CN1971296A - 通用测试接口设备及其通用测试*** - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种用于对电气设备进行测试的接口设备其通用测试***,属于测控技术领域。一种通用测试接口,包括***控制器、采集控制***,***控制器与仪器控制总线连接在一起,采集控制***包括数字表、AD采集模块、函数发生器、示波器、矩阵开关、直流电源和交流电源诸模块,上述模块通过仪器控制总线连接在一起,上述模块还通过***连线连接有通用测试接口,通用测试接口提供通用的、标准的电气接口,用于与完成不同任务的适配器进行通用的电气和机械对接。通过更换适配器实现对多个不同的测试对象进行检测,专用适配器与检测***通过通用测试接口衔接,完成不同的测试任务。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于对电气设备进行测试的接口设备其通用测试***,属于测控技术领域。
背景技术
现有的对电气设备进行测试的接口设备属于专用型设备,由***控制器、专用的采集控制***及专用的实现诸如供电、信号调理、阻抗匹配、电平转换、信号连线等功能的适配器构成,适配器是与被测对象UUT单元相对应的部件,它用来进行测试设备和UUT单元之间的电气匹配。采集控制***一般根据特定的测试需要由数字表、AD采集模块、函数发生器、示波器、矩阵开关、直流电源、交流电源等模块中的几种组合构成,完成特定的任务。可见,现有的检测设备仅能对某一特定的对象进行测试,因而检测设备和保障设备呈现多元化、复杂化的特点。而且检测设备机动性差、配备人员多、费用支出高,形成庞大的保障阵地和维护场地,严重影响了效能的提高。
发明内容
针对上述问题,本发明创造目的在于,提供一种通用测试接口设备,在保证测试设备功能的前提下,用一个通用的测试接口,可以与设定的多个特定适配器连接,完成对多种电器的测试任务,尽量减少设备的种类,进而降低设备的维护费用,提高效能。同时,本发明创造目的还在于提供一种通用测试***。
为实现上述目的,本发明的技术方案是:一种通用测试接口,包括***控制器、采集控制***,***控制器与仪器控制总线连接在一起,其特征在于,采集控制***包括数字表、AD采集模块、函数发生器、示波器、矩阵开关、直流电源和交流电源诸模块,上述模块通过仪器控制总线连接在一起,上述模块还通过***连线连接有通用测试接口,通用测试接口提供通用的、标准的电气接口,其中的各接口连接至采集控制***的测试/激励端口和矩阵开关端口,通用测试接口在电气和机械上都进行相应的设定,用于与完成不同任务的适配器进行通用的电气和机械对接。
通用测试接口根据信号类型的不同,可选用普通孔、微同轴孔、同轴孔类不同的接触孔形式,同时对每个接触孔代表何种***资源进行电气规定。
所述的仪器控制总线是标准的PXI、VXI、GPIB、Serial或PC_DAQ(即PC插卡)仪器控制总线。
同时,本发明的一种通用测试***,包括***控制器、采集控制***,***控制器与仪器控制总线连接在一起,其特征在于,采集控制***包括数字表、AD采集模块、函数发生器、示波器、矩阵开关、直流电源和交流电源诸模块,上述模块通过仪器控制总线连接在一起,上述模块还通过***连线连接有通用测试接口,通用测试接口提供通用的、标准的电气接口,其中的各接口连接至采集控制***的测试/激励端口和矩阵开关端口,通用测试接口在电气和机械上都进行相应的设定,用于与完成不同任务的适配器进行通用的电气和机械对接,通用测试接口上可更换地连接有完成不同任务的不同的适配器。
通用测试接口根据信号类型的不同,可选用普通孔、微同轴孔、同轴孔类不同的接触孔形式,同时对每个接触孔代表何种***资源进行电气规定。
所述的仪器控制总线是标准的PXI、VXI、GPIB、Serial或PC_DAQ(即PC插卡)仪器控制总线。
不同的适配器实现不同的诸如供电、信号调理、阻抗匹配、电平转换、信号连线类功能的任务。
本发明的通用型检测接口及其***以全功能集成的采集控制***为基础,以模块化***资源为平台,通过更换适配器实现对多个不同的测试对象进行检测,专用适配器与检测***通过通用测试接口衔接,完成不同的测试任务。通用检测***具有以下优点:1.可扩展,增加UUT时,增加相应的专用适配器及其电缆即可。2.可剪裁,可根据需要选配专用适配器,实现***的积木化组合方式。3.降低成本,由于实现了通用化设计,同一个***可对多个测试对象进行测试,在功能上相当于原有多个专用设备的功能,大大降低了设备成本;对用户来说,由于使用维护人员的减少,也大大减少了使用费用。随着技术和市场的发展,通用检测***势必成为最经济、最实用的测试***。种类繁多的电气产品必须经过检测才能出厂,通用测试接口有着广阔的市场,在家电、通讯等行业得到广泛应用。
附图说明
图1为本发明的通用检测***的组成示意图;
图2开关模块用法示意图;
图3为通用测试接口外形图。
具体实施方式
如图1、2、3所示,图1中,通用检测***的采集控制***负责提供信号激励、信号测量、信号控制、供电、信号切换等功能。采集控制***可以是目前流行的所有仪器控制总线PXI、VXI、GPIB、Serial和PC_DAQ(即PC插卡)等。
图1中,ICA即为通用测试接口。其功能是提供通用的、标准的电气接口,这些接口连接至采集控制***的测试/激励端口和矩阵开关端口。通用测试接口在电气和机械上都进行相应的详细设定,作为一个规范约束ITA/适配器的设计。
适配器是与UUT单元相对应的部件,它用来进行测试仪器和UUT单元之间的电气匹配,实现例如供电、信号调理、阻抗匹配、电平转换、信号连线等功能。
与适配器一端固连的ITA与固定在VXI机箱上的ICA进行电气和机械连接,适配器另一端的UUT插头与UUT单元进行电气和机械连接。当更换UUT单元时,则需更换与此相对应的适配器即可。
图1中,数字表、AD采集模块、示波器作为通用仪器在***中完成电压、电流、频率、时间、波形等参数的测量、分析功能。
函数发生器可以输出激励信号。
当有多路非同时的信号需测量时,可以使用矩阵开关模块分时切换到不同的测量仪器进行测量。
图2是一个4行16列(4×16)的矩阵开关示意图。在时刻1需要用仪器2测量信号1,则只需将图中(col1,row2)的开关闭合,即可将信号1连接至测量仪器2;同样,若需要用仪器4测量信号14,需将(col14,row4)的开关闭合。注意,在同一行(row)上,只能同时闭合一个开关;而在同一列(col)上,可以同时闭合最多4个开关。图中的仪器可以是数字表、示波器的一个通道、函数发生器等。
若将行(row)接上不同的电压,开关模块还可以输出指令信号:+12V,+5V,+27V等,作为控制指令输出。这些指令应是对时间要求不严格的场合,比如从主机发出指令到被控对象接收到指令,可以有几十ms的延时。
对时间要求苛刻的命令信号,可以用IO模块输出。
若有多路信号需同时进行测量,则可用AD采集模块和IO模块。通用测试接口的外形示意见图3。它采用标准19英寸上架结构,9025系列“模”(module)。根据信号类型的不同,选用不同的接触孔形式:普通孔、微同轴孔、同轴孔;同时对每个接触孔进行电气规定:代表何种***资源。
图3所示的通用测试接口是以VXI***为中心进行组建的,采用13槽的VXI机箱。它不但提供了通用仪器等测试资源,还有若干专用模块。这些专用模块针对特定的测试任务完成某些特定功能。图中每一竖列称为“模”,模的排列与VXI模块的分布是对应的。除数字表、通用仪器外,其他VXI模块与通用测试接口之间是预连接器方式连接,即硬连接。当***需要进行扩充时可以作为整体更换VXI模块及其前端的预连接器。
应用例1:手机测试
手机电路板检测需要用到函数发生器、示波器、计数器、开关模块、数字表等资源:函数发生器产生交流信号,模拟语音信号,输入电路板,用示波器、计数器等通用仪器观测电路板的输出波形是否正常;用开关模块发出指令,模拟开机、关机、电池正常工作、电池耗尽等状态,用数字表检测电路板的输出响应是否满足设计要求等。
应用例2:电视机测试
电视机电路板测试用到示波器、数字表、开关模块、专用模块等资源:专用模块用来产生电视传输的视频、音频信号,输入到电路板上,用示波器、数字表等观测电路各测试点的波形是否为设计状态;同时用开关模块切入各种指令信号(包括遥控指令和硬开机、硬关机指令),检测电路的输出响应是否正常等。
最后所应说明的是:以上实施例仅用以说明而非限制本发明的技术方案,尽管参照上述实施例对本发明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解:依然可以对本发明进行修改或者等同替换,而不脱离本发明的精神和范围的任何修改或局部替换,其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。
Claims (7)
1、一种通用测试接口设备,包括***控制器、采集控制***,***控制器与仪器控制总线连接在一起,其特征在于,采集控制***包括数字表、AD采集模块、函数发生器、示波器、矩阵开关、直流电源和交流电源诸模块,上述模块通过仪器控制总线连接在一起,上述模块还通过***连线连接有通用测试接口,通用测试接口提供通用的、标准的电气接口,其中的各接口连接至采集控制***的测试/激励端口和矩阵开关端口,通用测试接口在电气和机械上都进行相应的设定,用于与完成不同任务的适配器进行通用的电气和机械对接。
2、根据权利要求1所述的通用测试接口设备,其特征在于,通用测试接口根据信号类型的不同,可选用普通孔、微同轴孔、同轴孔类不同的接触孔形式,同时对每个接触孔代表何种***资源进行电气规定。
3、根据权利要求1或2所述的通用测试接口设备,其特征在于,所述的仪器控制总线是标准的PXI、VXI、GPIB、Serial或PC_DAQ(即PC插卡)仪器控制总线。
4、一种通用测试***,包括***控制器、采集控制***,***控制器与仪器控制总线连接在一起,其特征在于,采集控制***包括数字表、AD采集模块、函数发生器、示波器、矩阵开关、直流电源和交流电源诸模块,上述模块通过仪器控制总线连接在一起,上述模块还通过***连线连接有通用测试接口,通用测试接口提供通用的、标准的电气接口,其中的各接口连接至采集控制***的测试/激励端口和矩阵开关端口,通用测试接口在电气和机械上都进行相应的设定,用于与完成不同任务的适配器进行通用的电气和机械对接,通用测试接口上可更换地连接有完成不同任务的不同的适配器。
5、根据权利要求4所述的通用测试***,其特征在于,通用测试接口根据信号类型的不同,可选用普通孔、微同轴孔、同轴孔类不同的接触孔形式,同时对每个接触孔代表何种***资源进行电气规定。
6、根据权利要求4或5所述的通用测试***,其特征在于,所述的仪器控制总线是标准的PXI、VXI、GPIB、Serial或PC_DAQ(即PC插卡)仪器控制总线。
7、根据权利要求6所述的通用测试***,其特征在于,不同的适配器实现不同的诸如供电、信号调理、阻抗匹配、电平转换、信号连线类功能的任务。
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