CN205562740U - 电路板检测下料装置 - Google Patents

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范建群
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Abstract

本实用新型公开了一种电路板检测下料装置,包括自动检测装置以及与自动检测装置相连的不良品下料装置,所述不良品下料装置包括下料端机架,下料端机架上设置有下料传输带机构以及驱动下料端传输带机构开合的下料端丝杆以及驱动下料端丝杆转动的下料端电机,还包括用于回收不良品的升降机,升降机包括与下料端机架滑动配合的升降机架以及驱动升降机架升降的下料端升降丝杆,下料端机架上下料传输带的入口以及出口处分别设置有光电传感器,升降机架设置有用于感测产品的高度的光电传感器,所述升降机架设置有用于感测产品的不良品下料传感器;自动检测装置对产品进行检测,检测后,不合格的产品进入不良品下料装置,升降机对不合格产品进行下料。

Description

电路板检测下料装置
技术领域
本实用新型涉及电子生产领域,尤其涉及电路板检测下料装置。
背景技术
随着电子技术的发展,电子装置的功能越来越强大,电路板的集成度也越来越高。在电路板生产的后期,需要对电路板的集成电路功能的完整性进行检测。
现有技术中,是通过人工将待检测的电路板放置到专门用于检测电路板的电路性能的ATE自动检测机机台进行检测,检测合格的产品再通过人工进行打点或者人工进行喷码,打点或者喷码后的电路板流入后续打点生产工序,检测不合格的产品通过人工下料的方式进行回收。人工检测回收的方式浪费人力,生产效率低,难以满足生产需求,且人工作业方式与操作人员的熟练程度有关,长时间操作时,操作者产生疲劳易导致不合格的产品流入后续生产中。
实用新型内容
本实用新型解决的技术问题是提供了一种对电路板自动检测,检测后对不合格的产品进行自动下料的电路板检测下料装置。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:电路板检测下料装置,包括自动检测装置以及与自动检测装置相连的不良品下料装置,所述不良品下料装置包括下料端机架,下料端机架上设置有下料传输带机构以及驱动下料端传输带机构开合的下料端丝杆以及驱动下料端丝杆转动的下料端电机,还包括用于回收不良品的升降机,升降机包括与下料端机架滑动配合的升降机架、驱动升降机架升降的下料端升降丝杆以及驱动下料端升降丝杆转动的电机,下料端机架上下料传输带的入口以及出口处分别设置有用于感测产品到达的光电传感器,升降机架设置有用于感测产品的高度的光电传感器,所述升降机架设置有用于感测产品的不良品下料传感器。
自动检测装置对产品进行检测,检测后,检测不合格的产品进入不良品下料装置,升降机对不合格产品进行下料。升降机架上的用于感测产品的高度的光电传感器用于控制升降机架的升降的高度,控制方便。
进一步的是:所述升降机架包括多个竖直设置的升降条,升降条设置有多个用于放置载具的支撑块,所述下料端机架还设置有对所述升降机架进行导向的下料端导向柱。
进一步的是:所述自动检测装置包括检测机架,检测机架设置有检测部工作台以及驱动检测部工作台升降的工作台升降气缸;检测部工作台设置有检测部传输带机构、驱动检测部传输带机构开合的检测部丝杆、用于放置待检测的产品的载具结构以及驱动载具结构升降的载具升降气缸,载具结构的上方设置有检测机构,检测机构包括触点安装板以及驱动触点安装板升降的安装板升降气缸。
本实用新型的有益效果是:自动检测装置用于对产品,即电路板进行检测,检测后,检测不合格的产品进入不良品下料装置,当下料传输带机构的入口的光电传感器感测到产品进入不良品下料装置,下料传输带机构的传输带带动产品向前传输,下料端丝杆转动驱动下料端传输带机构打开,升降机对不合格产品进行下料。升降机架上的用于感测产品的高度的光电传感器用于控制升降机架的升降的高度,控制方便。电路板检测下料装置实现了电路板的自动检测以及不良品下料,节省了人工,提高了生产效率。
附图说明
图1为电路板检测下料装置示意图;
图2为不良品下料装置示意图;
图3为不良品下料装置结构示意图;
图4为自动检测装置示意图;
图5为自动检测装置内部结构示意图;
图中标记为:自动检测装置1,检测机架11,检测部工作台12,工作台升降气缸13,检测部传输带机构14,载具升降气缸15,载具结构16,检测机构17,触点安装板18,安装板升降气缸19,不良品下料装置4,下料端机架41,下料端传输带42,光电传感器43,升降条44,支撑块45。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步加以说明。
如图1至图3所示,电路板检测下料装置,包括自动检测装置1以及与自动检测装置1相连的不良品下料装置4,所述不良品下料装置包括下料端机架41,下料端机架41上设置有下料传输带机构42以及驱动下料端传输带机构42开合的下料端丝杆以及驱动下料端丝杆转动的下料端电机,还包括用于回收不良品的升降机,升降机包括与下料端机架41滑动配合的升降机架、驱动升降机架升降的下料端升降丝杆以及驱动下料端升降丝杆转动的电机,下料端机架上下料传输带机构42的入口以及出口处分别设置有用于感测产品到达的光电传感器43,升降机架设置有用于感测产品的高度的光电传感器43,所述升降机架设置有用于感测产品的不良品下料传感器传感器;自动检测装置1用于对产品,即电路板进行检测,检测后,检测不合格的产品进入不良品下料装置4,当下料传输带机构42的入口的光电传感器43感测到产品进入不良品下料装置4,下料传输带机构42的传输带带动产品向前传输,下料端丝杆转动驱动下料端传输带机构42打开,升降机对不合格产品进行下料。升降机架上的用于感测产品的高度的光电传感器43用于控制升降机架的升降的高度,控制方便。
所述升降机架包括多个竖直设置的升降条44,升降条44设置有多个用于放置载具的支撑块45,所述下料端机架41还设置有对所述升降机架进行导向的下料端导向柱;
如图4至图5所示,所述自动检测装置1包括检测机架11,检测机架11设置有检测部工作台12以及驱动检测部工作台12升降的工作台升降气缸13;检测部工作台12设置有检测部传输带机构14、驱动检测部传输带机构14开合的检测部丝杆、用于放置待检测的产品的载具结构16以及驱动载具结构升降的载具升降气缸15,载具结构16的上方设置有检测机构17,检测机构17包括触点安装板171以及驱动触点安装板18升降的安装板升降气缸19;工作台升降气缸13用于调节检测部工作台12的高度,即调节传输带机构14的高度,以适应不同高度的流水线的高度需求;检测部传输带机构14包括两条对称设置的传输带,两条传输带之间的距离可以通过调节检测部丝杆进行调节,以适用不同规格的产品的检测需求;通过载具升降气缸15可以对载具结构16的高度进行调节,以方便检测机构17对产品的检测。根据不同的产品的检测需求,触点安装板18上安装与产品对应的触点,安装板升降气缸19驱动触点安装板18的升降对产品进行检测。
本实用新型的电路板检测下料装置,自动检测装置用于对产品,即电路板进行检测,检测后,检测不合格的产品进入不良品下料装置,当下料传输带机构的入口的光电传感器感测到产品进入不良品下料装置,下料传输带机构的传输带带动产品向前传输,下料端丝杆转动驱动下料端传输带机构打开,升降机对不合格产品进行下料。升降机架上的用于感测产品的高度的光电传感器用于控制升降机架的升降的高度,控制方便。电路板检测下料装置实现了电路板的自动检测以及不良品下料,节省了人工,提高了生产效率。
以上所述的具体实施方式,对本实用新型的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本实用新型的具体实施方式而已,并不用于限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (3)

1.电路板检测下料装置,其特征在于:包括自动检测装置以及与自动检测装置相连的不良品下料装置,所述不良品下料装置包括下料端机架,下料端机架上设置有下料传输带机构以及驱动下料端传输带机构开合的下料端丝杆以及驱动下料端丝杆转动的下料端电机,还包括用于回收不良品的升降机,升降机包括与下料端机架滑动配合的升降机架、驱动升降机架升降的下料端升降丝杆以及驱动下料端升降丝杆转动的电机,下料端机架上下料传输带的入口以及出口处分别设置有用于感测产品到达的光电传感器,升降机架设置有用于感测产品的高度的光电传感器,所述升降机架设置有用于感测产品的不良品下料传感器。
2.如权利要求1所述的电路板检测下料装置,其特征在于:所述升降机架包括多个竖直设置的升降条,升降条设置有多个用于放置载具的支撑块,所述下料端机架还设置有对所述升降机架进行导向的下料端导向柱。
3.如权利要求1或2所述的电路板检测下料装置,其特征在于:所述自动检测装置包括检测机架,检测机架设置有检测部工作台以及驱动检测部工作台升降的工作台升降气缸;检测部工作台设置有检测部传输带机构、驱动检测部传输带机构开合的检测部丝杆、用于放置待检测的产品的载具结构以及驱动载具结构升降的载具升降气缸,载具结构的上方设置有检测机构,检测机构包括触点安装板以及驱动触点安装板升降的安装板升降气缸。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106423815A (zh) * 2016-10-27 2017-02-22 重庆第二机床厂有限责任公司 一种电路板不合格品筛选机
CN107511341A (zh) * 2017-09-07 2017-12-26 缪小慧 灯丝板的自动检测***
CN108885238A (zh) * 2017-01-19 2018-11-23 深圳市汇顶科技股份有限公司 一种用于矩阵排列芯片的测试装置

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