CN1912632A - 电路板测试装置 - Google Patents

Abstract

一种电路板测试装置，由一置有万用密度板的底座及一针板组成，在万用密度板与针板之间设置：第一密度板、电路转换板及第二密度板。该第一密度板上均匀分布有复数个导电组件，以对应于万用密度板上较大中心距的导电组件；该第二密度板则是垫设于针板下方，其上均匀分布有复数个较小中心距的导电组件，以配合对应于针板上的探针位置；电路转换板是设于该第一、二密度板之间，在其一侧面设有密集分布的密接触点可完全对应于第二密度板的各导电组件，另一侧面则设有较疏松排列的疏接触点，以完全对应于第一密度板的各导电组件，而各对应的密、疏接触点间以导电铜箔线路相连，利用该电路转换板将原本密集的待测试中心距适当放大，可有效降低测试成本。

Description

电路板测试装置

技术领域

本发明是有关于电路板测试装置，特别是指一种使用便利、可适用于各种不同电路板测试且可有效降低测试成本的测试装置的结构。

背景技术

现有的电路板测试装置的结构，如图1-图3所示，图1是现有电路板测试装置的结构分解图，图2是现有电路板测试装置的组合外观图，图3是现有电路板测试装置的组合剖面图，其主要是由一底座20及一针板3所组成，于该底座20的一旁侧设有一万用密度板21，且其内设有复数个贯穿顶、底二侧的导电组件211，并使各导电组件211经由导线连接至万用密度板21旁侧预设的复数个测试插槽22，可供插接各测试仪器的插头，针板3是依一预设待测电路板4的电路上待测试的点而设有复数个贯穿顶、底二侧的探针31；使该针板3固定于万用密度板21上定位，则可使探针31与对应的导电组件211形成一导通，而该待测电路板4则可固定于针板3上，利用各探针31接触待测电路板4上的待测试点，经由各导电组件211至测试插槽22输出至测试仪器而可形成一测试回路。

然而，上述的电路板测试装置在应用上有下列缺点：

1.由于万用密度板21是于表面遍布纵横等中心距的导电组件211，而该针板3的探针31是依待测电路板4上的各待测试点位置而定，因此，该万用密度板21的选用是依待测电路板4的最小待测试点(即探针31)间距而定，如此一来，万用密度板21上其余大多数未与探针31接触的导电组件211皆未被使用而形成浪费，并不符合经济效益。

2.由于万用密度板21上各导电组件211密度设定是依针板3的探针31间距而定，而该针板3的探针31则随待测电路板4不同而改变，因此，测试各不同待测电路板4的测试装置无法共享，而必须依各不同待测电路板4设计各适用的的测试装置，不但增加产品开发过程，亦增加测试的成本。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有的电路板测试装置所存在的上述缺点，提供一种可适用于各种不同电路板测试并能够降低装置设备的开发费用及测试成本、提升测试效率的新颖的电路板测试装置。

本发明的目的是这样实现的：

本发明提供的一种电路板测试装置，由一置有万用密度板的底座及一针板组成，其中在所述万用密度板与针板之间设置下述部件：一第一密度板，定位于所述底座的万用密度板上方，表面均匀分布有复数个贯通的导电组件，各导电组件可对应于所述底座的万用密度板上预设的复数个导电组件，且所述万用密度板的各导电组件可经导线衔接至测试插槽，以供预设的插头插接而连接至各测试仪器；一第二密度板，定位于所述针板的下方，表面均匀分布有复数个贯通的导电组件，各导电组件可完全承接所述针板上预设的探针；一电路转换板，设于所述第一、二密度板之间，所述电路转换板的二表侧分别设有中心距较小的密接触点及中心距较大的疏接触点，可分别接触导通所述第二、一密度板的各对应导电组件，且各对应的密、疏接触点间以导电铜箔线路相连，使所述原本密集的第二密度板各导电元件中心距可适当放大成较疏松排列的第一密度板各导电组件中心距。

本发明主要是以一第二密度板垫设于针板下方，且该第二密度板上具有极小中心距的导电组件，可完全接触于该针板上预设测试待测电路板的探针，而于底座的万用密度板上方设有一第一密度板，该第一密度板上具有对应于万用密度板上导电组件较大中心距的导电组件，而于该第一、二密度板之间则设有一电路转换板，于该电路转换板的二表侧分别设有密集分布且可对应于第二密度板上各导电组件的密接触点，及较疏松排列可对应于第一密度板上各导电组件的疏接触点，且各对应的密、疏接触点间以导电铜箔线路相连，利用该电路转换板将原本密集的待测试中心距适当放大，且各待测电路板皆可共享，其于测试不同待测电路板时，仅需更换相对应的针板即可，而无需变更其它结构及设计，可有效降低测试装置变换的成本及时间，此为本发明的主要目的。

本发明的效果：

由上述可知，本发明的电路板测试装置可适用于各种不同电路板测试，确实具有降低装置设备的开发费用及测试成本、提升测试效率的功效，确已具有产业上的利用性。

为进一步说明本发明的上述目的、结构特点和效果，以下将结合附图对本发明进行详细的描述。

附图说明

图1是现有电路板测试装置的结构分解图。

图2是现有电路板测试装置的组合外观图。

图3是现有电路板测试装置的组合剖面图。

图4是本发明电路转换板的构造示意图。

图5是本发明电路转换板的部份放大构造示意图。

图6是本发明的构造分解图。

图7是本发明的组合外观图。

图8是本发明的组合平面剖视图。

附图中主要组件的符号说明：

1.....电路转换板

11....密接触点

12....疏接触点

2、20....底座

21....万用密度板

22....测试插槽

23....第一密度板

211、231、301...导电组件

3.....针板

31....探针

30....第二密度板

4.....待测电路板

a、A.....中心距

具体实施方式

下面结合附图，对本发明的电路板测试装置的实施方式进行详细说明。参见图4，图4是本发明电路转换板的构造示意图，由其参照图5的部份放大构造示意图，可知该电路转接板1的二表侧分别设有复数个密接触点11及疏接触点12，该密接触点11是完全对应于针板3上的探针31，因此具有较小的中心距a而呈较密集的分布，而该疏接触点12是完全对应于该底座2上万用密度板21的导电组件211，因此具有较大的中心距A而呈较疏松的排列，而该电路转接板1各对应位置的密、疏接触点11、12之间则设有导电铜箔线路加以连接。

图6是本发明的构造分解图，由其参照图7、8的组合外观图及组合平面剖视图，可以很明显地看出，本发明主要包括：一底座2、底座2上设置一万用密度板21及一针板3，在所述的万用密度板21与针板3之间设置第一密度板23、电路转换板1及第二密度板30等部份。其中该第一密度板23定位于所述底座2的万用密度板21上方，该第一密度板23上贯设有纵、横等中心距的导电组件231(可为探针、弹簧或其它衔接的导体)，可分别对应于一底座2上万用密度板21较大中心距的导电组件211，而该第二密度板30上则贯设有纵、横等中心距的导电组件301(可为探针、弹簧或其它衔接的导体)，该导电组件301是配合一与待测电路板4上待测试点接触的针板3上探针31而具有小于上述第一密度板23的导电组件231中心距，而电路转换板1是设于上述第一、二密度板23、30之间，并以其密接触点11接触于第二密度板30的导电组件301而以疏接触点12接触于第一密度板23的导电组件231；使该第一密度板23置于底座2的万用密度板21上，使其导电组件231与万用密度板21的导电组件211接触导通，而第二密度板30是垫设于针板3下方定位，可使各导电组件301与探针31衔接导通，利用该电路转换板1可将该第二密度板30较小中心距的各导电组件301放大为该第一密度板23较大中心距的各导电组件231，以便于应用中心距较大(成本较低廉)的万用密度板21，且该第二密度板30、电路转换板1、第一密度板23间的组成结构无需随不同待测电路板而变更，其于测试不同待测电路板时，仅需更换相对应的针板3即可，除可降低装置设备的开发费用及测试成本外，亦可简化测试产品变换的作业及时程，提升整体测试作业的效率。

由上所述可知，本发明电路板测试装置结构确实具有降低装置设备的开发费用及测试成本、提升测试效率的功效，确已具有产业上的利用性、新颖性及进步性。

本技术领域中的普通技术人员应当认识到，以上的实施例仅是用来说明本发明，而并非用作为对本发明的限定，只要在本发明的实质精神范围内，对以上所述实施例的变化、变型都将落在本发明权利要求书的范围内。

Claims (3)

1.一种电路板测试装置，由一置有万用密度板的底座及一针板组成，其特征在于所述万用密度板与针板之间设置下述部件：

一第一密度板，定位于所述底座上的万用密度板上方，表面均匀分布有复数个贯通的导电组件，各导电组件可对应于所述底座的万用密度板上预设的复数个导电组件，且所述万用密度板的各导电组件可经导线衔接至测试插槽，以供预设的插头插接而连接至各测试仪器；

一第二密度板，定位于所述针板的下方，表面均匀分布有复数个贯通的导电组件，各导电组件可完全承接所述针板上预设的探针；

一电路转换板，设于所述第一、二密度板之间，所述电路转换板的二表侧分别设有中心距较小的密接触点及中心距较大的疏接触点，可分别接触导通所述第二、一密度板的各对应导电组件，且各对应的密、疏接触点间以导电铜箔线路相连，使所述原本密集的第二密度板各导电元件中心距可适当放大成较疏松排列的第一密度板各导电组件中心距。

2.如权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于所述导电组件是探针。

3.如权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于所述导电组件是弹簧。

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