CN202093140U - 一种测试接触器触头参数的测试头 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测试接触器触头参数的测试头。测试头包括测试固定台，所述测试固定台两端分别设有第一凸起和第二凸起；测针，所述测针从所述第一凸起穿出；导电柱，所述导电柱固定于所述第二凸起，所述测针与所述导电柱之间有间隙；弹簧，所述测针穿过弹簧的轴心。采用上述技术方案，取得的有益效果是：接触器开距与超程的测试过程完全自动化，不需要考虑人为的因素导致测试的数据不准确。

Description

一种测试接触器触头参数的测试头

技术领域

本实用新型涉及一种电器产品的测试装置，特别涉及一种测试接触器触头参数的测试头。

背景技术

接触器不仅能接通和切断电路，而且还具有低电压释放保护作用。接触器是控制电路控制***中的重要元件之一。它的精密程度直接影响到自动控制***的稳定性和安全性。接触器的开距与超程参数是影响接触器精密程度的最重要的参数之一。在传统的开距与超程测试过程中，多采用卡尺进行测量。测试过程是：当卡尺的深度尺头部接触接触器的触头，在卡尺上记录一个位置，深度尺顶着触头继续前行至接触器内部的动触点与静触点接触，此时测试灯亮。由此测试出接触器的开距。这种测试方式的测试精度受限于操作者的责任心，身体素质，操作熟练程度等多因素的影响。

实用新型内容

本实用新型为解决现有技术中存在的技术问题，提供了一种能精确且自动测试接触器触头参数的测试头，接触器参数包括接触器的开距和超程。接触器的开距是指接触器动触点和静触点之间的间隙。接触器通电吸合时，接触器动静触点导通时触头的位置至接触器触头被磁力吸合时的极限位置，两位置的距离即超程，即触点导通后多行走的距离。因接触器的动触点与触头之间不会产生相对位移，所以测试过程中触头的位移即为动触点的位移。

本实用新型解决上述技术问题，提供的技术方案是：提供一种测试接触器触头参数的测试头，包括，一测试固定台，所述测试固定台两端分别设有第一凸起和第二凸起；一测针，所述测针从所述第一凸起穿出；一导电柱，所述导电柱固定于所述第二凸起，所述测针与所述导电柱之间有间隙；一弹簧，所述测针穿过弹簧的轴心。

作为本实用新型的一优选方案，所述测试头还包括一信号采集单元，所述信号采集单元一端与所述测针电连接，另一端与所述导电柱电连接。

作为本实用新型的另一优选方案，所述测针上设有第一限位套和第二限位套，所述弹簧一端与所述第一限位套接触，另一端与所述第一凸起的外壁接触，所述第二限位套位于所述第一凸起的内壁。

作为本实用新型的再一优选方案，所述第二凸起的内壁设有一弹簧座，所述弹簧一端固定于所述测针，另一端固定于所述弹簧座。

作为本实用新型的又一优选方案，所述测针的头部设有一钳状测头。

作为本实用新型的又一优选方案，所述测针与所述导电柱之间的间隙为0.5mm～1.0mm。

采用上述技术方案，相对于现有技术，取得的有益效果是：

(1)接触器开距与超程的测试过程完全自动化，不需要考虑人为的因素导致测试的数据不准确。

(2)测针的头部可以根据接触器的多种形状，进行相应的设计。如钳状测头或直杆状测头等。

(3)接触器的开距与超程的测试可连续测试，无需更换组件，也无需对组件进行调整，提高测试效率。

附图说明

图1是本实用新型所述的测试头第一实施例示意图；

图2是本实用新型所述的测试头第二实施例示意图；

图3是本实用新型所述的测试头第二实施例俯视图；

图4是本实用新型所述的接触器触头参数的测试头及接触器的示意图；

图5是本发明所述的测试头测试接触器开距的流程图；

图6是本发明所述的测试头测试接触器超程的流程图。

具体实施方式

下面结合附图及具体实施方式详细说明本实用新型的技术方案。

如图1所示，本实用新型所述的一种测试接触器触头参数的测试头，包括测试固定台26、测针20、导电柱24和弹簧22；测试固定台26两端分别设有第一凸起26a和第二凸起26b，测针20从第一凸起26a穿出，导电柱24固定于第二凸起26b，测针20与导电柱24之间有间隙，测针20穿过弹簧22的轴心。

如图4所示，优选地，测试头还包括信号采集单元16，信号采集单元16的一端与测针20电连接，另一端与导电柱24电连接。驱动电机14通过伺服电机座11固定在轴承座13上，轴承座13固定于支座17上，测试头10固定在移动支架15上，移动支架15固定于滑块19上。固定于移动支架15上的测试头20可以在丝杆的带动下移动。

如图1所示，本实用新型所述的接触器触头参数的测试头第一实施例示意图。测试头10的测针20上设有第一限位套21a和第二限位套21b，弹簧22一端与第一限位套21a接触，弹簧22的另一端与第一凸起26a的外壁接触，因此弹簧22被限位于第一限位套21a与第一凸起26a的外壁之间，弹簧22处于预压缩状态。第二限位套21b位于第一凸起26a的内壁，也即第一凸起26a与第二凸起26b之间，第二限位套21b可对弹簧22进行限位。测针20的头部是针状针头20a。测针20的尾部20b与导电柱24之间的间隙距离Δ，弹簧22的弹性系数需根据接触器内部的弹簧的弹性系数来设定，以满足测针在回退间隙距离Δ时，触头没有发生位移。优选地，间隙距离Δ可选0.5mm至1.0mm。

如图2、图3所示，本图示出接触器触头参数的测试头第二实施例示意图。在本实施例中，弹簧22设于第一凸起26a的内壁，也即第一凸起26a与第二凸起26b之间；同时，在第二凸起26b的内壁设有弹簧座23，弹簧22的一端固定于弹簧座23上，另一端固定于测针20上，测针20的尾部20b与导电柱24之间的间隙距离Δ2与第一实施例中的Δ取值范围相同。弹簧22设于第一凸起26a与第二凸起26b之间，可使测试头10的结构更加紧凑。本实施例中，测针20的针头20a是钳状测头，可根据需要进行更换成其它形状的针头。

结合图4、图5说明本实用新型所述的接触器开距、超程的测试方法。接触器30设有动触点32、静触点34、接触器内弹簧36及触头38，接触器内弹簧36的两端分别顶在铁芯37和线圈39之间。

步骤A，驱动电机14通过丝杆12带动测试头10的测针向接触器30的触头38移动；

步骤B，测试头10测针20的头部20a接触触头38并被触头38压回，测试头10测针20的尾部20b与导电柱24接触从而产生第一电信号；

步骤C，信号采集单元16接收该第一电信号，即记录为触头38的初始位置；

步骤D，测试头10的测针20在驱动电机14作用下继续顶着触头38前行，当动触点32与静触点34接触时产生第二电信号；

步骤E，信号采集单元16接收该第二电信号，即记录为动触点32行进距离的终点位置。

通过步骤A至步骤E的过程，测试头即完成了接触器30动触点32的初始位置及动静触点接触时的终点位置的测量，两位置之间的距离即为开距。采用上述方法测试接触器的开距具有精确度高的效果。

结合图4、图6说明，本实用新型所述的测试接触器超程的测试方法。

在完成上述步骤E后，进行以下步骤，

步骤F，驱动电机14停止运动并对接触器30的线圈进行通电，动触点32与静触点34吸合；

步骤G，测试头10的测针20在弹簧22弹力作用下被弹出继续与触头38接触，测试头10的测针20的尾部20b与导电柱24断开；

步骤H，信号采集单元16采集测试头10的测针20的尾部20b与导电柱24断开的第三电信号，并记录此时触头38的位置信息；

步骤I，驱动电机14启动并带动测针20前行，当导电柱24与测试头10测针20的尾部20b再次接触时，产生第四电信号；

步骤J，信号采集单元16采集到该第四电信号，并记录此时触头38的位置信息。

通过步骤F至步骤J的过程，完成了接触器30超程参数的测试。此过程无需重新调整测试头组件的参数及配置，在完成开距的测试工作后，直接可进行超程的测试。

以上所述，仅为本实用新型较佳实施例，不以此限定本实用新型实施的范围.依本实用新型的技术方案及说明书内容所作的等效变化与修饰，皆应属于本实用新型涵盖的范围。

Claims (6)

1.一种测试接触器触头参数的测试头，其特征在于，包括，

一测试固定台，所述测试固定台两端分别设有第一凸起和第二凸起；

一测针，所述测针从所述第一凸起穿出；

一导电柱，所述导电柱固定于所述第二凸起，所述测针与所述导电柱之间有间隙；

一弹簧，所述测针穿过弹簧的轴心。

2.根据权利要求1所述的一种测试接触器触头参数的测试头，其特征在于，还包括一信号采集单元，所述信号采集单元一端与所述测针电连接，另一端与所述导电柱电连接。

3.根据权利要求1所述的一种测试接触器触头参数的测试头，其特征在于，所述测针上设有第一限位套和第二限位套，所述弹簧一端与所述第一限位套接触，另一端与所述第一凸起的外壁接触，所述第二限位套位于所述第一凸起的内壁。

4.根据权利要求1所述的一种测试接触器触头参数的测试头，其特征在于，所述第二凸起的内壁设有一弹簧座，所述弹簧一端固定于所述测针，另一端固定于所述弹簧座。

5.根据权利要求1所述的一种测试接触器触头参数的测试头，其特征在于，所述测针的头部设有一钳状测头。

6.根据权利要求1所述的一种测试接触器触头参数的测试头，其特征在于，所述测针与所述导电柱之间的间隙为0.5mm～1.0mm。

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