CN203069291U - 一种基于热敏电阻的温度检测电路 - Google Patents

一种基于热敏电阻的温度检测电路 Download PDF

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王鸿雁
王华东
刘金虹
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Abstract

一种基于热敏电阻的温度检测电路,具体涉及温度检测技术领域。它包含三极管、热敏电阻、电容、运算放大器、第一电阻、第二电阻、第三电阻,所述的三极管的发射极与接地端连接、三极管的集电极分别与热敏电阻、第一电阻的一端连接,热敏电阻的另一端与电源连接,第一电阻另一端分别与电容、运算放大器的引脚连接,电容的另一端与接地端连接,运算放大器的引脚分别与第二电阻、第三电阻的一端连接,第三电阻的另一端与接地端连接,第二电阻另一端与运算放大器输出端连接。它结构简单,具有较高的检测精度,而且减低了开发成本,使得检测方法更加简便。

Description

一种基于热敏电阻的温度检测电路
 技术领域 
    本实用新型涉及温度检测技术领域,具体涉及一种基于热敏电阻的温度检测电路。
背景技术 
    IGBT模块中的热敏电阻需精确检测其阻值,根据阻值通过查表的方式来确定IGBT模块中热敏电阻的温度。热敏电阻的精确检测可以提高IGBT使用的可靠性,避免IGBT模块因为过温损坏。
目前常用的热敏电阻检测电路有2种: 
    第一种,直接采用一个恒值电压源U1供电通过一个已知阻值的电阻R1和热敏电阻Rξ分压,通过A/D检测热敏电阻上的电U2。则可通过公式Rξ=U2*R1/(U1-U2)法非常精确,但是A/D芯片昂贵为了一个电阻阻值的检测采用A/D芯片成本上无法接受。而且A/D芯片使用复杂,开发难度大。
    第二种,采用检测R-C充电时间常数来确定电阻的阻值。电阻R11和R12确定比较器的比较电压,通过Rξ对电容充电直至Uout翻转为高电平。Uout信号同时触发Q1导通来给电容放电。Uout成为脉冲电压波形,其频率为对应Rξ的函数:Fout=Rξ。这种检测方式成本低,开发简单,但是如果电容的容值选取较小,则Uout的频率比较高难以精确检测Rξ的阻值。反之如果电容的容值较大,则其容值精度低,并且温漂大。故这种电路的检测精度较低。 
实用新型内容 
本实用新型的目的是提供一种基于热敏电阻的温度检测电路,它结构简单,具有较高的检测精度,而且减低了开发成本,使得检测方法更加简便。
为了解决背景技术所存在的问题,本实用新型是采用以下技术方案:它包含三极管Q1、热敏电阻Rξ、电容C、运算放大器A、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3,所述的三极管Q1的发射极与接地端连接、三极管Q1的集电极分别与热敏电阻Rξ、第一电阻R1的一端连接,热敏电阻R的另一端与电源连接,第一电阻R1另一端分别与电容C、运算放大器A的引脚1连接,电容C的另一端与接地端连接,运算放大器A的的引脚2分别与第二电阻R2、第三电阻R3的一端连接,第三电阻R3的另一端与接地端连接,第二电阻R2另一端与运算放大器A输出端3连接。 
本实用新型工作原理:该运算放大器A的一端比较参考电压为一个滞环电压,比较器的另外一端电压是电容充放电的电压。电容的充放电在Uout上形成了脉冲波形,Uout同时为Q1的触发信号。Rξ为热敏电阻,R1为参考电阻。当Uout为高电平时,电容C通过R1来放电,其放电时间Ton与R1*C的乘积成正比。当Uout为低电平时,电容C通过R1来放电,其放电时间Toff与(R1+ Rξ)*C的乘积成正比。所以Ton/Toff=R1/(R1+Rξ)通过控制器可以精确检测出Ton和Toff的时间,同时R1为电阻其精度为1%为常用电阻。所以这个电路的开发成本低,无需A/D之类的高成本元件,而且有很高的检测精度。 
本实用新型具有以下有益效果:它结构简单,具有较高的检测精度,而且减低了开发成本,使得检测方法更加简便。 
附图说明 
图1是本实用新型背景技术第一种检测方式电路图;
图2是本实用新型背景技术第二种检测方式电路图;
图3本实用新型检测方式电路图。
具体实施方式 
参看图3,本具体实施方式采用以下技术方案:它包含三极管Q1、热敏电阻Rξ、电容C、运算放大器A、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3,所述的三极管Q1的发射极与接地端连接、三极管Q1的集电极分别与热敏电阻Rξ、第一电阻R1的一端连接,热敏电阻R的另一端与电源连接,第一电阻R1另一端分别与电容C、运算放大器A的引脚1连接,电容C的另一端与接地端连接,运算放大器A的的引脚2分别与第二电阻R2、第三电阻R3的一端连接,第三电阻R3的另一端与接地端连接,第二电阻R2另一端与运算放大器A输出端3连接。
本实用新型工作原理:该运算放大器A的一端比较参考电压为一个滞环电压,比较器的另外一端电压是电容充放电的电压。电容的充放电在Uout上形成了脉冲波形,Uout同时为Q1的触发信号。Rξ为热敏电阻,R1为参考电阻。当Uout为高电平时,电容C通过R1来放电,其放电时间Ton与R1*C的乘积成正比。当Uout为低电平时,电容C通过R1来放电,其放电时间Toff与R1+ Rξ*C的乘积成正比。所以Ton/Toff=R1/(R1+Rξ)通过控制器可以精确检测出Ton和Toff的时间,同时R1为电阻其精度为1%为常用电阻。所以这个电路的开发成本低,无需A/D之类的高成本元件,而且有很高的检测精度。 
本实用新型具有以下有益效果:它结构简单,具有较高的检测精度,而且减低了开发成本,使得检测方法更加简便。 

Claims (1)

1.一种基于热敏电阻的温度检测电路,其特征在于它包含三极管(Q1)、热敏电阻(Rξ)、电容(C)、运算放大器(A)、第一电阻(R1)、第二电阻(R2)、第三电阻(R3),所述的三极管(Q1)的发射极与接地端连接、三极管(Q1)的集电极分别与热敏电阻(Rξ)、第一电阻(R1)的一端连接,热敏电阻(R)的另一端与电源连接,第一电阻(R1)另一端分别与电容(C)、运算放大器(A)的引脚(1)连接,电容(C)的另一端与接地端连接,运算放大器(A)的的引脚(2)分别与第二电阻(R2)、第三电阻(R3)的一端连接,第三电阻(R3)的另一端与接地端连接,第二电阻(R2)另一端与运算放大器(A)输出端(3)连接。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103148953A (zh) * 2013-02-02 2013-06-12 上海双电电气有限公司 一种基于热敏电阻的温度检测电路
CN107966641A (zh) * 2017-12-06 2018-04-27 珠海泰芯半导体有限公司 一种igbt寿命监测***
CN110044510A (zh) * 2019-05-17 2019-07-23 上海希形科技有限公司 Igbt模块测温电路、测温方法及计算机可读存储介质

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