CN1464398A - ***级内存环境测试的方法及装置 - Google Patents

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Abstract

一种***级内存环境测试的方法及装置，主控机控制被测对象操作环境的温度和电压，读取测试信息；该装置包括主控机、高低温老化箱、大功率电源和设置在被测对象上的电压监测端；该主控机与高低温老化箱连接并通信，控制该高低温老化箱的拉偏温度或停机；该主控机与大功率电源连接，控制该大功率电源向被测对象提供测试需要的拉偏电压；该主控机与被测对象连接，获取该被测对象反馈的电压数据，并控制该被测对象的开启或关闭；该被测对象至少包括被测主板及装设在该主板上的内存装置，该被测对象放置在高低温老化箱内，并与大功率电源连接以获得供电；本发明对内存运行环境进行改变，提供了严格的运行环境，验证了内存和***的兼容性能。

Description

***级内存环境测试的方法及装置
技术领域：
本发明涉及一种***级内存环境测试的方法及装置，尤其是一种能够对PC及服务器***进行温度和电压同时进行的***级内存测试装置。属于电子技术领域。
背景技术：
内存是计算机平台的关键部件，是决定整机***稳定性和可靠性最重要的技术因素之一；掌握内存测试技术的关键是能全面完整地分析、测试、验证影响内存正常工作的真正因素，这是开发高性能计算机***必要的技术基础；消除整机因内存原因引起的稳定性、可靠性隐患，提高计算机的质量和性能；用高效和科学的方法，为主板选择成本低并能够稳定可靠工作的内存，加快产品升级，降低整机成本。所有计算机***生产制造厂商都需要***级内存测试平台来提高整机稳定性，降低生产成本，提高计算机性价比。
目前还没有规范、完善的***级内存环境测试平台，不能自动对温度和电压两种环境条件同步调试，不能构建评价***级内存性能的4极限点(CORNER)测试条件。
发明内容：
本发明的目的在于提供一种***级内存环境测试的方法及装置，它为评测内存相对意义上的性能提供有效的工具，对于被测内存能够同时提供电压和温度环境，为满足生产高稳定性和可靠性的PC、服务器提供测试保障。
本发明的又一目的在于提供一种***级内存环境测试的方法及装置，其结构简单，成本较低，并且拉偏电压的大功率电源稳定、可靠性好。
本发明的目的是这样实现的：
一种***级内存环境测试的方法，主控机对被测对象的操作环境温度和电压进行控制，同时读取测试信息。
主控机通过开关电路实现远程自动开启或关闭被测试对象。
所述的被测对象至少包括：被测主板和装设在该主板上的内存及相应的内存测试软件。
所述的主控机通过控制高低温老化箱实现环境温度的控制，被测对象的供电电压的控制是通过大功率程控电源实现的；主控机通过开关电路实现远程自动开启或关闭被测试主板。
一种***级内存环境测试装置，它至少包括：主控机、高低温老化箱、大功率电源和设置在被测对象上的电压监测端；其中，
该主控机与高低温老化箱连接并通信，控制该高低温老化箱的拉偏温度或停机；
该主控机与大功率电源连接，控制该大功率电源向被测对象提供测试需要的拉偏电压；
该主控机与被测对象连接，获取该被测对象反馈的电压数据，并控制该被测对象的开启或关闭；
该被测对象至少包括被测主板及装设在该主板上的内存装置，该被测对象放置在高低温老化箱内，并与大功率电源连接以获得供电。
它还包括用于显示测试数据的示波器，主控机与该示波器连接并向该示波器传送显示数据。
所述的主控机通过模数转换(A/D)卡与设置在高低温老化箱内的温度传感器连接，获取该高低温老化箱的温度变化数据。
所述的主控机通过串行通信接口与高低温老化箱通信，并控制该高低温老化箱温度的改变或停机。所述的高低温老化箱的温度变化范围为-40℃～100℃。
所述的主控机通过模数转换(A/D)卡连接到被测对象的电压监控端，实时采集被测对象工作电压的变化信息。
所述的主控机通过数字输入输出信号连接到该被测对象的开关控制端，控制该被测对象的开或关。
所述的主控机通过模数转换(A/D)卡和数模转换(D/A)卡与大功率电源连接；其中，该大功率电源的输出电压通过模数转换(A/D)卡将电压信号传送给主控机，主控机对大功率电源的调节信号通过数模转换(D/A)卡传送到大功率电源。
所述的主控机通过模数转换(A/D)卡与被测对象的温度传感器连接，采集该被测对象的温度传感器传送的温度信息。
本发明主要应用在内存测试领域，它包括对内存运行环境因素的主要组成部分(温度、电压)进行改变，为***提供最严格的***运行环境，进而验证内存和***的兼容性能。
通过本测试方法测试的***，能够在0℃-55℃的温度条件和3.0V-3.6V的电压条件的变化环境下正常运行。计算机***集成厂商和动态可随机访问存储器(Dynamic Random Access Memory，简称DRAM)生产厂商可以通过本***对采用或者生产的内存产品与选择的主板进行相对意义上的性能评测，这样就能使用户能够采用性能价格比最优的***，作为有效的测试工具，运用本发明测试内存必然将大大提高计算机***的稳定性、可靠性。
附图说明：
图1为本发明测试内存外部构成及设置结构示意图。
图2为本发明温度测试部分的结构示意图。
图3为本发明大功率程控电源部分的结构框图。
图4为本发明电源部分电路原理图。
具体实施方式：
下面结合附图和具体实施方式对本发明做进一步的详细说明。
参见图1和图2，主控机对环境测试平台进行自动控制，本发明的环境测试平台由大功率驱动电源和高低温老化箱共同组成，被测机器的内存连接本发明的采集点，内存测试程序采用的是WinMTA内存测试软件或WinPIE程序，通过运行此程序，可测待测试内存能否稳定、正常工作。其中，主控服务器承担测试平台的全部控制功能。控制环境测试平台，实现自动测试功能。高低温老化箱主要承担温度拉偏功能，是环境测试平台的重要组成部分。大功率驱动电源向安放在高低温老化箱内的主板***供电，并提供测试需要的拉偏电源。具体地，本实施例以2℃/M的速度，实现0℃-65℃的温度拉偏，同时还可实现3.3V电压的±6％的电压拉偏。
另外，本发明还设置一示波器，用于承担信号参数测试部分；不间断电源(UPS)为测试装置的稳定供电电压。
本发明中主控机和高低温老化箱通过串口进行自动通讯；高低温老化箱的温度变化范围为-40℃～100℃。该高低温老化箱实施由主控机设置好的标准温度变化。
高低温老化箱内设有温度传感器，用于监视高低温老化箱是否处于正常工作状态，采集温控箱内的温度信息，它和A/D转换卡连接，以电压的形式反馈给A/D转换卡，通过A/D转换卡将温度信息传送给主控机，由主控机根据反馈信息进行操作。A/D转换卡则对温度传感器采集的温度信息进行模数转换。
被测试对象为装设有内存的被测试主板。由于该被测试主板是放在高低温老化箱内，随着高低温老化箱内的温度的改变，被测试***的温度也随之变化。所以也就考验了被测试***的稳定性和兼容性。
参见图3，主控机通过D/A转换卡控制大功率程控电源，输出可调内存供电电压信号；通过A/D转换卡监视大功率程控电源和被测试主板，观测电压供给状况是否正常。如果不正常，及时关闭被测试主板，避免导致硬件损坏。其中，
D/A转换卡用于进行数模转换，传送主控机的所有控制信息；A/D转换卡用于进行模数转换，将被测试主板的电压、温度信息反馈给主控机，大功率程控电源和被测试主板的运行状况信息也通过该A/D转换卡传送给主控机。
参见图2、3，其中，主控机和大功率驱动电源通过A/D卡、D/A卡进行通讯。主控机通过A/D卡采集***的运行状态信息，观测***是否处于正常的运行状态。通过采集回来的电压信息判断***是否处于正常的供电状态，通过采集回来的温度信息判断高低温老化箱是否处于正常的工作状态。根据采集回来的温度、电压信息通过D/A发出***的控制信息，调整***的供电电压按照4CORNER条件运行，为整个***提供严格的环境测试条件。
主控机和高低温老化箱通过串口进行通讯，高低温老化箱的智能控制器支持串口通讯，主控机可以通过串口对高低温老化箱进行远程开启和关闭操作，对其进行初始化设置，对其温度的变化轨迹进行设定，使其温度的拉偏曲线按照4CORNER条件运行。同时通过串口采集高低温老化箱的运行状态信息观测高低温老化箱是否按照设定的4CORNER条件运行，及时地根据采集回来的故障信息发出***的补救措施，同时记录***的故障信息方便测试人员在测试完毕后观测测试曲线，判断故障原因，进行事后故障分析。
参见图4，大功率程控电源用于按照正常的时序，提供主板上电、下电所需的全部信号以满足被测试***在最大测试配置条件下的功率需求。
其中，主板供电电源的信号至少包括：电源启动好PWR-GD、常供电源5VSB、低使能PS-ON、电源地COM-GND、+3.3VDC、+5VDC、+12VDC、-12VDC。
其中，电源启动好PWR-GD由供电端置高，表示+3.3VDC和+5VDC输出大于电源的低电平。一旦该信号置高，表示变流器中存储了足够的能量，能保证电源可持续地在标准范围内操作；反之，当+3.3VDC或+5VDC电压低于低门限时，或者当供电端被移开一段时间，电源启动好PWR-GD信号被置低。
低使能PS-ON为低电平时则打开电源，否则关断电源。
常供电源5VSB用于在电源关断时提供电能。
大功率程控电源在电路板上，除3.3V和低使能PS-ON外，其它信号都采用直通连接。板上精简3.3V的走线长度，使其在调压板上的延时在ns级。相对于主板上的上电信号POWER_ON有效至+3.3V上电之间的时间，+3.3V上电与+5V上电之间的时间，上电信号POWER_ON信号有效至+3.3V下电之间的时间，不会对主板正常工作造成影响。
本发明通过改变内存的工作环境，来检验内存和被测试***的兼容性和稳定性。温度和电压是影响内存和***正常工作的最主要环境因素，本测试***仅对影响***性能的这两种主要因素进行了测试。
本***的特色是，智能测试，可以处于72小时无人监控状态，能够自动生成测试报告，自动监测被测试***的供电电压和温控箱是否正常工作。
最后所应说明的是，以上实施例仅用以说明而并非限制本发明所描述的技术方案；因此，尽管本说明书参照上述的实施例对本发明已进行了详细的说明，但是，本领域的普通技术人员应当理解，仍然可以对本发明进行修改或者等同地替换；而一切不脱离本发明的精神和范围的技术方案及其改进，其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。

Claims (13)

1、一种***级内存环境测试的方法，其特征在于：主控机对被测对象的操作环境(温度和电压)进行控制，同时读取被测试对象的运行状态信息。
2、根据权利要求1所述的***级内存环境测试的方法，其特征在于：主控机通过开关电路实现远程自动开启或关闭被测试对象。
3、根据权利要求1或2所述的***级内存环境测试的方法，其特征在于：所述的被测对象至少包括：被测主板和装设在该主板上的内存。
4、根据权利要求1或2所述的***级内存环境测试的方法，其特征在于：所述的主控机通过控制高低温老化箱实现环境温度的控制，对被测对象的供电电压的控制是通过大功率程控电源实现的；主控机通过开关电路实现远程自动开启或关闭被测试主板。
5、一种***级内存环境测试装置，其特征在于：它至少包括一主控机、高低温老化箱、大功率电源和设置在被测对象上的电压监测端；其中，
该主控机与高低温老化箱连接并通信，设置控制该高低温老化箱的拉偏温度和开启/关闭状态；
该主控机与大功率电源连接，控制该大功率电源向被测对象提供测试需要的拉偏电压；
该主控机与被测对象连接，获取该被测对象反馈的电压数据，并控制该被测对象的开启或关闭；
该被测对象至少包括被测主板及装设在该主板上的内存装置，该被测对象放置在高低温老化箱内，并与大功率电源连接以获得供电。
6、根据权利要求1所述的***级内存环境测试装置，其特征在于：它还包括用于显示测试数据的示波器，主控机与该示波器连接并向该示波器传送显示数据。
7、根据权利要求1所述的***级内存环境测试装置，其特征在于：所述的主控机通过模数转换(A/D)卡与设置在高低温老化箱内的温度传感器连接，获取该高低温老化箱的温度变化数据。
8、根据权利要求1所述的***级内存环境测试装置，其特征在于：所述的主控机通过串行通信接口与高低温老化箱通信，并控制该高低温老化箱温度的改变或停机。
9、根据权利要求1或7或8所述的***级内存环境测试装置，其特征在于：所述的高低温老化箱的温度变化范围为-40℃～100℃。
10、根据权利要求1所述的***级内存环境测试装置，其特征在于：所述的主控机通过模数转换(A/D)卡连接到被测对象的电压监控端，实时采集被测对象工作电压的变化信息。
11、根据权利要求1所述的***级内存环境测试装置，其特征在于：所述的主控机通过数字输入输出信号连接到该被测对象的开关控制端，控制该被测对象的开或关。
12、根据权利要求1所述的***级内存环境测试装置，其特征在于：所述的主控机通过模数转换(A/D)卡和数模转换(D/A)卡与大功率电源连接；其中，该大功率电源的输出电压通过模数转换(A/D)卡将电压信号传送给主控机，主控机对大功率电源的调节信号通过数模转换(D/A)卡传送到大功率电源。
13、根据权利要求1所述的***级内存环境测试装置，其特征在于：所述的主控机通过模数转换(A/D)卡与被测对象的温度传感器连接，采集该被测对象的温度传感器传送的温度信息。
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