CN201173854Y - 一种杂光测试装置 - Google Patents
一种杂光测试装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN201173854Y CN201173854Y CNU2008200716651U CN200820071665U CN201173854Y CN 201173854 Y CN201173854 Y CN 201173854Y CN U2008200716651 U CNU2008200716651 U CN U2008200716651U CN 200820071665 U CN200820071665 U CN 200820071665U CN 201173854 Y CN201173854 Y CN 201173854Y
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- integrating sphere
- collimator objective
- detector
- target board
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
本实用新型涉及一种杂光测试装置,该杂光测试装置包括积分球,光源,目标板,准直物镜,可变光栏,探测器,调整架,四维移动机构;积分球上的可变光栏一侧安装准直物镜,并且积分球内的目标板、准直物镜、可变光栏、被测光学***和探测器在同一光轴上顺序放置。积分球漫反射的发散光经过准直物镜转换成平行光束后,再经可变光栏调节光束孔径后照射到被测光学***,可对任意焦距的有限远物距和无限远物距光学***进行杂光测试。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种杂光测试装置,特别涉及一种测试光学镜头杂光系数的杂光测试装置。
背景技术
杂光系数这项技术指标是评价光学镜头成像质量的一个比较重要的指标。如果杂光系数大将使像面的像对比降低,像对比低就意味着光学镜头目标传递质量的下降,成像质量差。所以杂光系数的检测结果是否准确至关重要。
申请人于2007年10月11日提交了发明名称为“一种杂光测试仪“的发明专利申请(专利申请号为200710056151.9),该杂光测试仪包括积分球,光源,目标板,可变光栏,探测器,调整架,四维移动机构;探测器可以在四维移动机构上作三维(X、Y、Z)方向平移,并且在水平方向可绕Y轴旋转的。这种杂光测试仪存在的问题是:没有光准直***,仅能测量焦距<300mm的有限远物距和无限远物距光学***。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是提供一种可对任意焦距的有限远物距和无限远物距光学***进行杂光测试的杂光测试装置。
本实用新型的杂光测试装置包括积分球,光源,目标板,准直物镜,可变光栏,探测器,调整架,四维移动机构;积分球上的可变光栏一侧安装准直物镜,并且积分球内的目标板、准直物镜、可变光栏、被测光学***和探测器在同一光轴上顺序放置。积分球漫反射的发散光经过准直物镜转换成平行光束后,再经可变光栏调节光束孔径后照射到被测光学***,可对任意焦距的有限远物距和无限远物距光学***进行杂光测试。
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细说明。
附图说明
图1、为本实用新型杂光测试装置结构示意图,也是摘要附图。图中1-积分球,2-光源,3-目标板,4-准直物镜,5-可变光栏,6-被测光学***,7-探测器,8-支架,9-X轴方向粗调导轨,10-X轴方向细调导轨,11-Y轴方向导轨,12-Z轴方向粗调导轨,13-转台,14-Z轴方向细调导轨,15-调整架。
具体实施方式
如图1所示,本实用新型的杂光测试装置包括积分球1,光源2,目标板3,准直物镜4,可变光栏5,探测器7,调整架13和四维移动机构;在积分球1上的可变光栏5一侧安装准直物镜4,积分球1内的目标板3、准直物镜4、可变光栏5、被测光学***6和探测器7在同一光轴上顺序放置;积分球1漫反射的发散光经过准直物镜4转换成平行光束后,再经可变光栏5调节光束孔径后照射到被测光学***6,可对任意焦距的有限远物距和无限远物距光学***进行杂光测试。其中准直物镜4采用双凸透镜,目标板放置在准直物镜4的焦点上。
Claims (3)
1、一种杂光测试装置,包括积分球,光源,目标板,准直物镜,可变光栏,探测器,调整架,四维移动机构,其特征在于还包括准直物镜(4);积分球(1)上的可变光栏(5)一侧安装准直物镜(4),并且积分球(1)内的目标板(3)、准直物镜(4)、可变光栏(5)、被测光学***(6)和探测器(7)在同一光轴上顺序放置。
2、根据权利要求1所述的杂光测试装置,其特征在于准直物镜(4)采用双凸透镜。
3、根据权利要求2所述的杂光测试装置,其特征在于目标板放置在准直物镜(4)的焦点上。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CNU2008200716651U CN201173854Y (zh) | 2008-04-10 | 2008-04-10 | 一种杂光测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CNU2008200716651U CN201173854Y (zh) | 2008-04-10 | 2008-04-10 | 一种杂光测试装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN201173854Y true CN201173854Y (zh) | 2008-12-31 |
Family
ID=40200981
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CNU2008200716651U Expired - Fee Related CN201173854Y (zh) | 2008-04-10 | 2008-04-10 | 一种杂光测试装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN201173854Y (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103712778A (zh) * | 2013-11-08 | 2014-04-09 | 易美芯光(北京)科技有限公司 | 一种辅助测试平台升降的*** |
CN110579342A (zh) * | 2019-10-25 | 2019-12-17 | 业成科技(成都)有限公司 | 眩光测量装置及眩光测量方法 |
-
2008
- 2008-04-10 CN CNU2008200716651U patent/CN201173854Y/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103712778A (zh) * | 2013-11-08 | 2014-04-09 | 易美芯光(北京)科技有限公司 | 一种辅助测试平台升降的*** |
CN110579342A (zh) * | 2019-10-25 | 2019-12-17 | 业成科技(成都)有限公司 | 眩光测量装置及眩光测量方法 |
CN110579342B (zh) * | 2019-10-25 | 2021-08-31 | 业成科技(成都)有限公司 | 眩光测量装置及眩光测量方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN104567738B (zh) | 光轴平行度精确测量***及方法 | |
CN101625263B (zh) | 亮度测量装置 | |
CN102156037B (zh) | 光学检测装置及检测方法 | |
CN203231737U (zh) | 光电自准直仪 | |
CN104075671B (zh) | 一种二次成像大视场光电自准直仪 | |
CN105662314A (zh) | 内窥镜检测*** | |
CN201965012U (zh) | 微光瞄镜综合检测仪 | |
CN103234734A (zh) | 大口径杂散光测试装置及测试方法 | |
CN102564733A (zh) | 紫外像增强器分辨力测试装置 | |
CN102607461A (zh) | 一种光学元件面形误差的高精度测试装置及方法 | |
EP1686609A3 (en) | Aberration measuring apparatus for charged particle beam optical system, charged particle beam lithography machine having the aberration measuring apparatus, and device fabrication method using the apparatus | |
CN103292739A (zh) | 一种无执行机构的曲面形状精密测量装置与方法 | |
CN201173854Y (zh) | 一种杂光测试装置 | |
CN101290264B (zh) | 透镜激光测焦装置 | |
CN202221493U (zh) | 一种大口径平行光扩束装置 | |
CN101846528A (zh) | 光电跟踪设备对低对比度目标捕获能力的检验方法 | |
CN101625281A (zh) | 一种极紫外成像光学仪器成像质量测试装置 | |
CN111060293A (zh) | 一种焦距测试装置 | |
CN203837664U (zh) | 形状测量装置 | |
CN108226941A (zh) | 一种可视化调光装置与方法 | |
CN205374850U (zh) | 透射式光电定心仪 | |
CN202351019U (zh) | 固定角度光学薄膜反射率测试装置 | |
CN203216703U (zh) | 大口径杂散光测试装置 | |
CN102928982B (zh) | 一种大口径平行光扩束装置及方法 | |
CN215296620U (zh) | 一种宽范围的畸变测量装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
C17 | Cessation of patent right | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20081231 Termination date: 20100410 |