CN201773169U - 一种集成电路芯片测试*** - Google Patents

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刘华
张超
沈慧
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Tianjin Jinneng Yiantai Technology Co., Ltd.
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Abstract

本实用新型涉及一种集成电路芯片测试***，包括芯片测试机和控制机，芯片测试机由机壳、测试机主板、功能板卡及芯片载板连接构成，测试机主板及功能板卡设置在机壳内并且功能板卡安装在测试机主板上，芯片载板安装在机壳表面并与测试机主板相连接，其特征在于：所述的功能板卡为具有PXI接口的PXI功能板卡，PXI功能板卡安装在测试机主板上设有的PXI插槽内。本实用新型采用模块化设计并使用PXI功能卡与测试机主板安装在一起，降低了***的复杂性，方便了***的扩展，具有高速、低功耗、低成本、高性价比、稳定性好并且使用方便等特点，从而大大降低了测试成本，满足了研发、设计和生产测试工程师的需求。

Description

一种集成电路芯片测试***
技术领域
本实用新型属于集成电路芯片测试领域，尤其是一种集成电路芯片测试***。
背景技术
集成电路芯片的设计及生产厂家经常需要使用集成电路芯片测试***对集成电路芯片进行测试。集成电路芯片测试***主要由芯片测试机及控制机连接构成，芯片测试机由测试机主板、各功能板卡及芯片载板连接构成，测试机主板控制各功能板卡协调工作对芯片载板上的待测集成电路芯片进行性能测试，芯片测试机与控制机共同完成激励、测量、数据处理、显示或输出测试结果等工作。由于集成电路芯片技术水平的迅猛发展，对于集成电路芯片测试***的测试速度及功能要求越来越高，因此，现有的集成电路芯片测试***普遍存在结构非常复杂、成本昂贵并且维护困难等问题。
发明内容
本实用新型的目地在于克服现有技术的不足，提出一种集成电路芯片测试***，该集成电路芯片测试***采用PXI通信平台将测试机主板与模块化功能板卡结合在一起，解决了***结构复杂的问题，同时节约了设备成本且便于***维护。
本实用新型解决其技术问题是采取以下技术方案实现的：
一种集成电路芯片测试***，包括芯片测试机和控制机，芯片测试机由机壳、测试机主板、功能板卡及芯片载板连接构成，测试机主板及功能板卡设置在机壳内并且功能板卡安装在测试机主板上，芯片载板安装在机壳表面并与测试机主板相连接，所述的功能板卡为具有PXI接口的PXI功能板卡，PXI功能板卡安装在测试机主板上设有的PXI插槽内。
而且，所述的测试机主板上安装的PXI功能板卡包括数字I/O板卡和直流电源板卡，或者包括数字I/O板卡和参数测量单元板卡。
而且，所述的测试机主板上还安装如下PXI功能板卡的一种或多种：波形发生器板卡和数字化仪板卡。
而且，所述的芯片载板与测试机主板通过Molex连接器连接在一起。
而且，所述的控制机与芯片测试机通过串行通信方式连接在一起。
而且，所述的控制机由安装有测控软件的计算机、显示器及键盘连接构成。
而且，芯片测试机和控制机安装在测试机架上，其具体安装方式为；在测试机架中部水平安装有一U形架，U形架的两端水平设有旋转轴并与芯片测试机安装在一起，计算机安装在测试机架的底座上，显示器及键盘安装在测试机架中部设有的水平托盘上。
本实用新型的优点和积极效果是：
1、本芯片测试***采用PXI通信平台将测试机主板与PXI功能板卡安装在一起，充分利用了PXI技术的电气总线特性与CompactPCI的坚固性、模块化及Eurocard机械封装的特性，性能远远超越采用了VXI和GPIB接口的芯片测试***，而且结构更加简单，尺寸更加精简，成本更加低廉。
2、本芯片测试***采用模块化设计，可以按用户的需要选择不同的PXI功能板卡来搭建不同测试需求的测试***，当测试***需要升级或增减功能时，只需更换其中的PXI功能板卡即可实现；而且用户在测试机主板的空余插槽可任意添加标准化的PXI功能板卡，实现设备成本的最优控制，相对现有的芯片测试机***，具有更高的灵活性，满足了用户定制独特的测试***的需求。
3、本芯片测试***将控制机与芯片测试机通过串行通信方式连接在一起构成统一的测试环境，通过控制机上的测控软件能够对测试资源进行高效利用，可以更快地进行测试设计和运行，能够对产量、质量和生产线的变化作出快速反应，可在测试***之间或在原型验证、工艺过程、性能测试的各个阶段互换测试资源，降低了测试成本，减少了浪费。
4、本实用新型采用模块化设计并使用PXI功能卡与测试机主板安装在一起，降低了***的复杂性，方便了***的扩展，具有高速、低功耗、低成本、高性价比、稳定性好并且使用方便等特点，从而大大降低了测试成本，满足了研发、设计和生产测试工程师的需求。
附图说明
图1是集成电路芯片测试***的电路原理框图；
图2是集成电路芯片测试***的结构连接示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型实施例做进一步详述。
一种集成电路芯片测试***，如图1所示，包括芯片测试机及控制机，芯片测试机与控制机采用串行通信方式连接。芯片测试机由机壳、测试机主板、功能板卡及芯片载板连接构成，测试机主板及功能板卡设置在机壳内并且功能板卡安装在测试机主板上，其具体安装方式为：在测试机主板上设有若干个具有PXI接口的插槽，功能板卡为具有PXI接口的PXI功能板卡，各PXI功能板卡安装在测试机主板上的PXI插槽内；芯片载板安装在机壳表面并与测试机主板相连接，其具体安装方式为：芯片载板设有Molex连接器(公插头)与测试机主板设有的Molex连接器(母插座)可插拔地安装在一起。PXI(PCI eXtensionsfor Instrumentation)是一种面向仪器***的PCI扩展接口，在测试机主板上的PXI接口的插槽上可以安装有各种PXI功能板卡以实现对芯片载板上的被测芯片的测试功能。安装在测试机主板上的各种PXI功能板卡可以包括以下几种类型：数字I/O板卡、直流电源板卡(DPS)、参数测量单元板卡(PMU)、波形发生器板卡(AWG)和数字化仪板卡(Digitizer)。本芯片测试机的测试机主板与各功能板卡均采用PXI作为通信平台，由于PXI技术结合了PCI的电气总线特性与CompactPCI的坚固性、模块化及Eurocard机械封装的特性，并拥有针对高性能测试应用的成熟的定时和触发功能，因此，基于PXI技术建立的芯片测试***的性能远超越只采用VXI和G PIB接口的集成电路芯片测试***，且尺寸更加精简，占有成本优势。
本集成电路芯片测试***采用模块化设计，有利于满足用户需求的定制化设计。根据用户的需要选择相应的PXI功能板卡来搭建不同测试需求的测试***，当测试***需要升级或增减任何功能时，只需更换其中的PXI功能板卡即可实现，而且用户在测试机主板的空余插槽可任意添加标准化的PXI功能板卡，实现设备成本的最优控制。在测试机主板上可以***不同的PXI功能板卡构成不同配置的测试***：测试***的最低配置为一块数字I/O板卡和一块直流电源板卡(DPS)，或者为一块数字I/O板卡和一块参数测量单元板卡(PMU)；测试***的最高配置为：14块数字I/O板卡，六块直流电源板卡(DPS)和参数测量单元板卡(PMU)，两块波形发生器板卡(AWG)和两块数字化仪板卡(Digitizer)。
控制机由一安装有测控软件的计算机及与其连接显示器、键盘连接构成，计算机内的测控软件包括用户操作界面、测试程序集的调用，可以对芯片测试机进行配置、调用、完成数据分析、查看测试结果处理，实现图形化操作界面，以及数据结果显示、分析界面。满足IC的生产、测试过程效率高、低成本的需求。
芯片测试机及控制机安装在测试机架上，如图2所示，在测试机架5中部水平安装有一U形架7，U形架的两端水平设有旋转轴8并与芯片测试机9安装在一起，芯片测试机可以在沿水平面270°范围内旋转，便于操作人员操作芯片测试机；计算机4安装在测试机架的底座6上，显示器2及键盘3安装在测试机架中部设有的水平托盘1上，便于操作人员的使用。
需要强调的是，本实用新型所述的实施例是说明性的，而不是限定性的，因此本实用新型并不限于具体实施方式中所述的实施例，凡是由本领域技术人员根据本实用新型的技术方案得出的其他实施方式，同样属于本实用新型保护的范围。

Claims (7)

1.一种集成电路芯片测试***，包括芯片测试机和控制机，芯片测试机由机壳、测试机主板、功能板卡及芯片载板连接构成，测试机主板及功能板卡设置在机壳内并且功能板卡安装在测试机主板上，芯片载板安装在机壳表面并与测试机主板相连接，其特征在于：所述的功能板卡为具有PXI接口的PXI功能板卡，PXI功能板卡安装在测试机主板上设有的PXI插槽内。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片测试***，其特征在于：所述的测试机主板上安装的PXI功能板卡包括数字I/O板卡和直流电源板卡，或者包括数字I/O板卡和参数测量单元板卡。
3.根据权利要求2所述的一种集成电路芯片测试***，其特征在于：所述的测试机主板上还安装如下PXI功能板卡的一种或多种：波形发生器板卡和数字化仪板卡。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片测试***，其特征在于：所述的芯片载板与测试机主板通过Molex连接器连接在一起。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片测试***，其特征在于：所述的控制机与芯片测试机通过串行通信方式连接在一起。
6.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片测试***，其特征在于：所述的控制机由安装有测控软件的计算机、显示器及键盘连接构成。
7.根据权利要求1至6任一项所述的一种集成电路芯片测试***，其特征在于：芯片测试机和控制机安装在测试机架上，其具体安装方式为：在测试机架中部水平安装有一U形架，U形架的两端水平设有旋转轴并与芯片测试机安装在一起，计算机安装在测试机架的底座上，显示器及键盘安装在测试机架中部设有的水平托盘上。
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