CN201107285Y - 一种水流量平板法导热系数测试仪的试验炉 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于测试耐火材料、保温隔热材料导热系数的水流量平板法导热系数测试仪的试验炉,其包括炉上体(1)、炉下体(3)、均热板(4)、加热元件(2),炉膛设置在炉上体(1),加热元件为二硅化钼发热体,其吊挂安装在炉膛内;炉膛为立筒状内腔结构,内腔深度大于加热元件发热段的长度。本实用新型采用二硅化钼棒作为加热元件,最高使用温度可达1700℃以上,并且具有升温速度快、抗氧化能力强、电阻特性稳定和抗热冲击性能好等特点,可在1600℃长时间稳定工作,从而使导热系数测试仪试验炉在高温时的工作时间和使用寿命延长,试样导热系数的测试准确率提高,测试成本降低。
Description
技术领域
本实用新型涉及耐火材料、保温隔热材料导热系数测试仪器的试验炉,特别是一种水流量平板法导热系数测试仪的试验炉,主要涉及该试验炉所用的加热元件(或称发热体)和炉膛结构。
背景技术
根据傅立叶一维平板稳定导热过程的基本原理,热流稳态时,单位时间自试样热面一维(纵向)流至冷面的热量Q与试样的导热系数λ、试样热面与冷面间的温差ΔT成正比,通过测定流经中心量热器中的水流量M和水温升高Δt,获得单位时间单位质量的水吸收的热量Q,求得试样的导热系数λ。
美国国家标准《ASTM C 201-1993(2004)耐火材料导热系数试验方法》中规定的试验设备加热室(即试验炉)的炉膛为扁凹形,电加热元件为硅碳棒,水平方向安装在炉上体的炉膛内,此炉膛的下方对应于炉下体安装均热板的位置。我国国家发展和改革委员会2005年4月1日发布的《中华人民共和国黑色冶金行业标准YB/T 4130-2005耐火材料导热系数试验方法(水流量平板法)》中示出的水流量平板法导热系数测试仪的试验炉为扁凹形,电加热元件为硅碳棒,水平方向安装在炉上体的炉膛内,均热板安装于炉下体。
水平方向安装在炉上体炉膛内的硅碳棒加热元件,理论使用温度范围为600~1600℃,当表面温度为1250℃以下时,具有良好的化学稳定性,连续使用2000小时老化率为50%;表面温度为1500℃,连续使用500小时老化率达50%,2000小时时老化率达100%。因此硅碳棒加热元件容易老化、断裂,使用寿命低,并且由于电阻的变化,造成炉温均匀性下降,导致测试结果的波动失真。因断棒、换棒、老化、匹配等原因,该测试仪正常工作温度一般规定不大于1250℃,超出该温度使用将折损其使用寿命,降低仪器稳定性,导热系数测试成本增加、周期加长。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种使用寿命长、工作温度高的水流量平板法导热系数测试仪的试验炉。
本实用新型的目的可采用如下技术方案来实现:其包括炉上体、炉下体、均热板、加热元件,炉膛设置在炉上体,加热元件采用使用温度范围高于1700℃,而且长期工作温度在1600℃的发热体,加热元件为二硅化钼发热体,其吊挂安装在炉膛内,炉膛的结构为立筒状内腔,内腔深度大于加热元件发热段的长度。
所述的加热元件为“U”型或”W”型的二硅化钼发热体。
本实用新型采用二硅化钼棒作为加热元件,最高使用温度可达1700℃以上,并且具有升温速度快、抗氧化能力强、电阻特性稳定和抗热冲击性能好等特点,可在1600℃长时间稳定工作,从而使导热系数测试仪试验炉在高温时的工作时间和使用寿命延长,试样导热系数的测试准确率提高,测试成本降低。
附图说明
附图1为本实用新型的局部纵向剖面结构示意图。
附图2为图1的俯视图。
图中:1、炉上体,2、二硅化钼加热元件,3、炉下体,4、均热板,5、所测试样,6控温热电偶。
具体实施方式
结合附图,说明本实用新型的具体实施例。
如附图1所示:所述的水流量平板法导热系数测试仪的试验炉包括炉上体1、炉下体3、均热板4,炉膛设置在炉上体1内,在炉膛内设置控温热电偶6。加热元件2采用使用温度范围高于1700℃,而且长期工作温度在1600℃的发热体。这种发热元件可以是“U”型或”W”型的二硅化钼发热体,本实施例采用形状为“U”型结构的二硅化钼发热体,其吊挂安装在炉上体1的炉膛内,炉膛的结构为立筒状内腔,内腔深度大于加热元件发热段的长度。
如附图2所示:所述的“U”型结构的二硅化钼发热体之间为串联连接。
使用时,将所测试样5放置在均热板4下部的炉膛内即可进行测试试验。
Claims (3)
1、一种水流量平板法导热系数测试仪的试验炉,其包括炉上体(1)、炉下体(3)、均热板(4)、加热元件,炉膛设置在炉上体(1),其特征是:加热元件为二硅化钼发热体,其吊挂安装在炉膛内;炉膛为立筒状内腔结构,内腔深度大于加热元件发热段的长度。
2、根据权利要求1所述的一种水流量平板法导热系数测试仪的试验炉,其特征是:加热元件为“U”型结构的二硅化钼发热体。
3、根据权利要求1所述的一种水流量平板法导热系数测试仪的试验炉,其特征是:加热元件为“W”型结构的二硅化钼发热体。
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2007
- 2007-11-06 CN CNU2007200926104U patent/CN201107285Y/zh not_active Expired - Lifetime
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