CN201233371Y - 晶体硅太阳能电池微光图像检测仪 - Google Patents
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Abstract
一种用于检测晶体硅太阳能电池板内在缺陷的晶体硅太阳能电池微光图像检测仪,是由暗室、超敏感度CCD摄像头,监视器和微机、标准键盘、打印机及激励电源构成。被检测的晶体硅太阳能电池板和CCD摄像头的镜头封闭在暗室内,激励电源给晶体硅太阳能电池板通电,使其发出光谱。CCD摄像头将摄取的图像信息送入微机进行处理识别,它可通过监视器对图像进行人工分析,也可以由软件识别按图像灰度等级和图像变异情况将电池板进行判定分选,并可以提供对晶体硅太阳能电池板生产有指导意义的信息。
Description
技术领域:
本实用新型涉及一种检测晶体硅太阳能电池板质量的仪器,尤其是能检测出可反映晶体硅太阳能电池板内在缺陷的晶体硅太阳能电池微光图像检测仪。
背景技术:
目前,对晶体硅太阳能电池板的检测,主要是采用常规的光电性能检测,即在模拟标准光的照射下,测量电池板的负载特性。但即使常规检测合格的硅光电池,也可能存在致命的内在缺陷,包括无法观察到的微裂纹、PN结扩散工艺质量、导电网格栅及引线质量等,这就严重影响硅光电池成品组件的质量。
国内外都在探索识别晶体硅电池内在质量的技术手段,从而全面控制晶体硅单片及其组件的工艺质量,直至成品检测的分档。
发明内容:
为了解决目前对晶体硅太阳能电池板的常规光电性能检测的不足,亦即在模拟标准光照射下,所测量到的晶体硅太阳能电池板的负载特性不能反映电池板中的微裂纹、PN结扩散工艺质量、导电网格栅及引线质量等问题,而这些问题影响成品组件的内在质量。本实用新型提供了一种能检测晶体硅太阳能电池板内在缺陷的晶体硅太阳能电池微光图像检测仪。
本实用新型的采用的技术方案一是:整个图像检测仪由暗室2、CCD摄像头3、监视器5、激励电源8和微机4、标准键盘7及打印机6组成,CCD摄像头3的镜头和被检测的晶体硅太阳能电池板1封闭在暗室2内,CCD摄像头3的镜头对准晶体硅太阳能电池板1准确调整焦距,晶体硅太阳能电池板1与暗室外激励电源8连接,CCD摄像头3与微机4连接,微机4与监视器5、标准键盘7、打印机6连接。
本实用新型的采用的技术方案二是:将CCD摄像头3安装在X、Y、Z坐标可以自动或手动的摄像头定位机构上,并借助不同焦距镜头的切换或变焦,实现对单电池板或大幅面晶体硅太阳能电池板组件的摄像。
本实用新型的技术效果是:该检测仪能摄取到切实反映晶体硅太阳能电池板内在缺陷的清晰图像,利于实现自动检测和分选,并可以提供对晶体硅太阳能电池板生产具有指导意义的信息。
附图说明:
附图是本实用新型的整体结构示意图。
图1是本实用新型的整体结构示意图。
图2是本实用新型的摄像头定位机构示意图。
图中:1 是被检测的晶体硅太阳能电池板,2 是暗室,3 是CCD摄像头,4是微机,5 是监视器,6 是打印机,7 是标准键盘,8 是激励电源,9 是X方向(左右)移动拖板,10 是Y方向(上下)移动拖板,,11 是Z方向(前后)移动拖板。
具体实施方式:
本实用新型的基本结构如附图所示,下面结合附图和实施例作详细描述:
如图1中所示,被检测的晶体硅太阳能电池板1放置在暗室2中,由激励电源8按特定要求对电池板1通电,使之发出光谱。在暗室2内,电池板1的正上方,超敏感度CCD摄像头3的镜头正对电池板1。接通摄像头3、微机4、监视器5的电源,经过一定时间后,监视器5清晰显示出反映电池板1内在缺陷的图像。根据图像可对电池板1进行质量分析,并通过键盘7储存、打印或传送图像信息。
如图2中所示:CCD摄像头3装置在X、Y、Z三坐标摄像头定位机构上,通过该机构对摄像头的调整,既可以对大幅面的晶体硅太阳能电池板1的组件进行检测,又可以对晶体硅太阳能电池板1单元件进行检测。数控自动或手动调节X、Y、Z三座标摄像头定位机构使CCD摄像头3镜头调整到最佳摄像位置,其他检测步骤同上,摄取微光图像并将图像信息传给微机4进行处理。可以用监视器5进行人工分析图像,也可以由软件按图像的灰度等级、图像变异情况将电池板1按质量进行分选。
Claims (2)
1、一种晶体硅太阳能电池微光图像检测仪,是由暗室、CCD摄像头、监视器、激励电源和微机、标准键盘及打印机构成,其特征是:CCD摄像头(3)的镜头和被检测的晶体硅太阳能电池板(1)封闭在暗室(2)内,晶体硅太阳能电池板(1)与暗室(2)外的激励电源(8)连接,CCD摄像头(3)与微机(4)连接,微机(4)与监视器(5)、打印机(6)、标准键盘(7)连接。
2、按权利要求1所述的晶体硅太阳能电池微光图像检测仪,其特征是CCD摄像头(3)安装在X、Y、Z三坐标摄像头定位机构上。
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