CN205506755U - 一种无损检测组合试块 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种无损检测组合试块，该组合试块包括第一试块和第二试块，其中，第一试块为具有一凹槽的薄片，凹槽深度略小于第一试块厚度；第二试块由多个厚度相等的独立单块拼接而成，且多个独立单块拼接后在第二试块表面形成交叉拼接线，第二试块的形状与凹槽相匹配，嵌入凹槽内；第一试块和第二试块由电磁纯铁制成。本实用新型组合试块既可以作为磁粉检测用试块，也可以作为渗透检测用试块，简单实用，节约成本。
Description
【技术领域】
本实用新型属于无损检测技术领域，具体涉及一种可同时用于磁粉检测和渗透检测的组合试块。
【背景技术】
无损检测是一门新兴的综合性应用技术学科，是在不破坏或不损伤被检查对象的前提下，测定和评价物质内部或外表各类缺陷的学科。无损检测技术是实现质量控制、改进工艺、降低成本、保证设备安全运行等的重要手段，已经成为现代工业产品的制造和使用过程中不可缺少的组成部分。到目前为止，针对不同缺陷类型和特点，无损检测方法有：射线检测、超声检测、涡流检测、磁粉检测、渗透检测、声发射检测、红外检测以及激光全息照相检测新技术等。
其中，磁粉检测是利用工件缺陷处的漏磁场与磁粉的相互作用，对工件表面和近表面缺陷进行检测的方法。在采用磁粉检测方法对工件进行检查前，需要用试块对检测***灵敏度进行校验，校验合格后才能对工件进行检测作业。同样地，渗透检测出作为无损检测的一种检测方法，在对工件进行检查前，也需要用试块对渗透剂的灵敏度进行校验。
但目前，针对上述两种检测，须采用不同的标准试块进行作业前灵敏度校验，检验人员在对工件进行磁粉检测和渗透检测时，需要携带两种不同试块，为检验人员带来了不便，因此，亟需开发一种能够同时满足磁粉检测和渗透检测作业前灵敏度校验的试块。
【发明内容】
本实用新型的目的在于提供一种无损检测组合试块，该组合试块能够同时满足磁粉检测和渗透检测作业前灵敏度校验。
为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：
一种无损检测组合试块，用于对磁粉检测和渗透检测的灵敏度进行检验，包括第一试块和第二试块，所述第二试块嵌在第一试块的凹槽内；所述第二试块由多个独立单块拼接而成所述多个独立单块拼接后在所述第二试块表面形成交叉拼接线作为无损检测的缺陷。
进一步地，所述第一试块和第二试块由电磁纯铁制成。
进一步地，所述凹槽的深度小于第一试块的厚度，所述凹槽的直径略小于第二试块的直径。
进一步地，多个独立单块结构相同，每个独立单块的厚度与凹槽的深度相等。进一步地，所述凹槽截面为圆形，所述第二试块由四个相同的独立单块构成，该四个独立单块拼接成与所述凹槽形状相匹配的圆柱体。
进一步地，所述凹槽截面为正方形，所述第二试块由四个相同的独立单块构成，该四个独立单块拼接成与所述凹槽形状相匹配的正方体。
进一步地，所述凹槽位于所述第一试块的中心。
进一步地，所述第一试块为圆形或正方形薄片。
进一步地，所述独立单块拼接后在所述第二试块表面形成的交叉拼接线为“十”字形交叉拼接线。
与现有技术相比，本实用新型至少具有以下有益效果：本实用新型提供的一种无损检测组合试块在第一试块上嵌有第二试块，且第二试块由多个独立单块拼接而成，所述多个独立单块拼接后在所述第二试块表面形成交叉拼接线作为无损检测的缺陷。这样，当需要进行磁粉检测设备灵敏度校验时，用胶带纸将本实用新型试块的正面紧贴在被检工件清洁的表面上，在对工件和试块进行磁化的同时向试块反面喷洒磁悬液，并观察试块上的磁痕。磁化电流恰当，那么试块反面上就会出现清晰的交叉拼接线磁痕。当需要进行渗透检测渗透剂灵敏度校验时，用清洗剂清洗本实用新型试块正面后，将渗透剂喷洒在本试块正面上，静置后，擦除试块正面上的渗透剂，将显像剂喷洒于本实用新型正面上，观察显影即。因此，本实用新型既可以作为磁粉检测用试块，也可以作为渗透检测用试块，简单实用，节约成本。
【附图说明】
图1为本实用新型试块整体示意图；
图2为图1中沿A-A方向的剖面图；
图3为本实用新型中第一试块俯视图；
图4为本实用新型中第二试块俯视图。
其中，1为第一试块；2为第二试块；3为凹槽；4为试块正面；5为试块反面；6为拼接线。
【具体实施方式】
下面结合附图和实施例对本实用新型进行详细描述。
如图1-4所示，本实用新型组合试块包括第一试块1和第二试块2，其中，第一试块为具有一凹槽3的薄片，所述凹槽3厚度略小于所述第一试块1厚度；所述第二试块2由4个厚度相等的独立单块2a，2b，2c，2d拼接而成，且所述4个独立单块2a，2b，2c，2d拼接后在所述第二试块2表面形成交叉拼接线6，所述第二试块2的形状与所述凹槽3相匹配，嵌入所述凹槽3内；所述第一试块1和第二试块2由电磁纯铁DT4A制成。
所述第一试块1为厚度5mm的圆形薄片或正方形薄片，其上具有一截面为圆形或正方形的凹槽3，所述凹槽3直径为10mm，深度为4.9mm。所述第二试块2由四个大小相等、形状相同的独立单块2a，2b，2c，2d构成，所述任一独立单块为厚度4.9mm的直角扇形块，该四个独立单块2a，2b，2c，2d拼接后形成表面具有“十”字形交叉拼接线6的第二试块2，该“十”字形交叉拼接线6作为所述组合试块的人工缺陷，为了使第二试块2更为紧密地嵌入所述凹槽3中，将该扇形块所在圆的半径设为5.01mm，并将该四个独立单块2a，2b，2c，2d拼接后嵌入所述第一试块凹槽3内，构成本实用新型所述组合试块。
当需要进行磁粉检测设备灵敏度校验时，用胶带纸将本实用新型试块的正面4紧贴在被检工件清洁的表面上，在对工件和试块进行磁化的同时向试块反面5喷洒磁悬液，并观察试块上的磁痕。磁化电流恰当，那么试块反面5上就会出现清晰的交叉拼接线磁痕。
当需要进行渗透检测渗透剂灵敏度校验时，用清洗剂清洗本实用新型试块正面4后，将渗透剂喷洒在本试块正面4上，静置7～10min后，擦除试块正面4上的渗透剂，将显像剂喷洒于本实用新型正面4上，观察显影即可。
本实用新型提供的一种无损检测组合试块，其第二试块远离凹陷槽一侧表面形成的相交拼接线作为渗透检测试块人工缺陷；第二试块与凹陷槽接触一侧表面形成的相交拼接线作为磁粉检测试块人工缺陷，第一试块作为缺陷基体。该组合试块既可以作为磁粉检测用试块，也可以作为渗透检测用试块，简单实用，节约成本。
Claims (9)
1.一种无损检测组合试块，用于对磁粉检测和渗透检测的灵敏度进行检验，其特征在于：该无损检测组合试块包括第一试块(1)和第二试块(2)，所述第二试块(2)嵌在第一试块(1)的凹槽(3)内；所述第二试块由多个独立单块拼接而成，所述多个独立单块拼接后在所述第二试块表面形成交叉拼接线(6)作为无损检测的缺陷。
2.根据权利要求1所述的一种无损检测组合试块，其特征在于：所述第一试块(1)和第二试块(2)由电磁纯铁制成。
3.根据权利要求1所述的一种无损检测组合试块，其特征在于：所述凹槽(3)的深度小于第一试块(1)的厚度，所述凹槽(3)的直径略小于第二试块(2)的直径。
4.根据权利要求1所述的一种无损检测组合试块，其特征在于：多个独立单块结构相同，每个独立单块的厚度与凹槽(3)的深度相等。
5.根据权利要求1至4中任意一项所述的一种无损检测组合试块，其特征在于：所述凹槽(3)截面为圆形，所述第二试块(2)由四个相同的独立单块构成，该四个独立单块拼接成与所述凹槽(3)形状相匹配的圆柱体。
6.根据权利要求1至4中任意一项所述的一种无损检测组合试块，其特征在于：所述凹槽(3)截面为正方形，所述第二试块(2)由四个相同的独立单块构成，该四个独立单块拼接成与所述凹槽(3)形状相匹配的正方体。
7.根据权利要求1至4中任意一项所述的一种无损检测组合试块，其特征在于：所述凹槽(3)位于所述第一试块(1)的中心。
8.根据权利要求1至4中任意一项所述的一种无损检测组合试块，其特征在于：所述第一试块(1)为圆形或正方形薄片。
9.根据权利要求1至4中任意一项所述的一种无损检测组合试块，其特征在于：所述独立单块拼接后在所述第二试块表面形成的交叉拼接线(6)为“十”字形交叉拼接线。
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|---|---|---|---|
| CN201620082011.3U CN205506755U (zh) | 2016-01-27 | 2016-01-27 | 一种无损检测组合试块 |
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| CN (1) | CN205506755U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106404896A (zh) * | 2016-11-08 | 2017-02-15 | 中车戚墅堰机车车辆工艺研究所有限公司 | 一种磁粉灵敏度测试装置及其制作方法 |
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2016
- 2016-01-27 CN CN201620082011.3U patent/CN205506755U/zh not_active Expired - Fee Related
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| CN106404896A (zh) * | 2016-11-08 | 2017-02-15 | 中车戚墅堰机车车辆工艺研究所有限公司 | 一种磁粉灵敏度测试装置及其制作方法 |
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