CN205388626U - 腕带类阻值的测试工装 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种腕带类阻值的测试工装包括精密欧姆表和测试平台，其中测试平台上分别设有腕带固定座，触头柱、探针、校正棒、触头柱驱动部件和探针驱动部件，探针与精密欧姆表电连接，那么由校正棒将两根触头柱短接，探针与触头柱相接触后，精密欧姆表测得接入电阻。根据通过测试腕带阻值来判断产品的硬件合格率的原理可知，本实用新型的腕带类阻值的测试工装能够用于检测智能腕带产品的硬件合格率。又因上述触头柱可被触头柱驱动部件自动驱动移动，探针可被探针驱动部件驱动自动移动。因此本实用新型的腕带类阻值的测试工装接入非常小的外电阻，使其能够测量智能腕带类产品的腕带阻值，从而达到准确检测产品硬件的目的。

Description

腕带类阻值的测试工装

技术领域

本实用新型涉及腕带类产品硬件性能检测技术领域，尤其涉及一种腕带类阻值的测试工装。

背景技术

随着可穿戴消费电子品的流行，智能腕带已作为一个新的运动消费电子品流行开来。智能腕带产品虽然千差万别，但是所有腕带均可作为感知人体运动状态的工具。作为感知人体运动状态的工具的腕带，需要连接微电路和传感器等电路。而电路的好坏，直接关系到智能腕带产品硬件的性能。为了确保智能腕带类产品出厂前硬件合格，出现了测量上述电路导通性的导通测试装置。

导通测量装置的工作原理是：根据被测试电路的通断，来判定电路的导通性能，进而判断产品的硬件是否合格。但是发明人发现导通测量装置的工作原理，存在一些缺陷。例如：当被测试电路的部分电路发生损坏时，其测量的结果仍然为导通，导致测试结果不能完全准确。

针对上述技术问题，本领域技术人员经过认真的研究转换了思路。具体是：测量腕带阻值，根据测量的阻值大小，来判断产品的硬件是否合格。因为倘若产品的部分电路或者传感器等器件损坏时，其总体阻值必然发生相对较大变化，那么测量该产品的阻值时，能够得出比测电流来判定电路是否完好更为准确的结果。因此可以通过限定阻值的范围，来判定智能腕带类产品是否合格。但是根据反复试验得知，腕带阻值在0.5Ω以下才为合格，如此微电阻，需要测量腕带阻值的装置所接入的外来电阻更小(至少在电阻方面低一个数量级)，才能使测量更接近真实值。

如图1所示，现有的腕带4包括腕带仓41，以及腕带仓41内侧向内凹陷的金属触点40。

实用新型内容

本实用新型提供一种腕带类阻值的测试工装，该工装接入非常小的外电阻，使其能够测量智能腕带类产品的腕带阻值，从而达到准确检测产品硬件是否合格的目的。

为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：

一种腕带类阻值的测试工装包括精密欧姆表和测试平台，所述测试平台上分别设有：腕带固定座，所述腕带固定座包括凸台，所述凸台大小形状与腕带仓相适配，所述凸台的一侧设有两个缺口；两根平行设置的触头柱，每根所述触头柱的侧壁上均设有触头，所述触头远离所述触头柱的端部为平面；两根所述触头柱分别设在两个所述缺口处；若干根探针，每根所述探针的一端均为球头端，所述球头端与所述触头柱相接触；所有所述探针的另一端均与所述精密欧姆表电连接；校正棒，所述校正棒将两根所述触头柱短接，用于测量所述精密欧姆表的接入电阻；触头柱驱动部件，所述触头柱驱动部件驱动两根所述触头柱移动；探针驱动部件，所述探针驱动部件驱动所述探针移动。

优选方式为，每根所述触头柱与其对应的所述触头相接触处均为弧面。

优选方式为，所述触头柱驱动部件包括触头柱推进气缸，所述触头柱推进气缸与触头柱固定座传动连接，两根所述触头柱竖直设在所述触头柱固定座上，所述触头柱固定座设在第一滑动导轨上，所述第一滑动导轨设在所述测试平台上并与所述触头平行设置。

优选方式为，所述触头柱驱动部件还包括绝缘座，所述绝缘座设在所述触头柱固定座和所述第一滑动导轨之间。

优选方式为，所述测试平台上还设有限位块，所述限位块朝向所述绝缘座的面与所述凸台设有所述缺口的侧面对齐设置。

优选方式为，所述探针驱动部件包括探针推进气缸，所述探针推进气缸与探针固定座传动连接，所述探针固定座跨设在第二滑动导轨上，所述第二滑动导轨设在所述测试平台上；每根所述探针均固定在所述探针固定座上。

优选方式为，每根所述探针的另一端均与所述第二滑动导轨平行设置。

优选方式为，所述第二滑动导轨为所述第一滑动导轨，所述触头柱推进气缸和所述探针推进气缸分设在所述第一滑动导轨的两侧。

优选方式为，所述腕带固定座还包括设在所述测试平台上的支架，所述凸台设在所述支架的上面。

优选方式为，所述第一滑动导轨从所述支架的下面穿过。

采用上述技术方案后，本实用新型的有益效果是：由于本实用新型的腕带类阻值的测试工装包括精密欧姆表和测试平台，其中测试平台上分别设有腕带固定座，触头柱、探针、校正棒、触头柱驱动部件和探针驱动部件，探针与精密欧姆表电连接。因设有精密欧姆表，使本实用新型能够测量腕带的电阻值。因校正棒将两根触头柱短接，探针与触头柱相接触后，精密欧姆表测得接入电阻，进一步确保了本实用新型测得腕带的电阻的准确性。根据通过测试腕带阻值来判断产品的硬件合格率的原理可知，本实用新型的腕带类阻值的测试工装，能够用于检测智能腕带产品的硬件合格率。又因上述触头柱可被触头柱驱动部件驱动移动，探针可被探针驱动部件驱动移动，使本实用新型操作方便测试效率高。因此本实用新型的腕带类阻值的测试工装，接入非常小的外电阻，使其能够测量智能腕带类产品的腕带阻值，从而达到准确检测产品硬件是否合格的目的。

由于每根触头柱与其对应的触头相接触处均为弧面；该结构使探针与触头柱相接触时为弧面对弧面，使触头柱和探针能够自我导正保持良好接触，从而减小了接入的电阻。

由于触头柱驱动部件包括触头柱推进气缸，触头柱推进气缸与触头柱固定座传动连接，两根触头柱竖直设在触头柱固定座上，触头柱固定座设在第一滑动导轨上，第一滑动导轨设在测试平台上并与触头平行设置；该结构使触头柱在触头柱推进气缸的推动下，自动发生移动。

由于测试平台上还设有限位块，该限位块朝向绝缘座的面与凸台设有缺口的侧面对齐设置；该结构使绝缘座的移动受到限制，保证了触头柱驱动部件运行的可靠性。

由于探针驱动部件包括探针推进气缸，探针推进气缸与探针固定座传动连接，该探针固定座跨设在第二滑动导轨上，该第二滑动轨道设在测试平台上；每根探针的另一端均固定在探针固定座上；该结构使探针能够在探针推进气缸的推动下，自动发生移动。

由于每根探针均与第二滑动导轨平行设置；该结构使探针与触头柱为相互垂直接触，让相互接触更加稳定，让测试结果更准确。

综上所述，本实用新型的腕带类阻值的测试工装，解决了现有技术中利用测试电路通断的方式，来判断智能腕带类产品是否合格时，判断不准确的技术问题。本实用新型的腕带类阻值的测试工装接入非常小的外电阻，使智能腕带类产品可通过测量腕带的微电阻，来准确检测智能腕带类产品是否合格，间接的提高了生产效率。

附图说明

图1是现有技术中腕带的结构示意图；

图2是本实用新型腕带类阻值的测试工装的结构示意图；

图3是本实用新型的测试平台的放大结构示意图；

图4是本实用新型测试平台去掉腕带固定座时的放大结构示意图；

图中：1—测试平台、2—壳体、3—精密欧姆表、4—腕带、40—金属触点、41—腕带仓、5—支架、6—触头柱推进气缸、7—凸台、70—缺口、8—气缸连接块、9—触头、10—校正棒、11—探针推进气缸、12—探针气缸固定块、13—触头柱固定座、14—探针固定座、15—第一滑动导轨、16—导轨固定座、17—探针、18—触头柱、19—限位块、20—绝缘座、21—触头柱气缸固定块。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

如图2所示，一种腕带类阻值的测试工装包括壳体2，壳体2内设置精密欧姆表3，壳体2上还开设有窗口，让精密欧姆表3的数值可视，让精密欧姆表3可操作。壳体2的上面设有测试平台1，测试平台1上分别设有：腕带固定座、两根平行设置的触头柱18、多根探针17、校正棒10、触头柱驱动部件和探针驱动部件。

如图1、图2、图3和图4所示，腕带固定座包括跨设在在测试平台1上的支架5，支架5上设有一凸台7。凸台7大小形状与图1中的腕带仓41相适配，并且凸台7的一侧设有两个缺口70，两个缺口70与腕带4卡在凸台7上后两个金属触点40的位置相对应。

两个缺口70处一对一的设有一根触头柱18，触头柱18竖直设在触头柱固定座13上，触头柱固定座13设在绝缘座20上，绝缘座20优选电木座。绝缘座20跨设在第一滑动导轨15上，本实施例的第一滑动导轨15从支架5的底部穿过。第一滑动导轨15设在导轨固定座16上，导轨固定座16设在测试平台1上；而且第一滑动导轨15与触头9平行设置。绝缘座20通过气缸连接块8与触头柱推进气缸6传动连接，触头柱推进气缸6设在第一滑动导轨15的一端，并被触头柱气缸固定块21固定在测试平台1上。上述的触头柱固定座13、绝缘座20、气缸连接块8和触头柱推进气缸6为触头柱驱动部件。

每根触头柱18的侧壁上均设有一个触头9，该触头9与触头柱18垂直设置，并且远离触头柱18的端部为平面，该平面去与凹陷的金属触点40相接触，为平面和弧面的接触。两根触头柱18的两个触头9均设在缺口70侧，当腕带4卡在凸台7上后，触头9的平面朝向金属触点40。在触头柱驱动部件的作用下，触头柱18在缺口70内向金属触点40移动，直到与金属触点40相接触。本实施例的触头柱18的移动距离为3mm。另外在绝缘座20前方两侧的测试平台1上分别设有一块限位块19，每块限位块19朝向绝缘座20侧的面均与凸台7设有缺口70的侧面对齐设置，也就是触头柱推进气缸6不能讲绝缘座20推过缺口70。

本实施例包括四根探针17，每根探针17均与第一滑动导轨15平行设置，每根探针17的一端均为球头端，另一端均设在探针固定座14上；所有探针17的另一端均与精密欧姆表3电连接。探针固定座14跨设在第一滑动导轨15上，同时探针固定座14与探针推进气缸11传动连接。探针推进气缸11被另一块探针气缸固定块12固定在第一滑动导轨15另一端的测试平台1上。驱动探针17移动的探针驱动部件包括探针推进气缸11、探针固定座14和第二滑动导轨，本实施例的第二滑动导轨选用了触头柱驱动部件的第一滑动导轨15。探针推进气缸11的推进下四根探针17同时接触触头柱18，形成了四线制结构，消除了探针17及部分导线一直到精密欧姆数显表处的***电阻。

在测量腕带4的阻值时，先用校正棒10将两根触头柱18短接，启动精密欧姆表3测出一个接入电阻，该接入电阻的阻值远小于待测腕带的阻值，该接入电阻一般小于30mΩ，而待测腕带阻值即待测腕带导电结构的内阻一般小于0.5Ω，前者在阻值方面至少比后者低一个数量级，该接入电阻被精密欧姆表3记忆存储以便测试时作为内阻减掉，以保证后续测量待测腕带阻值的过程中所测结果的准确性。接着将腕带4放置在腕带固定座的凸台7上，让金属触点40与两个缺口70对应设置，用手摁压到位。启动工装，触头柱推进气缸6动作，其推动绝缘座20在第一滑动导轨15上移动，使触头柱18固定在随着移动，两根触头柱18同时被带动，最终使两根触头柱18上的两个触头9同时向着对应的金属触点40移动。当触头柱推进气缸6的行程为3mm时停止，限位块19也将绝缘座20限位。停止后让触头9的平面与对应的金属触点40的弧面可靠接触。再然后启动探针推进气缸11，让其推动探针固定座14沿着第一滑动导轨15向触头柱18移动，直至探针17的球头端与触头柱18相接触。各处接触完毕后，精密欧姆数显表测试腕带4阻值，当测得数据显示在500mΩ以下时，表面被测量的腕带4的硬件性能合格，满足要求。测试完毕后，探针推进气缸11驱动探针固定座14沿着第一滑动导轨15移回，触头柱推进气缸6驱动绝缘座20在第一滑动导轨15移回，使触头柱18在对应的缺口70位置移动，与金属触点40分开，最后将腕带4从凸台7取下完成。

另外支架5位于探针17侧对应凸台7处设有开口，便于探针固定座14的移动。当第二滑动导轨可以设置成任意方向，只要在探针推进气缸11的驱动下，探针固定座14能够带着探针17去与触头柱18的侧壁相接触即可。而第一滑动导轨15与触头9相平行设置，是保障触头9通过往复平移，就能实现与金属触点40的接触或分离。

本实用新型的触头柱18由紫铜制成，电阻小；校正棒10优选实测电阻为15mΩ左右的矫正棒。

以上所述本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同一种腕带类阻值的测试工装结构的改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.腕带类阻值的测试工装，其特征在于，包括精密欧姆表和测试平台，所述测试平台上分别设有：

腕带固定座，所述腕带固定座包括凸台，所述凸台大小形状与腕带仓相适配，所述凸台的一侧设有两个缺口；

两根平行设置的触头柱，两根所述触头柱分别设在两个所述缺口处；每根所述触头柱的侧壁上均设有触头，所述触头远离所述触头柱的端部为平面；

若干根探针，每根所述探针的一端均为球头端，所述球头端与所述触头柱相接触；所有所述探针的另一端均与所述精密欧姆表电连接；

校正棒，所述校正棒将两根所述触头柱短接，用于测量所述精密欧姆表的接入电阻；

触头柱驱动部件，所述触头柱驱动部件驱动两根所述触头柱移动；

探针驱动部件，所述探针驱动部件驱动所述探针移动。

2.根据权利要求1所述的腕带类阻值的测试工装，其特征在于，每根所述触头柱与其对应的所述触头相接触处均为弧面。

3.根据权利要求1所述的腕带类阻值的测试工装，其特征在于，所述触头柱驱动部件包括触头柱推进气缸，所述触头柱推进气缸与触头柱固定座传动连接，两根所述触头柱竖直设在所述触头柱固定座上，所述触头柱固定座设在第一滑动导轨上，所述第一滑动导轨设在所述测试平台上并与所述触头平行设置。

4.根据权利要求3所述的腕带类阻值的测试工装，其特征在于，所述触头柱驱动部件还包括绝缘座，所述绝缘座设在所述触头柱固定座和所述第一滑动导轨之间。

5.根据权利要求4所述的腕带类阻值的测试工装，其特征在于，所述测试平台上还设有限位块，所述限位块朝向所述绝缘座的面与所述凸台设有所述缺口的侧面对齐设置。

6.根据权利要求1至5任一项所述的腕带类阻值的测试工装，其特征在于，所述探针驱动部件包括探针推进气缸，所述探针推进气缸与探针固定座传动连接，所述探针固定座跨设在第二滑动导轨上，所述第二滑动导轨设在所述测试平台上；每根所述探针的另一端均固定在所述探针固定座上。

7.根据权利要求6所述的腕带类阻值的测试工装，其特征在于，每根所述探针均与所述第二滑动导轨平行设置。

8.根据权利要求7所述的腕带类阻值的测试工装，其特征在于，所述第二滑动导轨为所述第一滑动导轨，所述触头柱推进气缸和所述探针推进气缸分设在所述第一滑动导轨的两侧。

9.根据权利要求8所述的腕带类阻值的测试工装，其特征在于，所述腕带固定座还包括设在所述测试平台上的支架，所述凸台设在所述支架的上面。

10.根据权利要求9所述的腕带类阻值的测试工装，其特征在于，所述第一滑动导轨从所述支架的下面穿过。