CN204142858U - 一种触摸屏电气检查治具 - Google Patents

Abstract

一种触摸屏电气检查治具，包括载台、设于所述载台上用于放置待测器件的容置区及用于电气检查的测试装置和连接于所述测试装置的电气检查用具，所述测试装置包括固定连接于所述载台上的导柱、铰接于所述导柱且具有用于接触所述待测器件的活动探针的旋转机构和设于所述旋转机构上方用于驱动所述活动探针接触所述待测器件的下压机构。本实用新型结构简单、使用方便，所述活动探针自动对位，并可依据测试需要，即针对不同的待测器件及不同测试点位等情况，灵活选择所要使用的所述探针区及所述下压片，获取测试结果，省时省力，工作效率大大提高。

Description

一种触摸屏电气检查治具

技术领域

本实用新型涉及触摸屏电气检测技术领域，具体是一种电气检查治具。

背景技术

触摸屏玻璃基板需要进行电性能测试，以往的检测工具是采用万用表的方法手动对位来测试，过程很是繁琐，结果也不精确，费时费力的同时工作效果也不甚理想，影响产品的质检，间接关系到产品的良品率及出货量。

实用新型内容

本实用新型的技术目的在于提供一种触摸屏电气检查治具，解决检测过程繁琐、结果不准的问题。

本实用新型的具体技术方案如下：一种触摸屏电气检查治具，包括载台、设于所述载台上用于放置待测器件的容置区及用于电气检查的测试装置和连接于所述测试装置的电气显示用具，其特征在于：所述测试装置包括设于载台的用于与待测器件接触测试且具有活动接触阵列的旋转对位机构和设于载台的用于驱动所述活动接触阵列动作且具有匹配于所述旋转对位机构的活动接触件的下压机构。

作为优选，所述旋转对位机构包括固定连接于所述载台的导柱、铰接于所述导柱的旋转台、开设于所述旋转台上的多个探针区，所述活动接触阵列布置于所述探针区内，通过转动所述旋转台可以按需控制对应所述探针区。

作为优选，所述活动接触阵列为可上下伸缩复位的活动探针；所述活动探针包括端帽和固定连接于所述端帽的针体；所述探针区内部空心且所述探针区上开有用于置入所述针体的多目通孔，位于所述探针区内部的所述针体上固定连接有挡片，所述挡片与所述探针区内部底壁之间固定连接有弹簧套。

作为优选，所述探针区具有匹配于所述旋转台形状的多个区域，所述活动探针具有匹配于所述待测器件的多个密度及排布形状。

作为优选，所述载台还连接有支架；所述下压机构包括设于所述支架上的驱动件、活动连接于所述驱动件的下压模、固定连接于所述下压模的衔接块和固定连接于所述衔接块上用于压下所述探针区内的所述活动探针的下压件，通过转动所述下压模可以按需控制对应所述下压件。

作为优选，所述下压件包括固定连接于所述衔接块的连接杆和连接于所述连接杆端部用于压动所述活动探针的下压片。

作为优选，所述下压片具有匹配于所述探针区大小的多个规格。

作为优选，所述下压片为没有任何开孔的无孔片

作为优选，所述下压片为开有通孔的有孔片。

本实用新型的技术优点在于所述触摸屏电气检查治具结构简单、使用方便，所述活动探针自动对位，并可依据测试需要，即针对不同的待测器件及不同测试点位等情况，灵活选择所要使用的所述探针区及所述下压片，获取测试结果，省时省力，工作效率大大提高。

附图说明

图1为本实用新型一实施例的结构示意图；

图2为所述旋转机构和所述下压机构的结构示意图；

图3为所述活动探针的结构示意图；

图中编号对应的各部位名称分别为：1-载台，11-支架，2-容置区，3-导柱，4-活动探针，41-端帽，42-针体，43-挡片，44-弹簧套，5-旋转台，51-探针区，6-下压模，7-衔接块，8-连接杆，9-下压片。

具体实施方式

下面将结合附图，通过具体实施例对本实用新型作进一步说明：

参见图1、图2、图3，一种触摸屏电气检查治具，包括载台1、设于载台1上用于放置待测器件的容置区2及用于电气检查的测试装置和连接于测试装置的电气显示用具，测试装置包括设于载台1的用于与待测器件接触测试且具有活动接触阵列的旋转对位机构和设于载台1的用于驱动所述活动接触阵列动作且具有匹配于所述旋转对位机构的活动接触件的下压机构。

旋转对位机构包括固定连接于载台1的导柱3、铰接于导柱3的旋转台5、开设于旋转台5上的多个探针区51，活动接触阵列布置于探针区51内，通过转动旋转台5可以按需控制对应探针区51。活动接触阵列为可上下伸缩复位的活动探针4；活动探针4包括端帽41和固定连接于端帽41的针体42；探针区51内部空心且探针区51上开有用于置入针体42的多目通孔，位于探针区51内部的针体42上固定连接有挡片43，挡片43与探针区51内部底壁之间固定连接有弹簧套44。探针区51具有匹配于旋转台5形状的多个区域，旋转台5可以是四方体、圆柱体等，探针区51可以做成适应于旋转台的方形凹陷区、圆形凹陷区等；活动探针4具有匹配于待测器件的多个密度及排布形状，活动探针的密度及排布依照需要测试的器件的测试端来定。

载台1还连接有支架11；下压机构包括设于支架11上的驱动件、活动连接于驱动件的下压模6、固定连接于下压模6的衔接块7和固定连接于衔接块7上用于压下探针区51内的活动探针4的下压件，通过转动下压模6可以按需控制对应下压件。驱动件一般选择气缸。

下压件包括固定连接于衔接块7的连接杆8和连接于连接杆8端部用于压动活动探针4的下压片9。下压片9具有匹配于探针区51大小的多个规格。下压片9包括没有任何开孔的无孔片和开有通孔的有孔片。无孔片就是将被下压片9覆盖的所有活动探针4压下并接触到待测器件，有孔片可根据需要设置通孔位置，满足特定的待测器件或是特定的测试端测试需求。

设备工作时，待测器件固定放置在容置区2，依据待测器件的测试端来选择合适的探针区51，同时再结合测试需求选择合适的下压片9，驱动件驱动下压模6下移，带动衔接块7和连接杆8下移，连接杆8的下压片9就随之向下压动活动探针4直至良好接触到待测器件，电气检查用具、测试装置及待测器件构成测试回路，对待测器件的电性能进行检测。

Claims (9)

1.一种触摸屏电气检查治具，包括载台（1）、设于所述载台（1）上用于放置待测器件的容置区（2）及用于电气检查的测试装置和连接于所述测试装置的电气显示用具，其特征在于：所述测试装置包括设于所述载台（1）的用于与待测器件接触测试且具有活动接触阵列的旋转对位机构和设于所述载台（1）的用于驱动所述活动接触阵列动作且具有匹配于所述旋转对位机构的活动接触件的下压机构。

2.根据权利要求1所述的一种触摸屏电气检查治具，其特征在于：所述旋转对位机构包括固定连接于所述载台（1）的导柱（3）、铰接于所述导柱（3）的旋转台（5）、开设于所述旋转台（5）上的多个探针区（51），所述活动接触阵列布置于所述探针区（51）内，通过转动所述旋转台（5）可以按需控制对应所述探针区（51）。

3.根据权利要求2所述的一种触摸屏电气检查治具，其特征在于：所述活动接触阵列为可上下伸缩复位的活动探针（4）；所述活动探针（4）包括端帽（41）和固定连接于所述端帽（41）的针体（42）；所述探针区（51）内部空心且所述探针区（51）上开有用于置入所述针体（42）的多目通孔，位于所述探针区（51）内部的所述针体（42）上固定连接有挡片（43），所述挡片（43）与所述探针区（51）内部底壁之间固定连接有弹簧套（44）。

4.根据权利要求2或3所述的一种触摸屏电气检查治具，其特征在于：所述探针区（51）具有匹配于所述旋转台（5）形状的多个区域，所述活动探针（4）具有匹配于所述待测器件的多个密度及排布形状。

5.根据权利要求2所述的一种触摸屏电气检查治具，其特征在于：所述载台（1）还连接有支架（11）；所述下压机构包括设于所述支架（11）上的驱动件、活动连接于所述驱动件的下压模（6）、固定连接于所述下压模（6）的衔接块（7）和固定连接于所述衔接块（7）上用于压下所述探针区（51）内的所述活动探针（4）的下压件，通过转动所述下压模（6）可以按需控制对应所述下压件。

6.根据权利要求5所述的一种触摸屏电气检查治具，其特征在于：所述下压件包括固定连接于所述衔接块（7）的连接杆（8）和连接于所述连接杆（8）端部用于压动所述活动探针（4）的下压片（9）。

7.根据权利要求6所述的一种触摸屏电气检查治具，其特征在于：所述下压片（9）具有匹配于所述探针区（51）大小的多个规格。

8.根据权利要求7所述的一种触摸屏电气检查治具，其特征在于：所述下压片（9）为没有任何开孔的无孔片。

9.根据权利要求7所述的一种触摸屏电气检查治具，其特征在于：所述下压片（9）为开有通孔的有孔片。