CN204405727U - 一种用于电子设备输入过/欠压检测的电路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及电子设备技术领域,尤其涉及一种用于电子设备输入过/欠压检测的电路。它包括输入采样电路、第一基准源、第二基准源、第一逻辑运算电路、第二逻辑运算电路、或门电路和电平转换电路。输入采样电路的输出端分别与第一逻辑运算电路和第二逻辑运算电路的输入端连接,第一基准源的输出端和第二基准源的输出端分别与第一逻辑运算电路的输入端连接,第一逻辑运算电路和第二逻辑运算电路的输出端通过或门电路与电平转换电路连接。本电路通过采样输入电路将输入信号采集分压处理后,与基准源经运算比较器进行比较再通过或门电路输出至电平转换电路,电平转换电路将该信号转换成高、低电平,从而判断设备的输入过压/欠压状况。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子设备技术领域,尤其涉及一种用于电子设备输入过/欠压检测的电路。
背景技术
在现代电子科技尤其是现代高频开关电源领域,人们对设备的功能要求越来越多,拿高频开关电源来讲,指标不再是唯一的考量对象,辅助功能也日趋被重视;例如输入过/欠压保护功能,以往的设备,人们可能忽视此项功能,当输入电压波动幅度较大时,设备不会被保护,当输入电压过高时,可能会达到甚至超出设备所能承受的极限值,导致设备损坏,这不仅会造成严重的经济损失,更重要的是影响设备的正常运行。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种用于电子设备输入过/欠压检测的电路。它可以根据用户的需求,设定设备的输入过、欠压保护点,结合电子设备中的监控电路使用,可以精确的控制设备的保护点,从而更好的保护电子设备不被输入电压的大幅波动而损坏。
本实用新型所采取的技术方案是:一种用于电子设备输入过/欠压检测的电路,包括输入采样电路、第一基准源、第二基准源、第一逻辑运算电路、第二逻辑运算电路、或门电路和电平转换电路,所述输入采样电路的输出端分别与第一逻辑运算电路和第二逻辑运算电路的输入端连接,所述第一基准源的输出端和第二基准源的输出端分别与第一逻辑运算电路和第二逻辑运算电路的输入端连接,所述第一逻辑运算电路和第二逻辑运算电路的输出端通过或门电路与电平转换电路连接。
进一步的,所述的输入采样电路包括依次串联的电阻R1~R7,所述电阻R7的另一端与电阻R8和第一逻辑运算电路的输入端连接,所述电阻R8的两端并联连接有电容C5,所述电阻R8接地。
进一步的,所述的第一逻辑运算电路包括第一比较器N3、三极管V1和第一光电耦合器N4,所述第一基准源的输出端与第一比较器N3的反相输入端连接,所述第一比较器N3的正相输入端与电阻R7连接,所述第一比较器N3的输出端与三极管V1的基极连接,所述三极管V1的发射极与第一光电耦合器N4的输入端连接,所述第一光电耦合器N4的输出端与或门电路连接。
进一步的,所述的第二逻辑运算电路包括第二比较器N6、三极管V3和第二光电耦合器N5,所述第二基准源的输出端与第二比较器N6的反相输入端连接,所述第二比较器N6的正相输入端与电阻R7连接,所述第二比较器N6的输出端与三极管V3的基极连接,所述三极管V3的发射极与第二光电耦合器N5的输入端连接,所述第二光电耦合器N5的输出端与或门电路连接。
进一步的,所述第一基准源包括电阻R9、电阻R10、电阻R19、稳压器N1以及电容C1,所述电阻R9、电阻R10、电阻R19串联连接在第一电源输入端与地之间,所述稳压器N1的反馈端接在R9、R19连接点上,阴极接在电阻R9、电阻10连接点上,阳极接在第一电源的地上,所述电容C1跨接在稳压器N1的阴极与阳极之间。
进一步的,所述第二基准源包括电阻R11、电阻R12、电阻R22、稳压器N2以及电容C2,所述电阻R11、电阻R12、电阻R22串联连接在第一电源输入端与地之间,所述稳压器N2的反馈端接在R12、R22连接点上,阴极接在电阻R11、电阻12连接点上,阳极接在第一电源的地上,所述电容C2跨接在稳压器N2的阴极与阳极之间。
进一步的,所述或门电路包括并联连接的二极管V4和V5,所述二极管V4的正极与第一光电耦合器N4的输出端连接,所述二极管V5的正极与第二光电耦合器N5的输出端连接,所述二极管V4和V5的负极与电平转换电路输入端连接。
更进一步的,所述电平转换电路包括电阻R20、电阻R21和三极管V2,所述电阻R20与三极管V2的基极连接,所述电阻R21两端分别与第二电源输入端和三极管V2的集电极连接,所述三极管V2的发射极接地,所述三极管V2的集电极与电平转换电路输出端连接。
本实用新型的有益效果是:本电路通过输入采样电路将输入信号采集后进行分压处理,将分压处理后的信号与基准源通过运算比较器进行比较。当设备输入欠压时,第一比较器输出高电平,第二比较器输出低电平;当设备输入正常时,第一比较器输出低电平,第二比较器输出低电平;当设备输入过压时,第一比较器输出低电平,第二比较器输出高电平,当任意一个比较器输出高电平时,电平转换电路输出低电平;两个比较器均输出低电平时,电平转换电路输出高电平。电平转换电路可以将高、低电平送到监控单元,监控单元根据设备的输入过压/欠压状况控制设备的关断,从而保护设备不被损坏。而两个基准源的输出电压可以根据电阻阻值的不同来进行调节,使该电路输入过压/欠压保护点可以根据需要来随意变化,从而使电路更灵活的检测输入信号,并对外输出检测到的状态信息。
附图说明
图1为本实用新型原理框图;
图2为本实用新型输入采样电路的电路图;
图3为本实用新型第一基准源电路图;
图4为本实用新型第二基准源电路图;
图5为本实用新型逻辑运算电路至电平转换电路的电路连接图;
图中:1—采样输入电路,2—第一基准源,3—第二基准源,4—第一逻辑运算电路,5—第二逻辑运算电路,6—或门电路,7—电平转换电路。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实例,对本实用新型进行进一步详细说明。此处所描述的具体实例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。此外,下面所描述的本实用新型各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
如图1所示,本电路包括输入采样电路1、第一基准源2、第二基准源3、第一逻辑运算电路4、第二逻辑运算电路5、或门电路6和电平转换电路7,输入采样电路1的输出端分别与第一逻辑运算电路4和第二逻辑运算电路5的输入端连接,第一基准源2的输出端和第二基准源3的输出端分别与第一逻辑运算电路4的输入端连接,第一逻辑运算电路4和第二逻辑运算电路5的输出端通过或门电路6与电平转换电路7连接。
本电路的原理为:通过输入采样电路1将输入信号采集后进行分压处理,将分压处理后的信号与第一基准源2和第二基准源3通过逻辑运算电路进行比较。当设备输入欠压时,第一逻辑运算电路4输出高电平,第二逻辑运算电路5输出低电平;当设备输入正常时,第一逻辑运算电路4输出低电平,第二逻辑运算电路输出低电平;当设备输入过压时,第一逻辑运算电路4输出低电平,第二逻辑运算电路输出高电平,当任意一个逻辑运算电路输出高电平时,电平转换电路输出低电平;两个逻辑运算电路均输出低电平时,电平转换电路输出高电平。电平转换电路可以将高、低电平送到监控单元,监控单元根据设备的输入过压/欠压状况控制设备的关断,从而保护设备不被损坏。
如图2所示,输入采样电路1包括依次串联的电阻R1~R7,电阻R7的另一端与电阻R8和第一逻辑运算电路的输入端连接,电阻R8的两端并联连接有电容C5,电阻R8接地。
如图3所示,第一基准源2包括电阻R9、电阻R10、电阻R19、稳压器N1和电容C1,电阻R9、电阻R10、电阻R19串联连接在第一电源(本实施例+12V1)输入端与地之间,稳压器N1的反馈端接在R9、R19连接点上,阴极接在电阻R9、电阻10连接点上,阳极接在第一电源的地上,电容C1跨接在与稳压器N1的阴极与阳极之间。本电路中,R9为限流电阻,C1为滤波电容,起平滑信号的作用。第一基准源2输出的基准电压Vref1=2.5(1+R10/R19),通过调节R10、R19的比值即可控制第一基准源2的基准电压Vref1。
基准源2由R11、R12、R22、N2、C2组成,R12、R22的比值控制基准源的基准电压,R11起限流的作用,C2为滤波电容,起平滑信号的作用。
如图4所示,第二基准源3包括电阻R11、电阻R12、电阻R22、稳压二极管N2和电容C2,电阻R11、电阻R12、电阻R22串联连接在第一电源输入端与地之间,稳压器N2的反馈端接在R12、R22连接点上,阴极接在电阻R11、电阻12连接点上,阳极接在第一电源的地上,所述电容C2跨接在稳压器N2的阴极与阳极之间。本电路中,R11为限流电阻,C2为滤波电容,起平滑信号的作用。第二基准源3输出的基准电压Vref2=2.5(1+R12/R22),通过调节R12、R22的比值即可控制第二基准源3的基准电压Vref2。
如图5所示,第一逻辑运算电路2包括第一比较器N3、三极管V1和第一光电耦合器N4,第一基准源2的输出端与第一比较器N3的反相输入端连接,第一比较器N3的正相输入端与电阻R7连接,第一比较器N3的第8和第4引脚分别与第一电源和地连接,在第一电源和地之间并联有一个电容C3,第一比较器N3的输出端与三极管V1的基极连接。第一比较器N3的输出端还连接有电容C4、电阻R16和电阻R17,电阻R16和电阻R17串联连接在第一电源和地之间,电容C4连接在第一比较器N3的输出端与地之间,第一比较器N3的输出端连接在电阻R16和电阻R17之间。三极管V1的集电极通过电阻R16与第一电源连接,发射极与第一光电耦合器N4内发光二极管的正极连接,发光二极管的负极接地。第一光电耦合器N4内三极管的集电极与第二电源(本实施例为+5V)连接,发射极与电阻R29以及或门电路连接,电阻R29另一端接地。
第二逻辑运算电路5包括第二比较器N6、三极管V3和第二光电耦合器N5,第二基准源3的输出端与第二比较器N6的反相输入端连接,第二比较器N6的正相输入端与电阻R7连接,第二比较器N6的第8和第4引脚分别与第一电源和地连接,在第一电源和地之间并联有一个电容C6,第二比较器N6的输出端与三极管V3的基极连接。第二比较器N6的输出端还连接有电容C7、电阻R26和电阻R27,电阻R26和电阻R27串联连接在第一电源和地之间,电容C7连接在第二比较器N6的输出端与地之间,第二比较器N6的输出端连接在电阻R26和电阻R27之间。三极管V3的集电极通过电阻R28与第一电源连接,发射极与第二光电耦合器N5内发光二极管的正极连接,发光二极管的负极接地。第二光电耦合器N5内三极管的集电极与或门电路连接,同时通过电阻R30与第二电源(本实施例为+5V)连接,发射极接地。
或门电路6包括并联连接的二极管V4和V5,二极管V4的正极与第一光电耦合器N4内三极管的发射极连接,二极管V5的正极与第二光电耦合器N5内三极管的集电极连接,二极管V4和V5的负极与电平转换电路7输入端连接。
电平转换电路包括电阻R20、电阻R21和三极管V2,电阻R20与三极管V2的基极连接,电阻R21两端分别与第二电源输入端和三极管V2的集电极连接,三极管V2的发射极接地,三极管V2的集电极与电平转换电路的输出端连接。电阻R20为限流电阻,控制V2的驱动电流,电阻R21同样也为限流电阻,控制输出信号的输出电流,三极管V2的作用为电平转换器,V2的驱动信号为高电平时,V2将其转换成低电平输出,V2的驱动信号为低电平时,V2将其转换成+5V的高电平输出至监控单元中,监控单元根据设备的输入过压/欠压状况控制设备的关断,从而保护设备不被损坏。。
以上所述,仅为本实用新型的具体实施方式,应当指出,任何熟悉本领域的技术人员在本实用新型所揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种用于电子设备输入过/欠压检测的电路,其特征在于:包括输入采样电路、第一基准源、第二基准源、第一逻辑运算电路、第二逻辑运算电路、或门电路和电平转换电路,所述输入采样电路的输出端分别与第一逻辑运算电路和第二逻辑运算电路的输入端连接,所述第一基准源的输出端和第二基准源的输出端分别与第一逻辑运算电路和第二逻辑运算电路的输入端连接,所述第一逻辑运算电路和第二逻辑运算电路的输出端通过或门电路与电平转换电路连接。
2.如权利要求1所述的一种用于电子设备输入过/欠压检测的电路,其特征在于:所述的输入采样电路包括依次串联的电阻R1~R7,所述电阻R7的另一端与电阻R8和第一逻辑运算电路的输入端连接,所述电阻R8的两端并联连接有电容C5,所述电阻R8接地。
3.如权利要求1所述的一种用于电子设备输入过/欠压检测的电路,其特征在于:所述的第一逻辑运算电路包括第一比较器N3、三极管V1和第一光电耦合器N4,所述第一基准源的输出端与第一比较器N3的反相输入端连接,所述第一比较器N3的正相输入端与电阻R7连接,所述第一比较器N3的输出端与三极管V1的基极连接,所述三极管V1的发射极与第一光电耦合器N4的输入端连接,所述第一光电耦合器N4的输出端与或门电路连接。
4.如权利要求1所述的一种用于电子设备输入过/欠压检测的电路,其特征在于:所述的第二逻辑运算电路包括第二比较器N6、三极管V3和第二光电耦合器N5,所述第二基准源的输出端与第二比较器N6的反相输入端连接,所述第二比较器N6的正相输入端与电阻R7连接,所述第二比较器N6的输出端与三极管V3的基极连接,所述三极管V3的发射极与第二光电耦合器N5的输入端连接,所述第二光电耦合器N5的输出端与或门电路连接。
5.如权利要求1所述的一种用于电子设备输入过/欠压检测的电路,其特征在于:所述第一基准源包括电阻R9、电阻R10、电阻R19、稳压器N1以及电容C1,所述电阻R9、电阻R10、电阻R19串联连接在第一电源输入端与地之间,所述稳压器N1的反馈端接在R9、R19连接点上,阴极接在电阻R9、电阻10连接点上,阳极接在第一电源的地上,所述电容C1跨接在稳压器N1的阴极与阳极之间。
6.如权利要求1所述的一种用于电子设备输入过/欠压检测的电路,其特征在于:所述第二基准源包括电阻R11、电阻R12、电阻R22、稳压器N2以及电容C2,所述电阻R11、电阻R12、电阻R22串联连接在第一电源输入端与地之间,所述稳压器N2的反馈端接在R12、R22连接点上,阴极接在电阻R11、电阻12连接点上,阳极接在第一电源的地上,所述电容C2跨接在稳压器N2的阴极与阳极之间。
7.如权利要求1所述的一种用于电子设备输入过/欠压检测的电路,其特征在于:所述或门电路包括并联连接的二极管V4和V5,所述二极管V4的正极与第一光电耦合器N4的输出端连接,所述二极管V5的正极与第二光电耦合器N5的输出端连接,所述二极管V4和V5的负极与电平转换电路输入端连接。
8.如权利要求1所述的一种用于电子设备输入过/欠压检测的电路,其特征在于:所述电平转换电路包括电阻R20、电阻R21和三极管V2,所述电阻R20与三极管V2的基极连接,所述电阻R21两端分别与第二电源输入端和三极管V2的集电极连接,所述三极管V2的发射极接地,所述三极管V2的集电极与电平转换电路输出端连接。
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