CN205166548U - 一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构，其组成包括底座托盘、预紧夹片和压盖，所述的底座托盘安装在机床主轴的一端，所述的压盖与所述的底座托盘采用活动连接的方式固定，所述的预紧夹片安装在所述的底座托盘的内壁上，所述的底座托盘安装在机床主轴的末端，所述的底座托盘上设有顶紧螺栓孔，所述的顶紧螺栓孔周围均匀分布安装有配重块。本实用新型用于静压主轴回转误差测试，通过调节底座托盘的螺钉，可减小夹结构与主轴之间的装配误差，操作方便成本低。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构，属于机械夹具技术超精密测量领域。
背景技术
机床主轴是机床的关键部件，机床主轴的回转精度决定机床的加工精度，且机床的加工精度越高，机床主轴回转精度占有的比重越大；通过测试主轴的回转误差，可寻找主轴回转误差的来源、预测待加工工件表面的形状以及提高机床的加工精度等等。
目前，主轴回转误差测试***通常由高精度电容或电感位移传感器、标准球和计算机等组成，传感器的性能、标准球的加工精度决定了该种测试***的测试精度，然而该种测量***传感器易受环境的干扰，影响最终主轴回转误差测试结果。因此，提出了一种基于动态干涉仪的主轴回转误差测试***，该种测试方法动态干涉仪作为测量传感器，平晶作为检测基准，通过干涉仪实时采集获取平晶表面三维形貌，通过分析平晶形貌信息获取主轴回转误差，平晶是高精密光学元件。因此，平晶的装夹方式影响着主轴回转测试的测量结果。
常用的平晶检测***由激光干涉仪、平晶装夹结构、计算机以及图像处理软件等软硬件设备组成，由于平晶是高精密光学元件，稍有外力作用在平晶表面都会引起平晶表面三维结构的变化，甚至平晶自身的重力都会引起平晶表面三维形貌的变化，因此在装配待检测平晶时，尽量避免产生装夹结构与平晶产生装夹应力，以免产生的应力破坏平晶表面的三维形貌；那么当平晶在处于回转过程时，将会引入新的干扰因素影响平晶表面三维形貌的测量。根据现有平晶的装夹结构，尚未发现能适用与在动态回转过程中检测平晶平面度的专用夹具。因此，本文设计一种用于回转误差测试装置的平晶装夹结构，该装夹结构具有结构简单、操作方便以及装夹应力小等特点。
发明内容
本实用新型的目的在于克服现有装夹技术存在的不足，提供一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构，所述的平晶装夹结构包括底座托盘、预紧夹片和压盖，所述的底座托盘安装在机床主轴的一端，所述的压盖与所述的底座托盘采用活动连接的方式固定，所述的预紧夹片安装在所述的底座托盘的内壁上。
所述的底座托盘安装在机床主轴的末端，所述的底座托盘上设有顶紧螺栓孔，所述的顶紧螺栓孔周围均匀分布安装有配重块。
所述的底座托盘的外部分别设有均匀分布的调节螺钉。
所述的底座托盘的内部底面处安装有环形垫圈。
所述的预紧夹片的厚度不超过5mm，且表面设有硅胶垫片。
所述的预紧夹片的外壁上安装有连接凹槽，底座托盘上安装的无头内六角螺钉与所述的连接凹槽固定连接。
所述的压盖具有凹形结构，便于加入硅胶类垫圈。
有益效果：
1、本实用新型的底座托盘安装在机床主轴的末端，通过顶紧螺栓孔安装顶紧螺钉进行固定，并在所述的顶紧螺栓孔周围均匀分布安装配重块，能够有效防止装夹结构在回转过程中发生偏振。
2、本实用新型的底座托盘的外部分别设有均匀分布的调节螺钉，通过调节螺钉即可调节平晶平面与回转轴线的垂直度，省时便捷。
3、本实用新型的预紧夹片安装在底座托盘的内壁上，通过调节螺钉可装配不同口径的光学平晶，适用性强。
4、本实用新型的预紧夹片表面设有硅胶垫片，能够有效避免光学平晶与夹片刚性接触而破坏平晶表面结构，安全性高。
5、本实用新型的压盖具有凹形结构，便于加入硅胶类垫圈，在调节光学平晶工作平面与回转轴线的垂直度时，能够避免光学平晶与压盖发生刚性接触而破坏平晶表面结构。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型底座托盘的结构示意图；
图3为本实用新型压盖的结构示意图；
图4为本实用新型预紧夹片的结构示意图；
图中：1-底座托盘、2-压盖、3-预紧夹片、4-环形垫圈、5-调节螺钉、6-配重块、7-无头内六角螺钉、8-顶紧螺栓孔、9-凹形结构、10-连接凹槽。
具体实施方式
下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。
一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构，所述的平晶装夹结构包括底座托盘1、预紧夹片3和压盖2，所述的底座托盘1安装在机床主轴的一端，所述的压盖2与所述的底座托盘1采用活动连接的方式固定，所述的预紧夹片3安装在所述的底座托盘1的内壁上。
所述的底座托盘1安装在机床主轴的末端，所述的底座托盘1上设有顶紧螺栓孔8，所述的顶紧螺栓孔8周围均匀分布安装有配重块6。
所述的底座托盘1的外部分别设有均匀分布的调节螺钉5。
所述的底座托盘1的内部底面处安装有环形垫圈4。
所述的预紧夹片3的厚度不超过5mm，且表面设有硅胶垫片。
所述的预紧夹片3的外壁上安装有连接凹槽10，底座托盘1上安装的无头内六角螺钉7与所述的连接凹槽10固定连接。
所述的压盖2具有凹形结构9，便于加入硅胶类垫圈。
上面对本专利的较佳实施方式作了详细说明，但是本专利并不限于上述实施方式，在本领域的普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本专利宗旨的前提下做出各种变化。
Claims (7)
1.一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构，其特征在于，所述的平晶装夹结构包括底座托盘、预紧夹片和压盖，所述的底座托盘安装在机床主轴的一端，所述的压盖与所述的底座托盘采用活动连接的方式固定，所述的预紧夹片安装在所述的底座托盘的内壁上。
2.根据权利要求1所述的一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构，其特征在于：所述的底座托盘安装在机床主轴的末端，所述的底座托盘上设有顶紧螺栓孔，所述的顶紧螺栓孔周围均匀分布安装有配重块。
3.根据权利要求1所述的一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构，其特征在于：所述的底座托盘的外部分别设有均匀分布的调节螺钉。
4.根据权利要求1所述的一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构，其特征在于：所述的底座托盘的内部底面处安装有环形垫圈。
5.根据权利要求1所述的一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构，其特征在于：所述的预紧夹片的厚度不超过5mm，且表面设有硅胶垫片。
6.根据权利要求1所述的一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构，其特征在于：所述的预紧夹片的外壁上安装有连接凹槽，底座托盘上安装的无头内六角螺钉与所述的连接凹槽固定连接。
7.根据权利要求1所述的一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构，其特征在于：所述的压盖具有凹形结构，便于加入硅胶类垫圈。
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| CN110186873B (zh) * | 2019-06-25 | 2021-09-24 | 东北大学秦皇岛分校 | 一种磁动式光学相干层析成像的降噪装置 |
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