CN205080242U - 电源板功能测试*** - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种电源板功能测试***，包括上位机、控制芯片和用于电源板测试的功能检测电路，功能检测电路对应与电源板的相应测试点连接，对电源板进行检测，并输出检测结果；控制芯片分别连接功能检测电路和上位机，根据功能检测电路输出的检测结果，产生相应的电平信号，并将该电平信号输出至上位机。本实用新型技术方案可实现电源板功能测试的全自动化，无需操作人员，大幅提升了测试效率，并且有效的避免了由于人眼疲劳造成误判的问题。

Description

电源板功能测试***

技术领域

本实用新型涉及家用电器技术领域，特别涉及一种电源板功能测试***。

背景技术

各种电器设备在出厂之前均需要进行功能检测，尤其是作为电器设备内重要部分的电源板。现有电源板的测试方案为人工取放电源板，通过操作员操作测试工装并通过测试工装内置的测试板自动分析产品功能，分析结果通过数码管或LED显示的形式反馈给操作员，由操作员根据数码管或LED显示的结果来评判产品功能的好坏及打标送维修。这种测试方案需人工操作测试工装、判断电源板功能好坏及打标送维修，人工劳动强度大，效率低，并且，在操作员眼睛疲劳状态下，极易由于观看不仔细而产生误判。

因此，提出一种新的电源板测试方案，非常有必要。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提供一种电源板功能测试***，旨在提升电源板的测试效率和避免操作员误判的情形。

为实现上述目的，本实用新型提出的电源板功能测试***，包括上位机、控制芯片和用于电源板测试的功能检测电路，所述功能检测电路对应与所述电源板的相应测试点连接，对所述电源板进行检测，并输出检测结果；所述控制芯片分别连接所述功能检测电路和所述上位机，根据所述功能检测电路输出的检测结果，产生相应的电平信号，并将该电平信号输出至所述上位机。

优选地，所述功能检测电路包括用于采样所述电源板输出电压的采样模块，所述采样模块包括三个电压采样电路，各个电压采样电路的采样输入端分别对应连接所述电源板的5V输出端、12V输出端和24V输出端，各个电压采样电路的采样输出端分别连接所述控制芯片的A/D口；各个电压采样电路将采样到的电压输出至所述控制芯片的对应A/D口，所述控制芯片分别判断每个A/D口接收到的电压是否等于预设电压，以输出相应的电平信号至所述上位机。

优选地，所述电压采样电路包括第一电阻、第二电阻和第一电容，所述第一电阻的第一端作为所述电压采样电路的采样输入端，所述第一电阻的第二端作为所述电压采样电路的采样输出端，所述第一电阻的第二端经所述第二电阻接地，所述第一电容与所述第二电阻并联。

优选地，所述功能检测电路包括用于检测所述电源板的温度传感线路是否完好的线路检测模块，所述线路检测模块包括多个检测负载，各个检测负载与所述电源板上的温度检测电路一一对应连接；其中，所述温度检测电路包括温度传感器插座、第三电阻和第二电容，所述温度传感器插座的一端连接电源，所述温度传感器插座的另一端经所述第三电阻接地，所述第二电容与所述第三电阻并联；所述检测负载的一端连接电源，所述检测负载的另一端连接所述温度传感器插座的另一端和所述控制芯片，所述控制芯片判断所述检测负载的另一端的电压是否等于预设电压，以并输出相应的电平信号至所述上位机。

优选地，所述电源板功能测试***还包括漏电测试模块，所述漏电测试模块包括两个与所述电源板上的漏电线圈的输入端连接的测试电流产生电路，所述控制芯片连接所述电源板的漏电保护端口，根据所述漏电保护端口的电平输出相应的电平信号至所述上位机。

优选地，所述测试电流产生电路包括第四电阻、第五电阻、第六电阻、NPN型三极管和第一光耦，所述第一光耦的发光二极管的阳极经所述第四电阻连接电源，所述第一光耦的发光二极管的阴极连接所述NPN型三极管的集电极，所述NPN型三极管的发射极接地，所述NPN型三极管的基极经所述第五电阻接地，所述第一光耦的光敏三极管的集电极经所述第六电阻连接电源，所述第一光耦的光敏三极管的发射极连接所述漏电线圈的输入端；所述控制芯片连接所述NPN型三极管的基极，输出驱动电流至所述NPN型三极管的基极。

优选地，所述电源板功能测试***还包括继电器通断检测模块，所述继电器通断检测模块包括多个通断检测电路，所述通断检测电路包括第七电阻、第八电阻、第三电容和高压光耦，其中，所述高压光耦的发光二极管的阳极依次经所述第七电阻、所述电源板上的一继电器开关连接电源火线，所述高压光耦的发光二极管的阴极经所述电源板的一继电器开关连接电源零线；所述高压光耦的光敏三极管的集电极连接电源，所述高压光耦的光敏三极管的发射极经所述第八电阻接地，所述第三电容与所述第八电阻并联；所述控制芯片连接所述高压光耦的光敏三极管的发射极，根据所述高压光耦的光敏三极管的发射极的电平输出相应的电平信号至所述上位机；所述控制芯片分别连接各个继电器开关的导通控制端，控制各个继电器开关的导通和关断。

优选地，所述电源板功能测试***还包括与所述控制芯片连接的LED显示模块。

优选地，所述控制芯片为TMP89FM42UG单片机。

本实用新型技术方案通过功能检测电路对电源板进行功能检测测试，功能检测电路将检测结果分别输出到控制芯片，控制芯片根据各项检测结果分别输出相应的电平信号至上位机。上位机根据接收到的电源板各功能测试对应的电平信号，即可知道当前电源板的各项功能是否正常，或哪项功能异常，从而可通过控制相应的***自动化设备将当前检测电源板(电源板功能异常时)送入维修处，或将当前电源板(电源板功能正常时)送入良品处并进行下一个电源板的测试等等，这样即实现了电源板功能测试的全自动化，无需操作人员，大幅提升了测试效率，并且有效的避免了由于人眼疲劳造成误判的问题。

附图说明

图1为本实用新型电源板功能测试***较佳实施例的功能模块示意图；

图2为图1中功能检测电路的电压采样电路的电路图；

图3为图1中功能检测电路的检测负载与电源板的温度检测电路连接时的电路图；

图4为图1中功能检测电路的测试电流产生电路的电路图；

图5为图1中功能检测电路的通断检测电路的电路图。

附图标号说明：

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面结合附图及具体实施例就本实用新型的技术方案做进一步的说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

本实用新型提出一种电源板功能测试***。

参照图1至5，图1为本实用新型电源板功能测试***较佳实施例的功能模块示意图；图2为图1中功能检测电路的电压采样电路的电路图；图3为图1中功能检测电路的检测负载与电源板的温度检测电路连接时的电路图；图4为图1中功能检测电路的测试电流产生电路的电路图；图5为图1中功能检测电路的继电器通断检测电路的电路图。

在本实用新型实施例中，该电源板功能测试***包括上位机100、控制芯片200和用于测试电源板的功能检测电路300，功能检测电路300对应与电源板的相应测试点连接，对电源板进行检测，并输出检测结果；控制芯片200分别连接功能检测电路300和上位机100，控制芯片200接收功能检测电路300输出的检测结果，并根据检测结果输出相应的电平信号至上位机100。

本实用新型技术方案通过功能检测电路300对电源板进行功能检测测试，功能检测电路300将检测结果分别输出到控制芯片200，控制芯片200根据各项检测结果分别输出相应的电平信号至上位机100，例如，控制芯片200在根据合格的检测结果而输出高电平至上位机100，根据不合格的检测见过而输出低电平至上位机100。上位机100根据接收到的电源板各功能测试对应的电平信号，即可知道当前电源板的各项功能是否正常，或哪项功能异常，从而可通过控制相应的***自动化设备将当前检测电源板(电源板功能异常时)送入维修处，或将当前电源板(电源板功能正常时)送入良品处并进行下一个电源板的测试等等，这样即实现了电源板功能测试的全自动化，无需操作人员，大幅提升了测试效率，并且有效的避免了由于人眼疲劳造成误判的问题。

优选地，本实施例的控制芯片200优选选用现有的TMP89FM42UG单片机，当然控制芯片200还可以为其它类似的单片机或芯片。

优选地，功能检测电路300包括用于采样电源板输出电压的采样模块，采样模块包括三个电压采样电路310，各个电压采样电路310的采样输入端分别对应连接电源板的5V输出端、12V输出端和24V输出端，各个电压采样电路310的采样输出端分别连接控制芯片200的A/D口；各个电压采样电路310将采样到的电压输出至控制芯片200的对应A/D口，控制芯片200分别判断每个A/D口接收到的电压是否等于预设电压(可通过比较器进行比较判断)，以输出相应的电平信号至上位机100。电源板具有5V、12V和24V这3个电压输出端，功能检测电路300通过采样模块的三个电压采样电路310分别对电源板的三个电压输出端进行采样，将采样到的电压送入控制芯片200进行判断是否等于对应的预设电压，从而确定当前电源板的三个电压输出端是否正常；采样到的电压等于预设电压时，代表正常，反之则异常。

优选地，参照图2，本实施例的电压采样电路310包括第一电阻R1、第二电阻R2和第一电容C1，第一电阻R1的第一端1作为电压采样电路310的采样输入端，第一电阻R1的第二端2作为电压采样电路310的采样输出端，第一电阻R1的第二端2经第二电阻R2接地，第一电容C1与第二电阻R2并联。电压采样电路310输出的采样电压就是第二电阻R2在由第一电阻R1和第二电阻R2形成的串联回路上的分压值，各个电压采样电路310中的电阻的阻值可设为不同。例如，第一电阻R1和第二电阻R2均为10KΩ，第一电阻R1的第一端1连接的是电源板的5V输出端，则若电源板的5V输出端正常时，第二电阻R2上的分压就为2.5V，控制芯片200则只需判断该电压采样电路310采样的电压是否为2.5V，则可确定该电源板的5V输出端是否正常；12V输出端和24V输出端的判断同理。

优选地，功能检测电路300包括用于检测电源板的温度传感线路是否完好的线路检测模块，线路检测模块包括多个检测负载RL(优选电阻)，各个检测负载RL与电源板上的温度检测电路一一对应连接；其中，温度检测电路包括温度传感器插座CN、第三电阻R3和第二电容C2，温度传感器插座CN的一端连接电源VCC，温度传感器插座CN的另一端经第三电阻R3接地，第二电容C2与第三电阻R3并联；检测负载RL的一端连接电源VCC，检测负载RL的另一端连接温度传感器插座CN的另一端和控制芯片200，即检测负载RL的另一端作为检测输出端；控制芯片200判断检测负载RL的另一端的电压是否等于预设电压，以输出相应的电平信号至上位机100。检测输出端输出的信号即为第三电阻R3上的分压。

进一步地，本实施例的电源板功能测试***还包括漏电测试模块，漏电测试模块包括两个与电源板上的漏电线圈的输入端连接的测试电流产生电路320，控制芯片200连接电源板的漏电保护端口(即电源板的LB端口)，根据漏电保护端口的电平输出相应的电平信号至上位机100。两测试电流产生电路320分别用于产生不同大小的漏电测试电流输入到漏电线圈的输入端，其中，较大的漏电测试电流用来测试电源板的漏电保护电路是否能触发漏电保护，较小漏电测试电流用来测试电源板的漏电保护电路的是否能抗干扰。电源板的漏电保护电路触发保护时，漏电保护端口为低电平，电源板的漏电保护电路未触发保护时，漏电保护端口为高电平。控制芯片200在漏电测试模块向漏电线圈的输入端输出较大漏电测试电流时，接收到漏电保护端输出的为低电平，以及在漏电测试模块向漏电线圈的输入端输出较大漏电测试电流时，接收到漏点保护端输出的为高电平时，才确定电源板的漏电保护功能正常，否则为异常。

具体的，参照图4，本实施例的测试电流产生电路320包括第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、NPN型三极管Q1和第一光耦U1，第一光耦U1的发光二极管的阳极经第四电阻R4连接电源VCC，第一光耦U1的发光二极管的阴极连接NPN型三极管Q1的集电极，NPN型三极管Q1的发射极接地，NPN型三极管Q1的基极经第五电阻R5接地，第一光耦U1的光敏三极管的集电极经第六电阻R6连接电源VCC，第一光耦U1的光敏三极管的发射极连接漏电线圈的输入端；控制芯片200连接NPN型三极管Q1的基极，输出驱动电流至NPN型三极管的基极。测试电流产生电路320的工作原理为：控制芯片200输出驱动电流使NPN型三极管Q1导通，进而第一光耦U1的发光二极管的阴极接地，第一光耦U1的发光二极管导通发光，第一光耦U1的光敏三极管导通，从而第一光耦U1的光敏三极管的发射极输出测试电流到漏电线圈的输入端。两个测试电流产生电路320中的第六电阻R6的阻值不等，从而使两测试电流产生电路320输出不同的测试电流。

进一步地，电源板功能测试***还包括继电器通断检测模块，继电器通断检测模块包括多个通断检测电路330，参照图5，通断检测电路330包括第七电阻R7、第八电阻R8、第三电容C3和高压光耦U2，其中，高压光耦U2的发光二极管的阳极依次经第七电阻R7、电源板上的一继电器开关K连接电源火线L，高压光耦U2的发光二极管的阴极经电源板的一继电器开关K连接电源零线N；高压光耦U2的光敏三极管的集电极连接电源VCC，高压光耦U2的光敏三极管的发射极经第八电阻R8接地，第三电容C3与第八电阻R8并联；控制芯片200连接高压光耦U2的光敏三极管的发射极，根据高压光耦U2的光敏三极管的发射极的电平输出相应的电平信号至上位机100；控制芯片200分别连接各个继电器开关K的导通控制端S，控制各个继电器开关K的导通和关断。

控制芯片200输出信号控制与高压光耦U2的发光二极管的两端连接的继电器开关K导通，若这两继电器开关K均正常，则高压光耦U2的发光二极管导通发光，高压光耦U2的光敏三极管导通，高压光耦U2的光敏三极管的发射极为高电平，即控制芯片200接收到高电平。若控制芯片200接收到的为低电平，则说明电源板的继电器开关K中存在异常的继电器开关K，控制芯片200输出异常状态对应的电平信号上位机100。

进一步地，电源板功能测试***还包括与控制芯片200连接的LED显示模块(图中未示出)，用于显示电源板的测试结果。

需要说明的是，在以上所有实施例中，电源VCC可以为不同大小的电压。

应当说明的是，本实用新型的各个实施例的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域的技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (9)

1.一种电源板功能测试***，其特征在于，包括上位机、控制芯片和用于电源板测试的功能检测电路，所述功能检测电路对应与所述电源板的相应测试点连接，对所述电源板进行检测，并输出检测结果；所述控制芯片分别连接所述功能检测电路和所述上位机，根据所述功能检测电路输出的检测结果，产生相应的电平信号，并将该电平信号输出至所述上位机。

2.如权利要求1所述的电源板功能测试***，其特征在于，所述功能检测电路包括用于采样所述电源板输出电压的采样模块，所述采样模块包括三个电压采样电路，各个电压采样电路的采样输入端分别对应连接所述电源板的5V输出端、12V输出端和24V输出端，各个电压采样电路的采样输出端分别连接所述控制芯片的A/D口；各个电压采样电路将采样到的电压输出至所述控制芯片的对应A/D口，所述控制芯片分别判断每个A/D口接收到的电压是否等于预设电压，以输出相应的电平信号至所述上位机。

3.如权利要求2所述的电源板功能测试***，其特征在于，所述电压采样电路包括第一电阻、第二电阻和第一电容，所述第一电阻的第一端作为所述电压采样电路的采样输入端，所述第一电阻的第二端作为所述电压采样电路的采样输出端，所述第一电阻的第二端经所述第二电阻接地，所述第一电容与所述第二电阻并联。

4.如权利要求1所述的电源板功能测试***，其特征在于，所述功能检测电路包括用于检测所述电源板的温度传感线路是否完好的线路检测模块，所述线路检测模块包括多个检测负载，各个检测负载与所述电源板上的温度检测电路一一对应连接；其中，所述温度检测电路包括温度传感器插座、第三电阻和第二电容，所述温度传感器插座的一端连接电源，所述温度传感器插座的另一端经所述第三电阻接地，所述第二电容与所述第三电阻并联；所述检测负载的一端连接电源，所述检测负载的另一端连接所述温度传感器插座的另一端和所述控制芯片，所述控制芯片判断所述检测负载的另一端的电压是否等于预设电压，以输出相应的电平信号至所述上位机。

5.如权利要求1所述的电源板功能测试***，其特征在于，还包括漏电测试模块，所述漏电测试模块包括两个与所述电源板上的漏电线圈的输入端连接的测试电流产生电路，所述控制芯片连接所述电源板的漏电保护端口，根据所述漏电保护端口的电平输出相应的电平信号至所述上位机。

6.如权利要求5所述的电源板功能测试***，其特征在于，所述测试电流产生电路包括第四电阻、第五电阻、第六电阻、NPN型三极管和第一光耦，所述第一光耦的发光二极管的阳极经所述第四电阻连接电源，所述第一光耦的发光二极管的阴极连接所述NPN型三极管的集电极，所述NPN型三极管的发射极接地，所述NPN型三极管的基极经所述第五电阻接地，所述第一光耦的光敏三极管的集电极经所述第六电阻连接电源，所述第一光耦的光敏三极管的发射极连接所述漏电线圈的输入端；所述控制芯片连接所述NPN型三极管的基极，输出驱动电流至所述NPN型三极管的基极。

7.如权利要求1所述的电源板功能测试***，其特征在于，还包括继电器通断检测模块，所述继电器通断检测模块包括多个通断检测电路，所述通断检测电路包括第七电阻、第八电阻、第三电容和高压光耦，其中，所述高压光耦的发光二极管的阳极依次经所述第七电阻、所述电源板上的一继电器开关连接电源火线，所述高压光耦的发光二极管的阴极经所述电源板的一继电器开关连接电源零线；所述高压光耦的光敏三极管的集电极连接电源，所述高压光耦的光敏三极管的发射极经所述第八电阻接地，所述第三电容与所述第八电阻并联；所述控制芯片连接所述高压光耦的光敏三极管的发射极，根据所述高压光耦的光敏三极管的发射极的电平输出相应的电平信号至所述上位机；所述控制芯片分别连接各个继电器开关的导通控制端，控制各个继电器开关的导通和关断。

8.如权利要求1至7中任一项所述的电源板功能测试***，其特征在于，还包括与所述控制芯片连接的LED显示模块。

9.如权利要求1至7中任一项所述的电源板功能测试***，其特征在于，所述控制芯片为TMP89FM42UG单片机。