CN203054149U - Cmos芯片自动开短路测试*** - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种CMOS芯片自动开短路测试***，包括主控芯片、多路复用模块、液晶显示模块和存储模块，所述主控芯片分别与所述多路复用模块、所述液晶显示模块和所述存储模块相连接，所述多路复用模块与待测CMOS芯片相连接，所述主控芯片能够通过所述多路复用模块对待测CMOS芯片的管脚进行信号采集并通过软件进行信号处理，能够通过所述存储模块对信号处理结果进行存储，还能够通过液晶显示模块将信号处理结果显示出来，本实用新型能够满足市场上各种CMOS芯片的自动开短路测试，优化测试效率的同时提高了测试的精度，可依据不同的CMOS芯片制定测试标准。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种开短路测试仪，具体是涉及一种CMOS芯片自动开短路测试***，适用于DVP接口、MIPI单通道接口、MIPI双通道接口、MIPI四通道接口和自定义接口等各种类型的CMOS芯片的开短路测试。
背景技术
开短路测试（又称OPEN/SHORT 测试，O/S测试），主要是用于测试电子器件的连接情况，顾名思义，开短路测试就是测试开路与短路，开短路测试应用非常的广泛，例如：测试PCB板，测试IC邦定线，测试IC的封装，测试线材，测试FPC，测试薄膜开关，测试连接器等等，不同的应用又有比较特别的需求，目前，CMOS芯片的开短路测试仪只能针对并口的产品进行测试，无法满足市场上越来越多的MIPI接口CMOS芯片的开短路测试。
发明内容
为了解决上述技术问题，本实用新型提出一种CMOS芯片自动开短路测试***，能够满足市场上各种CMOS芯片的自动开短路测试，优化测试效率的同时提高了测试的精度，可依据不同的CMOS芯片制定测试标准。
本实用新型的技术方案是这样实现的：
一种CMOS芯片自动开短路测试***，包括主控芯片、多路复用模块、液晶显示模块和存储模块，所述主控芯片分别与所述多路复用模块、所述液晶显示模块和所述存储模块相连接，所述多路复用模块与待测CMOS芯片相连接，所述主控芯片能够通过所述多路复用模块对待测CMOS芯片的管脚进行信号采集并通过软件进行信号处理，能够通过所述存储模块对信号处理结果进行存储，还能够通过液晶显示模块将信号处理结果显示出来。
作为本实用新型的进一步改进，另设有拨码装置，所述拨码装置与所述多路复用模块相连接，所述多路复用模块能够通过所述拨码装置选择与待测CMOS芯片相匹配的接口模式。
作为本实用新型的进一步改进，所述接口模式为DVP接口、MIPI单通道接口、MIPI双通道接口、MIPI四通道接口和自定义接口中的一种。
作为本实用新型的进一步改进，另设有通信模块，所述通信模块与所述主控芯片相连接，所述主控芯片能够通过所述通信模块为所述主控芯片供电和传输数据。
作为本实用新型的进一步改进，所述通信模块为USB通信接口。
本实用新型的有益效果是：本实用新型提供一种CMOS芯片自动开短路测试***，主控芯片通过多路复用模块给待测CMOS芯片的GND管脚输入测试信号，然后，判断待测CMOS芯片各管脚的保护二极管是否有导通压降信号，能够实现CMOS芯片的开路测试，主控芯片通过多路复用模块依次给待测CMOS芯片的一个管脚输入1.5v的测试信号，然后，判断输入信号管脚与其它管脚的输出信号是否相同，能够实现CMOS芯片的短路测试，特别的，多路复用模块通过拨码装置选择与待测CMOS芯片相匹配的接口模式，接口模式为DVP接口、MIPI单通道接口、MIPI双通道接口、MIPI四通道接口和自定义接口中的一种，能够有效满足市场上各种CMOS芯片的自动开短路测试，优化测试效率的同时提高了测试的精度。
附图说明
图1为本实用新型原理示意框图；
图2为本实用新型测试流程示意图。
具体实施方式
如图1和图2所示，一种CMOS芯片自动开短路测试***，包括主控芯片、多路复用模块、液晶显示模块和存储模块，所述主控芯片分别与所述多路复用模块、所述液晶显示模块和所述存储模块相连接，所述多路复用模块与待测CMOS芯片相连接，所述主控芯片能够通过所述多路复用模块对待测CMOS芯片的管脚进行信号采集并通过软件进行信号处理，能够通过所述存储模块对信号处理结果进行存储，还能够通过液晶显示模块将信号处理结果显示出来。
优选的，另设有拨码装置，所述拨码装置与所述多路复用模块相连接，所述多路复用模块能够通过所述拨码装置选择与待测CMOS芯片相匹配的接口模式。
优选的，所述接口模式为DVP接口、MIPI单通道接口、MIPI双通道接口、MIPI四通道接口和自定义接口中的一种。
优选的，另设有通信模块，所述通信模块与所述主控芯片相连接，所述主控芯片能够通过所述通信模块为所述主控芯片供电和传输数据。
优选的，所述通信模块为USB通信接口。
本实用新型CMOS芯片自动开短路测试***的测试方法，包括如下步骤：
a、开路测试，首先，主控芯片通过多路复用模块给待测CMOS芯片的GND管脚输入1.5V的测试信号，然后，主控芯片通过多路复用模块依次采集待测CMOS芯片各管脚的保护二极管的导通压降信号，如果当前的管脚的保护二极管没有采集到导通压降信号，则判定当前的管脚开路，否则，则判定当前管脚正常，通过存储模块存储开路测试信息。
b、短路测试，首先，主控芯片通过多路复用模块依次给待测CMOS芯片的一个管脚输入1.5v的测试信号，然后，主控芯片通过多路复用模块采集并对比除输入信号管脚以外其它管脚的输出信号是否与输入信号相同，如果信号相同则判定当前被采集对比的管脚与信号输入管脚短路，如果信号不相同则判定当前管脚正常，通过存储模块存储短路测试信息；
c、将开路信息与短路信息通过液晶显示模块显示出来。
本实用新型CMOS芯片自动开短路测试***及测试方法的测试原理如下：开路测试原理，由于正常CMOS芯片保护二极管的正向导通电压在0.4V-0.5V之间，管脚开路时该保护二级管不导通，因此可以通过测试CMOS芯片各管脚的保护二级管的导通电压信号可以判断管脚是否开路；短路测试原理，给一个CMOS芯片的管脚输入测试信号，同时去采集其它管脚上的信号，若采集到的测试信号和输入的测试信号一致，则表示该管脚与测试的输入管脚短路。
以上实施例是参照附图，对本实用新型的优选实施例进行详细说明，本领域的技术人员通过对上述实施例进行各种形式上的修改或变更，但不背离本实用新型的实质的情况下，都落在本实用新型的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种CMOS芯片自动开短路测试***，其特征在于：包括主控芯片、多路复用模块、液晶显示模块和存储模块，所述主控芯片分别与所述多路复用模块、所述液晶显示模块和所述存储模块相连接，所述多路复用模块与待测CMOS芯片相连接，所述主控芯片能够通过所述多路复用模块对待测CMOS芯片的管脚进行信号采集并通过软件进行信号处理，能够通过所述存储模块对信号处理结果进行存储，还能够通过液晶显示模块将信号处理结果显示出来。
2.根据权利要求1所述的CMOS芯片自动开短路测试***，其特征在于：另设有拨码装置，所述拨码装置与所述多路复用模块相连接，所述多路复用模块能够通过所述拨码装置选择与待测CMOS芯片相匹配的接口模式。
3.根据权利要求2所述的CMOS芯片自动开短路测试***，其特征在于：所述接口模式为DVP接口、MIPI单通道接口、MIPI双通道接口、MIPI四通道接口和自定义接口中的一种。
4.根据权利要求1所述的CMOS芯片自动开短路测试***，其特征在于：另设有通信模块，所述通信模块与所述主控芯片相连接，所述主控芯片能够通过所述通信模块为所述主控芯片供电和传输数据。
5.根据权利要求4所述的CMOS芯片自动开短路测试***，其特征在于：所述通信模块为USB通信接口。
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| CN103076530A (zh) * | 2012-12-28 | 2013-05-01 | 昆山丘钛微电子科技有限公司 | Cmos芯片自动开短路测试***及测试方法 |
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