CN203502054U - 用于长接脚电子组件的自动检测装置 - Google Patents

Abstract

一种用于长接脚电子组件的自动检测装置，该装置包含平台、检测台车、取料机构、检测***与控制***。检测台车设置于该平台，包括载送台与整脚机构。取料机构邻近于该检测台车，用以拿取各待测的电子组件至该检测台车。检测***设置于该检测台车的移动路径，用以对该检测台车所搭载的待测组件进行检测。控制***电连接于该检测台车、取料机构与检测***，用以控制该检测台车、取料机构与检测***。从而，可使具有长接脚的电子组件经由整脚机构改善各接脚的位置形状后，稳定地插接于载送台，再由载送台移送到检测***进行各项检测。藉此可自动地对每个组件逐一地进行检测并分类，快速、稳定，更可避免因人为疏失而造成损毁。

Description

用于长接脚电子组件的自动检测装置

技术领域

 本实用新型为一种用于检测电子组件的自动化设备，尤指一种在测试具有长接脚的电子组件的自动检测装置。

背景技术

各种功能强大的电子组件皆不断地推陈出新，虽然制程亦相对地持续往上提升，但由于制造过程中，有可能因为材料本身的缺陷、环境的变化或是震动等各种问题，导致不良品的产生，若未将不良品剔除，将造成后续在装配使用时的不便。为避免上述问题的发生，即需对完成品逐一进行检测，以避免造成后续的困扰。

例如在光电产业中，激光二极管属极为重要的组件，因其具有耐震、耗电少、反应快、寿命长、方向性佳、输出功率高等优点，适合提供长距离、光纤通信用光源以及存取高密度的纪录媒体，因此，其在光电产业中为相当普及的组件。目前，即如上段落所述，激光二极管需先经过检测优劣后，才可进行后续作业。 目前所使用的检测方式主要是透过人工以镊子逐一夹取，并透过双手逐一修正弯斜的长接脚，再插设于检测机上进行检测，此举不但相当耗时，于插设到检测机的过程中，亦有可能发生毁损，更何况需要进行检测的项目不只一项，导致需要耗费相当多的人力才能增加出货速度，相对制作成本也会随之增加，对于业者来说，是一种成本支出上的负担。

具有长接脚的电子组件除了上述的激光二极管外，尚有其它类型的电子组件亦是属于长接脚的类型，一但要进行测试时，皆会遇到相同的问题。

缘此，本创作人有感上述问题的可改善性，乃潜心研究并配合学理的运用，而提出一种设计合理且有效改善上述问题的本创作。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是：针对上述现有技术的不足，提供一种用于长接脚电子组件的自动检测装置，可自动地对每个组件逐一地进行检测，不但较传统方式快速、稳定与减少人事开销外，更可避免因人为疏失而造成损毁。

为了解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案是：一种用于长接脚电子组件的自动检测装置，包含平台；其特点是，还包括检测台车、取料机构、检测***及控制***，该检测台车设置于该平台，并可于该平台上移动，并包括具插槽的载送台和整脚机构，该整脚机构设置于该载送台且包括第一叉体，该第一叉体包括至少三分岔体；该取料机构邻近于该检测台车，用以拿取各待测的电子组件至该检测台车；该检测***设置于该检测台车的移动路径，用以对该检测台车所搭载的待测组件进行检测；该控制***电讯连接于该检测台车、该取料机构与该检测***，用以控制该检测台车、该取料机构与该检测***。

所述整脚机构进一步包括第二叉体，该第二叉体包括至少三分岔体，并且，该第二叉体与该第一叉体交错排列，以适用于接脚数更多的电子组件。

所述平台进一步设置供该检测台车行走使用的轨道，藉以具有更稳定的移动。

所述检测台车进一步包括温控测试及电性测试单元，该温控测试及电性测试单元电讯连接于该控制***与被***该插槽的待测组件，藉以进行测试与实时监控之功用。

所述检测***包括光谱检测单元、可见光功率检测单元、不可见光功率检测单元与光型检测单元，而可具有检测发光电子组件的功能。

所述平台进一步包括置料盘，该置料盘上设置数个置料槽，藉以具有置料的功能。

所述装置进一步包括下料机构，该下料机构包括机械手臂、第一下料盘与第二下料盘，该机械手臂将检测后的组件自该载送台上的插槽取下，再置放于该第一下料盘或该第二下料盘。藉以在完成检测分析后直接进行分类，提升作业速度。

所述取料机构为机械手臂、夹体或真空吸嘴。

所述第一叉体与该第二叉体于各分岔之间设置缓冲垫，藉以保护各接脚。

如此，藉由本装置，可使具有长接脚的电子组件经由整脚机构改善各接脚的位置形状后，可稳定地插接于载送台后，再由载送台移送到检测***进行各项检测。由此可得知，本检测过程完全自动化，完全不需要人工逐一拉直每一个接脚，并且，统一插接于检测台车，可减少插拔的次数，降低磨损的发生。

因此，本装置可自动地对每个组件逐一地进行检测并分类，不但较传统人工操作方式快速、稳定外，更可避免因人为疏失而造成损毁。

在参阅图式及随后描述的实施方式后，本领域普通技术领域便可了解本实用新型的其它目的，以及本实用新型的技术手段及实施方式。

附图说明

图1为本实用新型实施例的立体示意图。

图2至图4为本实用新型实施例的检测台车移动至各检测单元的作动示意图。

图5为本实用新型实施例的检测台车的立体示意图。

图6至图16为本实用新型实施例的整脚机构的动作示意图。

图17为本实用新型实施例的步骤流程图。

标号说明

10……平台          11……轨道

12……置料盘        121……置料槽

20……检测台车      21……载送台

211……插槽         22……整脚机构

221……第一叉体      2211……分岔体

222……第二叉体      2221……分岔体

30……取料机构       40……检测***

41……光谱检测单元    

42……可见光及不可见光功率检测单元

43……光型检测单元    50……控制***

E……电子组件         E1……长接脚

S1……取件步骤        S2……整脚步骤

S3……***检测台步骤   S4……检测步骤

S5……分类步骤。

具体实施方式

以下将透过实施例来解释本实用新型的内容，然而，本实用新型的实施例并非用以限制本实用新型需在如实施例所述的任何环境、应用或方式方能实施。因此，关于实施例的说明仅为阐释本实用新型的目的，而非用以直接限制本实用新型。需说明的是，以下实施例及图式中，与本实用新型非直接相关的组件已省略而未绘示。又，为使本实用新型实施例易于理解，特先进行装置的说明，再接以将方法步骤列出，于此先行叙明。

请参阅图1-图5所示，本实施例用于长接脚电子组件的自动检测装置包含平台10、检测台车20、取料机构30、检测***40与控制***50。其中，检测台车20设置于平台10并可于平台10上移动，包括载送台21与整脚机构22。载送台21包括插槽211；整脚机构22设置于该载送台21包括第一叉体221。第一叉体221包括至少三分岔体2211 (整脚机构22的详细作动，将于后补充说明) 。 取料机构30邻近于该检测台车20，用拿取各待测的电子组件E(请参考图6所示)至该检测台车20。检测***40设置于该检测台车20的移动路径，用以对该检测台车20所搭载待测的电子组件E进行检测。控制***50电讯连接于检测台车20、取料机构30与检测***40，而可对其进行控制操作。

本实施例利用整脚机构22先对电子组件E的长接脚E1进行整理，使得原本可能于搬运过程中受外力而弯折的长接脚E1回复到应该的位置，接着，再***载送台21上的插槽211，利用检测台车20于检测***40间移动，对电子组件E进行相关的检测。

由于不同的电子组件E有不同的检测要进行，因此检测***40可进行各种检测单元的搭配，不需有任何的局限。再者，本实施例系将电子组件E藉由检测台车20进行运送，因此减少插拔的次数，可避免接脚发生磨损等问题，并且提升各检测的准确度以及检测的速度。

其中，整脚机构22的第一叉体221利用各分岔体2211***各长接脚E1之间，再往上或往下移动第一叉体221，达到使各长接脚E1恢复位置的目的。以下，将以具有四只长接脚E1的电子组件E进行实施的说明，并以测试发光电子组件为预设标的，进而配置相关的检测***，藉以让本领域的技术人员可更轻易地了解本实施例。

又，如图6所示，整脚机构22可进一步包括一第二叉体222，其亦包括至少三分岔体2221，并且，该第二叉体222与该第一叉体221交错排列。当该第一叉体221与该第二叉体222分别***长接脚E1之间后，将可使各长接脚E1皆被分岔体2221、2222所包围。请接着参阅图6至图16。取料机构30将电子组件E带到检测台车20上方，并逐渐下降，使得长接脚E1接近载送台21，接着，第一叉体221的各分岔体2211往长接脚E1间***，位于第一叉体221下方的第二叉体222的各分岔体2221亦往长接脚E1间***，***之后，第二叉体222即向下移动进行第一次的整脚动作，第一叉体221于第二叉体222向下后，再跟着向下整脚，藉由第一叉体221与第二叉体222对于各长接脚E1的位置限制，使得各长接脚E1回复至原位(正对着插槽211)，此时已整脚完成，取料机构30再逐渐向下移动，第一叉体221与第二叉体222即依照下压的位置情况逐一退出，最后使得各长接脚E1***插槽211，而可随着检测台车20移动行走。

进者，如图1所示，平台10进一步设置轨道11，供该检测台车20行走使用。利用轨道11可使检测台车20平稳移动。并且，可直接于检测台车20设置一温控测试及电性测试单元(图中未示)，温控测试及电性测试单元电讯连接于该控制***50与被***该插槽的待测组件E。用以实时监控温度与进行电性测试。

请配合图1至图4所示，检测***40包括光谱检测单元41、可见光及不可见光功率检测单元42(亦可分开)与光型检测单元43。此些单元皆为目前于检测光学电子组件时所会应用的检测单元。由图中可知，检测台车20沿着轨道11行进，并在各单元停留进行检测，由于不需将电子组件E1逐一插拔，因此克服了已知技术的问题。

另，平台10可进一步包括置料盘12，该置料盘12上设置数个置料槽121，用以置放待检测的电子组件E1。

另，本实施例可再进一步包括下料机构(图中未示)，其包括：机械手臂、第一下料盘与第二下料盘，藉由该机械手臂将检测后的组件自该载送台上的插槽取下，再置放于该第一下料盘或该第二下料盘。由于此下料机构可等同于取料机构30，并透过检测判断之后，直接将电子组件分类置放在第一下料盘或第二下料盘，于本领域的技术人员可直接无歧异的了解，故不再加以赘述。

其中，本实施例的取料机构30可为机械手臂、夹体或是真空吸嘴。

又，各分岔体2211、2221的边缘可进一步设置缓冲垫(图中未示)，藉以保护各长接脚E1。

本实用新型再据以提供一用于长接脚电子组件的自动检测方法的实施例，请同时参阅图17所示，其包括下列步骤：取件步骤S1、整脚步骤S2、***检测台步骤S3、检测步骤S4与分类步骤S5。其中，取件步骤S1经由取料机构至置料盘取出电子组件；整脚步骤S2将至少一叉体(即上一实施例的第一叉体或第二叉体)由该电子组件的各接脚的侧边***，使该电子组件的各接脚被该叉体的分岔体所夹持后，再使该叉体向下位移。***检测台步骤S3系由该取料机构下压该电子组件，使各接脚分别***在一检测台上的对应的插槽。检测步骤S4移动该检测台至各检测***进行检测。分类步骤S5根据检测结果将检测完成的电子组件分类置放。

藉由上述方法，即可进行各类具有长接脚的电子组件的自动检测，克服已知需透过人工逐一插拔的缺点。虽然本实用新型已透过上述的实施例揭露如上，然其并非用以限定本实用新型，任何本领域的技术人员在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本实用新型的专利保护范围须视本说明书所附的请求项所界定的为准。

Claims (9)

1.一种用于长接脚电子组件的自动检测装置，包含平台；其特征在于，还包括检测台车、取料机构、检测***及控制***，该检测台车设置于该平台，并可于该平台上移动，并包括具插槽的载送台和整脚机构，该整脚机构设置于该载送台且包括第一叉体，该第一叉体包括至少三分岔体；该取料机构邻近于该检测台车，用以拿取各待测的电子组件至该检测台车；该检测***设置于该检测台车的移动路径，用以对该检测台车所搭载的待测组件进行检测；该控制***电讯连接于该检测台车、该取料机构与该检测***，用以控制该检测台车、该取料机构与该检测***。

2.如权利要求1所述的用于长接脚电子组件的自动检测装置，其特征在于，所述整脚机构进一步包括第二叉体，该第二叉体包括至少三分岔体，并且，该第二叉体与该第一叉体交错排列。

3.如权利要求1所述的用于长接脚电子组件的自动检测装置，其特征在于，所述平台进一步设置供该检测台车行走使用的轨道。

4.如权利要求1所述的用于长接脚电子组件的自动检测装置，其特征在于，所述检测台车进一步包括温控测试及电性测试单元，该温控测试及电性测试单元电讯连接于该控制***与被***该插槽的待测组件。

5.如权利要求1所述的用于长接脚电子组件的自动检测装置，其特征在于，所述检测***包括光谱检测单元、可见光功率检测单元、不可见光功率检测单元与光型检测单元。

6.如权利要求1所述的用于长接脚电子组件的自动检测装置，其特征在于，所述平台进一步包括置料盘，该置料盘上设置数个置料槽。

7.如权利要求1所述的用于长接脚电子组件的自动检测装置，其特征在于，所述装置进一步包括下料机构，该下料机构包括机械手臂、第一下料盘与第二下料盘，该机械手臂将检测后的组件自该载送台上的插槽取下，再置放于该第一下料盘或该第二下料盘。

8.如权利要求1所述的用于长接脚电子组件的自动检测装置，其特征在于，所述取料机构为机械手臂、夹体或真空吸嘴。

9.如权利要求2所述的用于长接脚电子组件的自动检测装置，其特征在于，所述第一叉体与该第二叉体于各分岔之间设置缓冲垫。

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