CN203526088U - 电子元件检测装置 - Google Patents

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赖晨鹏
欧毓迎
姜富林
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方祥建
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Abstract

本实用新型提供了一种电子元件检测装置,包括:送料单元,送料单元具有进料端和出料端;测量单元,测量单元的工作位置位于送料单元的进料端和出料端之间,用于测量电子元件的实际参数;控制单元,与送料单元和测量单元连接,根据实际参数与目标参数范围的关系确定电子元件是否合格、并发送合格信号或不合格信号,送料单元接收合格信号;处理单元,与控制单元连接,用于接收控制单元发出的不合格信号,并对不合格的电子元件进行处理。由于采用电子元件检测装置对电子元件进行检测,因而提高了检测效率、减小了工作人员的劳动强度、保证了生产供给、保证了生产效率。

Description

电子元件检测装置
技术领域
本实用新型涉及电子元件检测技术领域,更具体地,涉及一种电子元件检测装置。
背景技术
电器产品中需要用到很多的电子元件,为了保证电器产品的成品合格率,因而需要在使用电子元件前对每个电子元件进行检测,以便及时将不合格的电子元件筛除。
现有技术中,采用人工检测的方法对电子元件进行筛选,导致工作人员劳动强度大、检测效率低。同时,由于电子元件(例如编带电阻、编带电容等)的体积小、用量大(每日用量多达几万甚至十几万),因而工作人员的人工检测速度无法满足生产需求,严重影响生产效率。
实用新型内容
本实用新型旨在提供一种电子元件检测装置,以解决现有技术中人工检测电子元件导致工作人员劳动强度大、检测效率低的问题。
为解决上述技术问题,本实用新型提供了一种电子元件检测装置,包括:送料单元,送料单元具有进料端和出料端;测量单元,测量单元的工作位置位于送料单元的进料端和出料端之间,用于测量电子元件的实际参数;控制单元,与送料单元和测量单元连接,根据实际参数与目标参数范围的关系确定电子元件是否合格、并发送合格信号或不合格信号,送料单元接收合格信号;处理单元,与控制单元连接,用于接收控制单元发出的不合格信号,并对不合格的电子元件进行处理。
进一步地,送料单元包括支杆轮,支杆轮为多个,多个支杆轮沿进料端向出料端的方向间隔设置。
进一步地,测量单元为电阻测试仪。
进一步地,处理单元为切除组件。
进一步地,切除组件包括:切刀,切刀的工作位置位于测量单元的工作位置和送料单元的出料端之间,用于切除电子元件;驱动部,与控制单元连接,用于接收控制单元发出的不合格信号并驱动切刀运动。
进一步地,电子元件检测装置还包括工作台,工作台位于送料单元的进料端和出料端之间,且测量单元的工作位置位于工作台上,切刀的工作位置位于工作台上。
进一步地,电子元件检测装置还包括用于盛接被切除的电子元件的第一收纳部,第一收纳部位于工作台的下方。
进一步地,电子元件检测装置还包括用于盛接电子元件的第二收纳部,第二收纳部位于送料单元的出料端的下方。
进一步地,电子元件检测装置还包括输入单元,输入单元与控制单元连接,用于设定目标参数范围和/或控制控制单元向送料单元、测量单元、处理单元发送控制信号。
进一步地,电子元件检测装置还包括计数元件,计数元件与控制单元连接,用于接收不合格信号并计数。
进一步地,电子元件检测装置还包括报警元件,报警元件与计数元件连接,用于当计数元件计数超过预设数值时报警。
本实用新型中的测量单元用于测量电子元件的实际参数,送料单元和测量单元与控制单元连接,控制单元根据实际参数与目标参数范围的关系确定电子元件是否合格、并发送合格信号或不合格信号,送料单元接收合格信号,处理单元用于接收控制单元发出的不合格信号,并对不合格的电子元件进行处理。由于采用电子元件检测装置对电子元件进行检测,因而提高了检测效率、减小了工作人员的劳动强度、保证了生产供给、保证了生产效率。同时,本实用新型中的电子元件检测装置具有结构简单、制造成本低的特点。
附图说明
构成本申请的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解,本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中:
图1示意性示出了本实用新型中的电子元件检测装置的结构示意图;以及
图2示意性示出了本实用新型中的电子元件自动检测方法的流程图。
图中附图标记:10、送料单元;11、支杆轮;20、测量单元;30、处理单元;31、切刀;32、驱动部;40、工作台;50、第二收纳部。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的实施例进行详细说明,但是本实用新型可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。
作为本实用新型的第一个方面,提供了一种电子元件检测装置。如图1所示,电子元件检测装置包括送料单元10、测量单元20、控制单元和处理单元30,其中,送料单元10具有进料端和出料端;测量单元20的工作位置位于送料单元10的进料端和出料端之间,用于测量电子元件的实际参数;控制单元与送料单元10和测量单元20连接,根据实际参数与目标参数范围的关系确定电子元件是否合格、并发送合格信号或不合格信号,送料单元10接收合格信号;处理单元30与控制单元连接,用于接收控制单元发出的不合格信号,并对不合格的电子元件进行处理。由于采用电子元件检测装置对电子元件进行检测,因而提高了检测效率、减小了工作人员的劳动强度、保证了生产供给、保证了生产效率。同时,本实用新型中的电子元件检测装置具有结构简单、制造成本低的特点。
如图1所示的实施中,由于设置有送料单元10,因而电子元件(例如编带电阻、编带电容等)会被送料单元10从进料端运送到测量单元20的工作位置处进行检测,然后再送到处理单元30的工作位置处或送料单元10的出料端,从而实现电子元件检测装置的自动送料的功能。
如图1所示的实施例中,送料单元10包括支杆轮11,支杆轮11为多个,多个支杆轮11沿进料端向出料端的方向间隔设置。当电子元件为编带电子元件时,由于所有的电子元件均通过编带连接,且相邻两个电子元件之间的距离相同,因而编带电子元件的一端搭载在进料端的支杆轮11上后,通过支杆轮11的滚动,可以实现编带电子元件由进料端向出料端方向运动。当然,送料单元10还可以包括传动带,多个支杆轮11设置在传动带的下方,电子元件搭载在传动带上,从而实现自动送料的功能。由于相邻两个电子元件之间的距离相同,因而可以采用步进电机驱动支杆轮11转动,通过控制步进电机的步距,可以实现步进电机每运转一次电子元件向前移动一个电阻的间距,从而保证步进电机每次运转,均可向测量单元20的工作位置处传送一个新的待检测的电子元件,从而提高了电子元件检测装置的使用可靠性。
如图1所示的实施例中,由于设置有测量单元20,因而可以对待检测电子元件的实际参数进行测量,从而为判断该电子元件是否达到使用合格标准,提供可靠的数据支持。在电子元件为编带电阻的实例中,测量单元20为电阻测试仪。
优选地,本实用新型中的电子元件检测装置还包括第一位置传感器,第一位置传感器设置在测量单元20的工作位置处,第一位置传感器与控制单元连接。进一步地,第一位置传感器为光纤传感器。当第一位置传感器检测到电子元件到达测量单元20的工作位置处时,第一位置传感器传递信号给控制器,并使控制器发送控制信号给送料单元10,使送料单元10停止送料,以便测量单元20对该位置处的电子元件进行测量,从而保证了测量的准确性。
当然,还可以在测量单元20的探针端设置光纤传感器,用于感测测量单元20的探针端与电子元件的引脚的距离,并通过电机驱动测量单元20的探针端运动,以便对电子元件进行测量。
本实用新型中,由于设置有控制单元,因而可以将测量单元20采集到的实际参数与目标参数范围进行比对,进而确定该电子元件是否合格、并发送合格信号或不合格信号,以控制送料单元10或处理单元30动作。优选地,控制单元为PLC控制器或其他控制器。
如图1所示的实施例中,由于设置有处理单元30,因而可以在检测到不合格产品时,由控制单元发送不合格信号,并由处理单元30接收该不合格信号后,对该不合格的电子元件进行处理。在一个未图示的实施例中,处理单元30包括推杆和驱动推杆运动的电机,推杆设置在送料单元10的一侧。当处理单元30接收控制单元发送的不合格信号时,推杆运动,用以将该不合格的电子元件由送料单元10上推下,以便对不合格产品进行汇总收集。
在编带电子元件的实例中,处理单元30为切除组件。由于所有电子元件均由编带连接,因而当检测到不合格产品时,需要将不合格的电子元件从编带上切除,以便将合格电子元件与不合格电子元件分类收集。
如图1所示的实施例中,切除组件包括切刀31和驱动部32,切刀31的工作位置位于测量单元20的工作位置和送料单元10的出料端之间,用于切除电子元件;驱动部32与控制单元连接,用于接收控制单元发出的不合格信号并驱动切刀31运动。当控制单元发送不合格信号时,驱动部32接收控制单元发出的不合格信号并驱动切刀31运动,从而将该电子元件从编带上切除。
优选地,在切刀31的工作位置处设置有第二位置传感器。当第二位置传感器检测电子元件到位时,第二位置传感器发送信号给控制单元,以使控制单元控制送料单元10停止运动,此时切刀31运动,切除该电子元件,从而保证了切除电子元件的准确性、提高了电子元件检测装置的使用可靠性。
优选地,切刀31的工作位置与测量单元20的工作位置应为相邻两个电子元件之间的距离或距离的整数倍,这样可以保证送料单元10将电子元件从测量单元20的工作位置准确送达切刀31的工作位置,从而进一步保证了电子元件检测装置的使用可靠性。
如图1所示的实施例中,电子元件检测装置还包括工作台40,工作台40位于送料单元10的进料端和出料端之间,且测量单元20的工作位置位于工作台40上,切刀31的工作位置位于工作台40上。由于设置有工作台40,因而为电子元件进行测量或切割处理提供了稳定、可靠的工作平台,从而保证了电子元件检测装置的使用可靠性。
本实用新型中的电子元件检测装置还包括用于盛接被切除的电子元件的第一收纳部,第一收纳部位于工作台40的下方。在编带电子元件的实例中,由于不合格的电子元件被切除了,因而当送料单元10继续向前运动时,该电子元件由工作台40上掉落,被第一收纳部收集。当然,还可以在工作台40上设置活动窗口,活动窗口位于工作台40上与切刀31对应的位置处,当电子元件被切除后,活动窗口打开,从而使该电子元件由活动窗口落下而被第一收纳部盛接。
如图1所示的实施例中,电子元件检测装置还包括用于盛接电子元件的第二收纳部50,第二收纳部50位于送料单元10的出料端的下方。在编带电子元件的实例中,由于不合格产品均被切除了,因而由送料单元10的出料端送出的编带电子元件均为合格产品,这些合格的编带电子元件被第二收纳部50回收,用于生产使用。编带电子元件利用盒装电子元件编带的折叠痕迹,自动落料成叠形。优选地,第二收纳部50为瓦楞纸箱。进一步地,电子元件检测装置还包括打包装置。当瓦楞纸箱收集满电子元件后,打包装置将瓦楞纸箱打包处理,从而便于将合格的电子元件运送至其他使用场所。
本实用新型中的电子元件检测装置还包括输入单元,输入单元与控制单元连接,用于设定目标参数范围和/或控制控制单元向送料单元10、测量单元20、处理单元30发送控制信号。由于设置有输入单元,因而工作人员可以通过输入单元修改控制单元内的目标参数范围,从而改变确定电子元件是否合格的标准,扩大了电子元件检测装置的使用范围。当然,通过对输入单元进行操作,可以控制送料单元10、测量单元20、处理单元30的运动参数,从而使电子元件检测装置除了能够自动运行之外,还具有手动控制的功能。
本实用新型中的电子元件检测装置还包括计数元件,计数元件与控制单元连接,用于接收不合格信号并计数。优选地,计数元件为计数器。当然,还可以使用控制单元自带的计数功能。由于电子元件检测装置具有对不合格的电子元件计数的功能,因而方便工作人员查询该批次产品的质量情况。
本实用新型中的电子元件检测装置还包括报警元件,报警元件与计数元件连接,用于当计数元件计数超过预设数值时报警。优选地,该报警元件为蜂鸣器或LED灯。由于设置有报警元件,因而当某一批次产品中出现超过预设数目的不合格产品时,电子元件检测装置报警提示。这样,工作人员可以及时对电子元件检测装置进行检查,以避免由于硬件原因而导致检测失误的问题。当然,也提醒工作人员该批次产品质量存在问题,避免由于产品自身质量问题而导致浪费检测时间、降低检测效率的问题。
本实用新型中的电子元件检测装置还包括用于检测编带电子元件是否进出料正常的传感器。同时,本实用新型中的电子元件检测装置还包括存储单元,用于记录测量生产状态、不合格产品的数量、分析报告等。
本实用新型中的电子元件检测装置还包括显示单元,显示单元与存储单元连接。优选地,显示单元为LED显示屏或触摸屏。
本实用新型中的电子元件检测装置还包括急停控制开关,急停控制开关与控制单元连接,用于控制电子元件检测装置急停。
作为本实用新型的第二个方面,提供了一种电子元件自动检测方法。如图2所示,电子元件自动检测方法包括:步骤S1:通过送料单元10将待检测的电子元件输送至测量单元20的工作位置处;步骤S2:对位于测量单元20的工作位置处的电子元件进行测量,以得到电子元件的实际参数;步骤S3:控制单元根据实际参数与目标参数范围的关系确定电子元件是否合格、并发送合格信号或不合格信号;步骤S4:当控制单元发送合格信号时,送料单元10接收合格信号将电子元件输送至送料单元10的出料端;当控制单元发送不合格信号时,处理单元30接收不合格信号对电子元件进行处理。本实用新型中的电子元件自动检测方法可以实现自动送料、自动检测、自动处理合格品与不合格品的功能,因而减轻了工作人员的劳动强度、提高了检测效率,从而保证了生产用料的供给、保证了生产进度。
本实用新型中在步骤S3中目标参数范围通过输入单元设定。由于通过输入单元可以设定目标参数范围,因而工作人员可以根据产品或不同的检测需求修改目标参数范围,从而提高了电子元件自动检测方法的适用范围。
本实用新型中在步骤S3中确定电子元件是否合格的方法为:当实际参数处于目标参数范围内时,确定电子元件为合格产品;否则,确定电子元件为不合格产品。通过上述方法可以筛选得到满足使用要求的合格产品,因而当该电子元件应用在电器内部时,能够有效保证电器的成品质量,减少了电器事故几率和返修率。
本实用新型中在步骤S4中,处理单元30接收不合格信号对电子元件进行处理的方法包括:步骤S41:处理单元30的驱动部32接收不合格信号并驱动切刀31运动;步骤S42:切刀31切割电子元件后回缩;步骤S43:控制单元驱动送料单元10运动,将下一个电子元件送至测量单元20的工作位置处。由于切刀31将不合格的电子元件切除,因而处理单元30将合格电子元件与不合格电子元件分离,从而便于对两种电子元件进行分类收集。
本实用新型中的电子元件自动检测方法还包括在步骤S4后的步骤S5:用第一收纳部和第二收纳部50将电子元件收集。经检测后,电子元件分为合格品和不合格品,且不合格品由切刀31切除,因而用第一收纳部收集被切除的不合格品,用第二收纳部50收集检测合格的电子元件,以便后续使用,从而实现合格品与不合格品的分类收集。
本实用新型中在步骤S3与步骤S4之间还包括:步骤S31:用计数元件记录不合格的电子元件的个数;步骤S32:当不合格的电子元件的个数超过预设数值时报警元件报警。由于计数元件可记录不合格的电子元件的个数,因而便于工作人员查询该批次产品的质量情况。同时,由于当不合格的电子元件的个数超过预设数值时报警元件报警,因而及时提醒工作人员对该批次产品提高重视,提早检查是否存在误判的问题,或是因为该批产品次品严重而耽误检测进度的问题。
本实用新型中在步骤S1之前还包括:步骤S01:通过输入单元设定送料单元的运行方向和/或运行速度;步骤S02:通过输入单元设定重复测量次数,当步骤S3中确定电子元件为不合格产品时,根据重复测量次数对电子元件进行重复测量;步骤S03:通过输入单元设定测试时间,测试时间为对电子元件进行重复测量所用的时间。由于可以通过输入单元设定送料单元的运行方向和/或运行速度,因而工作人员可以对检测过程进行手动控制,或根据检测需要进行设定。由于可以通过输入单元设定重复测量次数,因而当检测到不合格产品时,重复对该电子元件进行检测,以避免出现误判的问题,从而保证了电子元件自动检测方法的检测精度。由于可以通过输入单元设定测试时间,因而可以有效控制检测的效率,从而进一步提高了电子元件自动检测方法的操作可靠性。
以上仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,对于本领域的技术人员来说,本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (11)

1.一种电子元件检测装置,其特征在于,包括:
送料单元(10),所述送料单元(10)具有进料端和出料端;
测量单元(20),所述测量单元(20)的工作位置位于所述送料单元(10)的所述进料端和所述出料端之间,用于测量电子元件的实际参数;
控制单元,与所述送料单元(10)和所述测量单元(20)连接,根据所述实际参数与目标参数范围的关系确定所述电子元件是否合格、并发送合格信号或不合格信号,所述送料单元(10)接收所述合格信号;
处理单元(30),与所述控制单元连接,用于接收所述控制单元发出的所述不合格信号,并对不合格的所述电子元件进行处理。
2.根据权利要求1所述的电子元件检测装置,其特征在于,所述送料单元(10)包括支杆轮(11),所述支杆轮(11)为多个,多个所述支杆轮(11)沿所述进料端向所述出料端的方向间隔设置。
3.根据权利要求1所述的电子元件检测装置,其特征在于,所述测量单元(20)为电阻测试仪。
4.根据权利要求1所述的电子元件检测装置,其特征在于,所述处理单元(30)为切除组件。
5.根据权利要求4所述的电子元件检测装置,其特征在于,所述切除组件包括:
切刀(31),所述切刀(31)的工作位置位于所述测量单元(20)的工作位置和所述送料单元(10)的所述出料端之间,用于切除所述电子元件;
驱动部(32),与所述控制单元连接,用于接收所述控制单元发出的所述不合格信号并驱动所述切刀(31)运动。
6.根据权利要求5所述的电子元件检测装置,其特征在于,所述电子元件检测装置还包括工作台(40),所述工作台(40)位于所述送料单元(10)的所述进料端和所述出料端之间,且所述测量单元(20)的工作位置位于所述工作台(40)上,所述切刀(31)的工作位置位于所述工作台(40)上。
7.根据权利要求6所述的电子元件检测装置,其特征在于,所述电子元件检测装置还包括用于盛接被切除的所述电子元件的第一收纳部,所述第一收纳部位于所述工作台(40)的下方。
8.根据权利要求1所述的电子元件检测装置,其特征在于,所述电子元件检测装置还包括用于盛接所述电子元件的第二收纳部(50),所述第二收纳部(50)位于所述送料单元(10)的所述出料端的下方。
9.根据权利要求1所述的电子元件检测装置,其特征在于,所述电子元件检测装置还包括输入单元,所述输入单元与所述控制单元连接,用于设定所述目标参数范围和/或控制所述控制单元向所述送料单元(10)、所述测量单元(20)、所述处理单元(30)发送控制信号。
10.根据权利要求1所述的电子元件检测装置,其特征在于,所述电子元件检测装置还包括计数元件,所述计数元件与所述控制单元连接,用于接收所述不合格信号并计数。
11.根据权利要求10所述的电子元件检测装置,其特征在于,所述电子元件检测装置还包括报警元件,所述报警元件与所述计数元件连接,用于当所述计数元件计数超过预设数值时报警。
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