CN201096847Y - 一种芯片老化测试*** - Google Patents

Abstract

本实用新型适用于芯片测试领域，提供了一种芯片老化测试***，该***包括微控制器，以及与该微控制器电连接的输入控制电路、电压源控制电路、信号检测电路以及存储器，以及与该电压源控制电路电连接的电压源电路。在本实用新型中，电压源控制电路在微控制器的控制下，控制电压源电路的电压的通和断，从而为芯片的老化测试提供了一使芯片在短时间内不断的经历上电和掉电过程的测试环境，信号检测电路检测该芯片老化测试数据，通过对该测试数据进行分析，即可得到芯片的老化性能，从而得到芯片的使用寿命。

Description

一种芯片老化测试***

技术领域

本实用新型属于芯片测试领域，尤其涉及一种芯片老化测试***。

背景技术

在芯片的使用过程中，例如LCD驱动芯片(也称为LCD Driver)等，由于该种芯片需要不断地经历上电和掉电的状态更替，久而久之，会使芯片老化，从而发生失效等后果。为了测试芯片能够承受的上电和掉电的冲击次数，以得到芯片的使用寿命，有必要提供一种能够让芯片快速进行上电和掉电冲击(间隔时间为几秒)的测试***，为芯片老化测试提供一个让芯片快速老化的测试环境，从而测试出芯片的老化性能。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片老化测试***，旨在解决现有技术存在的由于难以测试芯片的老化性能，而无法得知芯片的使用寿命的问题。

本实用新型是这样实现的，一种芯片老化测试***，所述***包括微控制器，以及与所述微控制器电连接的输入控制电路、电压源控制电路、信号检测电路以及存储器，以及与所述电压源控制电路电连接的电压源电路，所述输入控制电路向所述微控制器输入测试参数以及所述微控制器的模式控制指令；所述微控制器根据所述测试参数通过所述电压源控制电路控制所述电压源电路的输出电压；所述信号检测电路采集根据所述电压源电路的输出电压产生的测试数据，并将所述测试数据通过所述微控制器存储至所述存储器。

在本实用新型中，电压源控制电路在微控制器的控制下，控制电压源电路输出的通、断，同时调节电压源电路中电压源信号的大小，使芯片在短时间内不断的经历上电和掉电的过程，从而为芯片的老化测试提供了一测试环境，信号检测电路检测该芯片老化测试数据，通过对该测试数据进行分析，即可得到芯片的老化性能，从而得到芯片的实用寿命。

附图说明

图1是本实用新型提供的芯片的老化测试***的方框图；

图2是本实用新型提供的芯片的老化测试***的电连接原理图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

在实用新型中，在微控制器的控制下，根据设置的测试参数，使芯片不断的经历上电和掉电的过程，从而提供了一使芯片迅速老化的测试环境，通过本实用新型提供的芯片老化测试***可以测试出芯片的老化性能。

图1示出了本实用新型提供的芯片的老化测试***的方框组成，为了便于说明，仅示出了与本实用新型相关的部分。

输入控制电路10的输出端与微控制器20的输入端电连接，用以向微控制器20传输芯片老化测试所需的参数数据，并控制微控制器20的工作模式。输入控制电路10包括输入端口、输入信号采集电路和滤波电路，输入端口提供了输入信号采集电路与芯片老化测试***外壳的按键相连接的接口，通过输入端口，输入信号采集电路可以采集用户通过按键输入的参数数据和微控制器20的工作模式控制指令。滤波电路对采集的参数数据进行滤波处理。其中芯片老化测试所需的参数数据包括芯片的上电电压、芯片上电保持时间以及芯片掉电保持时间。

微控制器20分别与输入控制电路10、电压源控制电路30、信号检测电路50、存储器60、显示驱动电路70以及传输控制电路80电连接，用以对芯片老化测试***的上述电路单元的工作进行调配控制。微控制器20根据输入控制电路10传输的工作模式控制指令将其工作模式调整为与该工作模式控制指令对应的工作模式。再根据输入控制电路10传输的芯片老化测试所需的参数数据，调节电压源控制电路30的电路状态，并读取信号检测电路50中采集的测试数据，将该测试数据存储至存储器60。

电压源控制电路30的输入端与微控制器20的输出端电连接，其输出端与电压源电路40的输入端电连接。微控制器20通过调节电压源控制电路30的电路状态，来改变电压源电路40的输出电压。电压源电路40用以提供芯片老化测试所需的工作电压，其输出端与信号检测电路50的输入端电连接，该电压源电路40的电压输出可以通过外部电路的调节而改变。

信号检测电路50的输入端与电压源电路40的输出端电连接，其输出端与微控制器20的输入端电连接。信号检测电路50采集测试数据，并将采集的测试数据传输至微控制器20。

显示驱动电路70的输入端与微控制器20的输出端电连接，其在微控制器20的控制下，显示芯片老化测试***的工作状态。

传输控制电路80是芯片老化测试***与PC连接的载体，其通过RS232串口将芯片老化测试***与PC连接，用以对存储器60中的测试数据上传。

图2示出了本实用新型提供的芯片的老化测试***的电连接原理，在本实用新型中以LCD驱动芯片老化测试为例，进行说明。

单片机与图1所示的微控制器20对应；数字控制器构成图1所示的电压源控制电路30，该数字电位器为非易失性数字电位器；电压源与图1所示的电压源电路40对应，该电压源的输出电压可以通过外部电路(如电压源控制电路)的调节而改变；信号采样电路、信号放大电路和AD转换电路构成图1所示的信号检测电路50；图1所示的存储器60采用FLSAH存储器；LCD驱动电路与图1所示的LCD驱动显示电路70对应；RS232传输控制电路和RS232接口构成图1所示的传输控制电路80。

以下对本实用新型提供的芯片老化测试***的工作原理进行详细说明。

芯片老化测试***通电后，单片机首先进行初始化设置，如设置其自身的寄存器状态，清空内部的计数器和RAM等空间，同时，单片机通过其R/W、CS等控制信号控制LCD驱动电路显示“初始”状态，通过其CTRL控制信号对数字电位器的控制，使数字电位器的ENABLE的输出为“0”，从而使电压源的输出电压为0V。初始化设置完毕后，芯片老化测试***等待输入控制电路的按键的输入控制，来进行***工作状态的设置。

用户通过按键操作，可以选择将***的工作模式设置为“测试工作”模式或者“数据传输”模式。如当按键1被按下时，芯片老化测试***处于“测试工作”模式，此时，单片机控制LCD驱动电路实时地显示“TEST MODE”的状态标识；当按键2被按下时，芯片老化测试***处于“数据传输”模式，此时，单片机控制LCD显示驱动电路实时地显示“DATA TRANSFER”的状态标识。

当芯片老化测试***处于“测试工作”模式时，首先进行测试所需参数的设置。其中测试所需参数包括上电电压、上电保持时间和下电保持时间。用户可以通过与输入控制电路连接的“加”或者“减”按键，设置芯片老化测试***进行测试工作时的上电电压的大小、上电保持时间以及掉电保持时间。

设置完芯片老化测试***的测试参数后，按下与输入控制电路连接的“开始”按键，芯片老化测试***开始进行测试。其测试流程(即芯片老化测试***的上电和掉电过程)如下所述：

单片机根据用户设置的上电电压通过CTRL控制信号控制数字电位器调节其状态，从而使电压源的输出电压为设置的上电电压，芯片老化测试***开始上电。数字电位器在单片机的控制下，调节电压源的电压输出，从而在单片机的控制下，通过数字电位器可以实现对电压源输出的通、断控制或者电压源的电压源信号大小的调节。以满足本实用新型中不停上电、下电的参数设置需求。

电压源输出的电压用以驱动LCD Driver进行正常的工作。同时，电压源的工作电流通过放大电路和AD转换器后，其电流值被转换为测试数据，该测试数据同时被传输至单片机。单片机将该测试数据存储到FLASH存储器中。当经过上述设置的上电保持时间后，芯片老化测试***开始掉电，单片机通过CTRL控制信号控制数字电位器的ENABLE控制信号为“0”，从而使电压源的输出电压为0，使测试进入掉电状态。当经过上述设置的掉电保持时间后，芯片老化测试***重新开始上电，使该芯片老化测试***循环反复地进行上述上电、掉电过程，而单片机不断的将芯片老化测试***上电时由电流转换得到的测试数据存储至FLASH存储器中。直到该FLASH存储器的容量写满后，或者通过单片机对测试数据的计算，检测到测试状态中的电流出现异常时，芯片老化测试***的测试即完成。

在芯片老化测试***的测试过程中，LCD显示驱动电路则实时地显示芯片老化测试***工作的状态，例如某时刻为“上电”或者“掉电”状态，以及测试工作持续了多长的时间等。

当芯片老化测试***处于“数据传输”模式时，将芯片老化测试***通过RS232串口连接到PC机上。通过按下“开始”键，单片机读取FLASH存储器中保存的测试数据，并通过串口传输芯片，将测试数据传输至PC机中。通过RS232串口，芯片老化测试***可以与PC机进行双向通信，使该芯片老化测试***可以通过PC机输入测试所需的测试参数以及***工作模式控制指令。同时通过PC机中的应用软件，可以对该测试数据进行换算分析，从而得到测试结果。用户也可以通过查看PC机保存或显示的测试数据，可以查看芯片老化测试过程中芯片电流的变化，也可以对该测试数据进行分析和统计，或者通过同时，将FLASH存储器中的测试数据转存到PC机，避免了FLASH存储器中的测试数据被下一次的测试数据覆盖。

本实用新型提供的芯片老化测试***，电压源控制电路在微控制器的控制下，可以调节电压源电路的输出，从而可以实现对电压源电路输出的通、断控制或者电压源电路中电压源信号大小的调节，从而使芯片不断地经历上电和掉电的过程。通过输出控制电路，芯片老化测试***可以与PC机进行双向通信，使该芯片老化测试***通过PC机输入测试所需的测试参数以及***工作模式控制指令。同时通过PC机上的应用软件可以对该测试数据进行分析，得出被测试芯片的老化性能。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1、一种芯片老化测试***，其特征在于，所述***包括微控制器，以及与所述微控制器电连接的输入控制电路、电压源控制电路、信号检测电路以及存储器，以及与所述电压源控制电路电连接的电压源电路，所述输入控制电路向所述微控制器输入测试参数以及所述微控制器的模式控制指令；所述微控制器根据所述测试参数通过所述电压源控制电路控制所述电压源电路的输出电压；所述信号检测电路采集根据所述电压源电路的输出电压产生的测试数据，并将所述测试数据通过所述微控制器存储至所述存储器。

2、如权利要求1所述的芯片老化测试***，其特征在于，所述***还包括与所述微控制器进行双向通信的传输控制电路，所述微控制器通过所述传输控制电路将所述存储器中的测试数据上传至PC机。

3、如权利要求2所述的芯片老化测试***，其特征在于，所述传输控制电路包括RS232传输控制电路和RS232接口。

4、如权利要求1所述的芯片老化测试***，其特征在于，所述***还包括与所述微控制器电连接的驱动显示电路，所述驱动显示电路在所述微控制器的控制下，实时地显示所述芯片老化测试***的工作状态。

5、如权利要求1所述的芯片老化测试***，其特征在于，所述电压源控制电路为一非易失性数字电位器。

6、如权利要求1所述的芯片老化测试***，其特征在于，所述电压源电路的电压可以通过外部电路的调节而改变。

7、如权利要求1所述的芯片老化测试***，其特征在于，所述信号检测电路包括信号采样电路、信号放大电路和AD转换电路。

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