CN205608125U - 通路检测电路及检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及电路检测技术领域，特别是通路检测电路及检测装置，通路检测电路包括：一组测试I/O口，与一组通路的输入接口连接；一组采集I/O口，与一组通路的输出接口连接；处理器，与一组测试I/O口和一组采集I/O口连接，用于根据测试电平和测试数据判断一组通路中各通路的工作状态。通路检测装置包括上述通路检测电路。上述通路检测电路及检测装置，通过将电路板上需测试的一组通路的输入接口与测试I/O口连接，输出接口与采集I/O口连接，测试I/O口输出一组测试电平至一组通路，采集I/O口采集输出接口处的电平并作为测试数据，并通过处理器根据测试电平和测试数据判断一组通路中各通路的状态，例如开路或短路，从而提高了通路检测的可靠性以及便利性。
Description
技术领域
本实用新型涉及电路检测技术领域，特别是涉及通路检测电路及检测装置。
背景技术
随着手机等电子消费类产品的价格一路下降，以及驱动部分结构越来越紧凑，用于连接显示屏的主电路板，不仅需要传输显示屏所需要的电压信号等，其同时还会作为一些其他主板发出的信号的通路使用。而后者，往往是要连接了主电路板后才能有正常的功能，如有些信号是用于控制或驱动主电路板的马达和麦克风的，而对于显示屏是没有作用的，因此，在模组生产时，检测这些通路是否正常是非常必要的。
目前的测试方案，是通过设计较复杂的电路，通过驱动LED灯是否点亮来判断该电路是否存在通短路的情况。
然而，现有的测试方案存在以下几个缺点：
1、需要额外的元器件，测试成本增加；
2、增加了连通的通路，如果存在元器件虚焊、失效等情况，并不能直接反映出FPC上线路的通断情况；
3、需要人工对灯亮或灯灭的情况进行判断，长时间测试容易导致因为人体的疲劳而误判；
4、电路过于复杂，如果存在更多的通路需要测试，由于不仅需要判断通路，还要判断短路的情况，会使得电路非常复杂，例如，判断是否短路时不仅要判断相邻焊盘，还要判断左右两边的焊盘是否会短路。
实用新型内容
基于此，有必要针对如何提高通短路检测的可靠性以及便利性问题，提供一种通路检测电路及检测装置。
一种通路检测电路，用于检测电路板上一组通路的开路或短路，一组通路中的每一所述通路具有一输入接口和一输出接口，所述通路检测电路包括：
一组测试I/O口，与所述一组通路的输入接口连接，用于输出一组测试电平至所述一组通路；
一组采集I/O口，与所述一组通路的输出接口连接，用于采集所述输出接口处的电平并作为测试数据；
处理器，与所述一组测试I/O口和所述一组采集I/O口连接，用于根据所述测试电平和所述测试数据判断一组通路中各所述通路的工作状态。
在其中一个实施例中，所述一组测试I/O口包括与所述通路数量相同的多个测试I/O口，每一所述测试I/O口与一所述通路的输入接口连接。
在其中一个实施例中，所述一组采集I/O口包括一个采集I/O口，所述通路检测电路还包括：
一组测试电阻，所述一组测试电阻包括与所述通路数量相同的多个测试电阻和一接地电阻，每一所述测试电阻与一所述通路的输出接口连接，且各所述测试电阻连接在一起并串联所述接地电阻后接地，各所述测试电阻的连接点与所述采集I/O口连接，其中各所述测试电阻的阻值不同。
在其中一个实施例中，所述一组采集I/O口包括与所述通路数量相同的多个采集I/O口，且每一所述采集I/O口分别与一所述通路的输出接口连接。
在其中一个实施例中，所述一组测试I/O口、一组采集I/O口以及所述处理器为一集成电路。
在其中一个实施例中，所述工作状态为开路、短路或正常。
在其中一个实施例中，还包括：显示器，所述显示器与所述处理器连接，用于区别显示所述通路的所述工作状态。
一种通路检测装置，包括通路检测电路，其中通路检测电路用于检测电路板上一组通路的开路或短路，一组通路中的每一所述通路具有一输入接口和一输出接口，所述通路检测电路包括：
一组测试I/O口，与所述一组通路的输入接口连接，用于输出一组测试电平至所述一组通路；
一组采集I/O口，与所述一组通路的输出接口连接，用于采集所述输出接口处的电平并作为测试数据；
处理器，与所述一组测试I/O口和所述一组采集I/O口连接，用于根据所述测试电平和所述测试数据判断一组通路中各所述通路的工作状态。
与现有技术相比，本实用新型通路检测电路及检测装置，通过将电路板上需测试的一组通路的输入接口与测试I/O口连接，输出接口与采集I/O口连接，测试I/O口输出一组测试电平至一组通路，采集I/O口采集输出接口处的电平并作为测试数据，并通过处理器根据测试电平和测试数据判断一组通路中各通路的状态，例如开路或短路，从而提高了通路检测的可靠性以及便利性。
附图说明
图1为本实用新型一实施例通路检测电路结构示意图；
图2为本实用新型另一实施例通路检测电路连接示意图；
图3为本实用新型另一实施例通路检测电路结构示意图；
图4为本实用新型另一实施例通路检测电路结构示意图；
图5为本实用新型另一实施例通路检测电路结构示意图。
具体实施方式
为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。
请参阅图1，其为本实用新型通路检测电路一实施例的结构示意图，该通路检测电路用于检测电路板50上一组通路的开路或短路，其中，一组通路中的每一通路具有一输入接口51和一输出接口52。需要说明的是，一组通路可以包括一个通路或多个通路，本实施例对于一组通路中所包含的通路数量不进行限定。
如图1所示，通路检测电路包括一组测试I/O口110、一组采集I/O口120以及处理器130。一组测试I/O口110与一组通路的输入接口51连接，用于输出一组测试电平至一组通路。一组采集I/O口与一组通路的输出接口52连接，用于采集输出接口52处的电平并作为测试数据。处理器130分别与一组测试I/O口110和一组采集I/O口120连接，用于根据测试电平和测试数据判断一组通路中各通路的工作状态，例如开路、短路或正常等工作状态。
在一个测试过程中，通过将电路板上需测试的一组通路的输入接口与测试I/O口连接，输出接口与采集I/O口连接，利用测试I/O口输出一组测试电平至一组通路，采集I/O口采集输出接口处的电平并作为测试数据，处理器根据测试电平和测试数据判断一组通路中的各个通路的状态，例如通路正常、开路或短路，从而提高了通路检测的可靠性以及便利性。
请参阅图2，其为本实用新型通路检测电路一实施例的连接示意图，本实施例中，一组测试I/O口110包括与通路数量相同的多个测试I/O口，每一个测试I/O口与一通路的输入接口51连接。当然，一组测试I/O口110还可以包括比通路数量多的测试I/O口，多余的测试I/O口可以作为候补测试I/O口或闲置。
如：本实施例中，待测试的一组通路包括通路1、2……N共N个通路，N个通路的输入接口分别对应输入接口1、输入接口2至输入接口N，N个通路的输出接口分别对应输出接口1、输出接口2至输出接口N，此时一组测试I/O口110包括测试I/O口1、测试I/O口2至测试I/O口N，其中N为自然数。具体的，测试I/O口1与输入接口1连接，测试I/O口2与输入接口2连接，依次类推，测试I/O口N与输入接口N连接。
当需要测试其中某一个或某多个通路时，对应的测试I/O口输出测试电平至对应的输入接口，测试电平进入通路，通过采集通路的输出接口处的电平即可判断相应通路的状况。
其中，一组采集I/O口120可以只包括一个采集I/O口，也可以包括多个采集I/O口，下面结合图3至图5进行说明。
请参阅图3，其为一组采集I/O口120只包括一个采集I/O口时，本实用新型通路检测电路的连接示意图，如图3所示，此时该通路检测电路还包括一组测试电阻。
具体的，一组测试电阻包括与通路数量相同的多个测试电阻和一接地电阻，每一测试电阻与一通路的输出接口连接，且各测试电阻连接在一起形成一连接点140，该连接点140串联接地电阻后接地，并且，该连接点140与所述采集I/O口连接。其中，各测试电阻的阻值不同，也即多个测试电阻的阻值相异。
本实施例中，待测试的一组通路包括通路1、2……N共N个通路，多个测试电阻包括测试电阻1、测试电阻2至测试电阻N。上述多个测试电阻的连接关系也可以理解为，多个测试电阻并联后通过接地电阻接地，各测试电阻的连接点140与采集I/O口连接。
下面结合图4，以一具体实施例对图3所示通路检测电路的工作原理做出进一步的说明。如图4所示，电路板上4个待测试通路的输入接口分别为：VIB+、VIB-、MIC+、MIC-，输出接口分别为：VIB1+、VIB1-、MIC1+、MIC1-，测试电阻R1、R2、R3以及R4对应的阻值分别为10K、30K、60K、150K。
一组测试I/O口110(包括测试I/O口1、2、3和4)中的各测试I/O口分别向输入接口VIB+、VIB-、MIC+、MIC-输出测试电平，例如测试电平为1.8V。各输出接口VIB1+、VIB1-、MIC1+、MIC1-分别与测试电阻R1、R2、R3、R4的一端连接，测试电阻R1、R2、R3以及R4的另一端连接在一起形成连接点140，采集I/O口读取连接点140处的电平(作为测试数据)并发送至处理器130，处理器130根据测试电平和测试数据判断各通路的状态。
下面结合表1说明测试电平、测试数据与各通路的状态的逻辑关系。例如，与输入接口VIB+、VIB-、MIC+、MIC-对应的测试I/O口1、2、3、4分别标记为A1、A2、A3、A4，其中测试I/O口输出高电平(本实施例中对应1.8V电压)标记为1，测试I/O口设置为高阻态标记为H，则该判断某一通路的两端接口间的通短路的方式如下：
表1
从表1可知，当VIB+输入高电平，VIB-、MIC+、MIC-设置为高阻态时，若连接点140处的电压(即测试数据)为0.45，则可判断输入接口VIB+对应的通路正常，若连接点140处的电压为0，则可判断输入接口VIB+对应的通路为开路，若连接点140处的电压为0.72，则可判断输入接口VIB+对应的通路为短路，其它通路的判断方式类推。
从图3至图4可以看出，本实施例实现了：使用较少的I/O口(包括测试I/O口和采集I/O口)实现较多的待测通路的测试；整个过程快捷，测试结果直观，无需人为进行判断，排除了人为可能产生的判断失误，减少了人的检测疲劳；整个电路应用简单，拓展性强，可方便运用于更多的通路测试以及更加复杂的主电路板的通短路测试。
再请参考图5，为本实用新型通路检测电路另一实施例的连接示意图。如图5所示，本实施例中，一组测试I/O口110包括与通路数量相同的多个测试I/O口，每个测试I/O口与一通路的输入接口51连接；一组采集I/O口120包括与通路数量相同的多个采集I/O口，且每一采集I/O口分别与一通路的输出接口52连接。
下面结合表2说明图5所示通路检测电路中测试电平、测试数据与各通路的状态的逻辑关系。
如：以一组通路包括4个待测通路为例，电路板上待测的4个通路的输入接口分别为：VIB+、VIB-、MIC+、MIC-，输出接口分别为：VIB1+、VIB1-、MIC1+、MIC1-，与输入接口VIB+、VIB-、MIC+、MIC-对应的测试I/O口1、2、3、4分别标记为A1、A2、A3、A4，与输出接口VIB1+、VIB1-、MIC1+、MIC1-对应的采集I/O口1、2、3、4分别标记为B1、B2、B3、B4，其中测试I/O口输出高电平(本实施例中对应1.8V电压)标记为1，测试I/O口输出低电平标记为0，则该判断某一通路的两端接口间的通短路的方式如下：
表2
从表2可知，该实施例省略了测试用的元器件，而且没有了增加元器件的通断路问题，单纯的检测需要检测的通路，降低了成本。整个过程快捷，排除了人为可能产生的判断失误，减少了人的检测疲劳。整个电路应用简单，可方便运用于更加多的通路测试，更加复杂的短路测试。
值得一提的是，一组测试I/O口110、一组采集I/O口120以及处理器130为一集成电路。又如，本实用新型还包括一种通路检测装置，其包括上述的通路检测电路。该通路检测装置应用于检测电路板上的各个待测的输入输出接口的通路、短路以及开路等状态。
又一实施例中，通路检测电路还包括显示器，显示器与处理器连接用于区别显示所述通路的所述工作状态。例如，显示器用于接收处理器的检测结果并对通路的工作状态进行相应的显示。例如，所述工作状态为开路、短路或正常。
如：判断通路正常，则显示器直接显示其测试的正常画面，不做特殊提示；判断通路异常，则显示器上会显示短路或者开路的字样，并且画面停留在该画面无法切换其他测试画面，以便员工将对应的管脚挑出，从而提高了通路检测的可靠性以及便利性。
此外，本实用新型还公开了一种通路检测装置，该通路检测装置包括通路检测电路，通路检测电路如图1至图5所示。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (8)
1.一种通路检测电路，用于检测电路板上一组通路的开路或短路，一组通路中的每一所述通路具有一输入接口和一输出接口，其特征在于，所述通路检测电路包括：
一组测试I/O口，与所述一组通路的输入接口连接，用于输出一组测试电平至所述一组通路；
一组采集I/O口，与所述一组通路的输出接口连接，用于采集所述输出接口处的电平并作为测试数据；
处理器，与所述一组测试I/O口和所述一组采集I/O口连接，用于根据所述测试电平和所述测试数据判断一组通路中各所述通路的工作状态。
2.如权利要求1所述的通路检测电路，其特征在于，所述一组测试I/O口包括与所述通路数量相同的多个测试I/O口，每一所述测试I/O口与一所述通路的输入接口连接。
3.如权利要求2所述的通路检测电路，其特征在于，所述一组采集I/O口包括一个采集I/O口，所述通路检测电路还包括：
一组测试电阻，所述一组测试电阻包括与所述通路数量相同的多个测试电阻和一接地电阻，每一所述测试电阻与一所述通路的输出接口连接，且各所述测试电阻连接在一起并串联所述接地电阻后接地，各所述测试电阻的连接点与所述采集I/O口连接，其中各所述测试电阻的阻值不同。
4.如权利要求2所述的通路检测电路，其特征在于，所述一组采集I/O口包括与所述通路数量相同的多个采集I/O口，且每一所述采集I/O口分别与一所述通路的输出接口连接。
5.如权利要求1所述的通路检测电路，其特征在于，所述一组测试I/O口、一组采集I/O口以及所述处理器为一集成电路。
6.如权利要求1所述的通路检测电路，其特征在于，所述工作状态为开路、短路或正常。
7.如权利要求1所述的通路检测电路，其特征在于，还包括：
显示器，所述显示器与所述处理器连接，用于区别显示所述通路的所述工作状态。
8.一种通路检测装置，其特征在于，包括如权利要求1至7中任一项所述的通路检测电路。
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