CN204214617U - 气密性测试治具 - Google Patents

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陈国栋
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Abstract

本实用新型公开了一种气密性测试治具,包括:治具框架、设置于治具框架内的控制板、安装于治具框架上表面的测试座、用于检测待测电子元器件内部气压变化的气压监测器,所述测试座连接一进气管并且形成有与待测的电子元器件连通的进气口,所述气压监测器与控制板电连接,所述治具框架上还设有受气压监测器控制的显示器和指示灯。有益之处在于:本实用新型的气密性测试治具,取代了现有技术中传统的手动气泡检测法,在外部气压不变的情况下,通过检测电子元件内部气压的变化情况来测试电子元器件的密封性;并且还可通过指示灯直观地显示电子元器件的密封性是否合格,具有良好的工业推广价值和前景。

Description

气密性测试治具
技术领域
本实用新型涉及一种治具,具体涉及一种气密性测试治具,属于机械技术领域。
背景技术
电子元器件必须具有较好的密封性,从而确保使用过程中防水防尘,以保障电子元器件的各项电气性能。现有技术中,一般是通过将电子元器件浸水对其气密性进行检测,即:专人手持待测的电子元器件浸入水中,目视有无气泡产生,如果有气泡的话则说明密封性不好,为NG产品,无气泡则是OK产品。这样检测存在诸多缺陷,(1)、检测完成后,需要使用***将水吹净,平均约需20s,费时费力;(2)、如果产品漏气但是气泡较小,则不容易看出,而且极易由于主观因素导致误判;(3)、电子产品内部一般都有润滑油、LED灯、电阻、线圈等元器件,浸泡于水中必将对其可靠性和使用寿命造成影响。鉴于上述原因,迫切需要一种取而代之的气密性测试治具。
实用新型内容
为解决现有技术的不足,本实用新型的目的在于提供一种对电子元器件无损伤、判断准确的气密性测试治具。
为了实现上述目标,本实用新型采用如下的技术方案:
气密性测试治具,包括:治具框架、设置于治具框架内的控制板、安装于治具框架上表面的测试座、用于检测待测电子元器件内部气压变化的气压监测器,所述测试座连接一进气管并且形成有与待测的电子元器件连通的进气口,所述气压监测器与控制板电连接,所述治具框架上还设有受气压监测器控制的显示器和指示灯。
前述测试座至少为两个,所述气压监测器与测试座一一对应设置。
优选地,前述每个气压监测器控制的指示灯至少为两个,包括红灯和绿灯。
进一步地,前述测试座内部为中空结构,进气管从治具框架内伸出并且连接于底座的侧面。
优选地,前述进气管上设有一进气阀门。
再进一步地,前述治具框架的顶面和正面之间还具有一个倾斜设置的过渡面,所述显示器和指示灯均设置于过渡面上。
本实用新型的有益之处在于:本实用新型的气密性测试治具,取代了现有技术中传统的手动气泡检测法,在外部气压不变的情况下,通过检测电子元件内部气压的变化情况来测试电子元器件的密封性;并且还可通过指示灯直观地显示电子元器件的密封性是否合格,具有良好的工业推广价值和前景。
附图说明
图1是本实用新型的气密性测试治具的一个优选实施例的立体结构示意图。
图中附图标记的含义:1、治具框架,11、顶面,12、正面,13、过渡面,2、测试座,21、进气口,3、进气管,4、显示器,5、指示灯,6、进气阀门。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本实用新型作具体的介绍。
本实用新型的气密性测试治具其结构参见图1,包括:治具框架1、设置于治具框架1内的控制板(图中未示出)、安装于治具框架1上表面的测试座2、用于检测待测电子元器件内部气压变化的气压监测器(位于治具框架1内,故图中未示出),其中,测试座2连接一进气管3并且形成有与待测的电子元器件连通的进气口21,气压监测器与控制板电连接,治具框架1上还设有受气压监测器控制的显示器4和指示灯5。测试原理是:在外部气压不变的情况下,测试电子元器件内部的气压变化,如果在一定时间内气压变化超过设定值,则表示气密性不合格。测试过程中,电子元器件安装于测试座2上并且与进气口21对接,这样就能通过进气管3向电子元器件内“输入”气压,然后,通过气压监测器测试电子元器件内部的气压变化,将测试结果直观地显示在显示器4上,还可以通过指示灯5直接告知操作者产品的气密性是否合格。
优选地,测试座2至少为两个,气压监测器与测试座2一一对应设置,这样能够实现多个电子元器件同时检测,提高了测试效率。
前面我们说过,指示灯5是用来直观地告知产品气密性是否合格的,因此,每个气压监测器控制的指示灯5至少为两个,包括红灯和绿灯,其中,红灯用于指示产品为不合格的NG品,绿灯则表示产品为合格的OK品,提高了治具的可操作性。
作为一种具体结构,为了向待测的电子元器件内输入气压,将测试座2内部设计为中空结构,如图1所示,进气管3从治具框架1内伸出并且连接于底座的侧面,这样的话,进气口21位于进气管3与底座连接处的上方并且两者之间有一定的距离,气体进入电子元器件内的速度就会比较均匀缓和,对电子元器件内部的冲击力小,避免损坏内部器件。
为了方便控制进气,在进气管3上还设有一进气阀门6。
作为本实用新型的一种改进,为了提高操作者的便利性,在治具框架1的顶面11和正面12之间还具有一个倾斜设置的过渡面13,显示器4和指示灯5均设置于过渡面13上,更加符合人体工程学的要求。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解,上述实施例不以任何形式限制本实用新型,凡采用等同替换或等效变换的方式所获得的技术方案,均落在本实用新型的保护范围内。

Claims (6)

1.气密性测试治具,其特征在于,包括:治具框架、设置于治具框架内的控制板、安装于治具框架上表面的测试座、用于检测待测电子元器件内部气压变化的气压监测器,所述测试座连接一进气管并且形成有与待测的电子元器件连通的进气口,所述气压监测器与控制板电连接,所述治具框架上还设有受气压监测器控制的显示器和指示灯。
2.根据权利要求1所述的气密性测试治具,其特征在于,所述测试座至少为两个,所述气压监测器与测试座一一对应设置。
3.根据权利要求2所述的气密性测试治具,其特征在于,所述每个气压监测器控制的指示灯至少为两个,包括红灯和绿灯。
4.根据权利要求1-3任一项所述的气密性测试治具,其特征在于,所述测试座内部为中空结构,进气管从治具框架内伸出并且连接于底座的侧面。
5.根据权利要求4所述的气密性测试治具,其特征在于,所述进气管上设有一进气阀门。
6.根据权利要求4所述的气密性测试治具,其特征在于,所述治具框架的顶面和正面之间还具有一个倾斜设置的过渡面,所述显示器和指示灯均设置于过渡面上。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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