CN201425474Y - 石墨片厚度在线检测仪 - Google Patents
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Abstract
石墨片厚度在线检测仪，在现阶段测量石墨片厚度的方法主要是在生产过程中采样称重，其最大的缺点是不能适时检测而且对成材幅卷有一定的影响。石墨片厚度在线检测仪，其组成包括：L型扫描架(1)，所述的L型扫描架下方安装放射性同位素探头(2)，所述的放射性同位素探头包括准值栅(3)、放射源及其屏蔽装置(4)、源闸控制结构(5)，所述的L型扫描架上方安装电离室及放大电路探头(8)，所述的电离室安装于密封筒内(6)，所述的密封筒内还包括测量电路板，所述的密封筒上方固定高压电源(7)。本产品用于适时检测石墨片厚度。
Description
技术领域：
本实用新型涉及一种检测厚度的仪器，特别涉及一种石墨片厚度在线检测仪。
背景技术：
石墨片是一种新兴的高科技材料，产品广泛应用于机电、电子、冶金、石油化工、和国防科技领域，石墨片厚度是石墨片生产中的一项重要指标，对应不同的产品我们所需求的石墨片厚度是不一样的，所以石墨片厚度在线检测仪对现场生产指导有很重要的意义。在现阶段测量石墨片厚度的方法主要是在生产过程中采样称重，其最大的缺点是不能适时检测对石墨片的生产不能起到指导作用，而且由于人为误差使生产的石墨片很难达到所需要求，不能很好的控制生产成本，不利于经济效益提高而且对成材幅卷有一定的影响。
发明内容：
本实用新型的目的是提供一种石墨片厚度在线检测仪，其采用同位素穿透方式能够对石墨片的厚度进行在线连续检测，对于石墨片生产行业提高产品质量使生产自动化得以提高，使生产成本得以降低。
上述的目的通过以下的技术方案实现：
石墨片厚度在线检测仪，其组成包括：L型扫描架，所述的L型扫描架下方安装放射性同位素探头，所述的放射性同位素探头包括准值栅、放射源及其屏蔽装置、源闸控制结构，所述的L型扫描架上方安装电离室及放大电路探头，所述的电离室安装于密封筒内，所述的密封筒内还包括测量电路板，所述的密封筒上方固定高压电源。
所述的石墨片厚度在线检测仪，所述的放射性同位素探头和所述的电离室及放大电路探头相互平行且水平对正，间距为18-22mm。
本实用新型的有益效果：
1.本实用新型能够对石墨片的厚度进行在线连续检测，对于石墨片生产行业提高产品质使生产自动化得以提高，使生产成本得以降低，有很好的效果。
2.本实用新型结构简单，测量准确，工作可靠。
3.本产品具有很好的经济效益。并且我们通过一系列的先进技术，例如加入准直栅、放大器的精细选择、电离室的采购等一系列的优化方法。使这种石墨片测厚仪器更能适应生产现场恶劣条件，对生产指导更加真实化，更加准确。对自动化生产有重要意义。
附图说明：
附图1是本实用新型的结构示意图
具体实施方式：
石墨片厚度在线检测仪，其组成包括：L型扫描架1，所述的L型扫描架下方安装放射性同位素探头2，所述的放射性同位素探头包括准值栅3、放射源及其屏蔽装置4、源闸控制结构5，所述的L型扫描架上方安装电离室及放大电路探头8，所述的电离室安装于密封筒内6，所述的密封筒内还包括测量电路板，所述的密封筒上方固定高压电源7。
所述的石墨片厚度在线检测仪，所述的放射性同位素探头和所述的电离室及放大电路探头相互平行且水平对正，间距为18-22mm。
仪器的下探头机械部分供电为+24V，其主要是控制电磁铁吸合来控制源闸。当需要测量时电磁铁通电旋转吸合使源闸打开，不用时源闸关闭对周围进行放射性屏蔽保护。上探头供电为+12V和-5V，通过+12V对高压模块供电使其产生-600左右的高压对电离室内同位素射线激发的带电离子对电离产生电流信号。通过放大器收集放大为5V左右的电压信号传输给上位机。石墨片从中间通过，放射线通过准直孔发射出平行放射束穿过石墨片让电离室接收产生微弱的电信号经放大电路放大并传输给上位机***进行数据分析，从而构成了穿透式在线测量方式。
Claims (2)
1.一种石墨片厚度在线检测仪，其组成包括：L型扫描架，其特征是：所述的L型扫描架下方安装放射性同位素探头，所述的放射性同位素探头包括准值栅、放射源及其屏蔽装置、源闸控制结构，所述的L型扫描架上方安装电离室及放大电路探头，所述的电离室安装于密封筒内，所述的密封筒内还包括测量电路板，所述的密封筒上方固定高压电源。
2.根据权利要求1所述的石墨片厚度在线检测仪，其特征是：所述的放射性同位素探头和所述的电离室及放大电路探头相互平行且水平对正，间距为18-22mm。
Priority Applications (1)
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| CN2009200998027U CN201425474Y (zh) | 2009-05-07 | 2009-05-07 | 石墨片厚度在线检测仪 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN2009200998027U CN201425474Y (zh) | 2009-05-07 | 2009-05-07 | 石墨片厚度在线检测仪 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN201425474Y true CN201425474Y (zh) | 2010-03-17 |
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Family Applications (1)
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Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN201425474Y (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102607476A (zh) * | 2012-01-05 | 2012-07-25 | 黑龙江省科学院技术物理研究所 | 可调节高精度x射线测厚仪及测试方法 |
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2009
- 2009-05-07 CN CN2009200998027U patent/CN201425474Y/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102607476A (zh) * | 2012-01-05 | 2012-07-25 | 黑龙江省科学院技术物理研究所 | 可调节高精度x射线测厚仪及测试方法 |
| CN102607476B (zh) * | 2012-01-05 | 2016-07-13 | 黑龙江省科学院技术物理研究所 | 可调节高精度x射线测厚仪及测试方法 |
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