CN117529767A - 显示面板显示缺陷的修复方法及显示装置 - Google Patents
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Abstract
一种显示面板显示缺陷的修复方法及显示装置，属于显示技术领域，其可解决现有的显示面板显示缺陷修复步骤繁琐，修复率较低，人工成本、产能较低的问题。该显示面板显示缺陷的修复方法包括：在模组工艺阶段，向显示面板中的各个像素点输入第一数据电压，使得显示面板显示待检测画面，并获取各人像素点的亮度(S101)；根据待检测画面，确定出参考像素点和缺陷像素点(S102)；根据参考像素点和缺陷像素点的亮度差异，计算缺陷像素点的补偿数据电压(S103)；根据补偿数据电压，向参考像素点输入第一数据电压，同时向缺陷像素点输入第二数据电压；第二数据电压为第一数据电压与补偿数据电乐之和(S104)。
Description
本公开属于显示技术领域，具体涉及一种显示面板显示缺陷的修复方法及显示装置。
有机电致发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)是一种利用有机固态半导体作为发光材料的发光器件，由于其具有制备工艺简单、成本低、功耗低、发光亮度高、工作温度适应范围广等优点，因而有着广阔的应用前景。
然而，目前的OLED产品的背板电路较为复杂，在工艺上有着比传统的液晶显示(Liquid Crystal Display，LCD)产品更高的挑战，比如更细的线宽、更小的体积、更多的膜层堆叠结构等。更复杂更密集的背板电路分布给OLED产品带来了更多的点类/线类显示缺陷，例如亮点缺陷，其修复步骤繁琐，修复率较低，人工成本、产能较低。
发明内容
本公开旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种显示面板显示缺陷的修复方法及显示装置。
第一方面，本公开实施例提供了一种显示面板显示缺陷的修复方法，其中，包括：
在模组工艺阶段，向显示面板中的各个像素点输入第一数据电压，使得所述显示面板显示待检测画面，并获取各个所述像素点的亮度；
根据所述待检测画面，确定出参考像素点和缺陷像素点；
根据所述参考像素点和所述缺陷像素点的亮度差异，计算所述缺陷像素点的补偿数据电压；
根据所述补偿数据电压，向所述参考像素点输入第一数据电压，同时向所述缺陷像素点输入第二数据电压；所述第二数据电压为所述第一数据电压与所述补偿数据电压之和。
可选地，所述获取各个所述像素点的亮度，包括：
利用高清相机对所述待检测画面进行拍照，并获取所述待检测画面的图像；
通过傅里叶变换转化为矩阵数据，并对所述矩阵数据进行增强处理，以获取各个所述像素点的亮度。
可选地，所述对所述矩阵数据进行增强处理，包括：
对所述矩阵数据通过平方或取对数方式进行处理。
可选地，所述补偿数据电压包括：第一补偿数据电压；
所述第一补偿数据电压为所述参考像素点输入的数据电压的峰值与所述缺陷像素点当前的数据电压之差。
可选地，所述补偿数据电压还包括：第二补偿数据电压；
所述第二补偿数据电压通过补偿算法计算获得。
可选地，所述像素点包括：红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素；所述向显示面板中的各个像素点输入第一数据电压，包括：
向显示面板中的各个红色子像素、各个绿色子像素、各个蓝色子像素分别依次输入第一红色数据电压、第一绿色数据电压、第一蓝色数据电压。
可选地，确定出参考像素点和缺陷像素点，包括：
根据已知的正常显示面板和已知的缺陷显示面板，确定基准驱动电流；
获取各个所述像素点当前的驱动电流，并比较各个像素点当前的驱动电流与基准驱动电流的大小；
若所述像素点当前的驱动电流大于所述基准驱动电流，则确定所述像素点为缺陷像素点；
若所述像素点当前的驱动电流小于或等于所述基准驱动电流，则确定所述像素点位参考像素点。
可选地，所述确定基准驱动电流，包括：
采集多个已知的正常显示面板中的各个像素点的第一驱动电流，并记录所述第一驱动电流的最大值；
采集多个已知的亮度缺陷显示面板中各个像素点的第二驱动电流，并记录所述第二驱动电流的最小值；
比较所述第一驱动电流的最大值与所述第二驱动电流的最小值；
若所述第一驱动电流的最大值与所述第二驱动电流的最小值的比值大于预设值，则确定所述第二驱动电流的最小值为基准驱动电流。
可选地，根据所述参考像素点和所述缺陷像素点的亮度差异，计算所述缺陷像素点的补偿数据电压，包括：
调节所述缺陷像素点的亮度，使得所述缺陷像素点的电流小于或等于所述基准驱动电流；
记录所述缺陷像素点的调节前数据电压和调节后数据电压；
根据所述调节前数据电压和所述调节后数据电压，计算所述补偿数据电压。
可选地，所述根据所述参考像素点和所述缺陷像素点的亮度差异，计算所述缺陷像素点的补偿数据电压，之后还包括：
将所述补偿数据电压进行存储。
可选地，所述将所述补偿数据电压进行存储，之后还包括：
将存储的所述补偿数据电压提取，并将所述补偿数据电压输入至所述缺陷像素点；
若所述缺陷像素点的亮度小于或等于所述参考像素点的亮度，则确定所述显示缺陷修复成功。
第二方面，本公开实施例提供了一种显示装置，其中，所述显示装置包括：显示面板及存储模块；所述存储模块存储有补偿数据电压；所述补偿数据电压通过如上述提供的显示面板显示缺陷的修复方法获得。
图1为本公开实施例提供的一种显示面板显示缺陷的修复方法的流程示意图；
图2为本公开实施例提供的一种获取各个像素点的亮度的方法的流程示意图；
图3为本公开实施例提供的一种确定出参考像素点和缺陷像素点的方法的流程示意图；
图4为本公开实施例提供的一种确定基准驱动电流的方法的流程示意图；
图5为本公开实施例提供的一种计算缺陷像素点的补偿数据电压的方法的流程示意图。
为使本领域技术人员更好地理解本公开的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本公开作进一步详细描述。
除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”、“一”或者“该”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词 前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
OLED产品相比传统的LCD产品，在显示画面、能耗等方面有着绝对的优势，比如高亮度、广色域、大视角、透明显示、超薄、低功耗等等，因此，OLED产品越来越受到了用户的信赖。OLED产品的制备工艺主要分为四个阶段，分别为彩膜基板(Color film)工艺阶段、阵列基板(Array)工艺阶段、面板(Cell)工艺阶段和模组(Module)工艺阶段。
目前，在Cell阶段后构成的显示面板需要进行点灯测试，若发现显示面板具有显示缺陷，例如亮点缺陷，则进行亮点缺陷修复。一般地，亮点缺陷修复的过程如下：1)利用点灯设备对显示面板进行点灯测试，检测出显示面板的亮点缺陷；2)在亮点缺陷的位置进行特殊标记(圆圈、三角形等符号)，并将具有亮点缺陷的显示面板传送至维修工序；3)具有亮点缺陷的显示面板被手动放进维修设备并手动点亮，作业员根据特殊标记在电荷耦合器件(Charge Coupled Device，CCD)相机镜头下寻找亮点缺陷的位置；4)将激光维修探头手动移至亮点缺陷的位置，进行切割修复；修复完成后将显示面板至二次检测工序，修复屏进行二次点灯检测确认修复效果，若修复成功则正常传输至下一站点，若修复失败则产品报废。由上述的亮点缺陷修复的步骤可以看出，目前的亮点修复方法多数步骤采用人工操作，其修复步骤繁琐，受到人为因素的影响较大，不利于提高亮点修复的效率，导致修复率较低，同时人工成本较高，影响OLED产品的产能。
为了至少解决上述的技术问题之一，本公开实施例提供了一种显示面板显示缺陷的修复方法及显示装置，下面将结合附图及具体的实施方式，对本 公开实施例提供的显示面板亮点修复的方法及显示装置进行进一步详细描述。
第一方面，本公开实施例提供了一种显示面板显示缺陷的修复方法，图1为本公开实施例提供的一种显示面板显示缺陷的修复方法的流程示意图，如图1所示，本公开实施例提供的显示面板显示缺陷的修复方法包括如下步骤：
步骤S101，在模组工艺阶段，向显示面板中的各个像素点输入第一数据电压，使得显示面板显示待检测画面，并获取各个像素点的亮度。
在步骤S101中，第一数据信号为测试数据信号，在模组工艺阶段，显示面板已经基本组装完成，在该阶段需要对显示面板进行一系列的显示缺陷的测试，例如亮度不均等，可以在模组工艺阶段将第一数据电压输入至各个像素点，以点亮各个像素点，形成待检测画面。通过形成的检测画面来获取各个像素点的亮度。
步骤S102，根据待检测画面，确定出参考像素点和缺陷像素点。
在步骤S102中，若显示面板中存在显示缺陷，在待检测画面中该点的亮度与周围的亮度是不同的，并且一般显示面板中的缺陷像素点仅占全部像素点的小部分，这样可以确定出显示面板中的像素点是否正常，以正常的像素点中的某些像素点确定为参考像素点，以正常像素点不同的非正常的像素点确定为缺陷像素点。例如，在4*4个像素点的范围内，其中，第二行第二个像素点的亮度明显高于其周围的其他的像素点的亮度，则该像素点即为缺陷像素点。
步骤S103，根据参考像素点和缺陷像素点的亮度差异，计算缺陷像素点的补偿数据电压。
在步骤S103中，显示面板中缺陷像素点的亮度要远高于参考像素点的亮度，可以根据二者的亮度差异，计算出缺陷像素点的补偿数据电压，该补 偿数据电压可以各个参考像素点输入的数据电压的峰值与该缺陷像素点当前的数据电压的差值，使得缺陷像素点的亮度降低，以使得缺陷像素点的亮度低于或等于参考像素点的亮度，实现显示面板的显示缺陷修复。
步骤S104，根据补偿数据电压，向参考像素点输入第一数据电压，同时向缺陷像素点输入第二数据电压；第二数据电压为第一数据电压与补偿数据电压之和。
在步骤S104中，将第一数据电压输入至参考像素点，同时将第一数据电压与补偿数据电压同时输入至缺陷像素点，在显示面板中，像素点的亮度是由经过该像素点的电流决定的，其电流Id＝K*(Vdata-VDD)
2，其中K为常数，Vdata可以表示第一数据电压，VDD为固定的电源电压。在电流公式中，Vdata为变量，通过Vdata的调节来控制电流Id，从而控制像素点的亮度，其中电流Id越大，像素点的亮度越高。在实际应用中，一般Vdata≤VDD(跟显示面板中的薄膜晶体管本身的开关特性相关)，所以Vdata越大，(Vdata-VDD)
2值越小，即电流Id越小，亮度越低。在原有的第一数据电压基础上，输入补偿数据电压，形成第二数据电压，第二数据电压要大于第一数据电压，这样可以使得缺陷像素点的电流Id减少，从而使得缺陷像素点的亮度低于或等于参考像素点的亮度，实现显示面板的显示缺陷修复。
本公开实施例提供的显示面板显示缺陷的修复方法中，在模组工艺阶段利用补偿数据电压对显示面板中的缺陷像素点进行修复，使得点缺陷像素点的亮度低于或等于参考像素点的亮度，这样可以不必在面板工艺阶段通过点灯测试来对显示面板显示缺陷进行修复，可以将人工手动修复改为通过控制输入至缺陷像素点的数据信号来实现自动反馈修复，可以减少模组工艺阶段的人力及设备成本的浪费，同时可以大大提高显示面板显示缺陷修复的精准度与成功率，从而可以大大提高显示面板显示缺陷修复的效率，进而可以提高OLED产品的产能。另一方面，由于显示缺陷修复在模组工艺阶段完成， 可以避免模组工艺阶段对显示面板造成二次损伤，因此可以进一步降低亮点修复成本，提高产品竞争力。
在一些实施例中，图2为本公开实施例提供的一种获取各个像素点的亮度的方法的流程示意图，如图2所示，获取各个像素点的亮度，包括如下步骤：
S201，利用高清相机对待检测画面进行拍照，并获取待检测画面的图像。
S202，通过傅里叶变换将图像转化为矩阵数据，并对矩阵数据进行增强处理，以获取各个像素点的亮度。
实际应用中，对于显示面板中的各个像素点的亮度获取的方式有多种，在本公开实施例中，可以利用高清相机对输入第一数据电压形成的待检测图像进行拍照，以获取待检测画面的图像信息。将图像信息传输至处理器中，处理器可以为计算机，计算机可以对图像信息通过傅里叶变换转化为矩阵数据，为了进一步更为精确地获取各个像素点的亮度，可以对矩阵数据进行增强处理。
在一些实施例中，对矩阵数据进行增强处理，包括：对矩阵数据通过平方或取对数方式进行处理。
可以通过平方或取对数方式对矩阵数据进行处理，使得各个缺陷像素点的亮度更亮，提高与周围参考像素点的对比度，以进一步精确地获取各个像素点的亮度，从而准确确定参考像素点和缺陷像素点，进而避免造成缺陷像素点的误判而影响显示缺陷修复效率。
在一些实施例中，补偿数据电压包括：第一补偿数据电压；第一补偿数据电压为参考像素点输入的数据电压的峰值与缺陷像素点当前的数据电压之差。
第一补偿数据电压△V(ng)＝Vmax-V(ng)，其中，Vmax为参考像素点输入的数据电压的峰值，V(ng)缺陷像素点当前的数据电压，即第一补偿数据电 压为参考像素点输入的数据电压的峰值与缺陷像素点当前的数据电压之差，补偿后的缺陷像素点的数据电压为Vmax，根据上述的电流公式：Id＝K*(Vdata-VDD)
2，可以使得补偿后的数据电压Vdata＝Vmax接近于VDD，使得电流Id接近零，该缺陷像素点的亮度几乎为零，由亮点变为暗点，从而实现显示缺陷修复。
在一些实施例中，补偿数据电压还包括：第二补偿数据电压；第二补偿数据电压通过补偿算法计算获得。
补偿数据电压除了包括上述的用于显示缺陷补偿的第一补偿数据电压外，还包括用于补偿显示不均缺陷的第二补偿数据电压，该第二补偿数据电压可以通过显示不均补偿算法来获得，这样在模组工艺阶段对显示面板进行显示不均缺陷补偿时可以直接对显示面板进行显示缺陷补偿，从而可以减少检测及修复的步骤，提高显示面板的修复效率，进而提高显示面板的产能。
在一些实施例中，像素点包括：红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素；向显示面板中的各个像素点输入第一数据电压，包括：向显示面板中的各个红色子像素、各个绿色子像素、各个蓝色子像素分别依次输入第一红色数据电压、第一绿色数据电压、第一蓝色数据电压。
每个像素点可以由红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素组成，当然每个像素点还可以设置有白色子像素，其实现原理与设置三个子像素的实现原理相同，将不再进行详述。在向显示面板中各个像素点输入第一数据电压时，可以每次只向同一颜色的子像素输入相同的数据电压，使得显示面板仅显示一种颜色的图像，例如红色图像、绿色图像或蓝色图像，这样更有利于确定缺陷像素点的位置。并且在显示面板仅有一种颜色的子像素具有显示缺陷时，可以不必对其他颜色的子像素进行修复，从而可以提高亮点修复效率。
在一些实施例中，图3为本公开实施例提供的一种确定出参考像素点和缺陷像素点的方法的流程示意图，如图3所示，确定出参考像素点和缺陷像 素点，包括如下步骤：
S301，根据已知的正常显示面板和已知的缺陷显示面板，确定基准驱动电流。
S302，获取各个像素点当前的驱动电流，并比较各个像素点当前的驱动电流与基准驱动电流的大小。若像素点当前的驱动电流大于基准驱动电流，则确定像素点为缺陷像素点；若像素点当前的驱动电流小于或等于基准驱动电流，则确定像素点位参考像素点。
在实际应用中，可以逐点对显示面板中的各个像素点进行扫描，获取并记录各个像素点当前的驱动电流，其驱动电流越大则该像素点的亮度越高。如果该像素点当前的驱动电流大于基准驱动电流，则表示该像素点的亮度大于正常像素点的亮度，存在显示缺陷。如果该像素点当前的驱动电流小于或等于基准驱动电流，则表示该像素点的亮度小于或等于正常像素点的亮度，该像素点为正常像素点，可以将该像素点确定为参考像素点。这样，不必利用人工操作来确定缺陷像素点的位置，通可以避免人工操作产生的误差，从而可以提高亮点修复的效率，进而提高显示面板的产能。
在一些实施例中，图4为本公开实施例提供的一种确定基准驱动电流的方法的流程示意图，如图4所示，确定基准驱动电流的方法包括如下步骤：
S401，采集已知的正常显示面板中的各个像素点的第一驱动电流，并记录第一驱动电流的最大值。
S402，采集已知的缺陷显示面板中各个像素点的第二驱动电流，并记录第二驱动电流的最小值。
S403，比较第一驱动电流的最大值与第二驱动电流的最小值。若第一驱动电流的最大值与第二驱动电流的最小值的比值大于预设值，则确定第二驱动电流的最小值为基准驱动电流。
在实际应用过程中，可以采集已知的正常显示面板中的各个像素点的第 一驱动电流，并记录第一驱动电流的最大值Id(OK-max)以及采集已知的存在显示缺陷的显示面板中各个像素点的第二驱动电流，并记录第二驱动电流的最小值Id(NG-min)。对比Id(OK-max)和Id(NG-min)，如果Id(OK-max)/Id(NG-min)大于预设值，该预设值可以为50％、60％或者70％，则确定Id(NG-min)为基准驱动电流。可以理解的是，预设值还可以根据实际需要进行设置，该值不宜设置过小，以避免对缺陷像素点造成误判。
在一些实施例中，图5为本公开实施例提供的一种计算缺陷像素点的补偿数据电压的方法的流程示意图，如图5所示，计算缺陷像素点的补偿数据电压的方法包括如下步骤：
S501，调节缺陷像素点的亮度，使得缺陷像素点的电流小于或等于基准驱动电流。
S502，记录缺陷像素点的调节前数据电压和调节后数据电压。
S503，根据调节前数据电压和调节后数据电压，计算补偿数据电压。
在实际应用中，由于像素点的亮度与其驱动电流是正相关的，可以通过调节输入该像素点的数据电压来调整驱动电流的大小，使得存在显示缺陷的像素点的驱动电流小于或等于基准驱动电流，这样就可以使得缺陷像素点的亮度降低为与周围正常像素点相同的亮度，或者将该缺陷像素点调整为暗点，以完成对显示缺陷的修复。同时分别记录该像素点输入的调整前的数据电压和调整后的数据电压，二者之差即为需要输入的补偿数据电压。
在一些实施例中，根据参考像素点和缺陷像素点的亮度差异，计算缺陷像素点的补偿数据电压，之后还包括：将补偿数据电压进行存储。
补偿数据电压可以存储在显示模组的存储模块中，在显示模组的应用过程中，可以直接从存储模块中调用存储的补偿数据电压，以对显示面板中的显示缺陷像素进行补偿，使得显示画面均匀，从而提高显示效果，提高用户的使用体验。
在一些实施例中，将补偿数据电压进行存储，之后还包括：将存储的补偿数据电压提取，并将补偿数据电压输入至缺陷像素点；若缺陷像素点的亮度小于或等于参考像素点的亮度，则确定显示缺陷修复成功。
在将补偿数据电压后，还需要对显示面板显示缺陷修复进行进一步确认，以确定存储的补偿数据电压是否满足亮点修复需要，具体地，可以直接提取存储的补偿数据电压，并将该补偿数据电压输入至缺陷像素点，通过观察或者检测驱动电流的方式，检测显示面板中是否存在显示缺陷。若无显示缺陷，则确认显示缺陷修复成功，若依然存在显示缺陷，则确定显示缺陷修复失败，将该显示面板进行报废处理。
第二方面，本公开实施例提供了一种显示装置，该显示装置包括显示面板及存储模块，存储模块存储有补偿数据电压；该补偿数据电压通过如上述任一实施例提供的显示面板显示缺陷的修复方法获得。该显示装置可以为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件，其实现原理及有益效果与上述的显示面板显示缺陷的修复方法的实现原理及有益效果相同，在此不再进行赘述。
可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本公开的原理而采用的示例性实施方式，然而本公开并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本公开的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本公开的保护范围。
Claims (12)
- 一种显示面板显示缺陷的修复方法，其中，包括：在模组工艺阶段，向显示面板中的各个像素点输入第一数据电压，使得所述显示面板显示待检测画面，并获取各个所述像素点的亮度；根据所述待检测画面，确定出参考像素点和缺陷像素点；根据所述参考像素点和所述缺陷像素点的亮度差异，计算所述缺陷像素点的补偿数据电压；根据所述补偿数据电压，向所述参考像素点输入第一数据电压，同时向所述缺陷像素点输入第二数据电压；所述第二数据电压为所述第一数据电压与所述补偿数据电压之和。
- 根据权利要求1所述的显示面板显示缺陷的修复方法，其中，所述获取各个所述像素点的亮度，包括：利用高清相机对所述待检测画面进行拍照，并获取所述待检测画面的图像；通过傅里叶变换转化为矩阵数据，并对所述矩阵数据进行增强处理，以获取各个所述像素点的亮度。
- 根据权利要求2所述的显示面板显示缺陷的修复方法，其中，所述对所述矩阵数据进行增强处理，包括：对所述矩阵数据通过平方或取对数方式进行处理。
- 根据权利要求3所述的显示面板显示缺陷的修复方法，其中，所述补偿数据电压包括：第一补偿数据电压；所述第一补偿数据电压为所述参考像素点输入的数据电压的峰值与所述缺陷像素点当前的数据电压之差。
- 根据权利要求4所述的显示面板显示缺陷的修复方法，其中，所述补偿数据电压还包括：第二补偿数据电压；所述第二补偿数据电压通过补偿算法计算获得。
- 根据权利要求2所述的显示面板显示缺陷的修复方法，其中，所述像素点包括：红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素；所述向显示面板中的各个像素点输入第一数据电压，包括：向显示面板中的各个红色子像素、各个绿色子像素、各个蓝色子像素分别依次输入第一红色数据电压、第一绿色数据电压、第一蓝色数据电压。
- 根据权利要求1所述的显示面板显示缺陷的修复方法，其中，确定出参考像素点和缺陷像素点，包括：根据已知的正常显示面板和已知的缺陷显示面板，确定基准驱动电流；获取各个所述像素点当前的驱动电流，并比较各个像素点当前的驱动电流与基准驱动电流的大小；若所述像素点当前的驱动电流大于所述基准驱动电流，则确定所述像素点为缺陷像素点；若所述像素点当前的驱动电流小于或等于所述基准驱动电流，则确定所述像素点位参考像素点。
- 根据权利要求7所述的显示面板显示缺陷的修复方法，其中，所述确定基准驱动电流，包括：采集已知的正常显示面板中的各个像素点的第一驱动电流，并记录所述第一驱动电流的最大值；采集已知的缺陷显示面板中各个像素点的第二驱动电流，并记录所述第二驱动电流的最小值；比较所述第一驱动电流的最大值与所述第二驱动电流的最小值；若所述第一驱动电流的最大值与所述第二驱动电流的最小值的比值大于预设值，则确定所述第二驱动电流的最小值为基准驱动电流。
- 根据权利要求8所述的显示面板显示缺陷的修复方法，其中，根据所述参考像素点和所述缺陷像素点的亮度差异，计算所述缺陷像素点的补偿数据电压，包括：调节所述缺陷像素点的亮度，使得所述缺陷像素点的电流小于或等于所述基准驱动电流；记录所述缺陷像素点的调节前数据电压和调节后数据电压；根据所述调节前数据电压和所述调节后数据电压，计算所述补偿数据电压。
- 根据权利要求1所述的显示面板显示缺陷的修复方法，其中，所述根据所述参考像素点和所述缺陷像素点的亮度差异，计算所述缺陷像素点的补偿数据电压，之后还包括：将所述补偿数据电压进行存储。
- 根据权利要求10所述的显示面板显示缺陷的修复方法，其中，所述将所述补偿数据电压进行存储，之后还包括：将存储的所述补偿数据电压提取，并将所述补偿数据电压输入至所述缺陷像素点；若所述缺陷像素点的亮度小于或等于所述参考像素点的亮度，则确定所述显示缺陷修复成功。
- 一种显示装置，其中，所述显示装置包括：显示面板及存储模块；所述存储模块存储有补偿数据电压；所述补偿数据电压通过如权利要求1至11任一项所述的显示面板显示缺陷的修复方法获得。
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Publications (1)
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