CN205580424U - 一种阵列透镜厚度尺寸四点同时检测装置 - Google Patents
一种阵列透镜厚度尺寸四点同时检测装置 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种阵列透镜厚度尺寸四点同时检测装置。一种阵列透镜厚度尺寸四点同时检测装置，包括测量平台，所述测量平台上端面按照矩形四个顶点位置分别设置四个支持座底板，所述支持座底板上端面垂直设有一根支撑座，所述支撑座的上端面调节安装一个上安装平台，所述上安装平台的上端面朝中间方向水平横向设有一根测量臂，所述测量臂的内端向下垂直设有笔式测头，所述测量平台的上端面中间位置对应笔式测头的下方设有一个测量承物台。
Description
技术领域
本实用新型属于透镜检测领域，具体属于一种阵列透镜厚度尺寸四点同时检测装置。
背景技术
目前，现光学行业的对于透镜产品的厚度检测，通过采用抽样调查使用人工检测的方法，通过卡尺或者一些简单的检测用具对透镜进行厚度检测。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种阵列透镜厚度尺寸四点同时检测装置。
为解决上述技术问题，本实用新型采用以下技术方案：
一种阵列透镜厚度尺寸四点同时检测装置，包括测量平台，所述测量平台上端面按照矩形四个顶点位置分别设置四个支持座底板，所述支持座底板上端面垂直设有一根支撑座，所述支撑座的上端面调节安装一个上安装平台，所述上安装平台的上端面朝中间方向水平横向设有一根测量臂，所述测量臂的内端向下垂直设有笔式测头，所述测量平台的上端面中间位置对应笔式测头的下方设有一个测量承物台。
所述测量承物台的水平截面为凹字型。
所述上安装平台的除了朝向中间的另外三个侧面分别都设有一个安装柱，所述上安装平台通过安装柱与支撑座调节安装。
所述笔式测头沿测量臂的臂身方向滑动安装在测量臂上。
采用以上技术方案后：本实用新型将被测产品放置在测量承物台上，首先调节笔式测头的水平位置，即调节笔式测头在测量臂上的水平位置，然后将四个笔式测头分别对准被测产品的四个顶点，则可使用对透镜的四点同时检测，提高检测效率，减少劳动强度。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为图1的俯视图。
具体实施方式
参见图1、图2，一种阵列透镜厚度尺寸四点同时检测装置，包括测量平台1，所述测量平台1上端面按照矩形四个顶点位置分别设置四个支持座底板2，所述支持座底板2上端面垂直设有一根支撑座3，所述支撑座3的上端面调节安装一个上安装平台7，所述上安装平台7的上端面朝中间方向水平横向设有一根测量臂4，所述测量臂4的内端向下垂直设有笔式测头5，所述测量平台1的上端面中间位置对应笔式测头5的下方设有一个测量承物台6。
所述测量承物台6的水平截面为凹字型。
所述上安装平台7的除了朝向中间的另外三个侧面分别都设有一个安装柱8，所述上安装平台7通过安装柱8与支撑座3调节安装。
所述笔式测头5沿测量臂4的臂身方向滑动安装在测量臂4上。
采用以上技术方案后：本实用新型将被测产品放置在测量承物台6上，首先调节笔式测头5的水平位置，即调节笔式测头5在测量臂4上的水平位置，然后将四个笔式测头5分别对准被测产品的四个顶点，则可使用对透镜的四点同时检测，提高检测效率，减少劳动强度。
Claims (4)
1.一种阵列透镜厚度尺寸四点同时检测装置，包括测量平台，其特征在于：所述测量平台上端面按照矩形四个顶点位置分别设置四个支持座底板，所述支持座底板上端面垂直设有一根支撑座，所述支撑座的上端面调节安装一个上安装平台，所述上安装平台的上端面朝中间方向水平横向设有一根测量臂，所述测量臂的内端向下垂直设有笔式测头，所述测量平台的上端面中间位置对应笔式测头的下方设有一个测量承物台。
2.根据权利要求1所述的一种阵列透镜厚度尺寸四点同时检测装置，其特征在于：所述测量承物台的水平截面为凹字型。
3.根据权利要求1或2所述的一种阵列透镜厚度尺寸四点同时检测装置，其特征在于：所述上安装平台的除了朝向中间的另外三个侧面分别都设有一个安装柱，所述上安装平台通过安装柱与支撑座调节安装。
4.根据权利要求1或2所述的一种阵列透镜厚度尺寸四点同时检测装置，其特征在于：所述笔式测头沿测量臂的臂身方向滑动安装在测量臂上。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112985228A (zh) * | 2021-02-05 | 2021-06-18 | 西安应用光学研究所 | 一种快速定心的光学元件中心厚度精密测量仪 |
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2016
- 2016-04-14 CN CN201620352616.XU patent/CN205580424U/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
| CN112985228A (zh) * | 2021-02-05 | 2021-06-18 | 西安应用光学研究所 | 一种快速定心的光学元件中心厚度精密测量仪 |
| CN112985228B (zh) * | 2021-02-05 | 2024-02-27 | 西安应用光学研究所 | 一种快速定心的光学元件中心厚度精密测量仪 |
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