CN204613045U - 薄膜抗撞击测试装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种可以精确测试薄膜抗撞击性能且能采集数据的薄膜抗撞击测试装置,包括支架和底座,所述支架上方设有冲击组件,所述冲击组件包括若干砝码和撞针,所述撞针表面为曲面,所述冲击组件连接有传感器,所述传感器连接自动控制装置,所述冲击组件下方设有薄膜夹具,所述薄膜夹具为环形夹具,所述环形夹具包括上夹具和下夹具,所述薄膜夹具连接有动力装置。本装置能准确地测试薄膜的抗撞击性能,便于更好地掌握薄膜的耐冲击性和耐破裂性,并能够采集实验数据,依据这些数据来改善薄膜质量,并提高其性能。

Description

薄膜抗撞击测试装置
技术领域
本实用新型属于薄膜性能测试装置,尤其涉及薄膜抗撞击测试装置。
背景技术
在薄膜性能检测领域中,大多只是检测薄膜的拉伸性能,目前还没有对于薄膜的抗撞击测试装置,没有真正准确的撞击实验数据,因此不能够很好的提高和掌握薄膜的全部性能,只有建立全面的实验数据且以数据作为依据,才能生产处更高质量的薄膜。
实用新型内容
为了解决上述问题,本实用新型提供了一种可以精确测试薄膜抗撞击性能且能采集数据的薄膜抗撞击测试装置。
根据本实用新型的一个方面,提供一种薄膜抗撞击测试装置,包括支架和底座,所述支架上方设有冲击组件,所述冲击组件包括若干砝码和撞针,所述冲击组件连接有传感器,所述传感器连接自动控制装置,所述冲击组件下方设有薄膜夹具,所述薄膜夹具连接有动力装置。其有益效果是:能准确地测试薄膜的抗撞击性能,便于更好地掌握薄膜的耐冲击性和耐破裂性,并能够采集实验数据,依据这些数据来改善薄膜质量,并提高其性能。
在一些实施方式中,所述冲击组件设有控制拉环。其有益效果是:能够更好的固定冲击组件,使其下落时更平稳,得到的实验数据更准确。
在一些实施方式中,所述薄膜夹具为环形夹具,所述环形夹具包括上夹具和下夹具,所述上夹具和下夹具连接有气缸。其有益效果是:环形夹具能够全面的展开并固定待测试薄膜,受力更均匀,气缸代替手动,其力度较稳定能很好的固定住待测薄膜,使其测试结果更精确。
在一些实施方式中,所述撞针表面为曲面。其有益效果是:更能满足撞击实验的需要,避免出现刺裂薄膜现象发生。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
图2是本实用新型中薄膜夹具的俯视结构示意图。
图中:1-支架,2-底座,3-冲击组件,4-传感器,5-薄膜夹具,6-控制拉环,8-上夹具,7-下夹具,9-气缸,10-撞针。
具体实施方式
下面结合附图1和2对本实用新型作进一步的说明。附图1和2示意性的显示了本实用新型薄膜抗撞击测试装置,包括支架1和底座2,所述支架1上方设有冲击组件3,所述冲击组件3包括若干砝码和撞针10,所述冲击组件连接有传感器4,所述传感器4连接自动控制装置,所述冲击组件下方设有薄膜夹具5,所述薄膜夹具5连接有动力装置。实验中,将待测薄膜用薄膜夹具5平铺展开并固定,冲击组件3上带有若干测试砝码对待测薄膜进行冲击,同时传感器4感应到冲击组件3的冲击时间和力度,并将其传递给自动控制装置,由自动控制装进行数据统计和分析。
为了更好的固定冲击组件3,使其下落时更平稳,所述冲击组件3设有控制拉环6,能够保证实验数据的准确性。
为了很好的固定住待测薄膜,所述薄膜夹具5为环形夹具,所述环形夹具包括上夹具8和下夹具7,所述上夹具8和下夹具7连接有气缸9,启动气缸9将环形夹具的上夹具8和下夹具7密切贴合,将待测薄膜固定中间,待测试薄膜能够得到全面固定和展开,受力更均匀,使其测试结果更精确。
为避免刺裂薄膜现象发生,所述撞针10表面为曲面,更能满足撞击实验的需要。
本装置以气缸代替手动夹膜,保证了薄膜的平展度,使得撞针10带上砝码能准确地到达薄膜平面,达到有效的冲击性,计算出冲击的力度与时间,得到准确地数据。
以上所述的仅是本实用新型的一些实施方式,应当指出,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型的创造构思的前提下,还可以做出其它变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。

Claims (4)

1.薄膜抗撞击测试装置,包括支架(1)和底座(2),其特征在于,所述支架(1)上方设有冲击组件(3),所述冲击组件(3)包括若干砝码和撞针(10),所述冲击组件连接有传感器(4),所述传感器(4)连接自动控制装置,
所述冲击组件下方设有薄膜夹具(5),所述薄膜夹具(5)连接有动力装置。
2.如权利要求1所述的薄膜抗撞击测试装置,其特征在于,所述冲击组件(3)设有控制拉环(6)。
3.如权利要求1所述的薄膜抗撞击测试装置,其特征在于,所述薄膜夹具(5)为环形夹具,所述环形夹具包括上夹具(8)和下夹具(7),所述上夹具(8)和下夹具(7)连接有气缸(9)。
4.如权利要求1所述的薄膜抗撞击测试装置,其特征在于,所述撞针(10)表面为曲面。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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