CN201654765U - 测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种测试装置，用于测试无功能芯片的转接卡。转接卡具有待测接口和输出接口。测试装置包括控制元件和转档元件。控制元件电性连接转接卡。控制元件发出测试信号至待测接口，并从输出接口接收输出信号。控制元件判断输出信号与测试信号是否一致，据此产生测试结果。转档元件电性连接控制元件以接收测试结果并提供转档信息。本实用新型优点是：通过判断输出信号与测试信号是否一致从而测试无功能芯片的转接卡的待测接口是否良好，相较于先前技术，本实用新型提供的测试装置测试工时短、操作简单，并且转档元件对测试结果可实现自动转档，使用者通过转档信息即可知道测试结果，从而便于产线上的管理。

Description

测试装置

技术领域

本实用新型涉及一种测试装置，且特别涉及一种具有转档功能的测试装置。

背景技术

无功能芯片的转接卡在电子装置中广为应用。譬如，无功能芯片的转接卡可与主机板进行连接从而为电脑的主机提供输入输出接口。由此，外部装置能够与主机板进行连接以传输数据。因此，转接卡上连接接口的质量将直接影响外部装置与主机板之间数据的传输质量。

现有技术中针对无功能芯片的转接卡进行测试时，首先需将转接卡连接至电子装置的主机板，然后开机运行特定的程序，从而对转接卡上的待测接口进行测试。然而，此种测试方法由于需要开机运行特定的程序，存在测试工时长、操作复杂等问题。并且，一种特定的程序只能测试一种待测接口，因此，针对不同类型的待测接口，需要编写不同的程序，导致测试成本的增加。

实用新型内容

本实用新型提供一种测试装置，以避免测试工时长、操作复杂从而降低测试成本。

本实用新型提供一种测试装置，用于测试无功能芯片的转接卡。转接卡具有待测接口和输出接口。测试装置包括控制元件和转档元件。控制元件电性连接转接卡。控制元件发出测试信号至待测接口，并从输出接口接收输出信号。控制元件判断输出信号与测试信号是否一致，据此产生测试结果。转档元件电性连接控制元件以接收测试结果并提供转档信息。

本实用新型有益效果为：通过判断输出信号与测试信号是否一致从而测试无功能芯片的转接卡的待测接口是否良好。相较于先前技术，本实用新型提供的测试装置测试工时短、操作简单。并且，转档元件对测试结果可实现自动转档，使用者通过转档信息即可知道测试结果，从而便于产线上的管理。

附图说明

为让本实用新型的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下面将结合附图对本实用新型的较佳实施例作详细说明，其中：

图1所示为本实用新型第一较佳实施例的测试装置的功能方块图。

图2所示为本实用新型第一较佳实施例的转档元件的转档程序的执行流程图。

图3所示为本实用新型第二较佳实施例的测试装置的功能方块图。

图4所示为本实用新型第二较佳实施例的转档元件的转档程序的执行流程图。

具体实施方式

图1所示为本实用新型第一较佳实施例的测试装置的功能方块图。请参考图1。本实施例所提供的测试装置1用于测试无功能芯片的转接卡2。

于本实施例中，转接卡2具有一个待测接口21和一个输出接口22。输出接口22电性连接待测接口21。然而，本实用新型对待测接口21和输出接口22的数量不作任何限定。

于本实施例中，待测接口21为MINI接口，输出接口22为USB接口。然而，本实用新型对此不作任何限定。于其它实施例中，待测接口21可为音频接口、VGA接口或者DVI接口等。

于本实施例中，测试装置1包括控制元件11、转档元件12、指示元件13、转接元件14以及终端元件15。控制元件11电性连接转接卡2的待测接口21。转档元件12和指示元件13分别电性连接控制元件11。转接元件14耦接控制元件11和转接卡2的输出接口22。终端元件15电性连接转档元件12。

于本实施例中，控制元件11具有输出接口111和输入接口112。输出接口111的类型对应于待测接口21的类型，于本实施例中即为MINI接口。于本实施例中，控制元件11为单芯片，其内储存有测试程序。通过测试程序，控制元件11可从输出接口111发出测试信号至待测接口21，输入接口112通过转接元件14从转接卡2的输出接口22接收输出信号，然后控制元件11判断输出信号与测试信号是否一致，据此产生测试结果。

于本实施例中，转档元件12包括显示元件121和复位电路122。显示元件121可显示转档元件12接收的测试结果和多个关于测试步骤的提示信息。于本实施例中，显示元件121可为液晶显示屏幕。然而，本实用新型对此不作任何限定。复位电路122可连接复位键(图未示)，当待测接口21不良时可按下复位键，由此触发复位电路122以复位转档元件12。

于本实施例中，转档元件12为SBC(simple board computer)，其上插设储存有转档程序的CF卡(compact flash)(图未示)。由此，转档元件12可进行SFIS(shop floor integrated system)转档并提供转档信息。关于转档元件12中转档程序的具体原理容后详述。

于本实施例中，指示元件13包括LED红灯131、LED绿灯132和蜂鸣器133。然而，本实用新型对此不作任何限定。于其它实施例中，指示元件13可仅包括一个LED灯。通过指示元件13，操作人员可以直观地知道测试结果。

于本实施例中，转接元件14具有输入接口141和输出接口142。输出接口142电性连接输入接口141。转接元件14的输入接口141电性连接转接卡2的输出接口22。转接元件14的输出接口142电性连接控制元件11的输入接口112。

于本实施例中，转接元件14的输入接口141的类型对应于转接卡2的输出接口22的类型，于本实施例中即为USB接口。转接元件14的输出接口142的类型对应于控制元件11的输入接口112的类型。于本实施例中，转接元件14的输出接口142和控制元件11的输入接口112均为LAN接口。然而，本实用新型对此不作任何限定。

于其它实施例中，当控制元件11的输入接口112和转接卡2的输出接口22的类型相同时，亦可不需要转接元件14，直接将控制元件11的输入接口112电性连接于转接卡2的输出接口22。

于实际应用中，因不同种类的转接卡2通常具有不同类型的输出接口22，故通常需要不同种类的转接元件14以使其输入接口141的类型与转接卡2的输出接口22的类型相匹配。

因此，本实施例提供的转接元件14可具有多个不同类型的输入接口141和输出接口142(图中仅分别绘示一个)，例如MINI接口、VGA接口、DVI接口、LAN接口、IEEE1394接口、USB接口、IDE接口、SCSI接口、SATA接口、AV接口、音频接口、PS/2接口、HDMI接口、J1接口、串行接口以及并行接口等。

由此，当测试装置1测试具有不同类型输出接口22的转接卡2时，无需更换转接元件14，即可在转接元件14上找到对应于输出接口22的接口作为转接元件14的输入接口141，并将其连接于转接卡2的输出接口22。因此，利用同一个转接元件14即可耦接控制元件11的输入接口112和不同类型的输出接口22。

于其它实施例中，转接元件14亦可用于耦接控制元件11的输出接口111和转接卡2的待测接口21。同样，当测试装置1测试不同种类的无功能芯片的转接卡2时，因其具有不同类型的待测接口21，故需要不同种类的控制元件11以使其输出接口111的类型与待测接口21的类型相匹配。

利用本实施例提供的转接元件14，在转接元件14上找到对应于待测接口21的接口，将此接口作为转接元件14的输出接口142与转接卡2的待测接口21进行连接。然后在转接元件14上找到对应于控制元件11的输出接口111的接口，将此接口作为转接元件14的输入接口141与控制元件11的输出接口111进行连接。由此，无需更换控制元件11，即可将控制元件11的输出接口111和不同类型的待测接口21耦接。

利用本实施例提供的转接元件14，控制元件ll的输出接口111和输入接口112可设计为较常见的接口，例如，输出接口111和输入接口112皆为USB接口。换言之，无需将控制元件11设计为具有多个不同类型的输出接口111和输入接口112。由此，控制元件11的设计和生产成本得以大幅度降低。

于本实施例中，终端元件15为电脑。终端元件15通过网络与转档元件12进行连接，从而接收并显示转档信息。使用者通过终端元件15读取转档信息。当转接卡2有问题时，使用者可通过转档信息准确获知转接卡2的测试时间、测试站台以及操作人员，以便作出有效的追踪管理并找出问题加以改善。

于本实施例中，利用转档元件12和终端元件15，使用者仅仅通过区域网便可查看任何作业数据，了解产线的作业进度，进行作业流程监控，监督生产质量以及统计测试结果。

以下将对本实施的测试装置1的测试步骤进行详细介绍。

于本实施例中，首先按照图1所示的方式来连接测试装置1和转接卡2。然后将测试装置1连接扫描仪(图未示)。于本实施例中，转档元件12的显示元件121在启动后可依次显示各个提示信息，例如首先可显示“扫描站台号”，在操作人员扫描完站台号后，显示元件121可显示“扫描操作人员工号”，在操作人员扫描完工号后，显示元件121可显示“扫描转接卡的编号”。如此，在操作人员按照提示信息进行操作后，便可开始进行转接卡2的测试。

于本实施例中，控制元件11利用储存的测试程序发出测试信号。测试信号从控制元件11的输出接口111传输至转接卡2的待测接口21，随后从转接卡2的输出接口22输出以形成输出信号。输出信号分别经过转接元件14的输入接口141和输出接口142传回控制元件11的输入接口112。

于本实施例中，控制元件11比较接收的输出信号和发出的测试信号是否一致，据此产生测试结果。同时，转档元件12接收测试结果并自动生成转档信息。然后，转档元件12将转档信息传输给终端元件15。

于本实施例中，如果输出信号和测试信号一致，则表明待测接口21良好，控制元件11可据此输出高电平信号，以控制指示元件13的LED绿灯132发光。同时显示元件121显示“PASS”信息。测试装置1可直接测试下一个转接卡2。如果输出信号和测试信号不一致，则表明待测接口21不良，控制元件11可据此输出低电平信号，以控制指示元件13的LED红灯131发光并控制蜂鸣器133发出蜂鸣提醒操作人员。同时显示元件121显示“FAIL”信息。此时可按压复位键，转档元件12即复位至待命状态以进行下一个转接卡2的测试和转档。然而，本实用新型对此不作任何限定。

以下将对本实施例的测试装置1的具体测试原理进行详细介绍。

于本实施例中，当待测接口21内部开路时，控制元件11的输入接口112将会接收不到输出信号，即控制元件11接收的输出信号和发出的测试信号不一致。由此，控制元件11判断待测接口21不良。当待测接口21内部短路时，控制元件11的输入接口112将会接收到一个不同于发出信号的输出信号。例如，当控制元件11发出的测试信号为5V电压信号时，则控制元件11接收到的输出信号为非5V的电压信号；当控制元件11发出的测试信号为字符串时，则控制元件11接收到的输出信号即为不相同的字符串。由此，控制元件11亦判断待测接口21不良。

因此，无论待测接口21内部是开路抑或短路，本实施例提供的测试装置1均可提供准确的判断，从而避免了漏判、误判的问题。

以下将对本实施例的转档元件12中转档程序的具体原理进行详细介绍。图2所示为本实用新型第一较佳实施例的转档元件12的转档程序的执行流程图。请一并参考图1与图2。本实施例的转档程序的执行流程包括步骤S21至步骤S27。

在步骤S21中，分别定义数组PPIDbuff、OPIDbuff、sysidbuff、failmsg以及time。数组PPIDbuff用于存放转接卡2的编号，数组OPIDbuff用于存放操作人员工号，数组sysidbuff用于存放站台号，数组failmsg用于存放测试结果，数组time用于存放测试时间。然而，本实用新型对此不作任何限定。

在步骤S22中，显示提示信息并接收扫描仪的信息。于实际应用中，操作人员根据显示元件121显示的提示信息用扫描仪分别扫描站台号、操作人员工号以及转接卡2的编号。转档元件12接收扫描仪扫描到的信息，将其分别存放到对应的数组中。

在步骤S23中，接收控制元件11的测试结果并对标记(flag)进行赋值。具体而言，以控制元件11发出5V的电压信号为例，如果控制元件11接收的输出信号为5V的电压信号，转档元件12中的A/D芯片令flag＝1。如果控制元件11接收的输出信号为非5V的电压信号，则A/D芯片令flag＝0。

在步骤S24中，判断flag的数值。如果flag＝1，则进行步骤S25，即将“PASS”字符串存放到数组failmsg中。如果flag＝0，则进行步骤S26，即将“FAIL”字符串存放到数组failmsg中并调用复位程序。于实际应用中，此时显示元件121显示“FAIL”信息，操作人员需按压复位键，使复位电路122产生复位信号才能使转档程序进行到下一步。若没有按压复位键。转档程序将停留在步骤S26。

当步骤S25或步骤S26运行完毕时，进入步骤S27，即令flag＝0，且数组PPIDbuff、OPIDbuff、sysidbuff、failmsg以及time中的数据以一定格式拷贝到转档信息中。随后转档元件12重复步骤S23至步骤S27直到测试结束。

于本实施例中，控制元件11发出的测试信号为5V的电压信号。然而，本实用新型对此不作任何限定。于其它实施例中，测试信号亦可为电流信号或者字符串。

于本实施例中，转档信息为txt格式，其包括转接卡2的编号、测试结果、站台号、操作人员工号以及测试时间。然而，本实用新型对转档信息的格式和内容不作任何限定。

图3所示为本实用新型第二较佳实施例的测试装置的功能方块图。请参考图3。本实施例所提供的测试装置3用于测试无功能芯片的转接卡4。

于本实施例中，转接卡4具有三个待测接口41和一个输出接口42。三个待测接口41分别电性连接输出接口42。其中，三个待测接口41均为USB接口，输出接口42为J1接口。然而，本实用新型对待测接口41和输出接口42的数量和类型不作任何限定。于其它实施例中，三个待测接口41亦可为不同的接口，例如分别为USB接口、DVI接口以及VGA接口。

于本实施例中，测试装置3包括控制元件31、转档元件32、指示元件33、转接元件34以及终端元件35。控制元件31电性连接转接卡4。转档元件32和指示元件33分别电性连接控制元件31。转接元件34耦接控制元件31和转接卡4的输出接口42。终端元件35电性连接转档元件32。

于本实施例中，转档元件32和终端元件35皆如第一实施例所述，故在此不再赘述。以下仅就不同之处给予说明。

于本实施例中，控制元件31具有一组输出接口311和一组输入接口312。输出接口311和输入接口312的数量和类型分别与待测接口41的数量和类型相对应，即输出接口311和输入接口312分别包括三个USB接口。输出接口311的三个USB接口分别连接三个待测接口41。于本实施例中，控制元件31为单芯片，其内储存有测试程序。

于本实施例中，指示元件33包括三个LED红灯331、一个LED绿灯332和蜂鸣器333。其中三个LED红灯331分别对应三个待测接口41。然而，本实用新型对此不作任何限定。

于本实施例中，由于控制元件31的输入接口312与转接卡4的输出接口42的类型不一致，因此为耦接转接卡4的输出接口42和控制元件31的输入接口312，本实施例将另一个无功能芯片的转接卡作为转接元件34。即转接元件34与转接卡4相同，具有三个待测接口341和一个输出接口342，待测接口341为USB接口，输出接口342为J1接口。三个待测接口341分别电性连接输出接口342。

于本实施例中，由于转接元件34的输出接口342和转接卡4的输出接口42的类型一致，故可通过一反向线将二者电性连接。同样，由于转接元件34的三个待测接口341和控制元件31的三个输入接口312的类型一致，故可将上述这些接口分别对应连接。由此，通过另一无功能芯片的转接卡即可耦接转接卡4的输出接口42和控制元件31的输入接口312。

本实施例的测试装置3的测试步骤及测试原理大致如第一实施例所述，以下仅就不同之处给予说明。

于本实施例中，控制元件31利用储存的测试程序发出三个测试信号。三个测试信号分别从控制元件31的三个输出接口311传输至转接卡4相应的三个待测接口41，随后从转接卡4的输出接口42输出以形成三个输出信号。三个输出信号分别经过转接元件34的输出接口342和对应的待测接口341传回控制元件31对应的输入接口312。

于本实施例中，上述三个测试信号可利用控制元件31同时或分别发出。并且，上述三个测试信号流经的三个测试回路之间相互独立。由此，控制元件31可对转接卡4的三个待测接口41分别作测试。然而，本实用新型对此不作任何限定。

于本实施例中，控制元件31分别判断三个输出信号和三个测试信号是否一致，据此产生三个控制信号以指示测试结果。三个控制信号分别传输至三个对应的LED红灯331以及LED绿灯332与蜂鸣器333。当三个待测接口41均良好时，LED绿灯332发光；当三个待测接口41中存在不良接口时，蜂鸣器333发出蜂鸣，并且对应不良接口的LED红灯331发光。

具体而言，如果控制元件31接收的三个输出信号和发出的三个测试信号一致，则表明三个待测接口41均良好，控制元件31可据此输出三个高电平信号以控制LED绿灯332发光。显示元件321显示“PASS”信息。然而，本实用新型对此不作任何限定。于其它实施例中，LED绿灯332亦可设置为接收三个低电平信号才发光。

此处为便于说明，分别以第一待测接口、第二待测接口以及第三待测接口来表示三个待测接口41。如果第一待测接口不良，则相应的输出信号和测试信号不一致，控制元件31输出的三个控制信号中对应于第一待测接口的控制信号为低电平，其余为高电平。

随后三个控制信号分别传输至三个对应的LED红灯331。由于第一待测接口对应的控制信号为低电平，因此蜂鸣器333发出蜂鸣提醒操作人员，第一待测接口对应的LED红灯331发光。此时，显示元件321显示“第一个待测接口FAIL”信息。同时转档元件32在提供的转档信息中亦会显示第一个待测接口不良。然而，本实用新型对此不作任何限定。于其它实施例中，LED红灯331与蜂鸣器333亦可设置为接收高电平信号才分别发光和发出蜂鸣。

由此，当待测接口41存在不良时，本实施例提供的测试装置3可准确地指示出是哪一个或者哪几个待测接口41不良。

图4所示为本实用新型第二较佳实施例的转档元件32的转档程序的执行流程图。请一并参考图3与图4。本实施例的转档程序的执行流程包括步骤S41至步骤S47。步骤S42～S45皆与第一实施例中对应的步骤S22～S25相同，故于此不再赘述。以下仅就不同之处给予说明。

在步骤S41中，分别定义数组PPIDbuff、OPIDbuff、sysidbuff、failmsg、faildata以及time。数组faildata用于存放待测接口41不良的具体信息，即哪一个或者哪几个待测接口41不良。然而，本实用新型对此不作任何限定。

于步骤S46中，除将“FAIL”字符串存放到数组failmsg中外，还将待测接口41不良的具体信息存放到数组faildata中，譬如“USB1FAIL”。于步骤S47中，数组faildata中的数据亦一并被拷贝到转档信息中。

综上所述，本实用新型所揭露的测试装置通过判断输出信号与测试信号是否一致从而测试无功能芯片的转接卡的待测接口是否良好。相较于先前技术，本实用新型提供的测试装置测试工时短、操作简单。并且，转档元件对测试结果可实现自动转档，使用者通过转档信息即可知道测试结果，便于产线上的管理。

虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本实用新型，任何熟知此技术者，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作出种种等同的改变或替换，因此本实用新型的保护范围当视权利要求所界定的为准。

Claims (9)

1.一种测试装置，用于测试无功能芯片的转接卡，所述转接卡具有待测接口和输出接口，其特征是，所述测试装置包括：

控制元件，电性连接所述转接卡，所述控制元件发出测试信号至所述待测接口，并从所述输出接口接收输出信号，所述控制元件判断所述输出信号与所述测试信号是否一致，据此产生测试结果；以及

转档元件，电性连接所述控制元件以接收所述测试结果并提供转档信息。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，所述测试装置还包括指示元件，电性连接所述控制元件，用于指示所述测试结果。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，所述测试装置还包括转接元件，所述转接元件耦接所述控制元件和所述转接卡的所述输出接口。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征是，所述转接元件为另一无功能芯片的转接卡。

5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，所述测试装置还包括终端元件，所述终端元件电性连接所述转档元件以接收并显示所述转档信息。

6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，所述测试信号为电压信号。

7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，所述转档元件包括显示元件，用于显示所述测试结果与多个提示信息。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，所述转档元件包括复位电路，用于当所述待测接口不良时复位所述转档元件。

9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，所述待测接口为MINI接口。 

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