CN202600115U - 应用超级电容对电池组半成品进行无损检测的电路 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种应用超级电容对电池组半成品进行无损检测的电路,包括有电池组半成品,电池组半成品包括有电芯、BMS/PCM,电芯并联接入BMS/PCM,还包括有超级电容,超级电容与电芯并联。本实用新型将容量和ESR与电芯相匹配的超级电容与电芯并联形成分流回路;利用超级电容可以高倍率充放电的特性,对其进行充放电,从而在BMS/PCM主回路中产生大电流以测试BMS/PCM的性能。本实用新型结构简单、实现方便,避免了大电流充电对电芯的损害,实现了对BMS/PCM性能的检测。

Description

应用超级电容对电池组半成品进行无损检测的电路
技术领域
    本实用新型主要涉及电池组的检测技术领域,尤其涉及一种应用超级电容对电池组半成品进行无损检测的电路。
背景技术
    在电芯连接于BMS/PCM的过程中,由于制程所固有的缺陷,可能会造成BMS/PCM的损坏,但是一旦电芯与BMS/PCM连接在一起后,受电芯容量的限制,很难通过外界电路快速准确调整电芯电压和充放电电流,也就无法检测BMS/PCM的功能。目前业界,对于小容量电芯,如1000mAh以下,大多采取大电流,大负载充放电的方法,以期快速改变电芯电压从而验证BMS/PCM的功能。这种方法的局限性有两点:
    1)只能用于容量较小的电芯;
    2)对电芯进行大电流过充过放操作,如操作条件设置不当则有可能损坏电芯,且此种损坏是隐性的,其危害性要在产品出厂后的使用中才能显现出来。 
实用新型内容
本实用新型目的就是为了弥补已有技术的缺陷,提供一种可以检测大容量电芯且不会损坏电芯的应用超级电容对电池组半成品进行无损检测的电路。
本实用新型是通过以下技术方案实现的:
    应用超级电容对电池组半成品进行无损检测的电路,包括有电池组半成品,电池组半成品包括有电芯、BMS/PCM,所述的电芯并联接入BMS/PCM,其特征在于:还包括有超级电容,所述的超级电容与电芯并联。
    所述的应用超级电容对电池组半成品进行无损检测的电路,其特征在于:所述的超级电容的容量和ESR与电芯相匹配。
    所述的应用超级电容对电池组半成品进行无损检测的电路,其特征在于:所述的超级电容还串联有两个相互并联、极性相反的二极管,两个二极管的另一端连接一个单刀双掷开关。
本实用新型的原理是:
本实用新型将容量和ESR与电芯相匹配的超级电容与电芯并联形成分流回路。利用超级电容可以高倍率充放电的特性,对其进行充放电,从而在BMS/PCM主回路中产生大电流以测试BMS/PCM的性能。
    在充电测试时,通过控制电路使超级电容的电压等于或略低于电芯电压,但ESR远远低于电芯内阻,迫使大部分电流流经超级电容,而不是电芯,从而避免了大电流充电对电芯的损害,同时又可以模拟大电流充电的效果已检测BMS/PCM的性能。
    在放电测试时,通过控制电路使超级电容的电压等于或略高于电芯电压,但ESR远远低于电芯内阻,迫使大部分电流由超级电容提供,而不是电芯,从而避免了大电流放电对电芯的损害,同时又可以模拟大电流放电的效果已检测BMS/PCM的性能。
    本实用新型的优点是:本实用新型结构简单、实现方便,避免了大电流充电对电芯的损害,实现了对BMS/PCM性能的检测。
附图说明
    图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
    如图1所示, 应用超级电容对电池组半成品进行无损检测的电路,包括有电池组半成品,电池组半成品包括有电芯Battery Cell、BMS/PCM,电芯Battery Cell并联接入BMS/PCM,还包括有超级电容Super Cap,超级电容Super Cap与电芯Battery Cell并联;
    超级电容Super Cap的容量和ESR与电芯Battery Cell相匹配。
    超级电容Super Cap还串联有两个相互并联、极性相反的二极管D1、D2,两个二极管的另一端连接一个单刀双掷开关S2。

Claims (3)

1.一种应用超级电容对电池组半成品进行无损检测的电路,包括有电池组半成品,电池组半成品包括有电芯、BMS/PCM,所述的电芯并联接入BMS/PCM,其特征在于:还包括有超级电容,所述的超级电容与电芯并联。
2.根据权利要求1所述的应用超级电容对电池组半成品进行无损检测的电路,其特征在于:所述的超级电容的容量和ESR与电芯相匹配。
3.根据权利要求1所述的应用超级电容对电池组半成品进行无损检测的电路,其特征在于:所述的超级电容还串联有两个相互并联、极性相反的二极管,两个二极管的另一端连接一个单刀双掷开关。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN103675551A (zh) * 2013-12-10 2014-03-26 苏州市博得立电源科技有限公司 基于超级电容的多点随机失效模拟法
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