功能及寿命的测试设备，其特征在于：所述功能测试移动***还包括设于所述柜台内并与所述X轴移动平台连接以驱动所述X轴移动平台移动的X轴驱动源、及一端与所述X轴移动平台而另一端与所述X轴驱动源连接以将所述X轴驱动源产生的动力传至所述X轴移动平台的X轴传动机构。

5.如权利要求2所述的电子器具的功能及寿命的测试设备，其特征在于：所述寿命测试移动***包括可沿所述Z轴方向移动设于所述柜台的另一侧端上的寿命测试移动杆、设于所述寿命测试移动杆上并朝所述寿命测试移动杆的径向方向延伸且与所述寿命测试治具相对设置的寿命测试安装板、及设于所述柜台内以用于驱动所述寿命测试移动杆移动的寿命测试驱动源、及一端与所述寿命测试移动杆而另一端与所述寿命测试驱动源连接以将所述寿命测试驱动源产生的动力传至所述寿命测试移动杆的寿命测试传动机构，所述寿命测试按压装置设于所述寿命测试安装板上。

6.如权利要求5所述的电子器具的功能及寿命的测试设备，其特征在于：所述寿命测试驱动源为一电机，所述寿命测试传动机构包括套设于所述电机上的偏心轮、一端连接于所述偏心轮而另一端连接于所述寿命测试移动杆的连杆。

7.如权利要求1所述的电子器具的功能及寿命的测试设备，其特征在于：所述功能测试按压装置包括一功能测试按压砝码。

8.如权利要求1所述的电子器具的功能及寿命的测试设备，其特征在于：所述寿命测试按压装置包括一寿命测试按压砝码。

9.如权利要求1所述的电子器具的功能及寿命的测试设备，其特征在于：所述功能测试分析装置包括设于所述安装机柜上以设定所述功能测试按压装置分别按压若干个所述按键的次数的触摸屏、设于所述柜台内以计算若干个所述按键分别被所述功能测试按压装置按压的次数的PLC计算模块、及设于所述柜台的一侧端上以接收由若干个所述按键被按压后发出的执行信号的功能测试信号接收器，所述触摸屏、所述PLC计算模块和所述功能测试信号接收器均与所述控制***电连接。

10.如权利要求1-9任一项所述的电子器具的功能及寿命的测试设备，其特征在于：所述寿命测试分析装置包括设于所述柜台上以设置所述寿命测试按压装置按压关键的所述按键的次数的寿命测试定量器、设于所述柜台上以计算关键的所述按键被所述功能测试按压装置按压的次数的寿命测试计数器、及设于所述柜台的一侧端上以接收由关键的所述按键被按压后发出的执行信号的寿命测试信号接收器，所述寿命测试定量器、所述寿命测试计数器和所述寿命测试信号接收器均与所述控制***电连接。