CN201289509Y - 一种触摸器件自动测试设备 - Google Patents

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CN201289509Y CNU2008202079516U CN200820207951U CN201289509Y CN 201289509 Y CN201289509 Y CN 201289509Y CN U2008202079516 U CNU2008202079516 U CN U2008202079516U CN 200820207951 U CN200820207951 U CN 200820207951U CN 201289509 Y CN201289509 Y CN 201289509Y
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陈琪
赖建文
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SUZHOU LATEST ELECTRONICS CO Ltd
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SUZHOU LATEST ELECTRONICS CO Ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种触摸器件自动测试设备,包括:一夹具单元(101),其与触摸器件(10)数据连接,并固定该触摸器件;至少一探测单元(102),其与触摸器件感应,用以模拟用户操作;一支撑单元(103),其与探测单元相连,并控制和固定该探测单元;一数据处理控制单元(104),与夹具单元和支撑单元相连,接收夹具单元和支撑单元的数据并予以反馈控制。采用该触摸器件自动测试设备,可实现对触摸器件自动测试,提高生产效率、减少不良品、提升产品可靠性和避免人为差错影响。

Description

一种触摸器件自动测试设备
技术领域
本实用新型涉及自动测试技术领域,尤其是涉及到一种实现电容式触摸器件自动测试设备。
背景技术
触摸器件已经被广泛地应用在电子产品上,触摸器件提供一种简单、轻便且低廉的指示装置。现有的触摸器件有电阻式、电磁式、电容式三种。由于电阻式的触摸器件操作时需施压点集中,而电磁式的触摸器件则需要配合一种具有电池的输入笔进行输入,且在性能及成本上,电容式触摸器件超越电阻式及电磁式触摸器件。电容式触摸器件的工作原理是利用使用者的手指或导体接触到触摸器件的瞬间产生一个电容效应,因为电容式触摸传感***的核心部分都是一组与电场相互作用的导体。在皮肤下面,人体组织中充满了传导电解质(一种有损电介质)。因而通过电容值的变化确定手指或导体的位置。因此电容式触摸器件不像电磁式触摸器件必须藉助消耗电源的输入笔,并且电容式触摸器件的使用也不像电阻式触摸器件需要施压集中,因此使用寿命较长。再者,电容式触摸器件的组成简单,元件少,产品生产效率高,使得电容式触摸器件大量生产时成本较低。因而电容式触摸器件日益受到消费者的欢迎,比如苹果公司将电容式触摸器件应用到其畅销产品Ipod和Iphone上。
而目前在大量生产电容式触摸器件的过程中,测试电容式触摸器件的方法却很简单,没有相对可靠的专用设备,很多情况下是依赖于前面设计的人工检查,在生产中需要更为可靠的专业的设备进行检测,来对触摸器件进行自动测试,以提高生产效率、减少不良品、提升产品可靠性和避免人为差错影响。
因此有必要提出一种触摸器件自动测试设备来对触摸器件进行自动测试,以提高生产效率、减少不良品、提升产品可靠性和避免人为差错影响。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种触摸器件自动测试设备来对触摸器件进行自动测试,以提高生产效率、减少不良品、提升产品可靠性和避免人为差错影响。
为了实现上述目的,本实用新型的技术方案如下:一种触摸器件自动测试设备,包括:一夹具单元,其与触摸器件数据连接,并固定该触摸器件;至少一探测单元,其与触摸器件感应,用以模拟用户操作;一支撑单元,其与探测单元相连,并控制和固定该探测单元;一数据处理控制单元,与夹具单元和支撑单元相连,接收夹具单元和支撑单元的数据并予以反馈控制。
在上述技术方案的基础上,本实用新型的附加技术特征如下:
所述的夹具单元与数据处理控制单元的数据连接采用内部集成电路总线(Inter—Integrated Circuit),而所述的探测单元与支撑单元采用串口或者USB数据连接方式。
并且所述的探测单元为平板电极,所述支撑单元通过一电压接口电路来施加加电的电压或加电的频率给探测单元。
采用本实用新型的技术方案,具有以下优点:
1)可实现对触摸器件自动测试,提高生产效率、减少不良品、提升产品可靠性和避免人为差错影响。
2)灵活方便的选择测试点,对于新的面板无需重新设计测试台。
3)可以集成多种触摸器件测试在同一个平台上,节约了成本,提高了效率。
附图说明
图1是本实用新型中触摸器件自动测试设备的结构原理图。
图2是本实用新型中触摸器件自动测试设备的立体图。
图3是本实用新型中触摸器件自动测试方法的流程图。
具体实施方式
如图1和图2,一种用于对触摸器件10进行自动测试设备1包括:一夹具单元101,其为普通的具有固定功能的夹具台;若干个探测单元102,其用于给于触摸器件10感应信号以模拟用户操作,支撑单元103为提供探测单元控制和固定探测单元位置的设备,数据处理单元104为单片机或电脑处理控制等装置。
夹具单元101用来固定触摸器件10,触摸器件10在本实施例中是电容式触摸面板,也可为触摸键等其他器件。夹具单元101与数据处理单元104间通过内部集成电路总线32(I2C,Inter—Integrated Circuit)接口连接,而夹具单元101与触摸器件10之间的数据连接是通过I2C接口之间转换的转接头21。
探测单元102是固定在支撑单元103上的平板电极,在本实施例中探测单元102为平板电极的探头,其平板大小可根据触摸器件进行选取,通过支撑单元103的电源进行加电和不加电操作,模拟人体触摸感应效应。探测单元102与支撑单元103之间的控制总线采用串口或者USB口等任何一种总线设置,通过软线连接来实现灵活方便的在触摸器件10上选择测试点。通过支撑单元103传递给探测单元102的控制操作通过一电压接口电路来施加加电的电压或加电的频率等,这样可以高频率地使用。
支撑单元103是给予探测单元102的固定点,它可以给予多个探测单元102的接口,与数据处理单元104之间的连接采用串口或者USB口等任意一种总线。
数据处理单元104与夹具单元101以及支撑单元103通过总线30和32进行连接。数据处理单元104通过支撑单元103来控制探测单元102的上下和左右移动。数据处理单元104至少包括:存储有至少三种以上的测试模式指令和设定者的数据库、用于将探测单元102所获得的数据与设定者进行比较的比较单元、以及统计上述比较结果的统计分析单元,其中测试模式包括统计按键成功和失败的次数疲劳测试模式、加电测试模式、干扰测试模式等多个模式。疲劳测试模式下,数据处理单元104给以频繁的加电和去电操作;按键灵敏度测试模式下,数据处理单元104给随机选取的测试探测单元102以加电和去电操作;干扰测试模式下,数据处理单元104给某个或某些探测单元102以某种用户选择的干扰,主要是射频干扰。
另外,参照图3,根据上述触摸器件自动测试设备来实施的触摸器件自动测试方法,其步骤包括:
S1:将一触摸器件10放到夹具单元101上固定并与夹具单元101数据连接;
S2:将探测单元102与该触摸器件10靠近;
S3:选择数据处理单元104中的测试模式;
S4:执行测试模式,探测单元102对触摸器件10进行感应;
S5:将触摸器件10的感应所获得的数据通过夹具单元101反馈至数据处理单元104;
S6:比较所获得的数据和数据处理单元的设定值;
S7:统计比较结果并输出。
其中步骤S3的测试模式至少包括按键疲劳测试、按键灵敏度测试、干扰测试等。所谓按键疲劳测试,是从键盘测试引申而来的,指的是当按键次数超过一定多时,按键是否能够正常工作。所谓按键灵敏度测试指的是随机按键情况下能够识别的次数。所谓干扰测试是指在特定位置进行干扰,测试触摸器件是否工作正常的方法。而且在选择过程中,可以多个测试模式同时进行,以进一步提到测试效率。另外步骤S7的结果输出可通过显示器或者其他故障提示方式来显示。
采用本实用新型的触摸器件自动测试设备及其方法,可实现对触摸器件自动测试,提高生产效率、减少不良品、提升产品可靠性和避免人为差错影响。而且可灵活方便的在触摸器件上选择测试点,对于新的触摸器件无需重新设计测试设备,可以将多种触摸器件测试模式集成在同一个数据处理单元上,节约了成本,提高了效率。
虽然本实用新型已以较佳实施例公开如上,但其并非用以限定本实用新型,任何熟悉此技术的人,在不脱离本实用新型的精神和范围内,都可做各种的改动与修饰,因此本实用新型的保护范围应该以权利要求书所界定的为准。

Claims (4)

1.一种触摸器件自动测试设备,其特征在于其包括:
一夹具单元(101),其与触摸器件(10)数据连接,并固定该触摸器件;
至少一探测单元(102),其与触摸器件(10)感应,用以模拟用户操作;
一支撑单元(103),其与探测单元相连,并控制和固定该探测单元(102);
一数据处理控制单元(104),与夹具单元(101)和支撑单元(103)相连,接收夹具单元(101)和支撑单元(103)的数据并予以反馈控制。
2.根据权利要求1所述的一种触摸器件自动测试设备,其特征在于,所述的夹具单元(101)与数据处理控制单元(104)的数据连接采用内部集成电路总线,而所述的探测单元(102)与支撑单元(103)采用串口或者USB数据连接方式。
3.如权利要求2所述的一种触摸器件自动测试设备,其特征在于,所述的探测单元(102)为平板电极,所述支撑单元(103)通过一电压接口电路来施加加电的电压或加电的频率给探测单元(102)。
4.如权利要求1所述的一种触摸器件自动测试设备,其特征在于,所述的支撑单元(103)与数据处理单元(104)之间的总线连接采用串口或者USB等接口,数据处理单元(104)通过支撑单元(103)控制探测单元(102)的移动。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN103675489A (zh) * 2012-08-31 2014-03-26 晨星软件研发(深圳)有限公司 应用于触控装置的测试***及测试方法
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AV01 Patent right actively abandoned

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