CN117434412A - 功率器件的测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种功率器件的测试装置，功率器件的测试装置包括：测试板；封装体，封装体设置于测试板上且内部用于设置待测试的功率器件，封装体内部设置有测试引脚，测试引脚的一端适于与待测试的功率器件电连接，另一端与测试板电连接。由此，通过将封装体设置于测试板上用于设置待测试的功率器件，并且封装体的内部设置测试引脚用于将待测试的功率器件和测试板电连接，从而可以将待测试的功率器件与测试板轻松连接，可以提高待测试的功率器件与测试板之间的适配性，以便于通过测试板完成对待测试的功率器件的测试。

Description

功率器件的测试装置

技术领域

本发明涉及测试技术领域，尤其是涉及一种功率器件的测试装置。

背景技术

在功率器件的生产中，需要对封装后的功率器件进行电性能的测试，其中静态测试需要通过功率器件分析仪与待测功率器件连接，以对待测功率器件的静态电性能进行测试。

现有技术中，通过贴片式封装的功率器件，因其结构的特殊性，无法直接适配功率器件静态分析仪，这导致一般的功率器件静态分析仪无法对贴片式功率器件做静态测试。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明的一个目的在于提出一种功率器件的测试装置，该功率器件的测试装置可以提高功率器件静态测试的可实施性。

根据本发明实施例的功率器件的测试装置，包括：测试板；封装体，所述封装体设置于所述测试板上且内部用于设置待测试的功率器件，所述封装体内部设置有测试引脚，所述测试引脚的一端适于与所述待测试的功率器件电连接，另一端与所述测试板电连接。

由此，通过将封装体设置于测试板上用于设置待测试的功率器件，并且封装体的内部设置测试引脚用于将待测试的功率器件和测试板电连接，从而可以将待测试的功率器件与测试板轻松连接，可以提高待测试的功率器件与测试板之间的适配性，以便于通过测试板完成对待测试的功率器件的测试。

在本发明的一些示例中，所述测试引脚包括第一引脚和第二引脚，所述第一引脚竖直延伸设置且下端与所述测试板电连接，所述第二引脚的一端与所述第一引脚的上端可弯折地连接，所述第二引脚的另一端适于被待测试的功率器件向下挤压且与待测试的功率器件电连接。

在本发明的一些示例中，所述封装体内部设置有第一容纳槽和第二容纳槽，所述第二容纳槽设置于所述第一容纳槽的一侧且与所述第一容纳槽相连通，所述第一容纳槽用于设置待测试的功率器件，所述第一引脚设置于所述第二容纳槽中，所述第二引脚至少部分地伸入所述第一容纳槽中。

在本发明的一些示例中，所述第二容纳槽的上下两侧均敞开设置，所述第一引脚的下端穿过所述第二容纳槽的下侧且与所述测试板电连接，所述第二引脚从所述第二容纳槽的上侧伸出至所述第一容纳槽中。

在本发明的一些示例中，所述测试引脚为多个，所述第二容纳槽为多个，多个所述测试引脚和多个所述第二容纳槽一一对应。

在本发明的一些示例中，所述封装体包括主体部和盖板部，所述主体部内设置有所述第一容纳槽和所述第二容纳槽，所述盖板部盖设于所述主体部的上侧且适于与所述主体部内部待测试的功率器件挤压配合。

在本发明的一些示例中，所述盖板部上设置有压块，所述压块向下凸出设置且用于压设所述主体部内部待测试的功率器件。

在本发明的一些示例中，所述主体部上设置有第一卡接部，所述盖板部上设置有第二卡接部，所述第一卡接部和所述第二卡接部中的一个为卡扣，另一个为卡槽，所述卡扣和所述卡槽可拆卸地卡接配合。

在本发明的一些示例中，所述主体部的一侧设置有夹头件，所述夹头件的下端延伸至所述第一容纳槽的下端且适于与待测试的功率器件相抵接，所述夹头件可朝向远离所述第一容纳槽的外侧转动，以使所述夹头件的下端选择性地向上撬动待测试的功率器件。

在本发明的一些示例中，所述夹头件包括手柄部、转动部和抵接部，所述转动部可转动地设置于所述主体部的一侧，所述抵接部设置于所述转动部的下端且适于与所述待测试的功率器件的下侧抵接配合，所述手柄部设置于所述转动部的上侧。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是根据本发明实施例的测试装置的示意图；

图2是根据本发明实施例的测试装置的***图；

图3是根据本发明实施例的测试装置另一视角的示意图；

图4是根据本发明实施例的测试装置另一视角的示意图；

图5是根据本发明实施例的测试装置另一视角的示意图；

图6为图5中A-A方向的截面图；

图7是根据本发明实施例的封装体的局部示意图；

图8是根据本发明实施例的封装体另一视角的局部示意图；

图9是根据本发明实施例的封装体的局部示意图；

图10是根据本发明实施例的封装体另一视角的局部示意图。

附图标记：

100、测试装置；200、功率器件；

10、测试板；

20、封装体；21、测试引脚；211、第一引脚；212、第二引脚；22、第一容纳槽；23、第二容纳槽；24、主体部；241、第一卡接部；242、夹头件；2421、手柄部；2422、转动部；2423、抵接部；25、盖板部；251、压块；252、第二卡接部。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，参考附图描述的实施例是示例性的，下面详细描述本发明的实施例。

下面参考图1-图10描述根据本发明实施例的功率器件200的测试装置100，本发明实施例中的测试装置100可以便于对贴片式封装的功率器件200进行静态测试。

结合图1-图10所示，根据本发明的功率器件200的测试装置100可以主要包括：测试板10和封装体20，其中，封装体20设置于测试板10上，并且内部用于设置待测试的功率器件200，封装体20内部设置有测试引脚21，测试引脚21的一端适于与待测试的功率器件200电连接，另一端与测试板10电连接。具体地，测试板10为电路板，可以用于设计测试的电路以对待测试的功率器件200进行测试。封装体20可用于设置待测试的功率器件200，可以为待测试的功率器件200提供稳定可靠的设置位置，以保证待测试的功率器件200在测试中的结构稳定性，进而可以保证测试结果的有效性。本发明的实施例中，用于对功率器件200进行测试的仪器包括但不限于B1506测试设备，可以用于对待测试的功率器件200的静态电性能进行测试。

进一步地，封装体20设置于测试板10上，测试板10不仅可以对封装体20提供稳定可靠的设置位置，而且还可以便于封装体20与测试板10直接电连接，以降低封装体20与测试板10的连接难度，提高功率器件200的效率。封装体20内设置有测试引脚21，测试引脚21为金属材质，可以用于电连接***号的传递。封装体20可以为测试引脚21提供稳定可靠的设置位置，可以保证测试引脚21在待测试的功率器件200测试时的结构可靠性。

进一步地，测试引脚21的一端适于与待测试的功率器件200电连接，这样可以使测试引脚21和待测试的功率器件200之间电路导通，可以使电流顺利流经测试引脚21和待测试的功率器件200。测试引脚21的另一端与测试板10电连接，这样可以使测试引脚21与测试板10之间的电路导通，可以使电流顺利流经测试引脚21和测试板10，进而可以使待测试的功率器件200与测试板10之间电连接，使待测试的功率器件200与测试板10之间的电路导通，从而可以通过测试板10对待测试的功率器件200进行测试。

现有技术中，采用贴片式封装的功率器件，因其结构的特殊性导致无法适配于B测试设备，这样导致贴片式的功率器件难以完成静态测试。在本发明的实施例中，可以将待测试的功率器件200与封装体20中的测试引脚21电连接，并且通过封装体20可以固定在测试板10上，这样不仅可以提高待测试的功率器件200的静态测试可操作性，而且还可以保证待测试的功率器件200在测试装置100中的结构稳定性。

由此，通过将封装体20设置于测试板10上用于设置待测试的功率器件200，并且封装体20的内部设置测试引脚21用于将待测试的功率器件200和测试板10电连接，从而可以将待测试的功率器件200与测试板10轻松连接，可以提高待测试的功率器件200与测试板10之间的适配性，以便于通过测试板10完成对待测试的功率器件200的测试。

结合图2所示，测试引脚21包括第一引脚211和第二引脚212，第一引脚211竖直延伸设置，并且下端与测试板10电连接，第二引脚212的一端与第一引脚211的上端可弯折地连接，第二引脚212的另一端适于被待测试的功率器件200向下挤压，并且与待测试的功率器件200电连接。具体地，测试引脚21中包括第一引脚211和第二引脚212，其中第一引脚211沿竖直延伸设置，可以便于第一引脚211穿过封装体20，并且下端与测试板10电连接，以实现测试引脚21与测试板10之间的电路导通。第二引脚212的一端与第一引脚211的上端连接，可以保证电流在第二引脚212和第一引脚211之间导通，第二引脚212弯折，可以便于第二引脚212与待测试的功率器件200电连接。

结合图2和图8所示，封装体20内部设置有第一容纳槽22和第二容纳槽23，第二容纳槽23设置于第一容纳槽22的一侧，并且与第一容纳槽22相连通，第一容纳槽22用于设置待测试的功率器件200，第一引脚211设置于第二容纳槽23中，第二引脚212至少部分地伸入第一容纳槽22中。具体地，在封装体20内设置第一容纳槽22和第二容纳槽23，可以便于将待测试的功率器件200和测试引脚21设置于封装体20内部，以保证待测试的功率器件200和测试引脚21在封装体20内的结构可靠性。第二容纳槽23设置于第一容纳槽22的一侧，并且第一容纳槽22用于设置待测试的功率器件200，第二容纳槽23用于设置测试引脚21，这样可以将测试引脚21设置于待测试的功率器件200的一侧，以便于测试引脚21与待测试的功率器件200电连接。

进一步地，第二容纳槽23和第一容纳槽22相连通，这样不仅可以保证待测试的功率器件200和测试引脚21同时设置于封装体20内，而且还可以实现测试引脚21与待测试的功率器件200的电连接，以保证待测试的功率器件200与测试引脚21之间的电路连通性。第一引脚211设置于第二容纳槽23中，以便于将测试引脚21设置于第二容纳槽23中，第二容纳槽23可以对第一引脚211进行限位，可以防止测试引脚21在封装体20内发生位移，从而可以提高待测试的功率器件200在封装体20与测试引脚21连接的可靠性。第二引脚212至少部分地伸入第一容纳槽22中，可以提高待测试的功率器件200与测试引脚21电连接的便利性。

结合图2、图3、图4和图6所示，第二容纳槽23的上下两侧均敞开设置，第一引脚211的下端穿过第二容纳槽23的下侧，并且与测试板10电连接，第二引脚212从第二容纳槽23的上侧伸出至第一容纳槽22中。具体地，第二容纳槽23的上下两侧均敞开设置，可以使第一引脚211从第二容纳槽23的上侧穿入第二容纳槽23，然后从第二容纳槽23的下侧穿出，这样不仅可以便于第一引脚211的下端与测试板10电连接，而且还可以便于第一引脚211的上端与第二引脚212连接，以保证第一引脚211的两端均可以电连通。第二引脚212的一端与第一引脚211的上端电连接后，另一端从第二容纳槽23的上侧伸出，并且伸入至第一容纳槽22中，从而不仅可以与第一容纳槽22中的待测试的功率器件200电连接，以实现待测试的功率器件200与测试板10之间的电流流通。

结合图2、图3和图4所示，测试引脚21为多个，第二容纳槽23为多个，多个测试引脚21和多个第二容纳槽23一一对应。具体地，在本发明的实施例中，封装体20中设置有多个测试引脚21，多个测试引脚21均用于连接测试板10和待测试的功率器件200，可以使测试板10与待测试的功率器件200之间形成电流回路，以保证测试电路的导通。第二容纳插槽为多个，并且多个测试引脚21与多个第二容纳槽23一一对应，这样可以使多个测试引脚21在封装体20内单独设置，可以防止多个测试引脚21上的电流相互干扰，从而可以保证测试装置100、待测试的功率器件200和测试板10之间的电流回路正常工作，保证待测试的功率器件200的测试可行性。

结合图1、图2、图3、图4和图6所示，封装体20包括主体部24和盖板部25，主体部24内设置有第一容纳槽22和第二容纳槽23，盖板部25盖设于主体部24的上侧，并且适于与主体部24内部待测试的功率器件200挤压配合。具体地，封装体20分为主体部24和盖板部25，主体部24可以为第一容纳槽22和第二容纳槽23提供稳定可靠的设置位置，可以保证第一容纳槽22和第二容纳槽23在封装体20内的结构稳定性。测试时可以将测试引脚21的下端穿过第二容纳槽23，并且与测试板10连接，使第一引脚211设置于第二容纳槽23中，第二引脚212伸入第一容纳槽22中，再将待测试的功率器件200放入第一容纳槽22中，向下挤压第二引脚212，直至第二引脚212与主体部24贴紧。然后将盖板部25盖设于主体部24的上侧，以挤压待测试的功率器件200，防止待测试的功率器件200从第二容纳槽23中弹出。盖板部25设置于主体部24上侧时，与主体部24内待测试的功率器件200挤压配合，这样可以将待测试的功率器件200固定于封装体20内部，可以保证待测试的功率器件200在测试装置100中的设置可靠性。

结合图9和图10所示，盖板部25上设置有压块251，压块251向下凸出设置，并且用于压设主体部24内部待测试的功率器件200。具体地，在盖板部25盖设于主体部24时，盖板部25的下侧对应第一容纳槽22的位置设置有压块251，压块251向下凸起，可以与待测试的功率器件200上端接触，并且与待测试的功率器件200挤压配合，这样可以使待测试的功率器件200下端与第二引脚212挤压配合，以提高待测试的功率器件200与测试引脚21电连接的可靠性，进而可以提高测试设备与待测试的功率器件200之间电路的连通稳定性。

结合图2、图8和图9所示，主体部24上设置有第一卡接部241，盖板部25上设置有第二卡接部252，第一卡接部241和第二卡接部252中的一个为卡扣，另一个为卡槽，卡扣和卡槽可拆卸地卡接配合。具体地，主体部24可以为第一卡接部241提供稳定可靠的设置位置，盖板部25可以为第二卡接部252提供稳定可靠的设置位置，在盖板部25盖设于主体部24上端时，盖板部25与主体部24之间通过第一卡接部241和第二卡接部252卡接配合，实现主体部24和盖板部25之间的扣合。第一卡接部241和第二卡接部252中的一个为卡扣，另一个为卡槽，卡扣和卡槽的结构简单，便于加工，有利于提高测试装置100的生产便利性。卡扣和卡槽的卡接配合简单可靠，可以提高主体部24和盖板部25卡接配合的便利性，保证主体部24和盖板部25的卡接可靠性。

进一步地，卡扣和卡槽可拆卸地卡接配合，不仅可以便于主体部24和盖板部25卡接装配，而且还可以使主体部24和盖板部25轻松拆卸，这样可以在封装体20内重复放置不同的待测试功率器件200，以便于测试装置100的重复使用，从而不仅可以提高功率器件200的测试效率，而且还可以降低功率器件200的测试成本。

结合图4、图6、图7和图8所示，主体部24的一侧设置有夹头件242，夹头件242的下端延伸至第一容纳槽22的下端，并且适于与待测试的功率器件200相抵接，夹头件242可朝向远离第一容纳槽22的外侧转动，以使夹头件242的下端选择性地向上撬动待测试的功率器件200。具体地，主体部24可以为夹头件242提供稳定可靠的设置位置，夹头件242的下端延伸至第一容纳槽22的下端，将待测试的功率器件200放入第一容纳槽22后，夹头件242的下端可以与功率器件200相抵接，这样可以使力在夹头件242和功率器件200之间传动。

在功率器件200测试完成后，打开盖板部25，将夹头件242朝向远离第一容纳槽22的外侧转动，这样可以使夹头件242的下端将功率器件200向上撬动，以便于将功率器件200从第一容纳槽22中取出，可以方便更换待测试的功率器件200，实现测试样品的快速跟换，进而可以提高功率器件200的测试效率，可以实现功率器件200的批量测试。

结合图4、图6、图7和图8所示，夹头件242包括手柄部2421、转动部2422和抵接部2423，转动部2422可转动地设置于主体部24的一侧，抵接部2423设置于转动部2422的下端，并且适于与待测试的功率器件200的下侧抵接配合，手柄部2421设置于转动部2422的上侧。具体地，夹头件242上的转动部2422可转动地设置于主体部24的一侧，可以使夹头件242与主体部24可转动地连接，这样不仅可以将夹头件242设置于主体部24中第一容纳槽22的一侧，而且还可以使夹头件242在主体部24上固定位置自由转动，以使夹头件242可选择性地向上撬起待测试的功率器件200。夹头件242上的抵接部2423设置于转动部2422的下端，可以使抵接部2423与转动部2422一起转动。

进一步地，在抵接部2423与待测试的功率器件200下侧抵接配合时，通过抵接部2423的转动可以将待测试的功率器件200向上撬起，以便于功率器件200的取出。夹头件242上的手柄部2421设置于转动部2422的上侧，并且手柄部2421的上端凸出于主体部24的上侧设置，手柄部2421可以用于驱动转动部2422转动，以驱动抵接部2423转动，如此设置，可以便于用手推动手柄部2421朝向远离第一容纳槽22的外侧转动，可以提高待测试的功率器件200的更换便利性，进而可以提高更换测试样品的效率。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“周向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种功率器件的测试装置，其特征在于，包括：

测试板；

封装体，所述封装体设置于所述测试板上且内部用于设置待测试的功率器件，所述封装体内部设置有测试引脚，所述测试引脚的一端适于与所述待测试的功率器件电连接，另一端与所述测试板电连接。

2.根据权利要求1所述的功率器件的测试装置，其特征在于，所述测试引脚包括第一引脚和第二引脚，所述第一引脚竖直延伸设置且下端与所述测试板电连接，所述第二引脚的一端与所述第一引脚的上端可弯折地连接，所述第二引脚的另一端适于被待测试的功率器件向下挤压且与待测试的功率器件电连接。

3.根据权利要求2所述的功率器件的测试装置，其特征在于，所述封装体内部设置有第一容纳槽和第二容纳槽，所述第二容纳槽设置于所述第一容纳槽的一侧且与所述第一容纳槽相连通，所述第一容纳槽用于设置待测试的功率器件，所述第一引脚设置于所述第二容纳槽中，所述第二引脚至少部分地伸入所述第一容纳槽中。

4.根据权利要求3所述的功率器件的测试装置，其特征在于，所述第二容纳槽的上下两侧均敞开设置，所述第一引脚的下端穿过所述第二容纳槽的下侧且与所述测试板电连接，所述第二引脚从所述第二容纳槽的上侧伸出至所述第一容纳槽中。

5.根据权利要求3所述的功率器件的测试装置，其特征在于，所述测试引脚为多个，所述第二容纳槽为多个，多个所述测试引脚和多个所述第二容纳槽一一对应。

6.根据权利要求3所述的功率器件的测试装置，其特征在于，所述封装体包括主体部和盖板部，所述主体部内设置有所述第一容纳槽和所述第二容纳槽，所述盖板部盖设于所述主体部的上侧且适于与所述主体部内部待测试的功率器件挤压配合。

7.根据权利要求6所述的功率器件的测试装置，其特征在于，所述盖板部上设置有压块，所述压块向下凸出设置且用于压设所述主体部内部待测试的功率器件。

8.根据权利要求6所述的功率器件的测试装置，其特征在于，所述主体部上设置有第一卡接部，所述盖板部上设置有第二卡接部，所述第一卡接部和所述第二卡接部中的一个为卡扣，另一个为卡槽，所述卡扣和所述卡槽可拆卸地卡接配合。

9.根据权利要求6所述的功率器件的测试装置，其特征在于，所述主体部的一侧设置有夹头件，所述夹头件的下端延伸至所述第一容纳槽的下端且适于与待测试的功率器件相抵接，所述夹头件可朝向远离所述第一容纳槽的外侧转动，以使所述夹头件的下端选择性地向上撬动待测试的功率器件。

10.根据权利要求9所述的功率器件的测试装置，其特征在于，所述夹头件包括手柄部、转动部和抵接部，所述转动部可转动地设置于所述主体部的一侧，所述抵接部设置于所述转动部的下端且适于与所述待测试的功率器件的下侧抵接配合，所述手柄部设置于所述转动部的上侧。