CN201654132U - 导电物体的表面电阻测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及测量技术领域，特别是一种导电物体的表面电阻测试装置，它包括导电衬垫、导电块和万用表，其特征是：采用两块导电块，在导电块下面垫有导电衬垫，导电衬垫置于被测导电物体的表面，将万用表的两表笔分别压接在两块导电块的表面；所述的导电块为铜制材料制成的长、宽、高为10mm×10mm×10mm的铜质导电块，表面进行镀银处理，该铜质导电块重量约为8g～9g，其自身电阻小于0.01Ω。它提供了一种高效、轻便的导电物体的表面电阻测试装置。
Description
技术领域
本实用新型涉及测量技术领域，特别是一种导电物体的表面电阻测试装置。
背景技术
近年来，随着导电物体的种类繁多，其应用也非常广泛。例如：导电镀膜玻璃、导电衬垫、导电橡胶板等导电物体。而对于一个电子、电气产品来说，在设计阶段就应该考虑其电磁兼容性，目前在设计制造过程中，难免出现一些电磁干扰等因素，最终影响设备自身及外部设备的正常工作。为解决此类问题，其中一种常见的电磁兼容处理方法就是在屏蔽体的装配处涂导电胶，或在装配面处加装导电衬垫加以解决，这些无疑都需要一种专门针对导电物体的表面导电性能检测的装置。目前的导电物体表面体电阻测试装置大多存在操作复杂，准确性差等缺点。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种高效、轻便的导电物体的表面电阻测试装置。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：设计一种导电物体的表面电阻测试装置，它包括导电衬垫、导电块和万用表，其特征是：采用两块导电块，在导电块下面垫有导电衬垫，导电衬垫置于被测导电物体的表面，将万用表的两表笔分别压接在两块导电块的表面。
所述的导电块为铜制材料制成的长、宽、高为10mm×10mm×10mm的铜质导电块，表面进行镀银处理，该铜质导电块重量约为8g～9g，其自身电阻小于0.01Ω。
所述的两导电块之间间距为10mm。
所述的导电衬垫采用的材质为铜镀银颗粒与优质橡胶 混合，经过压制成型的导电橡胶板剪裁而成，长、宽、高为10mm×10mm×0.75mm，其接触电阻小于0.01Ω。
本实用新型的有益效果是通过在导电块与被测导电物体之间布置导电衬垫可加大被测导电物体与导电块的接触面积，提高测试精度。导电块的自身电阻和导电衬垫的接触电阻均小于0.01Ω，以减少测量误差，本实用新型导电物体表面电阻测试装置，结构简单、可操作性强、误差小、便于携带，能够快速准确测出导电物体表面电阻，以判定导电物体导电性能。
附图说明
以下结合附图通过对实施例详述本实用新型。
图1是导电物体的表面电阻测试装置示意图
图1中：1、导电衬垫；2、导电块；3、被测导电物体；4、万用表。
具体实施方式
如图1所示，本实施例导电物体表面电阻测试装置，采用两块长、宽、高为10mm×10mm×10mm的导电块2，两导电块2之间间距10mm，在导电块2下面垫有长、宽、高为10mm×10mm×0.75mm的导电衬垫1，导电衬垫1置于被测导电物体3的表面，导电衬垫1可加大被测导电物体1与导电块2的接触面积，提高测试精度。将万用表4的两表笔压接在导电块2的表面，读取万用表4测量到的电阻R测。
导电块2为铜制材料制成的铜质导电块，表面进行镀银处理，该铜质导电块重量约为8g～9g，其自身电阻小于0.01Ω，。
导电衬垫1采用采用的材质为铜镀银颗粒与优质橡胶混合，经过压制成型的导电橡胶板剪裁而成，其接触电阻小于0.01Ω，以减少测量误差。
对被测导电物体3进行表面电阻测试时，首先对导电铜块2与被测物体表面用酒精进行清洁处理。其次，测出该测试装置内阻R0。再将两导电块2放置于被测导电物体3表面，两导电块2间距10mm，在导电块2与被测导电物体3之间垫上导电衬垫1，并将万用表4两表笔压接在铜块表面，读取测量电阻R测，最终根据下面的公式计算出导电物体表面电阻值r：
r＝R测-R0。
Claims (4)
1.导电物体的表面电阻测试装置，它包括导电衬垫、导电块和万用表，其特征是：采用两块导电块（2），在导电块（2）下面垫有导电衬垫（1），导电衬垫（1）置于被测导电物体（3）的表面，将万用表（4）的两表笔分别压接在两块导电块（2）的表面。
2.根据权利要求1所述的导电物体的表面电阻测试装置，其特征是：所述的导电块（2）为铜制材料制成的长、宽、高为10mm×10mm×10mm的铜质导电块，表面进行镀银处理，该铜质导电块重量约为8g ～9g，其自身电阻小于0.01Ω。
3.根据权利要求1所述的导电物体的表面电阻测试装置，其特征是：所述的两导电块（2）之间间距为10mm。
4.根据权利要求1所述的导电物体的表面电阻测试装置，其特征是：所述的导电衬垫（1）为导电橡胶板剪裁而成，长、宽、高为10mm×10mm×0.75mm，其接触电阻小于0.01Ω。
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2009
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