CN202693747U - 一种led元件的测试平台 - Google Patents

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陈硕
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Abstract

本实用新型公开了一种LED元件的测试平台,包括支架,并列安装于所述支架且相邻两个LED灯条之间的间距可调的至少两个LED灯条,每一个LED灯条具有至少一个焊盘和导电插针,同一个LED灯条上的至少一个焊盘以及导电插针电性连接,相邻两个LED灯条上的焊盘位置一一对应。由于本实用新型提供的测试平台中,其每一条灯条设置的多个焊盘中至少包括两种不同的规格,且可以通过调节相邻两个灯条之间的距离实现对一一对应的焊盘之间间距的调整,可以对至少两种封装规格的LED元件进行测试。因此,本实用新型提供的测试平台,可以对实现对多种封装规格的LED元件进行测试。

Description

一种LED元件的测试平台
技术领域
本实用新型涉及LED元件测试技术领域,特别涉及一种LED元件的测试平台。
背景技术
在LED(Light Emitting Diode,发光二极管)技术领域,LED元件封装完成后还需要对LED元件的一些特性进行测试,如LED元件的温度特性、电激发光特性、亮度特性等。
现有技术中,在对LED元件进行测试的过程中,需要将LED元件的阴极焊盘和阳极焊盘分别焊接在LED灯条的焊盘上,以实现对封装后的LED元件的电性控制,进而进行测试。
如图1和图2所示,图1为现有技术中的一种规格的LED元件与其LED灯条焊接的结构示意图;图2为图1中所示的LED元件与其LED灯条焊接结构的结构示意图。
LED灯条1具有多对焊盘,每一对焊盘对应一个LED元件3,且每一对焊盘均包括第一焊盘21和第二焊盘22,上述第一焊盘21和第二焊盘22的极性不同,且第一焊盘21与第二焊盘22之间的间距与待测试的LED元件3的阴极焊盘和阳极焊盘之间的间距对应;为描述方便,具体测试过程中,指定第一焊盘21与LED元件3的阴极焊盘焊接,而第二焊盘22与LED元件3的阳极焊盘焊接;LED元件3的测试电路设置于LED灯条1的内部,并通过第一焊盘21以及第二焊盘22实现对LED元件3的电性控制,接通电源之后,LED元件3工作,然后测试其相关特性。
由于目前行业内的LED元件3的种类繁多,且封装不同,不同封装的LED元件3的阴极焊盘和阳极焊盘之间的设置方式不同,所以在对封装后的LED元件3进行测试时需要为每一种规格的LED元件3单独设计LED灯条1,费时费力。
实用新型内容
本实用新型提供了一种能够对多种封装规格的LED元件进行测试的测试平台。
为达到上述目的,本实用新型提供以下技术方案:
一种LED元件的测试平台,包括:
支架;
并列安装于所述支架且相邻两个LED灯条之间的间距可调的至少两个LED灯条,每一个LED灯条具有至少一个焊盘和导电插针,同一个LED灯条上的至少一个焊盘以及导电插针电性连接,相邻两个LED灯条上的焊盘位置一一对应,且位置相对应的两个焊盘用于在相邻两个LED灯条之间跨接一个LED元件。
优选地,相邻两个LED灯条相互平行。
优选地,同一个LED灯条上的至少一个焊盘具有至少两种不同的规格,相邻两个LED灯条上位置相对应的两个焊盘规格相同。
优选地,所述支架还具有测量相邻两个所述LED灯条之间间距的刻度尺。
优选地,所述支架包括:
长度方向与所述LED灯条的延伸方向相互垂直的第一边框,具有沿其长度方向延伸的第一滑槽;
长度方向与所述第一边框的长度方向平行的第二边框,具有与所述第一滑槽平行的第二滑槽;
一端与所述第一边框固定连接,另一端与所述第二边框固定连接的至少一个定位边框;
每一个所述LED灯条设有与所述第一滑槽可滑动连接的第一限位装置,和与所述第二滑槽可滑动连接的第二限位装置。
优选地,所述刻度尺设置于所述第二边框上。
优选地,每一个所述LED灯条均可拆卸地安装于所述支架,且所述第一限位装置和所述第二限位装置均为固定螺栓。
优选地,所述支架包括:两个相互平行的滑轨,两所述滑轨之间设有定位装置;
每一个所述LED灯条上具有与所述滑轨滑动配合的滑槽,且所述滑轨与所述滑槽之间设有限位装置;
所述刻度尺设置于所述滑轨中的至少一个上。
优选地,所述支架为具有板状结构的支板,所述支板设有两个相互平行的滑槽,每一个所述LED灯条设有与所述滑槽可滑动连接的限位装置。
优选地,所述支架为具有板状结构的支板,所述支板设有两个相互平行的滑轨,每一个所述LED灯条设有与所述滑轨可滑动连接的滑槽,且所述滑槽与所述滑轨之间设有限位装置。
本实用新型提供的LED元件的测试平台,包括支架,并列安装于所述支架且相邻两个LED灯条之间的间距可调的至少两个LED灯条,每一个LED灯条具有至少一个焊盘和导电插针,同一个LED灯条上的至少一个焊盘以及导电插针电性连接,相邻两个LED灯条上的焊盘位置一一对应,且位置相对应的两个焊盘用于在相邻两个LED灯条之间跨接一个LED元件。
本实用新型提供的测试平台的支架上设有至少两个并列安装的LED灯条,且相邻的两个LED灯条之间的间距可调,当需要对某一种封装规格的LED元件进行测试时,首先需要将该LED元件焊接于测试平台上;首先需要通过调节相邻的两个LED灯条之间的距离来实现对位置相对应的两个焊盘之间的间距进行调节,使这对位置相互对应的焊盘之间的距离与待测试的LED元件的阴极焊盘以及阳极焊盘之间的距离对应,调节完毕后,将待测的LED元件的阴极焊盘焊接于位置相对应的两个焊盘的一个上,阳极焊盘焊接在另一个焊盘上,焊接之后便可以通过这两个位置相对的焊盘所在的LED灯条设置的导电插针电性连接测试电源的两个电极,将LED元件点亮,然后通过其它测试装置实现对LED元件相关特性的测试。
由于本实用新型提供的测试平台中,可以通过调节相邻两个LED灯条之间的距离实现对位置相对的两个焊盘之间间距的调整,可以对至少两种封装规格的LED元件进行测试。
因此,本实用新型提供的测试平台,可以对实现对多种封装规格的LED元件进行测试。
附图说明
图1为现有技术中的一种规格的LED元件与其LED灯条焊接的结构示意图;
图2为图1中所示的LED元件与其LED灯条焊接结构的结构示意图;
图3为本实用新型实施例提供的一种LED元件的测试平台的结构示意图;
图4为本实用新型实施例提供的一种LED元件的测试平台的侧视结构示意图;
图5为本实用新型实施例提供的一种LED元件的测试平台的俯视结构示意图;
图6为现有技术中的第一种封装规格的LED元件的阴极焊盘以及阳极焊盘的设置结构示意图;
图7为本实用新型实施例提供的一种LED元件的测试平台对第一种封装规格的LED元件进行温度特性测试时搭建的电路示意图;
图8为现有技术中的第二种封装规格的LED元件的阴极焊盘、阳极焊盘以及散热焊盘的设置结构示意图;
图9为本实用新型实施例提供的一种LED元件的测试平台对第二种封装规格的LED元件进行伏安特性测试时搭建的电路示意图。
图中主要元件符号说明:
1、12、31、33:LED灯条;1211、21:第一焊盘;1212、22:第二焊盘;3、13、14、16、17:LED元件;32、34:电性连接装置;161、171:阴极焊盘;162、172:阳极焊盘;11:支架;121:焊盘;122:导电插针;15:电源;173:散热焊盘;18:电压计;1121:刻度尺;111:第一边框;1111:第一滑槽;112:第二边框;1122:第二滑槽;113:定位边框;123:固定螺栓。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
本实用新型技术方案一中提供的一种LED元件的测试平台,包括:
支架;
并列安装于所述支架且相邻两个LED灯条之间的间距可调的至少两个LED灯条,每一个LED灯条具有至少一个焊盘和导电插针,同一个LED灯条上的至少一个焊盘以及导电插针电性连接,相邻两个LED灯条上的焊盘位置一一对应,且位置相对应的两个焊盘用于在相邻两个LED灯条之间跨接一个LED元件。
测试平台的支架上设有至少两个并列安装的LED灯条,且相邻的两个LED灯条之间的间距可调,当需要对某一种封装规格的LED元件进行测试时,首先需要将该LED元件焊接于测试平台上;首先需要通过调节相邻的两个LED灯条之间的距离来实现对位置相对应的两个焊盘之间的间距进行调节,使这对位置相互对应的焊盘之间的距离与待测试的LED元件的阴极焊盘以及阳极焊盘之间的距离对应,调节完毕后,将待测的LED元件的阴极焊盘焊接于位置相对应的两个焊盘的一个上,阳极焊盘焊接在另一个焊盘上,焊接之后便可以通过这两个位置相对的焊盘所在的LED灯条设置的导电插针电性连接测试电源的两个电极,将LED元件点亮,然后通过其它测试装置实现对LED元件相关特性的测试。
由于本实用新型提供的测试平台中,可以通过调节相邻两个LED灯条之间的距离实现对位置相对的两个焊盘之间间距的调整,可以对至少两种封装规格的LED元件进行测试。
因此,本实用新型提供的测试平台,可以对实现对多种封装规格的LED元件进行测试。
作为本实用新型的技术方案二,在技术方案一的基础上,本技术方案对上述技术方案一提供的测试平台中的灯条的设置方式进行了限定,优选地,相邻两个LED灯条的延伸方向相互平行。相邻两的LED灯条平行设置,便于对两LED灯条之间的距离进行调整。
作为本实用新型的技术方案三,在技术方案二的基础上,本技术方案对相邻两条LED灯条上的至少一个焊盘的规格种类以及设置方式进行了限定,优选地,同一个LED灯条上的至少一个焊盘具有至少两种不同的规格,相邻两个LED灯条上位置相对应的两个焊盘规格相同。由于测试平台中,相邻的两个LED灯条具有相对设置的至少两种不同规格的焊盘,因此,可以同时对两种不同规格的LED元件进行测试。
作为本实用新型的技术方案四,在技术方案三的基础上,为便于确定相邻两LED灯条之间的距离,优选地,本技术方案提供的测试平台中,支架还具有测量相邻两个LED灯条之间间距的刻度尺。
作为本实用新型的技术方案五,在技术方案四的基础上,本技术方案对支架的具体结构以及LED灯条与支架之间的调节结构进行了限定,优选地,本技术方案提供的测试平台中,支架包括:长度方向与LED灯条的延伸方向相互垂直的第一边框,具有沿其长度方向延伸的第一滑槽;长度方向与第一边框的长度方向平行的第二边框,具有与第一滑槽平行的第二滑槽;一端与第一边框固定连接,另一端与第二边框固定连接的至少一个定位边框;每一个LED灯条设有与第一滑槽可滑动连接的第一限位装置,和与第二滑槽可滑动连接的第二限位装置。
作为本实用新型的技术方案六,在技术方案五的基础上,本技术方案对刻度尺的设置位置进行了限定,优选地,刻度尺设置于第二边框上。
作为本实用新型的技术方案七,在技术方案六的基础上,本技术方案对LED灯条与支架之间的连接方式以及连接结构进行了限定,优选地,每一个LED灯条均可拆卸地安装于支架,且第一限位装置和第二限位装置均为固定螺栓。
作为本实用新型的技术方案八,在技术方案四的基础上,本技术方案对支架的具体结构以及LED灯条与支架之间的调节结构进行了限定,优选地,支架包括:两个相互平行的滑轨,两滑轨之间设有定位装置;每一个LED灯条上具有与滑轨滑动配合的滑槽,且滑轨与滑槽之间设有限位装置;刻度尺设置于滑轨中的至少一个上。
作为本实用新型的技术方案九,在技术方案四的基础上,本技术方案对支架的具体结构以及LED灯条与支架之间的调节结构进行了限定,优选地,支架为具有板状结构的支板,支板设有两个相互平行的滑槽,每一个LED灯条设有与滑槽可滑动连接的限位装置。
作为本实用新型的技术方案十,在技术方案四的基础上,本技术方案对支架的具体结构以及LED灯条与支架之间的调节结构进行了限定,优选地,支架为具有板状结构的支板,支板设有两个相互平行的滑轨,每一个LED灯条设有与滑轨可滑动连接的滑槽,且滑槽与滑轨之间设有限位装置。
上述列举了本实用新型提供的优选的技术方案,相应的技术方案之间可以进行组合,以形成本实用新型中相应的实施例,在具体实施例中,上述多个技术方案中还存在其他替代方案,这里不再一一赘述。下面通过一些优选的具体实施方式对本实用新型提供的LED元件的测试平台进行描述,以便于本领域技术人员对本实用新型技术方案的理解。
实施例一
如图3、图4及图5所示,其中,图4为图3所示测试平台的侧视图,图5为图3所示测试平台的俯视图;本实用新型提供的LED元件的测试平台,包括支架11,并列安装于所述支架11且相邻两个LED灯条12之间的间距可调的至少两个LED灯条12,每一个LED灯条12具有至少一个焊盘121和导电插针122,同一个LED灯条12上的至少一个焊盘121以及导电插针122电性连接,相邻两个LED灯条12上的焊盘121位置一一对应,且位置相对应的两个焊盘121用于在相邻两个LED灯条12之间跨接一个LED元件。
本实用新型提供的测试平台的支架11上设有至少两个并列安装的LED灯条12,且相邻的两个LED灯条12之间的间距可调,当需要对某一种封装规格的LED元件进行测试时,首先需要将该LED元件焊接于测试平台上;首先需要通过调节相邻的两个LED灯条12之间的距离来实现对位置相对应的两个焊盘121之间的间距进行调节,使这对位置相互对应的焊盘121之间的距离与待测试的LED元件的阴极焊盘以及阳极焊盘之间的距离对应,调节完毕后,将待测的LED元件的阴极焊盘焊接于位置相对应的两个焊盘121的一个上,阳极焊盘焊接在另一个焊盘上,焊接之后便可以通过这两个位置相对的焊盘121所在的LED灯条12设置的导电插针122电性连接测试电源的两个电极,将LED元件点亮,然后通过其它测试装置实现对LED元件相关特性的测试。
具体如图3所示,图3所示测试平台结构中,LED元件14为待测,需要将LED元件14焊接在相邻的两个LED灯条12中位置相对的两个第一焊盘1211上,通过调节上述相邻的两个LED灯条12之间的间距,将位置相对的两个第一焊盘1211之间的间距调节至满足上述LED元件14的阴极焊盘以及阳极焊盘焊接需求的间距值,从而将LED元件14的阴极焊盘以及阳极焊盘焊接在两个第一焊盘1211上,可以满足对上述LED元件14的测试需求;再如图3中所示LED元件13,LED元件13的阴极焊盘以及阳极焊盘之间的间距大于LED元件14的阴极焊盘以及阳极焊盘之间的间距,可以将LED元件13的阴极焊盘以及阳极焊盘焊接相邻的两个LED灯条12中位置相对的两个第二焊盘1212上,通过调节相邻的两个LED灯条12之间的间距,将上述位置相互对应的第二焊盘1212之间的间距调节至满足LED元件13的阴极焊盘以及阳极焊盘焊接需求的间距值,从而将LED元件13的阴极焊盘以及阳极焊盘焊接在两个第一焊盘1212上,可以满足对LED元件13的测试需求。
另外,上述测试平台可以同时对多个LED元件进行测试,如图6和图7所示,图6所示的一种封装规格的LED元件16的结构中,其阴极焊盘161和阳极焊盘162分别设置于该LED元件16的两端;图7为测试平台的多个LED灯条12之间串联多个图6中所示的LED元件16进行温度特性测试时搭建的电路结构示意图,位于图7所示方位最上端的LED灯条31的电性连接装置32与电源15的一个电极电性连接,位于最下方的LED灯条33的电性连接装置34与电源15的另一个电极电性连接,由LED灯条31和LED灯条33以及串接于LED灯条31和LED灯条33之间的多个LED灯条之间的LED元件16组成了一个完整的回路,可以同时对多个串联的LED元件16进行测试。
如图8和图9所示,图8中示出的是现有技术中一种具有阴极焊盘171、阳极焊盘172以及散热焊盘173的LED元件17,在对带有散热焊盘的LED元件17进行测试时,可以将该LED元件17的阴极焊盘171和阳极焊盘172焊接与相邻的两个LED灯条12最边缘部位的一对焊盘121上,将该LED元件17的散热焊盘173外伸,防止散热焊盘173与LED灯条12上的其他焊盘121接触。上述两个相邻的LED灯条12中,一个LED灯条12的电性连接装置122与电源15的一个电极以及电压计18的一个接线端电性连接,另一个LED灯条12的电性连接装置122与电源15的另一个电极以及电压计18的另一个接线端电性连接,形成检测回路。
因此,由于本实用新型提供的测试平台中,可以通过调节相邻两个LED灯条12之间的距离实现对一一对应的焊盘121之间间距的调整,可以对至少两种封装规格的LED元件进行测试。
所以,本实用新型提供的测试平台,可以对实现对多种封装规格的LED元件进行测试。
优选实施方式中,进一步地,为了便于对相邻的两个LED灯条12之间的间距进行调节,优选地,相邻的两个LED灯条12之间相互平行。
优选实施方式中,为了扩大上述测试平台的适用范围,优选地,同一个LED灯条12上的至少一个焊盘121具有至少两种不同的规格,相邻两个LED灯条12上位置相对应的两个焊盘121规格相同。
优选实施方式中,为增强对相邻的LED灯条12之间的间距调节的精确性,优选地,支架11还具有测量相邻两个LED灯条12之间间距的刻度尺1121。刻度尺1121的设置能够更加直观地显示出两相邻的LED灯条12之间的间距值,因而可以将一对相互对应的焊盘121之间的间距调整至最佳值。
实施例二
在实施例一及其优选实施方式的基础上,具体到使用过程中,上述支架11可以有多种具体结构,相应的,LED灯条12与支架11的配合结构也有多种。
如作为一种优选实施方式,上述的支架11可以包括:
长度方向与LED灯条12的延伸方向相互垂直的第一边框111,具有沿其长度方向延伸的第一滑槽1111;
长度方向与第一边框111的长度方向平行的第二边框112,具有与第一滑槽1111平行的第二滑槽1122;
一端与第一边框111固定连接,另一端与第二边框112固定连接的至少一个定位边框113;
每一个LED灯条12设有与第一滑槽1111可滑动连接的第一限位装置,和与第二滑槽1122可滑动连接的第二限位装置。
优选地,上述的刻度尺1121设置于第二边框112上;当然,上述的刻度尺1121还可以设置于第一边框111上;甚至,第一边框111和第二边框112均设有刻度尺,只要是能够实现对相邻两LED灯条12之间的间距进行测量即可。
优选地,为进一步增加上述测试平台的适用范围,上述技术方案中提到的每一个LED灯条12均可拆卸地安装于支架11,且第一限位装置和第二限位装置均为固定螺栓123。
作为一种优选实施方式,支架11还可以包括:两个相互平行的滑轨,两滑轨之间设有定位装置;
每一个LED灯条12上具有与滑轨滑动配合的滑槽,且滑轨与滑槽之间设有限位装置;
刻度尺1121设置于滑轨中的至少一个上。
作为一种优选实施方式,支架11还可以为具有板状结构的支板,支板设有两个相互平行的滑槽,每一个LED灯条12设有与滑槽可滑动连接的限位装置。
作为一种优选实施方式,支架11还可以为具有板状结构的支板,支板设有两个相互平行的滑轨,每一个LED灯条12设有与滑轨可滑动连接的滑槽,且滑槽与滑轨之间设有限位装置。
当然,上述技术方案中提到的支架11与LED灯条12之间的配合关系还可以有很多种,这里不再一一赘述。
显然,本领域的技术人员可以对本实用新型实施例进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样,倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内,则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种LED元件的测试平台,其特征在于,包括:
支架;
LED灯条,并列安装于所述支架且相邻两个LED灯条之间的间距可调,所述LED灯条具有焊盘和导电插针,同一个LED灯条上的焊盘以及导电插针电性连接,相邻两个LED灯条上的焊盘位置一一对应,且位置相对应的两个焊盘用于在相邻两个LED灯条之间跨接一个LED元件。
2.根据权利要求1所述的测试平台,其特征在于,相邻两个LED灯条的延伸方向相互平行。
3.根据权利要求2所述的测试平台,其特征在于,同一个LED灯条上的焊盘具有至少两种不同的规格,相邻两个LED灯条上位置相对应的两个焊盘规格相同。
4.根据权利要求3所述的测试平台,其特征在于,所述支架还具有测量相邻两个所述LED灯条之间间距的刻度尺。
5.根据权利要求4所述的测试平台,其特征在于,所述支架包括:
长度方向与所述LED灯条的延伸方向相互垂直的第一边框,具有沿其长度方向延伸的第一滑槽;
长度方向与所述第一边框的长度方向平行的第二边框,具有与所述第一滑槽平行的第二滑槽;
一端与所述第一边框固定连接,另一端与所述第二边框固定连接的至少一个定位边框;
每一个所述LED灯条设有与所述第一滑槽可滑动连接的第一限位装置,和与所述第二滑槽可滑动连接的第二限位装置。
6.根据权利要求5所述的测试平台,其特征在于,所述刻度尺设置于所述第二边框上。
7.根据权利要求6所述的测试平台,其特征在于,每一个所述LED灯条均可拆卸地安装于所述支架,且所述第一限位装置和所述第二限位装置均为固定螺栓。
8.根据权利要求4所述的测试平台,其特征在于,所述支架包括:两个相互平行的滑轨,两所述滑轨之间设有定位装置;
每一个所述LED灯条上具有与所述滑轨滑动配合的滑槽,且所述滑轨与所述滑槽之间设有限位装置;
所述刻度尺设置于所述滑轨中的至少一个上。
9.根据权利要求4所述的测试平台,其特征在于,所述支架为具有板状结构的支板,所述支板设有两个相互平行的滑槽,每一个所述LED灯条设有与所述滑槽可滑动连接的限位装置。
10.根据权利要求4所述的测试平台,其特征在于,所述支架为具有板状结构的支板,所述支板设有两个相互平行的滑轨,每一个所述LED灯条设有与所述滑轨可滑动连接的滑槽,且所述滑槽与所述滑轨之间设有限位装置。
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