CN1636245A - 记录数据的设备和方法 - Google Patents

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CN1636245A CNA028232275A CN02823227A CN1636245A CN 1636245 A CN1636245 A CN 1636245A CN A028232275 A CNA028232275 A CN A028232275A CN 02823227 A CN02823227 A CN 02823227A CN 1636245 A CN1636245 A CN 1636245A
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P·伊特斯马
D·哈梅林克
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Koninklijke Philips Electronics NV
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Abstract

本发明提供了一种用于在可改写光学记录介质上记录数据的记录设备。本设备包括用于接收数据的输入装置(27)，用于记录数据的记录装置(21、22、25、28)，用于在所读取的记录数据中发现和纠正误码的检错纠错装置(30)和用于控制数据的记录和读取的控制装置(20)。本记录设备能够对格式化的记录介质进行快速有效的检查，以便调整数据记录策略，进而提高写操作的效率。

Description

记录数据的设备和方法
技术领域
本发明涉及一种用于在可改写光学记录介质上记录数据的记录设备，其中，所述可改写光学记录介质上设有实质上圆的记录轨迹，所述可改写光学记录介质含有放置于记录单元中的被记录数据，所述记录单元包含可寻址的读取单元；该记录设备包括：
-输入装置，用于接收数据；
-记录装置，用于记录数据；
-读取装置，用于读取记录数据；
-纠错装置，用于对所读取的记录数据进行检错和纠错；和
-控制装置，用于控制数据的记录和读取；
本发明进一步涉及用于检查可改写光学记录介质上所存在的缺陷的一种检查方法，以便调整(adapt)数据记录的策略，介质上设有实质上圆的记录轨迹，含有放置于记录单元中的记录数据，所述记录单元包含可寻址的读取单元。
背景技术
上述设备的实施例可从国际专利申请WO 01/22416中得知。该申请所公开的记录设备能够对可改写介质，如CD-RW盘片，进行初始化、格式化及缺陷管理。这使得CD-RW的应用如同高容量的软盘应用一样容易使用，使得文件的即时写或读成为可能。
WO 01/22416中所描述的缺陷管理，可能提供在格式化或读/写操作过程中发现的有关损坏的记录单元的信息，记录单元也称为数据包。该信息存储在盘片中。可是，当盘片存放在驱动器外面时，缺陷(如划痕或指纹)的数量会增加。更糟糕的是，有关这些新缺陷的信息盘片上没有记载。因而，在记录操作中，所有的写步骤不得不跟随在检验步骤之后，这样在很大程度上降低了驱动器的性能。
发明内容
本发明的首要目的就是要提供本文开头一段中所述类型的、能够提供有效记录操作的记录设备。
本发明的首要目的通过以下方式实现：
-设计控制装置，使得可以通过下述步骤，检查介质是否存在缺陷，并调整数据记录的策略：
-通过读取至少一部分记录数据对介质进行扫描；
-确定所读取记录数据的特征；
-根据特征评定(rating)所读取的记录数据是否有缺陷，并且
-根据评定的结果，调整数据记录的策略。
根据本发明的设备，其优点在于利用介质上存储的实际记录数据对介质进行检查，并根据检查的结果调整数据记录策略。
本记录设备的一个实施例中，控制装置设计成可对介质上每一个记录单元中预定数量的读取单元进行扫描。如果记录单元中所包含的任一读取单元被评定为存在缺陷，则在缺陷记录单元列表上列出该记录单元。本实施例的优点在于可容易方便地检测缺陷，该缺陷属于特殊类型的缺陷，被称为直接重写(Direct-Over-Write)(DOW)缺陷。这些缺陷由介质的有限的可能重写(overwrite)的数量造成。读取单元也称为帧。
在本发明记录设备的另一个实施例中，控制装置如此设计：在至少满足以下条件之一的情况下，将所读取的记录数据评定为缺陷数据，
-发现误码并纠错；
-发现误码，没有纠错；
-读取单元的地址中存在误码；
-由于所读取的记录数据存在不一致，纠错装置不起作用。本实施例的优点在于：它为评定被记录数据提供了一个简单而清晰的标准，可以用于有效地检查介质。
在本发明记录设备的另一实施例中，控制装置设计成可进行介质区域的选择，区域也称为区间(zone)，并检查所选择的区域。这种方式有利于提高检查的速度，并且可以在本地进行数据记录策略的调整。
如果控制装置设计成可对包含在所选择区域中预定数量的读取单元进行扫描，并当其中任一读取单元被评定为存在缺陷时，即将所选择的区域列入缺陷区域列表，这种方式是有利的。在这种方式中，检查的速度进一步提升，并创建了一个“粗糙的(coarse)”缺陷列表，它可以用于快速做出有关数据记录策略的决定。
本发明记录设备的又一实施例的特征在于，数据记录策略包括：
-写步骤，包括：将数据记载在记录单元中；和
-写步骤之后的检验步骤，包括：读取在写步骤中记载到记录单元中的记录数据，并将读取到的记录数据与原数据进行比较；
-控制装置设计成可对数据记录策略进行调整，以实现只在至少满足下列条件之一的情况下，才进行检验步骤：
-仍然不结束检查；
-在缺陷记录单元列表中列出记录单元。
本实施例的优点在于：在没有缺陷的单元中写入数据的速度会快很多，这样就改进了记录设备的整体性能。
按以下方式对控制装置进行设计是有益的，使其对包含在缺陷区域列表中列出的区域中的每一个记录单元中的所有读取单元进行扫描；并且如果包含在记录单元中的任一读取单元被评定为存在缺陷，则在缺陷记录单元列表中列出该记录单元。这样能对在“快速”检查中发现的缺陷区域进行更准确的检验。
在本发明记录设备的又一实施例中，控制装置设计成可在介质上两个实质上同心的实质上为圆的记录轨迹之间选择圆环形区域。这种方式使得快速读取记录数据成为可能。
将控制装置设计成可通过检查圆环区域中间的测试记录轨迹来检查圆环形区域是有益的。其优点是能使缺陷的搜索更加有效。
本发明的记录设备的下一个实施例中，控制装置设计成实质上相隔200μm检查测试记录轨迹。考虑到不能通过标准的纠错装置纠正的预料缺陷尺寸，此实施例是有利的。
另一个有利的实施例中，控制装置设计成可测定介质的记录参数、利用记录参数计算记录轨迹的数量、通过跳过一定数量的记录轨迹方式对读取装置进行定位。通过在检查阶段对读取装置进行快速且准确的定位的方法，本实施例进一步增强了记录操作的性能。
本发明记录设备的又一实施例的特征是：将控制装置设计成在记录设备的空闲时间对介质进行检查。其优点是记录设备几乎总是准备着接收读/写命令，这样提高了记录设备的性能。
本发明的第二个目的是提供一种本文开头一段所述的方法，该方法可用于有效地进行记录操作。
本发明的第二个目的通过包括以下步骤的方法实现的：
-通过读取至少一部分记录数据对介质进行扫描；
-确定所读取的记录数据的特征；
-根据特征评定所读取的记录数据为有缺陷数据；
-根据评定的结果，调整数据记录的策略。
附图说明
本发明的设备和方法的这些方面和其它方面将结合附图做进一步说明和描述，其中：
图1所示为记录装置的一个实施例；
图2所示为可改写光学记录介质中一部分的图解平面视图；
图3所示为检查介质是否存在缺陷的方法以便调整数据记录策略的
实施例；
图4所示为本发明方法的实施例，其中对介质上的全部数据包进行扫描；
图5所示为本发明方法的实施例，其中对介质上所选择区域中的预定数量的帧进行扫描；
图6所示为本发明方法的实施例，其中对缺陷区域列表中列出的区域的全部帧进行扫描。
具体实施方式
图1所示为本发明记录设备的一个实施例，用于在可改写光学记录介质11上记录数据。图1中的设备拥有用于在光学记录介质的记录轨迹上记录数据的记录装置(21、22、25、28)，该装置包括用于旋转光学记录介质11的驱动单元21、读/写头22(head)、用于读/写头22在记录轨迹径向的粗定位的定位单元25、写处理装置28。读/写头22包括 公知类型的光学***，该光学***用于产生辐射束24，通过光学元件引导辐射束，在光学记录介质的信息层的轨迹上聚焦成辐射斑点23。辐射束24由辐射源产生，如由激光二极管产生。读/写头还包括(图中未示出)：聚焦激励器(actuator)，用于将辐射束24的焦点顺着所述束的光轴移动；跟踪激励器，用于将光斑23精细定位于轨迹中心的径向上。跟踪激励器可以包括线圈，用于径向移动光学元件，或者，被设置成用于变换反射元件的角度。
对于信息写入操作，控制辐射束使其在介质的记录层产生光学可检测的标记。写处理装置28对从输入装置27接收到的信息进行处理，产生写信号，驱动读/写头22。写处理装置28可以包括格式化器和调制器。注意，对于计算机应用，主机可以直接与写处理装置28连接。因此数据接口既可以设在设备里(例如消费视频播放机)，也可以设置在设备的外部(例如PC机的***设备)
对于读取操作，被介质的信息层反射出来的辐射束，被读/写头22上的通常类型检测器——例如四象限二极管，检测到，从而产生一个读取信号，作为更进一步的检测器信号，包括跟踪误码和聚焦误码信号用于控制所述的跟踪和聚焦激励器。读取信号通过通常类型的读处理单元30进行处理以重现信息，所述读处理单元30包括解调器、去格式器、和输出单元。因此用于读取信息的读取装置(21、22、25、30)包括驱动单元21、读/写头22、定位单元25和读处理单元30。控制单元20控制信息的记录和读取，可以设置成接收来自用户或来自主机的命令。控制单元20通过控制线26——例如***总线，与所述的输入装置27、写处理装置28、读处理单元30、驱动单元21及定位单元25连接。控制单元20包括控制电路，例如微处理器、程序存储器和控制栅，用于完成本发明如下所述的处理程序和功能。控制单元20也可以由逻辑电路中的状态机器来实现。输入装置27对输入数据进行处理，该输入数据传送到写处理装置28用于增加控制数据和按照文件管理***对数据进行格式化。此外，格式化的数据被例如信道编码器调制，产生一调制信号，驱动读/写头22。另外，写处理装置可以包括同步装置，使调制后的信号里包括同步模式。格式化的数据单元包括地址信息，并在控制单元20的控制下，写入光学记录介质上相应的可寻址的位置。控制单元20设置成记录和重现指示被记录信息卷位置的位置数据。在写操作期间，在光学记录介质上生成代表这类信息的标记。这些标记可以是任何光可读形式的，例如，当记录层是染料、合金或相变材料时，以反射系数与其周围不同的区域形式；或者当记录层是磁光材料时，以磁化方向与周围不同的区域形式。用于在光盘上进行记录的操作的信息的写入和读取，及可用的格式化、纠错和信道编码规则都是业内公知的技术，如来自CD***。标记可以借助于来自激光二极管的电磁辐射波束24在记录层产生的斑点形成。
由控制单元20对光学记录介质11进行检查。它必须查明光学记录介质上的缺陷。控制单元20通过读取光学记录介质上的记录数据进行缺陷扫描，并采集在所读取的帧上发现的误码信息。在写操作过程中，控制单元20利用这一信息调整数据记录的策略。读处理单元30包括纠错装置，用于对所读数据进行误码检错纠错。这些装置采用纠错程序——如循环冗余校验，进行纠错。控制单元20根据采集到的在帧中发现的误码信息，评定所读取的帧是否存在缺陷。对不可靠的帧不进行校验。例如，对链接顺序部分不进行校验，对其认可并跳过。这样保证在检查中避免增加由于对链接顺序进行校验而出现的假缺陷。
本发明记录设备的一个实施例是这样实现的，调整控制单元20使其采用下面的标准来识别缺陷帧：
-已执行纠错程序并且成功；
-已执行纠错程序但未成功；
-包含帧地址的帧头遭损坏；
-帧地址包括“不可能”的数据，它写入正确，但其值是错的；
-由于数据存在矛盾，纠错装置不起作用；
只要满足以上条件中的一条，这个帧即评定为存在缺陷。应当注意，还可以使用别的不同标准来评定所读取的帧是否存在缺陷。
本发明记录设备的另一个实施例是这样实现的：通过调整控制单元20，选择介质的区域并对所选择的区域进行检查。
控制单元20可以进一步地调整，对所选择区域中的预定数量的帧进行扫描。如果所选区域中任一所读取的帧被评定为存在缺陷，则整个区域可认为是缺陷的，控制单元采集这类区域的信息。
检查的结果对数据记录策略是重要的。它包括：
-写步骤，包括将数据记载到记录单元中；和
-写步骤之后的检验步骤，包括读取写步骤所记录的数据，并将所记录的数据与原数据进行比较。
在本发明记录设备的另一实施例中，对控制单元20进行调整，使得当将要写入数据的区域已经扫描并查明没有缺陷时，不经检验步骤就执行写命令。
一个有利的方式是调整控制单元20，使其可以执行两种检查：快速扫描和精细扫描。例如，快速扫描从备用区域起点开始沿盘片的半径越过一预定的距离直到盘片边缘。在每一扫描位置，对一条测试记录轨迹进行检查。这一检查是通过读取轨迹上的全部帧来完成的。用这种方式，检查环形区间——位于两个测试记录轨迹之间、与区间中间的特定测试记录轨迹相邻的区域，如图2所示。快速扫描用于查找大的缺陷如划痕、污点及指纹等。鉴于所预料的缺陷的尺寸，当其不能由标准的纠错装置进行纠错，则两个连续的测试记录轨迹之间最佳间隔为200μm。
控制单元20可以进行修改，所以在快速扫描期间发现缺陷的区间，可以通过读取属于缺陷区间的数据包中全部的帧来进行检验。如果一特定数据包中的所读取的帧中的任一帧被评定为存在缺陷，则认为整个数据包存在缺陷。控制单元20对所发现的存在缺陷的数据包的有关信息进行采集。
精细扫描的操作与快速扫描不同。其目标是通过在每数据包中至少读取一帧，对每个数据包进行检查。其目的是发现DOW问题。记录设备只有将数据包分解才能写入，所以写入的数量对数据包中每一帧都是相同的。如果存在DOW问题，在数据包的全部帧中都应当出现。这是精细扫描的根本之处。例如，精细扫描从备用区域的第一个数据包开始，向前经过下一数据包直到介质的边缘。每次精细扫描在每个数据包中至少读取一帧，测定当前数据包是否存在缺陷。如果存在缺陷，控制单元20采集当前数据包的有关信息。
在本发明记录设备的另一实施例中，调整控制单元20，使得当要在其中写入数据的数据包没被控制单元指出存在缺陷，并且检查已完成的情况下，写命令的执行不经检验步骤。
应当注意，控制单元20能够执行快速扫描(quick scan)和快扫描(fast scan)，当作两种检查过程或一次检查的两阶段，这种检查的优点是能够提供相当详细且快速的有关介质缺陷的信息。
用户希望介质***记录设备后即可使用。因此为利于实现这点，在另一实施例中，对控制单元20进行调整，使得在检查介质期间，处理紧急的命令，即所有的访问命令将使检查程序中断，以便尽可能快地访问介质。之后再进行数据的写入和检验。执行完访问命令后，中断的检查程序将会再继续进行。
本发明记录设备的又一实施例可以通过以下方式实现，调整控制单元20，使记录设备在进行介质检查前一段时间处于空闲状态。空闲时间最好为4秒，因而无论是***介质后开始的第一次检查，还是中断后再继续的检查都只能当空闲时间已经过去后才执行。这样可以避免在检查和命令执行之间进行频繁地转换。
检查过程必须比读取过程快很多，否则对缺陷的检查就需在驱动器的静止状态下进行后台读取。有可能通过下述方式实现如此快速的检查：
-将驱动器的速度提高到最大读取速度(如32倍速)，并尽可能快地读取所有的介质数据，或通过
-运用一种非常快的特殊的算法，这种算法不采用通常的(及慢速的)驱动查找措施，但是它足够精确以至于允许访问介质上的所有数据包。
第一种可能性不能用于检查，因为它必须在记录设备的空闲时间进行。可是一旦用户发出读取或写入命令，它即会中断。在此情况下，例如主机将必须等待，直到盘片的旋转速度降低到所需的读取速度。选择的读取速度与写入速度相同，因而该选择取决于盘片的特征。选取相同的写入和读取速度的原因是要避免在读、写命令之间不断地改变速度。在命令执行前，主机每次都会等待设备。
在检查过程中读/写头22的位置由控制单元20进行控制。为此目的，控制单元20可以采用一个包含光学记录介质11上的位置地址的地址列表，读/写头将由会“访问”这些地址。这些地址可以使用盘片和轨迹的几何形状的静态模型计算出来。该模型用绝对时间界定盘片上的位置(取决于当前的半径)。这个时间可以转换成如MSF地址，如已知的CD-ROM标准。从列表中查找MSF地址，即可确定读/写头的位置。
可以调整控制单元20以利于使用更精确的模型计算光学记录介质上的位置。由于允许盘片有大的机械公差，每一张盘片在轨迹的开始处的半径、轨迹之间的距离、轨迹斜度等方面可能有轻微不同。考虑到所有可能出现的情况，只有一种方法可以对所有的盘片提供相同一致的伺服：即使用从盘片***设备后的校准过程中获得的实际的盘片参数。比特引擎数据结构(Bit Engine data structures)原理中对该方法有细节阐述，因而其结果是使用比特引擎函数(Bit Engine data)进行计算。
另一种有利于提高检查速度的方法是调整控制单元20，使其采用跳过凹槽的方式来替代查找MSF地址的方式，从而对读/写头进行定位。因而，实际方法的是：从光学记录介质的已知位置处(例如，备用区域的开始处)开始，沿所有的备用区和数据区跳过所需的距离。该距离(例如，对于快速扫描是一个区间，对于精细扫描是一个数据包)使用实际的光学记录介质参数和计算程序，由凹槽的数量来表示。
要跳过的凹槽的数量按以下方法估算：
-将读/写头定位在已知位置；
-从列表中得知下一个扫描位置的地址；
-控制单元20使用地址和实际光学记录介质参数两种数据对凹槽的数量进行计算；
-读/写头跳越过计算得出的凹槽的数量，控制单元20检查当前地址是否是所需的地址；
-如果是，检查是否存在缺陷，否则再进行另外的尝试。
在实际的扫描位置(跳越后)进行读取，可以得到实际的地址，此地址数据可以提供给下一步的运算以计算出下一个位置。同样的算法可以用于快速扫描和精细扫描。通过查找MSF地址的方式对已知位置(地址)进行第一次(初始)设定。
对于读取速度为8倍速的扫描，这种算法效果较好，但发现对于读取速度为4倍速的精细扫描这种算法的效果还好很多。这是弥补的作用，比特引擎函数用弥补方式保证当前查找到的位置不被跳过。先前的算法(跳过凹槽找到下一个数据包)效果好，可是在更高的速度时，为找到下一个扫描位置，需要进行多次尝试。这样比起4倍速扫描，8倍速的扫描将花费更多时间。
本发明记录设备的又一实施例按以下方式实现，调整控制单元20，使其只有当介质的格式化完成后，才对介质进行检查，即以CD-ROM兼容的方式。万一介质的格式化不完全，则有对其重新进行格式化的可能。假定介质已***驱动器，主机发出格式化命令，在这种情况下，就不会执行检查。当介质被完全格式化，就无需对其进行检查，因为在格式确认期间，可以查找到所有的缺陷。另一方面，当已经格式化的介质被***到记录设备中时，设备正忙于读取或/和写入，直到记录设备进入空闲状态，才会开始检查。
图2所示为可改写光学记录介质11其中一部分的俯视(平面)图。这类介质可以是CD-RW或CD+RW、或称为蓝辐射束盘片(BD)的采用蓝色激光的高密度可改写盘片。光学记录介质11设有多个实质上圆的记录轨迹12。为说明本发明，图2所示的记录介质11上示出2个由于划痕引起的盘片缺陷13和14。
第一划痕13的尺寸较小。因而，由划痕13造成的记录轨迹12的破坏、受到影响的轨迹长度较小，受第一划痕13影响的轨迹数量也相对较小。
CD-RW，DVD+RW和特殊的BD***都采用了强大的纠错机制，所以它们对于较小轨迹长度上出现的误码有实质上的免疫力。只有当受到影响的轨迹长度变得较大以至该纠错机制不能够纠正时，才会产生记录误码。以较大划痕缺陷14来说明此情况，从图2可以明显看出受较大划痕14影响的记录轨迹12的数量比受较小划痕13影响的记录轨迹的数量要多。根据本发明，记录轨迹12的测试是通过读取在先记录包括格式化过程中记录的数据来进行的。在个别实施例中，建议只检查有限数量的光学记录介质11的记录轨迹，将被检查的轨迹称为“测试记录轨迹”。图2以较粗的线条15示出了其中一些测试轨迹。划痕14可以通过快速扫描查找，缺陷区间16可以通过扫描属于它的所有数据帧来进行详细检查。连续的测试轨迹15之间分开预定的距离D。在下面的叙述中，作为举例，假设D为200μm。当然，很明显，对于本领域普通技术人员来说，D可以选择任何其它合适的值。
图3所示为根据本发明，检查写有数据的可改写光学记录介质的方法的实施例。该方法包括四个主要步骤。在步骤101中，通过至少读取所记录数据的一部分，对介质进行扫描。之后在步骤102中对所读取的记录数据进行特性测定。这是通过分析所读取的记录数据的不同特性来进行的，但是对数据的结构、及检错纠错结果的分析更可取。在下一步骤103中，根据步骤102测定的特性对所读取的记录数据进行评定。该评定用于查明数据是否存在缺陷。在评定数据是否存在缺陷时，有不同的标准可以应用。所述缺陷，是指数据的错误结构或由检错纠错程序报告的错误。评定的结果用于调整数据记录的策略，这是步骤104的工作。
图4所示为检查记录介质的方法的另一实施例。在该实施例中，要对介质上的全部数据包进行检查。这是为了查找DOW缺陷。在步骤201中对数据包中预定数量的帧进行扫描。这些数据帧的特性在步骤202中进行测定，在步骤203中进行缺陷评定。在步骤204中，检查是否有任何数据帧被评定为包含有缺陷数据。如果有，则在下一步骤205中，将包含这些帧的数据包在缺陷数据包列表中列出。在步骤206中查询是否有更多的数据包要进行检查。如果有更多的这种数据包，回到步骤201对下一数据包进行分析。步骤207中对数据记录策略进行调整。应当注意，这一步骤也可以在完成对所有数据包的检查之前进行，如208中所示出的。
在检查记录介质的方法的另一实施例中，在步骤201中只对数据包中的一个数据帧进行扫描。
检查记录介质的方法的又一实施例是这样实现的：使用一种在所读取的记录数据中进行检错纠错的装置，只要满足下列条件之一，则将数据评定为缺陷数据(在步骤103、203、303或403中)：
-发现误码并已纠正；
-发现误码但未纠正；
-误码存在于帧的地址中；
-数据存在矛盾，检错纠错装置不起作用。
还有另一个本发明检查记录介质的方法的实施例，通过选择介质的区域并在所选的区域进行检查。
图5所示检查记录介质的方法的一个实施例，其中，在步骤301中对介质上的选定的区域上的预定数量的数据帧进行扫描。在步骤302对数据帧的特性进行测定，并在步骤303进行缺陷评定。在步骤304中，检查是否有任何数据帧被评定为包含有缺陷数据。如果有，则在下一步骤305中，将包含这些帧的所选的区域在缺陷区域列表中列出。在步骤306中查询是否有更多的区域要进行检查。如果有更多的这种区域，回到步骤301对下一区域进行分析。步骤307中对数据记录策略进行调整。应当注意，这一步骤也可以在完成对所有选择的区域的检查之前进行，如308中所指出的。
数据记录策略可以包括：
-写步骤，包括：将数据记载在记录单元中；和
-写步骤之后的检验步骤，包括：读取在写步骤中记载到记录单元中的记录数据，并将读取到的记录数据与原数据进行比较；
对记录介质的检查方法的有利的另一实施例中，调整数据记录策略，以便当数据即将写入的区域已经扫描并且不包含缺陷时，可以不经检验程序，即执行写命令。
图6所示为记录介质的检查方法的一个实施例。在该实施例中，缺陷区域列表中列出的全部数据帧都要进行检查。在步骤401，对缺陷区域列表中列出的区域中的一个数据帧进行扫描。在步骤402对数据帧的特性进行测定，并在步骤403进行缺陷评定。在步骤404中，检查是否有任何数据帧被评定为包含有缺陷数据。如果有，则在下一步骤405中，将包含这些帧的数据包在缺陷数据包列表中列出。在步骤406中查询是否有更多的数据帧要进行检查。如果有更多的这种数据帧，回到步骤401，对下一数据帧进行分析。步骤407中对数据记录策略进行调整。应当注意，这一步骤也可以在完成对所有数据包的检查之前进行，如408中所示出的。
在记录介质的检查方法的又一实施例中，调整数据记录策略，以便当数据即将写入的数据包未列入缺陷数据包列表中并且已经完成检查，可以不经检验程序，即执行写命令。
记录介质的检查方法的下一实施例的特征在于：所选用于检查的区域是介质上位于两个同心圆环形记录轨迹之间的圆环。
根据本发明记录介质的检查方法的一个实施例，通过扫描圆环形区域中间的测试记录轨迹的方式对所选的用于检查的圆环形区域进行检查。
在另一实施例中，在步骤301中，对包含在所选圆环形区域中间的测试轨迹中的全部数据帧进行扫描。
对于其缺陷的尺寸太大，不能由标准的纠错方式进行纠错的缺陷，记录介质的检查方法的如下实施例的方式是有利的：两个连续的测试记录轨迹之间的间隔为200μm。
记录介质的检查方法的又一实施例的特征在于，步骤101、201、301或401的记录数据的扫描包括定位读取方法子步骤，其定位方法是从预定的地址列表中查找数据帧的地址。
记录介质的检查方法的又一实施例的特征在于，步骤101、201、301或401中的记录数据的扫描，包括定位读取方法子步骤，其定位方法是跳过几个记录轨迹，其中跳过的数量包含在一个预定的位置列表中。
在下述的记录介质的检查方法的优选实施例中，步骤101、201、301或401的记录数据扫描操作包括以下子步骤：
-测定介质的记录参数
-使用记录参数计算记录轨迹的数量
-通过跳过所计算出的记录轨迹的数量，对读取装置进行定位。
记录介质的检查方法的另一有利的实施例中，对方法进行了调整，使得紧凑的命令，在介质的检查期间进行透明地处理，如由自计算机主机发送到记录设备用于执行检查的命令，尽管所有的访问命令都会将检查操作中断，以实现对介质尽可能快的访问。被中断的检查在访问命令执行之后再继续进行。
记录介质的检查方法的另一实施例是这样实现的：当检查操作再次开始前的一段时间，需要记录设备保持在空闲状态。空闲时间的优选设置是4秒，因而，无论是介质***后的第一次开始的检查，或是从中断状态再继续的检查，都只能发生在空闲时间已经过去之后。
尽管本发明借助优选的实施例进行说明的，但是本发明并不局限于这些实施例。对本领域普通技术人员来说，可以对本发明进行各种显而易见的改进，而不超出本发明权利要求的保护范围。进一步theinvention lies in each and every novel feature or combinationof features described above.注意，本发明可以通过通用的处理器执行计算机程序或由指定的硬件或两种硬件的组合，并且在本文中“包括”这个词是开放性的用法，不排除其它未列出的元件和步骤，“一个”这一词限定元件时，不排除多个这种元件的存在，任何参考信息不限制权利要求的范围，“装置”可以由单数或复数项表示，几个“装置”可以由相同类型的硬件项表示。

Claims (34)

1、一种用于在可改写光记录介质上记录数据的记录设备，其中，所述可改写光记录介质上设有实质上是圆的记录轨迹，所述可改写光记录介质包括放置于记录单元中的记录数据，所述记录单元包含可寻址的读取单元；该记录设备包括：
-输入装置，用于接收数据；
-记录装置，用于记录数据；
-读取装置，用于读取记录数据；
-纠错装置，用于发现并纠正所读取的记录数据中的误码；
-控制装置，用于控制数据的记录和读取；
其特征在于：所述控制装置设计成通过执行以下步骤检查介质是否存在缺陷并调整数据记录的策略：
-通过读取至少一部分记录数据对介质进行扫描；
-确定所读取的记录数据的特征；
-根据所述特征评定所读取的记录数据为有缺陷数据，并且
-根据评定的结果，调整数据记录的策略。
2、如权利要求1所述的记录设备，其特征在于：
-控制装置设计成可对介质上每一个记录单元中预定数量的读取单元进行扫描；
-如果记录单元中所包含的任一读取单元被评定为存在缺陷，则在缺陷记录单元列表上列出该记录单元。
3、如权利要求2所述的记录设备，其特征在于：读取单元的预定数量等于1。
4、如权利要求1所述的记录设备，其特征在于：所述控制装置设计成在至少满足以下条件之一的情况下将所读取的记录数据评定为缺陷数据：
-发现误码并纠错；
-发现误码，没有纠错；
-读取单元的地址中存在误码；
-由于所读取的记录数据不一致，不能使用纠错装置。
5、如权利要求1所述的记录设备，其特征在于：所述控制装置设计成选择介质的区域并检查所选的区域。
6、如权利要求5所述的记录设备，其特征在于：所述控制装置设计成对包含在所选择区域中预定数量的读取单元进行扫描，如果任一读取单元被评定为存在缺陷，则在缺陷区域列表中列出该所选择的区域。
7、如权利要求6所述的记录设备，其特征在于：数据记录策略包括：
-写步骤，包括：将数据记载在记录单元中；和
-写步骤之后的检验步骤，包括：读取在写步骤中记载到记录
单元中的数据，并将记录数据与该数据进行比较；
-控制装置设计成可对数据记录策略进行调整，以实现只在至少满足下列条件之一的情况下才进行检验步骤：
-检查没有完成；
-记录单元包含在缺陷区域列表所列出的某一区域中。
8、如权利要求2或6所述的记录设备，其特征在于：
-控制装置设计成可对包含在缺陷区域列表中列出的区域中的每一个记录单元中的所有读取单元进行扫描；并且
-如果包含在记录单元中的任一读取单元被评定为存在缺陷，在缺陷记录单元列表中列出该记录单元，
9、如权利要求8所述的记录设备，其特征在于：数据记录策略包括：
-写步骤，包括将数据记载在记录单元中；和
-写步骤之后的检验步骤，包括：读取在写步骤中记载到记录单元中的记录数据，并将记录数据与该数据进行比较；
-控制装置设计成可对数据记录策略进行调整，以实现只在至少满足下列条件之一的情况下才进行检验步骤：
-检查没有完成；
-在缺陷记录单元列表中列出该记录单元。
10、如权利要求6所述的记录设备，其特征在于：控制装置设计成可在介质上两个实质上同心的实质上为圆的记录轨迹之间选择圆环形区域。
11、如权利要求10所述的记录设备，其特征在于：控制装置设计成可通过检查圆环形区域中间的测试记录轨迹来检查圆环形区域，
12、如权利要求11所述的记录设备，其特征在于：控制装置设计成实质上相隔200μm检查测试记录轨迹。
13、如权利要求11所述的记录设备，其特征在于：控制装置设计成可对沿测试记录轨迹上的基本上所有读取单元进行扫描。
14、如权利要求1所述的记录设备，其特征在于：控制装置设计成可通过从预定的列表中查找读取单元地址的方式对读取装置进行定位。
15、如权利要求1所述的记录设备，其特征在于：控制装置设计成可通过跳过若干数量的记录轨迹对读取装置进行定位，该数量是从预定的列表中读取。
16、如权利要求1所述的记录设备，其特征在于：控制装置设计成确定介质的记录参数、利用记录参数计算若干数量的记录轨迹、通过跳过该若干数量的记录轨迹对读取装置进行定位。
17、如权利要求1所述的记录设备，其特征在于：控制装置设计成在记录设备的空闲时间对介质进行检查。
18、一种用于检查可改写光记录介质是否存在缺陷以便调整数据记录策略的方法，所述介质设有实质上为圆的记录轨迹，包含放置在记录单元中的被记录数据，所述记录单元包含可寻址的读取单元；该方法包括下述步骤：
-通过读取至少一部分记录数据对介质进行扫描；
-确定所读取记录数据的特征；
-根据所述的特征评定所读取的记录数据为缺陷数据；
-根据评定的结果，调整数据记录的策略。
19、如权利要求18所述的方法，其特征在于：
-对介质上每一个记录单元中预定数量的读取单元进行扫描；和
-如果记录单元中所包含的任一读取单元被评定为存在缺陷，则在缺陷记录单元列表上列出该记录单元。
20、如权利要求19所述的方法，其特征在于：所述读取单元的预定的数量等于1。
21、如权利要求18所述的方法，其特征在于：
-在所读取的记录数据中检错并纠错；和
-当至少满足以下条件之一的情况下将所读取的记录数据评定为缺陷数据：
-发现了误码，并纠错误码；
-发现了误码，但没有纠错误码；
-读取单元的地址中存在误码；
-由于所读取的记录数据存在不一致，无法检错误码和纠错误码。
22、如权利要求18所述的方法，其特征在于：对介质上选定的区域进行检查。
23、如权利要求22所述的方法，其特征在于：
-对所选择的区域中的预定数量的读取单元进行扫描；和
-如果任一读取单元被评定为存在缺陷，则在缺陷区域列表在列出所选择的区域。
24、如权利要求23所述的方法，其特征在于：数据记录策略包括：
-写步骤，包括将数据记载在记录单元中；和
-写步骤之后的检验步骤，包括：读取在写步骤中记载到记录单元中的数据，并将记录的数据与该数据进行比较；
-只在至少满足下列条件之一的情况下才进行检验步骤：
-检查没有完成；
-记录单元包含于缺陷区域列表所列出的某一区域中。
25、如权利要求19或23所述的方法，其特征在于：
-对包含在缺陷区域列表中列出的区域中的每一个记录单元中的所有读取单元进行扫描；
-如果包含在记录单元中的任一读取单元被评定为存在缺陷，在缺陷记录单元列表中列出该记录单元，
26、如权利要求25所述的方法，其特征在于：数据记录策略包括：
-写步骤，包括：将数据记载在记录单元中；和
-写步骤之后的检验步骤，包括：读取在写步骤中记载到记录单元中的数据，并将记录数据与该数据进行比较；并且
-只在至少满足下列条件之一的情况下才进行检验步骤：
-检查没有完成；
-该记录单元在缺陷记录单元列表中列出。
27、如权利要求23所述的方法，其特征在于：在介质上两个实质上同心的实质上为圆的记录轨迹之间选择一个圆环形区域。
28、如权利要求27所述的方法，其特征在于：通过检查圆环形区域的中间的测试记录轨迹来检查所述的圆环形区域。
29、如权利要求28所述的方法，其特征在于：检查实质上相隔200μm的测试记录轨迹。
30、如权利要求28所述的方法，其特征在于：扫描沿测试记录轨迹上的实际所有读取单元。
31、如权利要求18所述的方法，其特征在于：通过从预定的列表中查找读取单元的地址对用于读取记录数据的读取装置进行定位。
32、如权利要求18所述的方法，其特征在于：通过跳过若干数量的记录轨迹对用于读取记录数据的读取装置进行定位，该若干数量从预定的列表中读取，。
33、如权利要求18所述的方法，包括：
-测定介质的记录参数；
-利用该记录参数计算若干数量的记录轨迹；和
-通过跳过若干数量的记录轨迹，对用于读取记录数据的读取装置进行定位。
34、如权利要求18所述的方法，其特征在于：在记录设备的空闲时间对介质进行检查。
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