CN117949544A - 一种超声波探伤仪探头压力控制装置 - Google Patents
一种超声波探伤仪探头压力控制装置 Download PDFInfo
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Abstract
本申请涉及超声波检测装置的领域,尤其是涉及一种超声波探伤仪探头压力控制装置,包括:底架;多根固定柱,竖直固定于底架下侧,用于抵触基础面;活动柱,竖直穿接于底架,所述活动柱的下端用于安装探头;弹簧,固定于活动柱与底架之间,用于推动活动柱背离底架运动;第一齿条,竖直固定于活动柱周壁;第一换向齿环,转动设置于底架内,用于与所述第一齿条啮合;第一齿带,竖直转动的设置于底架,上端延伸出底架上侧,受所述第一换向齿环驱动而转动,所述第一齿带上形成刻度。本申请具有提高超声波探伤的准确性和可靠性,确保大型罐体及配件的质量和安全的效果。
Description
技术领域
本申请涉及超声波检测装置的领域,尤其是涉及一种超声波探伤仪探头压力控制装置。
背景技术
当前,在大型罐体及其配件的制造流程中,超声波探伤技术占据了举足轻重的地位。无论是对大型部件进行超声波探伤,还是对钢结构件的焊缝进行质量检测,A型脉冲反射式手工探伤方法都是主流选择。这种方法的核心在于,通过分析缺陷反射波的高度和长度,来评估工件内部缺陷的大小。为了判断工件是否达到质量标准,通常会设定一个基于特定当量缺陷的反射波高度阈值。值得注意的是,施加在探头上的压力大小会直接影响到反射波的高度和长度,从而间接反映出工件内部缺陷的真实情况。因此,在进行超声波探伤时,对探头施加适当且稳定的压力至关重要,以确保准确的缺陷评估和产品质量控制。
在大型罐体及配件的生产过程中,A型脉冲反射式手工超声波探伤扮演着至关重要的角色。然而,这一方法在执行过程中受到多种因素的影响,其中尤以施加在探头上的“压力”大小为甚。为确保探头与工件之间的良好耦合,通常需要对探头施加介于2N至5N之间的压力。值得注意的是,压力大小直接决定了缺陷反射波的高度和长度。当施加的压力增大时,反射波的高度和长度也会随之增加;反之,压力减小,反射波的高度和长度则会相应减小。这一特性使得在实际操作中,即使是面对同一缺陷,不同的操作人员可能会因为施加的压力不同而得出截然不同的判断结果。
在实际探伤操作中,探伤工人往往依赖个人经验和手感来控制施加在探头上的压力,力求使其与灵敏度校验时的压力保持一致。然而,由于每个人的操作手法和感觉都存在差异,这种依赖个人经验和手感的方法在互检、专检或抽检时往往会引发争议。特别是在质量评定界限附近的缺陷上,不同的判断可能会导致截然不同的质量评估结果,从而给生产过程带来极大的不确定性和潜在风险。这一问题亟待解决,以提高超声波探伤的准确性和可靠性,确保大型罐体及配件的质量和安全。
发明内容
为了提高超声波探伤的准确性和可靠性,确保大型罐体及配件的质量和安全,本申请提供一种超声波探伤仪探头压力控制装置。
本申请提供的一种超声模探伤仪探头压力控制装置,采用如下的技术方案:
一种超声波探伤仪探头压力控制装置,包括:
底架;
多根固定柱,竖直固定于底架下侧,用于抵触基础面;
活动柱,竖直穿接于底架,所述活动柱的下端用于安装探头;
弹簧,固定于活动柱与底架之间,用于推动活动柱背离底架运动;
第一齿条,竖直固定于活动柱周壁;
第一换向齿环,转动设置于底架内,用于与所述第一齿条啮合;
第一齿带,竖直转动的设置于底架,上端延伸出底架上侧,受所述第一换向齿环驱动而转动,所述第一齿带上形成刻度。
通过采用上述技术方案,作业时,将装置携带至待测试的位置处,将多根固定柱抵触于背侧工件外侧的基础面,此时安装于活动柱下端的探头,将逐渐的抵触于工件的表面,而由于背侧工件的表面高于其放置的基础面,因此,当多根固定柱完全抵触于基础面时,探头也将推动活动柱向上运动,使探头保持对被测工件的表面的抵触,又由于弹簧的设置,探头还将对工件施加一定的压力,保证探头与工件的抵压,以实现被测工件的探伤,此外,当随活动柱向上运动时,第一齿条随活动柱向上运动,将与位于底架内的第一换向齿环啮合,然后通过第一换向齿环的转动,带动第一齿带转动,此时作业人员可以通过第一齿带,观察活动柱的移动距离并纪录,而当其他人采用同样方法对被测工件进行探伤测试时,只需观察第一齿带上刻度,即可明确其测试高度与前一人测试高度是否相同,如相同,因活动柱的受弹簧推抵至工件表面,此时便可以保证前者与后者测试的外部环境均相同,通过探头对工件测试即可,提高超声波探伤的准确性和可靠性,确保大型罐体及配件的质量和安全。
可选的,还包括:
第一滑架,沿活动柱的径向滑移于所述底架内,所述第一换向齿环以及第一齿带均设置于第一滑架;
第一推簧,固定于底架与第一滑架之间,用于推动第一滑架背离活动柱运动,以使第一齿条脱离第一换向齿环啮合;
转动环,转动设置于底架内,同轴套设于活动柱,所述转动环周壁固定有第一勾爪,所述转动环转动,能够拖动第一换向齿环趋向活动柱方向运动至于所述第一齿条啮合。
通过采用上述技术方案,进行作业前,通过转动环转动带动第一勾爪转动,使第一勾爪勾住第一换向齿环,并随转动环带动勾爪持续转动,推动第一换向轮带动第一滑架趋向活动柱方向运动,直至第一齿条与第一换向齿环啮合,此时便能够随活动柱的运动带动第一尺带运动,而当完成探伤测试后,保持探头对被测工件的抵压,反向转动转动环,使转动环带动第一勾爪逐渐脱离第一换向齿环,第一推簧也将推动滑架背离活动柱运动,直至第一齿条脱离与第一换向齿环的啮合,此时,再取下装置,第一齿带上便会保留先前测试时,活动柱移动距离所代表的刻度数,以便于观察记录。
可选的,还包括:
第一制动块,固定于底架内壁,随所述第一推簧推动第一滑架运动,所述第一制动块能够抵紧于所述第一齿带。
通过采用上述技术方案,当转动转动环,使第一勾爪脱离第一换向齿环时,第一推簧推动滑架背离活动柱运动至第一齿条与第一换向齿环脱离啮合时,第一制动块能够抵触于第一齿带,以限制第一齿带自由转动,进而提高第一齿带度数时的准确性。
可选的,所述活动柱与所述转动环竖直滑移连接,以保持所述转动环随所述活动柱同步转动;
所述第一齿条与所述第一勾爪相对设置。
通过采用上述技术方案,转动活动柱即可带动转动环同步旋转,进而带动第一勾爪与第一齿条同步旋转,以便于第一换向齿环与第一齿条的啮合或脱离。
可选的,还包括:
第二齿条,竖直固定于活动柱周壁;
第二滑架,沿活动柱的径向活动设置于活动柱背离第一滑架的一侧;
第二推簧,设置于第二滑架与底架之间,用于推动第二滑架背离活动柱运动;
第二换向齿环,转动设置于第二滑架,用于与第二齿条啮合;
第二齿带,竖直转动的设置于第二滑架,上端延伸出底架上侧,受所述第二换向齿环驱动而转动,所述第二齿带上形成刻度;
第二勾爪,固定于转动环,与所述第二齿条相对设置,所述转动环转动,能够使第一勾爪脱离第一换向齿环,并通过第二勾爪,拖动第二换向齿环趋向活动柱方向运动至于所述第二齿条啮合;
通过采用上述技术方案,当前者完成第一次测试后,保持第一齿条上的刻度不变,后者可以直接以与第一次测试时相反方向旋转第二勾爪,从而使第二勾爪拖动第二换向齿环带动滑架向活动柱方向运动,从而使第二换向齿环与第二齿条啮合,此时,采用装置重复之前测试时,便可以带动第二齿带转动,后一测试者便能够通过第二齿带上刻度的读数直接与第一齿带上的读数进行比对,以确定两次测试时,测试位置、高度等外部条件是否相同,以保证两侧测试的外部标准相同,进而保证测试准确性。
可选的,还包括;
第二制动块,固定于底架内壁,随所述第二推簧推动第二滑架运动,所述第二制动块能够抵紧于所述第二齿带。
通过采用上述技术方案,当转动转动环,使第二勾爪脱离第二换向齿环时,第二推簧推动滑架背离活动柱运动至第二齿条与第二换向齿环脱离啮合时,第二制动块能够抵触于第二齿带,以限制第二齿带自由转动,进而提高第二齿带读数时的准确性。
可选的,所述活动柱位于底架上方位置固定有挡环;
所述挡环抵触于底架上方能够限制活动柱向下运动的极限位置。
通过采用上述技术方案,采用的挡环能够限制活动柱的运动极限位置,避免活动柱脱离底架。
可选的,所述固定柱包括:
套筒,上端固定于底架下侧;
滑柱,同轴滑移于套筒内;
锁定件,设置于套筒,用于限制所述滑柱与套筒的相对位置。
通过采用上述技术方案,根据不同高度的被测工件与其被放置的基础面之间的高度,可以相对于套筒滑移滑柱,再采用锁定件锁定滑柱的位置,以完成调节。
综上所述,本申请包括以下至少一种有益技术效果:
作业时,将装置携带至待测试的位置处,将多根固定柱抵触于背侧工件外侧的基础面,此时安装于活动柱下端的探头,将逐渐的抵触于工件的表面,而由于背侧工件的表面高于其放置的基础面,因此,当多根固定柱完全抵触于基础面时,探头也将推动活动柱向上运动,使探头保持对被测工件的表面的抵触,又由于弹簧的设置,探头还将对工件施加一定的压力,保证探头与工件的抵压,以实现被测工件的探伤,此外,当随活动柱向上运动时,第一齿条随活动柱向上运动,将与位于底架内的第一换向齿环啮合,然后通过第一换向齿环的转动,带动第一齿带转动,此时作业人员可以通过第一齿带,观察活动柱的移动距离并纪录,而当其他人采用同样方法对被测工件进行探伤测试时,只需观察第一齿带上刻度,即可明确其测试高度与前一人测试高度是否相同,如相同,因活动柱的受弹簧推抵至工件表面,此时便可以保证前者与后者测试的外部环境均相同,通过探头对工件测试即可,提高超声波探伤的准确性和可靠性,确保大型罐体及配件的质量和安全。
进行作业前,通过转动环转动带动第一勾爪转动,使第一勾爪勾住第一换向齿环,并随转动环带动勾爪持续转动,推动第一换向轮带动第一滑架趋向活动柱方向运动,直至第一齿条与第一换向齿环啮合,此时便能够随活动柱的运动带动第一尺带运动,而当完成探伤测试后,保持探头对被测工件的抵压,反向转动转动环,使转动环带动第一勾爪逐渐脱离第一换向齿环,第一推簧也将推动滑架背离活动柱运动,直至第一齿条脱离与第一换向齿环的啮合,此时,再取下装置,第一齿带上便会保留先前测试时,活动柱移动距离所代表的刻度数,以便于观察记录。
附图说明
图1是本申请实施例的一种超声波探伤仪探头压力控制装置的整体结构图;
图2是本申请实施例的一种超声波探伤仪探头压力控制装置的侧板结构示意图;
图3是本申请实施例的一种超声波探伤仪探头压力控制装置的底架内部结构剖视图;
图4是图1中A部的放大示意图;
图5是本申请实施例的一种超声波探伤仪探头压力控制装置的转动环结构示意图;
图6是本申请实施例的一种超声波探伤仪探头压力控制装置的第一勾爪作业状态示意图;
图7是本申请实施例的一种超声波探伤仪探头压力控制装置的第二勾爪作业状态示意图。
附图标记说明:1、底架;11、滑槽;12、限位柱;13、第一制动块;14、第二制动块;2、固定柱;21、套筒;22、滑柱;23、锁定螺栓;24、锁定孔;3、活动柱;31、挡环;32、限位槽;33、第一齿条;34、第二齿条;4、安装架;41、探头;42、弹簧;5、第一滑架;51、第一推簧;52、第一齿带;521、第一下带轮;522、第一上带轮;53、第一换向齿环;531、第一环槽;532、第一限制柱;6、第二滑架;61、第二推簧;62、第二齿带;621、第二下带轮;622、第二上带轮;63、第二换向齿环;631、第二环槽;632、第二限制柱;7、侧板;71、支柱;72、滑块;8、转动环;81、环型槽;82、限位块;83、第一勾爪;84、第二勾爪。
具体实施方式
以下结合附图1-图7对本申请作进一步详细说明。
本申请实施例公开一种超声波探伤仪探头压力控制装置。
参照图1,一种超声波探伤仪探头压力控制装置,包括底架1,底架1整体呈长矩形的盒状结构,底架1的下表面的端部两侧均竖直固定有固定柱2,用于接触基础面,具体的固定柱2可以采用伸缩柱,即,固定柱2包括套筒21、滑柱22以及锁定件。套筒21上端固定于底架1下侧,滑柱22同轴滑移于套筒21内,锁定件可以采用锁定螺栓23,滑柱22周壁沿其轴线方向成型多个锁定孔24,锁定螺栓23螺栓连接于套筒21,且锁定螺栓23的端部能够***套筒21内并插设于任意锁定孔24,以限制滑柱22与套筒21的相对位置。根据不同高度的被测工件与其被放置的基础面之间的高度,可以相对于套筒21滑移滑柱22,再采用锁定件锁定滑柱22的位置,以完成调节。
参照图1,底架1的中心位置处竖直穿接有活动柱3,活动柱3的下端固定有安装架4,用于安装探头41,活动柱3的上端固定有握持部,且固定柱2对应握持部的下方,底架1的上侧位置还固定有挡环31,随活动柱3向下运动,挡环31能够抵触于底架1的上侧,以限制活动柱3向下运动的极限位置,避免活动柱3脱离底架1。活动柱3与底架1之间还设置有弹簧42,弹簧42套设于活动柱3,一端抵触于底架1,一端抵触于安装架4,用于推动安装架4背离底架1运动。
作业时,将装置携带至待测试的位置处,将多根固定柱2抵触于背侧工件外侧的基础面,此时安装于活动柱3下端的探头41,将逐渐的抵触于工件的表面,而由于背侧工件的表面高于其放置的基础面,因此,当多根固定柱2完全抵触于基础面时,探头41也将推动活动柱3向上运动,使探头41保持对被测工件的表面的抵触,又由于弹簧42的设置,探头41还将对工件施加一定的压力,保证探头41与工件的抵压,以实现被测工件的探伤。
参照图1和图2,底架1内部沿其长度方向成型有容腔,容腔内沿其长度方向分别滑移有第一滑架5和第二滑架6,第一滑架5和第二滑架6相对于活动柱3对称设置。第一滑架5与第二滑架6结构相同,均包括两平行设置侧板7,两侧板7沿容腔的宽度方向排列,且两侧板7之间形成安装空间,两侧板7之间固定有多根支柱71,用于固定两侧板7的相对位置。第一滑架5与第二滑架6的侧壁均成型有滑块72,容腔的竖直侧壁对应滑块72的位置均成型滑槽11(参照图6和图7),滑槽11沿第一滑架5与第二滑架6的滑移方向开设,滑块72均滑移于对应的滑槽11内,以实现第一滑架5与第二滑架6均能够沿容腔的长度方向滑移。
底架1与第一滑架5之间固定有第一推簧51,底架1与第二滑架6之间固定有第二推簧61,具体的,第一推簧51与第二推簧61分别沿自身的长度方向置于对应的滑槽11内。第一推簧51与第二推簧61背离的一端分别固定于容腔两端滑槽11的相近端,第一推簧51远离第二推簧61的一端固定于第一滑架5的滑块72,第二推簧61远离第一推簧51的一端固定于第二滑架6的滑块72。第一推簧51推动第一滑架5背离活动柱3运动,第二推簧61推动第二滑架6背离活动柱3运动。
参照图2-图4,其中,第一滑架5背离活动柱3的一端转动连接有第一下带轮521,第一滑架5的上端延伸出底架1的上侧,并转动连接有第一上带轮522,即第一滑架5的两侧板均呈L型,第一下带轮521与第一上带轮522的带轮轴两端均转动连接于第一滑架5的两侧板7,第一上带轮522位于底架1的上侧,第一下带轮521与第一上带轮522上套设有竖直设置的第一齿带52,第一滑架5靠近活动柱3的一端转动连接有第一换向齿环53,具体的,第一换向齿环53的端面均成型的第一环槽531,第一滑架5的两侧板7的相对侧均对称的固定有两第一限制柱532,位于同一侧板7的两第一限制柱532沿竖直方向排列,当第一换向齿环53安装于两侧板7之间时,各侧板7的两第一限制柱532均能够同时插设于第一换向齿环53的第一环槽531的上方和下方,且第一换向齿环53转动,能够使两第一限制柱532沿第一环槽531转动,采用此种结构,即可实现第一换向齿环53相对于第一滑架5的转动。
第一换向齿环53啮合于第一齿带52的外侧齿,当第一换向齿环53转动时,即可带动第一齿带52转动,第一齿带52外周壁还成型有刻度,用于显示第一换向齿环53转动的距离。
底架1内容腔端部靠近第一滑架5的一侧固定有第一制动块13,随第一推簧51推动第一滑架5运动,第一制动块13能够抵紧于第一齿带52。常态下,第一推簧51能够推动第一滑架5背离活动柱3运动,从而使第一制动块13与第一齿带52抵接,以防止第一齿带52转动。
其中,第二滑架6背离活动柱3的一端转动连接有第二下带轮621,第二滑架6的上端延伸出底架1的上侧并转动连接有第二上带轮622。即,第二滑架6的两侧板7均呈L型,第二下带轮621与第二上带轮622的带轮轴两端均转动连接于第二滑架6的两侧板7,第二上带轮622位于底架1的上侧,第二下带轮621与第二上带轮622上套设有竖直设置的第二齿带62,第二滑架6靠近活动柱3的一端转动连接有第二换向齿环63。具体的,第二换向齿环63的端面均成型的第二环槽631,第二滑架6的两侧板7的相对侧均对称的固定有两第二限制柱632,位于同一侧板7的两第二限制柱632沿竖直方向排列,当第二换向齿环63安装于两侧板7之间时,各侧板7的两第二限制柱632均能够同时插设于第二换向齿环63的第二环槽631的上方和下方,且第二换向齿环63转动,能够使两第二限制柱632沿第二环槽631转动,采用此种结构,即可实现第二换向齿环63相对于第二滑架6的转动。
第二换向齿环63啮合于第二齿带62的外侧齿,当第二换向齿环63转动时,即可带动第二齿带62转动,第二齿带62外周壁还成型有刻度,用于显示第二换向齿环63转动的距离。
底架1内容腔端部靠近第二滑架6的一侧固定有第二制动块14,随第二推簧61推动第二滑架6运动,第二制动块14能够抵紧于第二齿带62。常态下,第二推簧61能够推动第二滑架6背离活动柱3运动,从而使第二制动块14与第二齿带62抵接,以防止第二齿带62转动。
参照图4和图5,参照图3和图4,活动柱3的周壁竖直固定有第一齿带52与第二齿条34,容腔内中部转动设置有转动环8。
具体的,转动环8的上下两端面均成型有环型槽81,环型槽81与转动环8同轴设置,容腔内部两侧的底壁与顶壁之间均相对固定有限位柱12,相对的上下两限位柱12的相近端均插设于转动环8的上下两环型槽81内。由于,限位柱12固定,能够限制转动环8在容腔内的位置,且由于环型槽81与限位柱12端部滑移连接,能够实现转动环8自身转动,进而实现转动环8能够在容腔内以自身轴线原位旋转。
转动环8同轴套设于活动柱3,转动环8对应第一齿条33与第二齿条34的位置均成型有让位槽,第一齿条33与第二齿条34通过让位槽延伸出转动环8外侧。活动柱3竖直滑移于转动环8。
具体的,活动柱3的周壁上沿竖直方向开设有限位槽32,转动环8内壁对应直线槽的位置处凸出成型有限位块82。限位块82插设于限位槽32内,以保持转动环能够转动环随活动柱3转动,并使活动柱3能够沿自身轴线相对于转动环8运动。
转动环8周壁对应第一齿条33的位置固定有第一勾爪83,且转动环8周壁对应第二齿条34的位置固定有第二勾爪84。
参照图6和图7,转动环8朝向第一滑架5方向转动,能够通过第一勾爪83***第一换向齿环53内,并拖动第一换向齿环53趋向活动柱3方向运动至于第一齿条33啮合,此时,第一滑架5将整体随第一换向齿环53动作,也将带动第一下带轮521、第一上带轮522以及第一齿带52同步动作。转动环8朝向第二滑架6方向转动,能够通过第二勾爪84***第二换向齿环63内,并拖动第二换向齿环63趋向活动柱3方向运动至于第二齿条34啮合,此时,第二滑架6将整体随第二换向齿环63动作,也将带动第二下带轮621、第二上带轮622以及第二齿带62同步动作。
本申请实施例一种超声波探伤仪探头压力控制装置的实施原理为:进行作业前,通过转动环8转动带动第一勾爪83转动,使第一勾爪83勾住第一换向齿环53,并随转动环8带动第一勾爪83持续转动,拖动第一换向齿环53带动第一滑架5趋向活动柱3方向运动,直至第一齿条33与第一换向齿环53啮合,此时便能够随活动柱3的运动带动第一尺带运动,而当完成探伤测试后,保持探头41对被测工件的抵压,反向转动转动环8,使转动环8带动第一勾爪83逐渐脱离第一换向齿环53,第一推簧51也将推动滑架背离活动柱3运动,直至第一齿条33脱离与第一换向齿环53的啮合,此时,再取下装置,第一齿带52上便会保留先前测试时,活动柱3移动距离所代表的刻度数,以便于观察记录。
当前者完成第一次测试后,保持第一齿条33上的刻度不变,后者可以直接以与第一次测试时相反方向旋转第二勾爪84,从而使第二勾爪84拖动第二换向齿环63带动滑架向活动柱3方向运动,从而使第二换向齿环63与第二齿条34啮合,此时,采用装置重复之前测试时,便可以带动第二齿带62转动,后一测试者便能够通过第二齿带62上刻度的读数直接与第一齿带52上的读数进行比对,以确定两次测试时,测试位置、高度等外部条件是否相同,以保证两侧测试的外部标准相同,进而保证测试准确性。
以上均为本申请的较佳实施例,并非依此限制本申请的保护范围,故:凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化,均应涵盖于本申请的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种超声波探伤仪探头压力控制装置,其特征在于,包括:
底架(1);
多根固定柱(2),竖直固定于底架(1)下侧,用于抵触基础面;
活动柱(3),竖直穿接于底架(1),所述活动柱(3)的下端用于安装探头(41);
弹簧(42),固定于活动柱(3)与底架(1)之间,用于推动活动柱(3)背离底架(1)运动;
第一齿条(33),竖直固定于活动柱(3)周壁;
第一换向齿环(53),转动设置于底架(1)内,用于与所述第一齿条(33)啮合;
第一齿带(52),竖直转动的设置于底架(1),上端延伸出底架(1)上侧,受所述第一换向齿环(53)驱动而转动,所述第一齿带(52)上形成刻度。
2.根据权利要求1所述的一种超声波探伤仪探头压力控制装置,其特征在于,还包括:
第一滑架(5),沿活动柱(3)的径向滑移于所述底架(1)内,所述第一换向齿环(53)以及第一齿带(52)均设置于第一滑架(5);
第一推簧(51),固定于底架(1)与第一滑架(5)之间,用于推动第一滑架(5)背离活动柱(3)运动,以使第一齿条(33)脱离第一换向齿环(53)啮合;
转动环(8),转动设置于底架(1)内,同轴套设于活动柱(3),所述转动环(8)周壁固定有第一勾爪(83),所述转动环(8)转动,能够拖动第一换向齿环(53)趋向活动柱(3)方向运动至于所述第一齿条(33)啮合。
3.根据权利要求2所述的一种超声波探伤仪探头压力控制装置,其特征在于,还包括:
第一制动块(13),固定于底架(1)内壁,随所述第一推簧(51)推动第一滑架(5)运动,所述第一制动块(13)能够抵紧于所述第一齿带(52)。
4.根据权利要求2所述的一种超声波探伤仪探头压力控制装置,其特征在于,所述活动柱(3)与所述转动环(8)竖直滑移连接,以保持所述转动环(8)随所述活动柱(3)同步转动;
所述第一齿条(33)与所述第一勾爪(83)相对设置。
5.根据权利要求2所述的一种超声波探伤仪探头压力控制装置,其特征在于,还包括:
第二齿条(34),竖直固定于活动柱(3)周壁;
第二滑架(6),沿活动柱(3)的径向活动设置于活动柱(3)背离第一滑架(5)的一侧;
第二推簧(61),设置于第二滑架(6)与底架(1)之间,用于推动第二滑架(6)背离活动柱(3)运动;
第二换向齿环(63),转动设置于第二滑架(6),用于与第二齿条(34)啮合;
第二齿带(62),竖直转动的设置于第二滑架(6),上端延伸出底架(1)上侧,受所述第二换向齿环(63)驱动而转动,所述第二齿带(62)上形成刻度;
第二勾爪(84),固定于转动环(8),与所述第二齿条(34)相对设置,所述转动环(8)转动,能够使第一勾爪(83)脱离第一换向齿环(53),并通过第二勾爪(84),拖动第二换向齿环(63)趋向活动柱(3)方向运动至于所述第二齿条(34)啮合。
6.根据权利要求5所述的一种超声波探伤仪探头压力控制装置,其特征在于,还包括;
第二制动块(14),固定于底架(1)内壁,随所述第二推簧(61)推动第二滑架(6)运动,所述第二制动块(14)能够抵紧于所述第二齿带(62)。
7.根据权利要求1所述的一种超声波探伤仪探头压力控制装置,其特征在于,所述活动柱(3)位于底架(1)上方位置固定有挡环(31);
所述挡环(31)抵触于底架(1)上方能够限制活动柱(3)向下运动的极限位置。
8.根据权利要求1所述的一种超声波探伤仪探头压力控制装置,其特征在于,所述固定柱(2)包括:
套筒(21),上端固定于底架(1)下侧;
滑柱(22),同轴滑移于套筒(21)内;
锁定件,设置于套筒(21),用于限制所述滑柱(22)与套筒(21)的相对位置。
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