CN204903978U - 一种测试***与分拣机间通讯信号自适应装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种测试***与分拣机间通讯信号自适应装置，包括半导体器件电性能测试***和分拣机，所述***和分拣机通过信号线相互沟通连接；在***和分拣机信号线之间设置有一个分拣机通讯接口电源信号检测电路和一个开关电路，当检测电路没有检测到分拣机通讯接口电源信号，开关电路导通，***向分拣机通讯接口提供电源，当检测电路检测到分拣机通讯接口有电源信号，开关电路关闭。本实用新型通讯线中的电源信号线选择性连接；通讯信号SOT的有效逻辑电平在测试***和分拣机连续测试启动时均自适应完成了设置，减少了繁琐的软件界面设置，提高了***的易用性。各信号均采用了光耦器件进行检测和控制，提高了测试***与分拣机间通讯信号的抗干扰能力。
Description
技术领域
本实用新型属于信息传送领域，涉及一种测试***与分拣机间通讯信号自适应装置，是一种应用于半导体器件电性能测试中分拣机与测试***的快速连接装置。
背景技术
半导体器件电性能测试是半导体器件封装测试厂保证生产的半导体器件电性能质量中的一个环节。为了实现半导体器件的工业化测试生产，除了使用针对半导体器件电性能测试的测试***外，还使用了分拣机进行芯片与测试***的快速连接，并通过测试***与分拣机之间的总线通讯控制，保证半导体器件测试的有序进行，并在测试结束后进行半导体器件分挡。分拣机的通讯控制接口一般有TTL、LAN、RS232、IEE488和GPIB这5种，常用的通讯控制接口方式是TTL接口，只需要电源VCC、SOT，EOT和多根BIN信号即可。
由于市场上分拣机品种众多，采用TTL方式进行通讯的各厂家分拣机在接口定义上并不完全相同，包括了供电方式、SOT、EOT和BIN有效逻辑电平定义。为了实现测试***与分拣机的正常通讯，在供电方式上，根据分拣机在通讯时电源信号是否自带电源，通讯电缆连线时需要选择是否将测试***通讯接口电源信号与分拣机的通讯接口电源信号相连，在通讯电缆的设计上没有通用性。在通讯信号SOT的有效逻辑电平设置上，分拣机和测试***都需要分别通过各自的软件界面来进行高低有效逻辑电平设置，保证通讯信号的有效逻辑电平定义一致。由于不同的分拣机，通讯接口的电源信号是否自带电源并不完全相同，测试***和分拣机的SOT的有效逻辑电平的初始设置也不相同，特别的有些测试***或分拣机的SOT信号只有某一个固定逻辑电平有效，用户需要通过各自***的软件界面进行统一设置，才能使得测试***和分拣机能进行正常的通讯，比较繁琐。
发明内容
本实用新型的目的是提出一种测试***与分拣机间通讯信号自适应装置，通过在一个测试***与分拣机之间设置的电源信号检测电路和一个开关电路，自动对分拣机信号电源的设置进行控制。
为了实现上述目的，本实用新型的技术方案是：一种测试***与分拣机间通讯信号自适应装置，包括半导体器件电性能测试***和分拣机，所述***和分拣机通过信号线相互连接；其中，在***和分拣机信号线之间设置有一个分拣机通讯接口电源信号检测电路和一个开关电路，所述开关电路设置有一个控制端和两个输出端，控制端连接***接口，控制控制两个输出端的导通与开路，其中一个输出端连接分拣机通讯接口的电源信号端口，另一个输出端连接***的信号电源线，当检测电路没有检测到分拣机通讯接口电源信号，开关电路导通，***向分拣机通讯接口提供电源，当检测电路检测到分拣机通讯接口有电源信号，开关电路关闭。
方案进一步是：所述分拣机通讯接口电源信号检测电路是一个电源检测光电耦合器电路，电源检测光电耦合器电路的光驱动两个输入端分别连接分拣机通讯接口电源信号端口和分拣机信号电源地，电源检测光电耦合器电路的光耦合两个输出端分别连接***的分拣机电源检测端口和***模拟电源地。
方案进一步是：所述开关电路由一个开关光电耦合器电路和一个MOSFET开关管组成，开关光电耦合器电路的光驱动输入端连接所述***控制接口，开关光电耦合器电路的光耦合输出连接MOSFET开关管的控制端，MOSFET开关管的漏极连接***的信号电源线，MOSFET开关管的源极连接分拣机通讯接口的电源信号端口。
方案进一步是：所述***和分拣机信号线之间还设置有一个分拣机SOT信号逻辑电平检测单元，所述电平检测单元包括有一个电平检测光电耦合器电路，所述电平检测光电耦合器电路的光驱动两个输入端分别连接分拣机通讯接口的电源信号端口和分拣机SOT信号线，电平检测光电耦合器电路的光耦合两个输出端分别连接***的SOT信号线有效测试端和***模拟电源地。
方案进一步是：在所述***和分拣机信号线之间还设置有EOT通讯信号和BIN通讯信号光电隔离驱动单元。
本实用新型的有益效果是，通讯线中的电源信号线固定连接，通讯线更通用；通讯线中的通讯信号SOT的有效逻辑电平设置，在测试***和分拣机连续测试启动时均自适应完成了设置，减少了繁琐的软件界面设置，提高了***的易用性。各信号均采用了光耦器件进行检测和控制，提高了测试***与分拣机间通讯信号自适应设置的抗干扰能力。
下面结合附图和实施例对本实用新型作一详细描述。
附图说明
图1是本实用新型结构示意框图；
图2是本实用新型的分拣机通讯接口电源信号检测电路和开关电路的实施例原理图；
图3是本实用新型的通讯线SOT信号逻辑电平检测单元实施例的原理图；
图4是本实用新型的EOT和BIN通讯信号驱动单元实施例的原理图。
具体实施方式
一种测试***与分拣机间通讯信号自适应装置，如图1所示，所述装置包括半导体器件电性能测试***1和分拣机2，***包括有***电参数测试电路、***计算机和***通讯信号接口，分拣机包括分拣机构和控制电路、分拣计算机、TTL通讯接口；所述***和分拣机通过两个通讯接口之间的信号线3相互沟通连接，信号线包括***侧的信号电源线（Power_Tester）301、分拣机侧的电源信号端口线（Power_Handler）302、SOT信号线303、EOT信号线304和多根BIN信号线305；其中，在***和分拣机信号线之间设置有通讯信号自适应装置4，在所述自适装置中设置有一个分拣机通讯接口电源信号检测电路和一个开关电路，所述开关电路设置有一个控制端和两个输出端，控制端连接***控制接口，控制两个输出端的导通与开路，其中一个输出端连接分拣机通讯接口的电源信号端口，另一个输出端连接***的信号电源线，当检测电路没有检测到分拣机通讯接口电源信号，开关电路导通，***向分拣机通讯接口提供电源，当检测电路检测到分拣机通讯接口有电源信号，开关电路关闭。
实施例中：如图2所示，所述分拣机通讯接口电源信号检测电路是一个电源检测光电耦合器电路5，电源检测光电耦合器电路的光驱动两个输入端分别连接分拣机通讯接口电源信号端口302和分拣机信号电源负极（地），电源检测光电耦合器电路的光耦合两个输出端分别连接***的分拣机电源检测端口（Power_Check）306和***模拟电源负极（地），当然光耦合检测端口输出还通过一个上拉电阻R1连接一个+3.3V的电源，分拣机通讯接口电源信号端口302与光电耦合器之间也有一个电阻R2。当Power_Handler信号为高电平时，光耦驱动端有驱动电流流过，光耦输出端接通，Power_Check端为低电平；当Power_Handler信号为低电平时，光耦驱动端没有驱动电流，光耦输出端断开，Power_Check端为高电平。在测试***连续测试启动时，可通过电源检测光电耦合电路5检测此时分拣机的电源信号Power_Handler状态，并将该电源信号的电平状态反馈到测试***，用于开关电路是否将测试***通讯电源接口Power_Tester连接到分拣机通讯电源接口Power_Handler。
实施例中：如图2所示，所述开关电路6由一个开关光电耦合器电路601和一个MOSFET开关管602组成，开关光电耦合器电路的光驱动输入端连接所述***控制接口（Power_Control）307，开关光电耦合器电路的光耦合输出连接MOSFET开关管的控制端（栅极与源极之间），MOSFET开关管的漏极连接***侧的信号电源线301，MOSFET开关管的源极连接分拣机通讯接口的电源信号端口302，当然开关光电耦合器电路的光驱动输入另一端通过电阻R3连接一个+3.3V的电源；当测试***的电源控制信号Power_control为高电平时，开关光电耦合器驱动端无驱动电流，输出端MOSFET的栅极与源极之间无驱动电压，MOSFET处于断开状态，即Power_Tester与Power_Handler处于断开状态。当测试***的电源控制信号Power_control为低电平时，开关光电耦合器驱动端有驱动电流流过，输出端MOSFET的栅极与源极之间有隔离驱动电压，MOSFET处于导通状态，即Power_Tester与Power_Handler处于导通状态。在测试***连续测试启动时，测试***通过电源信号检测电路获取通讯线中分拣机的电源信号Power_Handler信号的逻辑电平状态，当Power_Check为高时，即分拣机通讯线电源信号接口无电源，测试***计算机通过设置开关电路的电源控制信号Power_Control为低，通过开关光电耦合器驱动MOSFET器件导通，将测试***通讯线中的电源信号Power_Tester接到分拣机的Power_Handler，实现测试***向分拣机的通讯接口供电。当Power_Check为低时，即分拣机通讯线电源信号接口自带电源，测试***计算机通过设置电源信号检测电路的电源控制信号Power_control为高，将测试***通讯线中的电源信号Power_Tester与分拣机通讯线中Power_Handler断开。在测试***连续测试启动时，进行上述检测与自适应判断，实现测试***向分拣机的通讯接口自适应供电。
实施例中：如图3所示，所述***和分拣机信号线之间还设置有一个分拣机SOT信号逻辑电平检测单元，所述电平检测单元包括有一个电平检测光电耦合器电路7，所述电平检测光电耦合器电路的光驱动两个输入端分别连接分拣机通讯接口的电源信号端口302和分拣机SOT信号线303，电平检测光电耦合器电路的光耦合两个输出端分别连接***的SOT信号线有效测试端（SOT_Check）308和***模拟电源负极（地），当然电平检测光电耦合器的SOT信号线有效测试端还要通过一个电阻R5连接一个+3.3V的电源，电平检测光电耦合器的输入端通过一个限流电阻R4与分拣机通讯接口的电源信号端口302连接。当被检测信号SOT为高电平时，电平检测光电耦合器驱动端无驱动电流，电平检测光电耦合器输出端断开，SOT_Check信号也为高电平；当SOT信号为低电平时，电平检测光电耦合器驱动端有驱动电流流过，电平检测光电耦合器输出端短路，SOT_Check端也为低电平。通过SOT信号逻辑电平检测单元检测通讯线SOT信号当前的逻辑电平状态，以此时被检测信号的逻辑电平相反状态作为被检测信号SOT的有效逻辑电平状态，实现被检测信号有效逻辑电平的自适应设置。
实施例中：在所述***和分拣机信号线之间还设置有EOT通讯信号和BIN通讯信号光电隔离驱动单元8，图4示意的是通讯信号光电隔离驱动单元的一种通用电路。该驱动单元采用了光耦器件实现，光耦器件驱动端上拉电阻R6连接到+3.3V,驱动端另一管脚接是信号入（Signal_Drive）进行通讯信号隔离控制；光耦器件输出端通过上拉电阻R7连接到通讯电源信号Power_Handler，输出端另一管脚接分拣机通讯接口通讯线的电源负极（地）信号（SGND），通过信号出信号（Signal_Out）进行通讯信号隔离输出。当通讯控制信号Signal_Drive为高电平时，光耦器件驱动端无驱动电流，光耦器件输出端断开，Signal_Out端也为高电平；当Signal_Drive信号为低电平时，光耦器件驱动端有驱动电流流过，光耦输出端短路，Signal_Out端也为低电平。
Claims (5)
1.一种测试***与分拣机间通讯信号自适应装置，包括半导体器件电性能测试***和分拣机，所述***和分拣机通过信号线相互连接；其特征在于，在***和分拣机信号线之间设置有一个分拣机通讯接口电源信号检测电路和一个开关电路，所述开关电路设置有一个控制端和两个输出端，控制端连接***控制接口，控制两个输出端的导通与开路，其中一个输出端连接分拣机通讯接口的电源信号端口，另一个输出端连接***的信号电源线，当检测电路没有检测到分拣机通讯接口电源信号，开关电路导通，***向分拣机通讯接口提供电源，当检测电路检测到分拣机通讯接口有电源信号，开关电路关闭。
2.根据权利要求1所述的自适应装置，其特征在于，所述分拣机通讯接口电源信号检测电路是一个电源检测光电耦合器电路，电源检测光电耦合器电路的光驱动两个输入端分别连接分拣机通讯接口电源信号端口和分拣机信号电源地，电源检测光电耦合器电路的光耦合两个输出端分别连接***的分拣机电源检测端口和***模拟电源地。
3.根据权利要求1或2所述的自适应装置，其特征在于，所述开关电路由一个开关光电耦合器电路和一个MOSFET开关管组成，开关光电耦合器电路的光驱动输入端是所述控制端连接所述***控制接口，开关光电耦合器电路的光耦合输出连接MOSFET开关管的控制端，MOSFET开关管的漏极连接***的信号电源线，MOSFET开关管的源极连接分拣机通讯接口的电源信号端口。
4.根据权利要求1所述的自适应装置，其特征在于，所述***和分拣机信号线之间还设置有一个分拣机SOT信号逻辑电平检测单元，所述电平检测单元包括有一个电平检测光电耦合器电路，所述电平检测光电耦合器电路的光驱动两个输入端分别连接分拣机通讯接口的电源信号端口和分拣机SOT信号线，电平检测光电耦合器电路的光耦合两个输出端分别连接***的SOT信号线有效测试端和***模拟电源地。
5.根据权利要求1所述的自适应装置，其特征在于，在所述***和分拣机信号线之间还设置有EOT通讯信号和BIN通讯信号光电隔离驱动单元。
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| CN105843717A (zh) * | 2016-04-05 | 2016-08-10 | 河北上元工控技术有限公司 | 一种车道控制器接口检测保护电路 |
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