一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试***开关切换装置
技术领域
本实用新型涉及TD-LTE基站射频一致性测试应用领域,具体是一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试***开关切换装置。
背景技术
随着TD-LTE网络大规模的建设以及TD-LTE-Advanced技术的推进,作为布网前测试、验证关键一环,基站射频一致性测试***起到非常关键的作用。3GPPTS36.141定义了基站入网测试的全部射频一致性测试用例,要求对基站每一格测试用例进行精确测试,这样就需要有不同功能的测试仪器对其进行测试,对于基站的研发和生产测试的过程中,如何对如此之多的测仪器进行调度、如何避免对于不同测试用例频繁而复杂的连接测试电缆及如何提高测试效率,成为越来越急需解决的问题,因此开发出一种TD-LTE/LTE-Advanced基站射频一致性测试***开关切换装置对基研发、生产测试具有较高的必要性,同时对整个移动通信行业的发展具有非常重要的意义。
传统的基站射频一致性测试是通过对不同测试用例通过电缆,功分器、衰减器等手动连接相关测试仪器,这样会造成测试过程复杂、测试时间较长、测试效率较低的缺点,同时由于连接过于复杂很难保证整个测量通道的频率响应以及通道增益得到很好的校准及补偿,因此开发出一种TD-LTE/LTE-Advanced基站射频一致性测试***开关切换装置已迫在眉睫。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试***开关切换装置,以解决现有技术存在的问题。
为了达到上述目的,本实用新型所采用的技术方案为:
一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试***开关切换装置,其特征在于:包括双刀双掷开关K2-1—K2-5、K3-1—K3-6,单刀双掷开关K2-7、K2-8、K3-7,双刀单掷开关K2-6、K2-9,单刀三掷开关K3-9;其中双刀双掷开关K2-1的一个输入端与基站天线1连接,双刀双掷开关K3-1的一个输入端与基站天线2连接,双刀双掷开关K3-2的一个输入端与基站天线3连接,双刀双掷开关K3-3的一个输入端与基站天线4连接,双刀双掷开关K3-4的一个输入端与基站天线5连接,双刀双掷开关K3-5的一个输入端与基站天线6连接,双刀双掷开关K3-6的一个输入端与基站天线7连接,双刀双掷开关K2-1另一个输入端与一个带有隔离度的合路器1的一个输入端连接,双刀双掷开关K3-1另一个输入端与一个带有隔离度的合路器2的一个输入端连接,双刀双掷开关K3-2另一个输入端与一个带有隔离度的合路器3的一个输入端连接,双刀双掷开关K3-3另一个输入端与一个带有隔离度的合路器4的一个输入端连接,双刀双掷开关K3-4另一个输入端与一个带有隔离度的合路器5的一个输入端连接,双刀双掷开关K3-5另一个输入端与一个带有隔离度的合路器6的一个输入端连接,双刀双掷开关K3-6另一个输入端与一个带有隔离度的合路器7的一个输入端连接,合路器7的另一个输入端与基站天线8连接,合路器7的输出端与双刀双掷开关K3-6的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-6的另一个输出端与合路器6的另一个输入端连接,合路器6的输出端与双刀双掷开关K3-5的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-5的另一个输出端与合路器5的另一个输入端连接,合路器5的输出端与双刀双掷开关K3-4的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-4的另一个输出端与合路器4的另一个输入端连接,合路器4的输出端与双刀双掷开关K3-3的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-3的另一个输出端与合路器3的另一个输入端连接,合路器3的输出端与双刀双掷开关K3-2的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-2的另一个输出端与合路器2的另一个输入端连接,合路器2的输出端与双刀双掷开关K3-1的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-1的另一个输出端与合路器1的另一个输入端连接,合路器1的输出端与双刀双掷开关K2-1的一个输出端连接,双刀双掷开关K2-1的另一个输出端与单刀三掷开关K3-9的输入端连接;
单刀三掷开关K3-9的一个输出端与双刀双掷开关K2-2的一个输入端连接,双刀双掷开关K2-2的另一个输入端与衰减装置输入连接,双刀双掷开关K2-2的一个输出端与衰减装置输出连接,双刀双掷开关K2-2的另一个输出端与双刀双掷开关K2-3的一个输入端连接,双刀双掷开关K2-3的另一个输入端与滤波装置输入连接,双刀双掷开关K2-3的一个输出端与滤波装置输出连接,双刀双掷开关K2-3的另一个输出端与单刀双掷开关K3-7的输入端连接,单刀双掷开关K3-7的一个输出端与单刀三掷开关K3-9的第二个输出端连接,单刀双掷开关K3-7的另一个输出端与双刀双掷开关K2-4的一个输入端连接,双刀双掷开关K2-4的另一个输入端与频谱分析仪输入连接,双刀双掷开关K2-4的两个输出端分别与一个环形器1连接,所述双刀双掷开关K2-5的一个输入端与环形器1连接,双刀双掷开关K2-5的另一个输入端、一个输出端分别与一个放大器1的两端连接,双刀双掷开关K2-5的另一个输出端与双刀单掷开关K2-6的一个输出端连接,双刀单掷开关K2-6的另一个输入端与单刀双掷开关K2-7的一个输出端连接,双刀单掷开关K2-6的输出端与矢量信号发生器1连接,单刀双掷开关K2-7的另一个输出端与负载1连接,单刀双掷开关K2-7的输入端与一个单路输入、双路输出的带有隔离度的合路器8其中一个输出端连接,合路器8的输入端与一个环形器2连接,所述单刀三掷开关K3-9的第二个输出端亦与环形器2连接,所述单刀双掷开关K2-8输入端与合路器8的另一个输出端连接,单刀双掷开关K2-8的一个输出端连接负载2,单刀双掷开关K2-8的另一个输出端连接矢量信号发生器2,所述双刀单掷开关K2-9的一个输入端连接环形器2,双刀单掷开关K2-9的另一个输入端连接信道模拟器输入,双刀单掷开关K2-9的输出端连接基站综测仪,所述单刀三掷开关K3-9的第三个输出端连接信道模拟器输出。
所述的一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试***开关切换装置,其特征在于:通过控制双刀双掷开关K2-1使基站天线1与单刀三掷开关K3-9相连;控制单刀三掷开关K3-9,同时控制双刀双掷开关K2-2使衰减器装置输入与单刀三掷开关K3-9相连,衰减器装置输出与双刀双掷开关K2-2相连;控制双刀双掷开关K2-3使双刀双掷开关K2-2与单刀双掷开关K3-7相连;控制单刀双掷开关K3-7使双刀双掷开关K2-3与环形器2相连;控制双刀单掷开关K2-9使环形器2与基站综测仪相连,来实现对基站输出功率、输出功率动态范围、传输信号质量、频率误差及下行参考信号功率等基站射频一致性功能的测量。
所述的一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试***开关切换装置,其特征在于:通过控制双刀双掷开关K2-1使基站天线1与单刀三掷开关K3-9相连;控制单刀三掷开关K3-9,同时控制双刀双掷开关K2-2使衰减器装置输入与单刀三掷开关K3-9相连,衰减器装置输出与双刀双掷开关K2-3相连;控制双刀双掷开关K2-3使滤波装置输入端与双刀双掷开关K2-2,滤波装置输出端与单刀双掷开关K3-7相连;控制双刀双掷开关K2-4使单刀双掷开关K3-7与环形器1相连;控制双刀双掷开关K2-5使环形器1通过放大器1与双刀单掷开关K2-6相连;控制双刀单掷开关K2-6使双刀双掷开关K2-5与矢量信号发生器1相连,控制单刀双掷开关K3-7使双刀双掷开关K2-3与环形器2相连;控制双刀单掷开关K2-9使环形器2与基站综测仪相连,来实现对基站发射互调功能的测试。
所述的一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试***开关切换装置,其特征在于:通过控制双刀双掷开关K3-1、双刀双掷开关K3-2、双刀双掷开关K3-3、双刀双掷开关K3-4、双刀双掷开关K3-5、双刀双掷开关K3-6使基站天线2、3、4、5、6、7、8与合路器1、2、3、4、5、6、7相连;控制双刀双掷开关k2-1使基站天线1与单刀三掷开关K3-9相连;控制单刀三掷开关K3-9,同时控制开关双刀双掷开关K2-2使衰减器装置输入与单刀三掷开关K3-9相连,衰减器装置输出与双刀双掷开关K2-3相连;控制双刀双掷开关K2-3使双刀双掷开关K2-2与单刀双掷开关K3-7相连;控制单刀双掷开关K3-7使双刀双掷开关K2-3与环形器2相连;控制双刀单掷开关K2-9使环形器2与基站综测仪相连,来实现对基站发射机时间校准功能的测试。
所述的一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试***开关切换装置,其特征在于:通过控制双刀双掷开关K2-1使基站天线1与单刀三掷开关K3-9相连;控制单刀三掷开关K3-9,同时控制双刀双掷开关K2-2使衰减器装置输入与单刀三掷开关K3-9相连,衰减器装置输出与双刀双掷开关K2-3相连;控制双刀双掷开关K2-3使滤波装置输入端与双刀双掷开关K2-2,滤波装置输出端与单刀双掷开关K3-7相连;控制单刀双掷开关K3-7使双刀双掷开关K2-3与环形器2相连;控制双刀单掷开关K2-9使环形器2与基站综测仪相连,来实现对基站发射机杂散辐射功能的测试。
所述的一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试***开关切换装置,其特征在于:通过控制双刀双掷开关K2-1使基站天线1与单刀三掷开关K3-9相连;控制单刀三掷开关K3-9,同时控制双刀双掷开关K2-2使双刀双掷开关K2-3与单刀三掷开关K3-9相连,控制双刀双掷开关K2-3使双刀双掷开关K2-2与单刀双掷开关K3-7相连;控制单刀双掷开关K3-7使双刀双掷开关K2-3与环形器2相连;控制双刀单掷开关K2-9使环形器2与基站综测仪相连,来实现对基站参考灵敏度功能的测试。
所述的一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试***开关切换装置,其特征在于:通过控制双刀双掷开关K2-1使基站天线1与单刀三掷开关K3-9相连并控制单刀三掷开关K3-9;控制双刀单掷开关K2-9使环形器2与基站综测仪相连;控制双刀单掷开关K2-6使矢量信号发生器1与单刀双掷开关K2-7相连;控制单刀双掷开关K2-7使合路器8与双刀单掷开关K2-6相连;控制单刀双掷开关K2-8使矢量信号发生器2与合路器8相连,来实现对基站动态范围、带内选择性、邻道选择性、窄带阻塞及阻塞特性功能的测试。
所述的一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试***开关切换装置,其特征在于:通过控制双刀双掷开关K2-1使基站天线1与单刀三掷开关K3-9相连;控制单刀三掷开关K3-9,同时控制双刀双掷开关K2-2使单刀三掷开关K3-9与双刀双掷开关K2-3相连;控制双刀双掷开关K2-3使双刀双掷开关K2-2频谱分析仪相连,来实现对基站接收机杂散辐射功能的测试。
所述的一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试***开关切换装置,其特征在于:控制双刀单掷开关K2-9使基站综测仪与信道模拟器输入端相连;控制单刀三掷开关K3-9使信道模拟器输出端与双刀双掷开关K2-1相连;控制双刀双掷开关K3-4使基站天线4与合路器3相连,控制双刀双掷开关K3-3使基站天线3经过合路器3与合路器2相连,控制双刀双掷开关K3-2使基站天线2经过合路器2与合路器1相连,控制双刀双掷开关K2-1使基站天线1经过合路器1与单刀三掷开关K3-9相连,并通过控制信道模拟器配置不同的信道环境来实现对基站性能和上报功能的测试。
本实用新型通过软件控制不同开关连接通路,根据TD-LTE/LTE_Advanced基站射频一致性测试设备的要求,根据基站不同测试例的需求进行多开关组合控制切换,以满足TD-LTE/LTE_Advanced基站射频一致性测试***众多仪表的快速调度,以及众多仪表的协同工作,同时保证了射频设计指标满足3GPP相关基站射频一致性要求。此外,本实用新型还提供了用于***校准的开关切换通路以满足***通道增益及频率响应的校准,具有较高的精确度。
附图说明
图1为本实用新型的***原理框图。
图2为测量基站输出功率、输出功率动态范围、传输信号质量、频率误差及下行参考信号功率等基站射频一致性功能开关通路示意图。
图3为测量基站发射互调功能开关通路示意图。
图4为测量基站发射机时间校准功能开关通路示意图。
图5为测量基站发射机杂散辐射功能开关通路示意图。
图6为测量基站参考灵敏度功能开关通路示意图。
图7为测量基站动态范围、带内选择性、邻道选择性、窄带阻塞及阻塞特性功能开关通路示意图。
图8为测量基站接收机杂散辐射功能开关通路示意图。
图9为测量基站性能和上报功能开关通路示意图。
具体实施方式
如图所示,一种TD-LTE/LTE_Advanced基站射频一致性测试***开关切换装置,包括双刀双掷开关K2-1—K2-5、K3-1—K3-6,单刀双掷开关K2-7、K2-8、K3-7,双刀单掷开关K2-6、K2-9,单刀三掷开关K3-9;其中双刀双掷开关K2-1的一个输入端与基站天线1连接,双刀双掷开关K3-1的一个输入端与基站天线2连接,双刀双掷开关K3-2的一个输入端与基站天线3连接,双刀双掷开关K3-3的一个输入端与基站天线4连接,双刀双掷开关K3-4的一个输入端与基站天线5连接,双刀双掷开关K3-5的一个输入端与基站天线6连接,双刀双掷开关K3-6的一个输入端与基站天线7连接,双刀双掷开关K2-1另一个输入端与一个带有隔离度的合路器1的一个输入端连接,双刀双掷开关K3-1另一个输入端与一个带有隔离度的合路器2的一个输入端连接,双刀双掷开关K3-2另一个输入端与一个带有隔离度的合路器3的一个输入端连接,双刀双掷开关K3-3另一个输入端与一个带有隔离度的合路器4的一个输入端连接,双刀双掷开关K3-4另一个输入端与一个带有隔离度的合路器5的一个输入端连接,双刀双掷开关K3-5另一个输入端与一个带有隔离度的合路器6的一个输入端连接,双刀双掷开关K3-6另一个输入端与一个带有隔离度的合路器7的一个输入端连接,合路器7的另一个输入端与基站天线8连接,合路器7的输出端与双刀双掷开关K3-6的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-6的另一个输出端与合路器6的另一个输入端连接,合路器6的输出端与双刀双掷开关K3-5的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-5的另一个输出端与合路器5的另一个输入端连接,合路器5的输出端与双刀双掷开关K3-4的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-4的另一个输出端与合路器4的另一个输入端连接,合路器4的输出端与双刀双掷开关K3-3的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-3的另一个输出端与合路器3的另一个输入端连接,合路器3的输出端与双刀双掷开关K3-2的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-2的另一个输出端与合路器2的另一个输入端连接,合路器2的输出端与双刀双掷开关K3-1的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-1的另一个输出端与合路器1的另一个输入端连接,合路器1的输出端与双刀双掷开关K2-1的一个输出端连接,双刀双掷开关K2-1的另一个输出端与单刀三掷开关K3-9的输入端连接;
单刀三掷开关K3-9的一个输出端与双刀双掷开关K2-2的一个输入端连接,双刀双掷开关K2-2的另一个输入端与衰减装置输入连接,双刀双掷开关K2-2的一个输出端与衰减装置输出连接,双刀双掷开关K2-2的另一个输出端与双刀双掷开关K2-3的一个输入端连接,双刀双掷开关K2-3的另一个输入端与滤波装置输入连接,双刀双掷开关K2-3的一个输出端与滤波装置输出连接,双刀双掷开关K2-3的另一个输出端与单刀双掷开关K3-7的输入端连接,单刀双掷开关K3-7的一个输出端与单刀三掷开关K3-9的第二个输出端连接,单刀双掷开关K3-7的另一个输出端与双刀双掷开关K2-4的一个输入端连接,双刀双掷开关K2-4的另一个输入端与频谱分析仪输入连接,双刀双掷开关K2-4的两个输出端分别与一个环形器1连接,所述双刀双掷开关K2-5的一个输入端与环形器1连接,双刀双掷开关K2-5的另一个输入端、一个输出端分别与一个放大器1的两端连接,双刀双掷开关K2-5的另一个输出端与双刀单掷开关K2-6的一个输出端连接,双刀单掷开关K2-6的另一个输入端与单刀双掷开关K2-7的一个输出端连接,双刀单掷开关K2-6的输出端与矢量信号发生器1连接,单刀双掷开关K2-7的另一个输出端与负载1连接,单刀双掷开关K2-7的输入端与一个单路输入、双路输出的带有隔离度的合路器8其中一个输出端连接,合路器8的输入端与一个环形器2连接,单刀三掷开关K3-9的第二个输出端亦与环形器2连接,单刀双掷开关K2-8输入端与合路器8的另一个输出端连接,单刀双掷开关K2-8的一个输出端连接负载2,单刀双掷开关K2-8的另一个输出端连接矢量信号发生器2,双刀单掷开关K2-9的一个输入端连接环形器2,双刀单掷开关K2-9的另一个输入端连接信道模拟器输入,双刀单掷开关K2-9的输出端连接基站综测仪,单刀三掷开关K3-9的第三个输出端连接信道模拟器输出。
如图2所示,通过控制双刀双掷开关K2-1使基站天线1与单刀三掷开关K3-9相连;控制单刀三掷开关K3-9,同时控制双刀双掷开关K2-2使衰减器装置输入与单刀三掷开关K3-9相连,衰减器装置输出与双刀双掷开关K2-2相连;控制双刀双掷开关K2-3使双刀双掷开关K2-2与单刀双掷开关K3-7相连;控制单刀双掷开关K3-7使双刀双掷开关K2-3与环形器2相连;控制双刀单掷开关K2-9使环形器2与基站综测仪相连,来实现对基站输出功率、输出功率动态范围、传输信号质量、频率误差及下行参考信号功率等基站射频一致性功能的测量。
如图3所示,通过控制双刀双掷开关K2-1使基站天线1与单刀三掷开关K3-9相连;控制单刀三掷开关K3-9,同时控制双刀双掷开关K2-2使衰减器装置输入与单刀三掷开关K3-9相连,衰减器装置输出与双刀双掷开关K2-3相连;控制双刀双掷开关K2-3使滤波装置输入端与双刀双掷开关K2-2,滤波装置输出端与单刀双掷开关K3-7相连;控制双刀双掷开关K2-4使单刀双掷开关K3-7与环形器1相连;控制双刀双掷开关K2-5使环形器1通过放大器1与双刀单掷开关K2-6相连;控制双刀单掷开关K2-6使双刀双掷开关K2-5与矢量信号发生器1相连,控制单刀双掷开关K3-7使双刀双掷开关K2-3与环形器2相连;控制双刀单掷开关K2-9使环形器2与基站综测仪相连,来实现对基站发射互调功能的测试。
如图4所示,通过控制双刀双掷开关K3-1、双刀双掷开关K3-2、双刀双掷开关K3-3、双刀双掷开关K3-4、双刀双掷开关K3-5、双刀双掷开关K3-6使基站天线2、3、4、5、6、7、8与合路器1、2、3、4、5、6、7相连;控制双刀双掷开关k2-1使基站天线1与单刀三掷开关K3-9相连;控制单刀三掷开关K3-9,同时控制开关双刀双掷开关K2-2使衰减器装置输入与单刀三掷开关K3-9相连,衰减器装置输出与双刀双掷开关K2-3相连;控制双刀双掷开关K2-3使双刀双掷开关K2-2与单刀双掷开关K3-7相连;控制单刀双掷开关K3-7使双刀双掷开关K2-3与环形器2相连;控制双刀单掷开关K2-9使环形器2与基站综测仪相连,来实现对基站发射机时间校准功能的测试。
如图5所示,通过控制双刀双掷开关K2-1使基站天线1与单刀三掷开关K3-9相连;控制单刀三掷开关K3-9,同时控制双刀双掷开关K2-2使衰减器装置输入与单刀三掷开关K3-9相连,衰减器装置输出与双刀双掷开关K2-3相连;控制双刀双掷开关K2-3使滤波装置输入端与双刀双掷开关K2-2,滤波装置输出端与单刀双掷开关K3-7相连;控制单刀双掷开关K3-7使双刀双掷开关K2-3与环形器2相连;控制双刀单掷开关K2-9使环形器2与基站综测仪相连,来实现对基站发射机杂散辐射功能的测试。
如图6所示,通过控制双刀双掷开关K2-1使基站天线1与单刀三掷开关K3-9相连;控制单刀三掷开关K3-9,同时控制双刀双掷开关K2-2使双刀双掷开关K2-3与单刀三掷开关K3-9相连,控制双刀双掷开关K2-3使双刀双掷开关K2-2与单刀双掷开关K3-7相连;控制单刀双掷开关K3-7使双刀双掷开关K2-3与环形器2相连;控制双刀单掷开关K2-9使环形器2与基站综测仪相连,来实现对基站参考灵敏度功能的测试。
如图7所示,通过控制双刀双掷开关K2-1使基站天线1与单刀三掷开关K3-9相连并控制单刀三掷开关K3-9;控制双刀单掷开关K2-9使环形器2与基站综测仪相连;控制双刀单掷开关K2-6使矢量信号发生器1与单刀双掷开关K2-7相连;控制单刀双掷开关K2-7使合路器8与双刀单掷开关K2-6相连;控制单刀双掷开关K2-8使矢量信号发生器2与合路器8相连,来实现对基站动态范围、带内选择性、邻道选择性、窄带阻塞及阻塞特性功能的测试。
如图8所示,通过控制双刀双掷开关K2-1使基站天线1与单刀三掷开关K3-9相连;控制单刀三掷开关K3-9,同时控制双刀双掷开关K2-2使单刀三掷开关K3-9与双刀双掷开关K2-3相连;控制双刀双掷开关K2-3使双刀双掷开关K2-2频谱分析仪相连,来实现对基站接收机杂散辐射功能的测试。
如图9所示,控制双刀单掷开关K2-9使基站综测仪与信道模拟器输入端相连;控制单刀三掷开关K3-9使信道模拟器输出端与双刀双掷开关K2-1相连;控制双刀双掷开关K3-4使基站天线4与合路器3相连,控制双刀双掷开关K3-3使基站天线3经过合路器3与合路器2相连,控制双刀双掷开关K3-2使基站天线2经过合路器2与合路器1相连,控制双刀双掷开关K2-1使基站天线1经过合路器1与单刀三掷开关K3-9相连,并通过控制信道模拟器配置不同的信道环境来实现对基站性能和上报功能的测试。