CN117387925B - 一种阻尼器性能连续测试方法及*** - Google Patents
一种阻尼器性能连续测试方法及*** Download PDFInfo
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Abstract
本发明涉及阻尼器测试技术领域，更具体地，涉及一种阻尼器性能连续测试方法及***。该方案包括设置具体的测试项目，并对每个类型项目编号；设置综合测试***结构，至少包括阻尼器监视传感器和阻尼器的环境准备设备；形成每个状态下每个测试编号对应测试所需时间的预估；获取全部的历史数据中不同类型测试之间的切换的平均准备时间；设置全部需要测试的项目，形成若干个待测序列，选择最优的待测序列作为测试顺序；根据所述测试顺序进行全部的阻尼器的测试，当出现异常时按照预设规则处理异常。该方案通过一种自适应的调整测试流程，实现阻尼器快速自适应测试的方式，实现高效快捷的性能测试。
Description
技术领域
本发明涉及阻尼器测试技术领域，更具体地，涉及一种阻尼器性能连续测试方法及***。
背景技术
生产生活的诸多设备中均安装有阻尼器，有些设备中还安装有多个阻尼器，安装在不同位置的阻尼器的型号可能是不同的，在实际装配过程中可能会出现安装错误的情况，如果阻尼器的安装存在缺陷，则会出现产品零件不适配，组装错误，不能有效降噪，影响产品使用寿命等质量问题。
在本发明技术之前，现有的阻尼器测试包括外形检测、阻尼力(扭力)检测、故障检测、寿命(耐高低温)检测，但是这些测试过程常常需要根据测试人员的经验进行对应的实验流程的设计，形成实验报告，完成阻尼器的测试，若人员的经验水平不足或者人员规划错误，可能导致测试效率低下。
发明内容
鉴于上述问题，本发明提出了一种阻尼器性能连续测试方法及***，通过一种自适应的调整测试流程，实现阻尼器快速自适应测试的方式，实现高效快捷的性能测试。
根据本发明实施例第一方面，提供一种阻尼器性能连续测试方法。
在一个或多个实施例中，优选地，所述一种阻尼器性能连续测试方法包括：
设置具体的测试项目，并对每个类型项目编号；
设置综合测试***结构，至少包括阻尼器监视传感器和阻尼器的环境准备设备；
形成每个状态下每个测试编号对应测试所需时间的预估；
获取全部的历史数据中不同类型测试之间的切换的平均准备时间；
设置全部需要测试的项目，形成若干个待测序列，选择最优的待测序列作为测试顺序；
根据所述测试顺序进行全部的阻尼器的测试，当出现异常时按照预设规则处理异常。
在一个或多个实施例中，优选地，所述设置具体的测试项目，并对每个类型项目编号，具体包括：
获取阻尼器性能测试项目至少包括外形检测、阻尼力检测、故障检测和寿命检测；
将外形检测编号为1开始，；
将阻尼力检测编号为101开始；
将故障监测编号为201开始；
将寿命监测编号为301开始。
在一个或多个实施例中，优选地，所述设置综合测试***结构，至少包括阻尼器监视传感器和阻尼器的环境准备设备，具体包括：
为外形检测、阻尼力检测、故障检测和寿命检测提供在线的监视传感器；
为外形检测、阻尼力检测、故障检测和寿命检测提供在线测试的环境准备设备；
将全部的监视传感器与环境准备设备通过5G网络连接到控制中心，由控制中心统一管理和控制。
在一个或多个实施例中，优选地，所述形成每个状态下每个测试编号对应测试所需时间的预估，具体包括：
获取全部的对应状态下某个测试编号对应的所需时间的记录值和初始值；
设置第一次测试前的所需时间的预估为所述初始值；
获取历史数据中第一次测试后，实际获取的所需时间的实际值；
当所需时间的实际值高于所述所需时间的预估时，利用第一计算公式计算第二预估值；
当所需时间的实际值不高于所述所需时间的预估时，利用第二计算公式计算第二预估值；
利用第三计算公式计算更新判断裕度；
根据所述第二预估值和所述更新判断裕度，重复进行第三次、第四次直到历史数据中最后一次测试的所需时间的预估，在重复进行第三次、第四次直到历史数据中最后一次测试的过程不断进行，若连续十次测试中所需时间的实际值高于所述所需时间的预估时都是高低不发生变化，则利用第四计算公式修正所述更新判断裕度，后继续重复后续的测试，直到历史数据中最后一次测试的所需时间的预估，此时则不再更新每个测试编号对应的所需时间的预估；
所述第一计算公式为:
Y2＝C+x1
其中，C为初始值，Y2为第二预估值，x1为更新判断裕度；
所述第二计算公式为：
Y2＝C-x1
所述第三计算公式为：
x1＝x1×0.5
所述第四计算公式为：
x1＝x1×8
在一个或多个实施例中，优选地，所述获取全部的历史数据中不同类型测试之间的切换的平均准备时间，具体包括：
获得历史数据中不同类型测试之间的切换时间，若不存在时，则利用预设的经验值代替；
若存在若干个切换时间，则取其平均值作为切换的平均准备时间；
将切换的平均准备时间，存储到一个切换表中，切换表中第i行j列的元素为从i测试切换到j测试所需的平均准备时间。
在一个或多个实施例中，优选地，所述设置全部需要测试的项目，形成若干个待测序列，选择最优的待测序列作为测试顺序，具体包括：
确定全部需要测试的项目，提取每个项目的编号，形成全部可能的待测序列，组成测试顺序集合；
根据经验预先设置最可能的阻尼器的环境，利用第五计算公式提取最优的测试序列；
按照所述最优的测试序列执行，一个测试后，判断当前时刻实际的阻尼器的环境，并根据当前状态，更新每个测试编号对应测试所需时间的预估，重新利用第六计算公式获得最优的测试序列，作为测试顺序；
所述第五计算公式为：
[A]＝ARGMIN1(ΣS+Σ[A])
其中，[A]为最优的测试序列，Σ[A]为测试遍历集合中每个[A]的平均准备时间加和，S为所需时间的预估，ΣS为[A]的所需时间的预估，ARGMIN1为提取测试遍历集合每个[A]对应ΣS+Σ[A]最小值时的最优的测试序列的函数；
所述第六计算公式为：
[A-n]＝ARGMIN2(ΣS+Σ[A-n])
其中，[A-n]为已经完成n个测试后的最优的测试序列，Σ[A-n]为[A-n]的平均准备时间加和，S为所需时间的预估，ΣS为[A-n]的所需时间的预估，ARGMIN1为提取测试遍历集合每个[A-n]对应ΣS+Σ[A-n]最小值时的最优的测试序列的函数。
在一个或多个实施例中，优选地，所述根据所述测试顺序进行全部的阻尼器的测试，当出现异常时按照预设规则处理异常，具体包括：
当出现阻尼器已经损坏时，认为测试未通过，不再继续进行测试；
当出现阻尼器为损坏，但是测试数据没有或者数据无法判断结果时，将已经完成的测试减除后，利用剩余的测试遍历集合进行寻优，直到完成剩余测试。
根据本发明实施例第二方面，提供一种阻尼器性能连续测试***。
在一个或多个实施例中，优选地，所述一种阻尼器性能连续测试***包括：
项目设置模块，用于设置具体的测试项目，并对每个类型项目编号；
综合测试模块，用于设置综合测试***结构，至少包括阻尼器监视传感器和阻尼器的环境准备设备；
快速评估模块，用于形成每个状态下每个测试编号对应测试所需时间的预估；
时间分析模块，用于获取全部的历史数据中不同类型测试之间的切换的平均准备时间；
最优路线分析模块，用于设置全部需要测试的项目，形成若干个待测序列，选择最优的待测序列作为测试顺序；
故障处理模块，用于根据所述测试顺序进行全部的阻尼器的测试，当出现异常时按照预设规则处理异常。
根据本发明实施例第三方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储计算机程序指令，所述计算机程序指令在被处理器执行时实现如本发明实施例第一方面中任一项所述的方法。
根据本发明实施例第四方面，提供一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器用于存储一条或多条计算机程序指令，其中，所述一条或多条计算机程序指令被所述处理器执行以实现本发明实施例第一方面中任一项所述的方法。
本发明的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：
本发明方案中，设置了一套阻尼器的综合测试***，该***中除了包括测试设备外，还包括测试设备实时测试所需时间评估***。
本发明方案中，设置了一整套与阻尼器测试***相配合的测试方案优化方法，该方法可以快速的提取出何时开始阻尼器的哪种测试，最快的解决对于人员的经验不足或人员规划时产生的测试低效率问题。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明一个实施例的一种阻尼器性能连续测试方法的流程图。
图2是本发明一个实施例的一种阻尼器性能连续测试方法中的设置具体的测试项目，并对每个类型项目编号的流程图。
图3是本发明一个实施例的一种阻尼器性能连续测试方法中的设置综合测试***结构，至少包括阻尼器监视传感器和阻尼器的环境准备设备的流程图。
图4是本发明一个实施例的一种阻尼器性能连续测试方法中的形成每个状态下每个测试编号对应测试所需时间的预估的流程图。
图5是本发明一个实施例的一种阻尼器性能连续测试方法中的获取全部的历史数据中不同类型测试之间的切换的平均准备时间的流程图。
图6是本发明一个实施例的一种阻尼器性能连续测试方法中的设置全部需要测试的项目，形成若干个待测序列，选择最优的待测序列作为测试顺序的流程图。
图7是本发明一个实施例的一种阻尼器性能连续测试方法中的根据所述测试顺序进行全部的阻尼器的测试，当出现异常时按照预设规则处理异常的流程图。
图8是本发明一个实施例的一种阻尼器性能连续测试***的结构图。
图9是本发明一个实施例中一种电子设备的结构图。
具体实施方式
在本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的描述的一些流程中，包含了按照特定顺序出现的多个操作，但是应该清楚了解，这些操作可以不按照其在本文中出现的顺序来执行或并行执行，操作的序号如101、102等，仅仅是用于区分开各个不同的操作，序号本身不代表任何的执行顺序。另外，这些流程可以包括更多或更少的操作，并且这些操作可以按顺序执行或并行执行。需要说明的是，本文中的“第一”、“第二”等描述，是用于区分不同的消息、设备、模块等，不代表先后顺序，也不限定“第一”和“第二”是不同的类型。
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
生产生活的诸多设备中均安装有阻尼器，有些设备中还安装有多个阻尼器，安装在不同位置的阻尼器的型号可能是不同的，在实际装配过程中可能会出现安装错误的情况，如果阻尼器的安装存在缺陷，则会出现产品零件不适配，组装错误，不能有效降噪，影响产品使用寿命等质量问题。
在本发明技术之前，现有的阻尼器测试包括外形检测、阻尼力(扭力)检测、故障检测、寿命(耐高低温)检测，但是这些测试过程常常需要根据测试人员的经验进行对应的实验流程的设计，形成实验报告，完成阻尼器的测试，若人员的经验水平不足或者人员规划错误，可能导致测试效率低下。
本发明实施例中，提供了一种阻尼器性能连续测试方法及***。该方案通过一种自适应的调整测试流程，实现阻尼器快速自适应测试的方式，实现高效快捷的性能测试。
根据本发明实施例第一方面，提供一种阻尼器性能连续测试方法。
图1是本发明一个实施例的一种阻尼器性能连续测试方法的流程图。
在一个或多个实施例中，优选地，所述一种阻尼器性能连续测试方法包括：
S101.设置具体的测试项目，并对每个类型项目编号；
S102.设置综合测试***结构，至少包括阻尼器监视传感器和阻尼器的环境准备设备；
S103.形成每个状态下每个测试编号对应测试所需时间的预估；
S104.获取全部的历史数据中不同类型测试之间的切换的平均准备时间；
S105.设置全部需要测试的项目，形成若干个待测序列，选择最优的待测序列作为测试顺序；
S106.根据所述测试顺序进行全部的阻尼器的测试，当出现异常时按照预设规则处理异常。
在本发明实施例中，首先设置一套阻尼器的测试项目，其次进行在线的综合测试分析，最终形成一种自适应的测试方法。
图2是本发明一个实施例的一种阻尼器性能连续测试方法中的设置具体的测试项目，并对每个类型项目编号的流程图。
如图2所示，在一个或多个实施例中，优选地，所述设置具体的测试项目，并对每个类型项目编号，具体包括：
S201、获取阻尼器性能测试项目至少包括外形检测、阻尼力检测、故障检测和寿命检测；
S202、将外形检测编号为1开始，；
S203、将阻尼力检测编号为101开始；
S204、将故障监测编号为201开始；
S205、将寿命监测编号为301开始。
在本发明实施例中，测试项目的设置过程，主要是根据当前的***需要进行的全部的阻尼器性能的测试设置，最优的测试需求，在本发明方案中至少包括外形检测、阻尼力(扭力)检测、故障检测、寿命(耐高低温)检测，为了进行不同测试项目之间切换的学习，在设置测试项目的阶段，还进行了项目编号，考虑同类型编号一般不超过100个。
图3是本发明一个实施例的一种阻尼器性能连续测试方法中的设置综合测试***结构，至少包括阻尼器监视传感器和阻尼器的环境准备设备的流程图。
如图3所示，在一个或多个实施例中，优选地，所述设置综合测试***结构，至少包括阻尼器监视传感器和阻尼器的环境准备设备，具体包括：
S301、为外形检测、阻尼力检测、故障检测和寿命检测提供在线的监视传感器；
S302、为外形检测、阻尼力检测、故障检测和寿命检测提供在线测试的环境准备设备；
S303、将全部的监视传感器与环境准备设备通过5G网络连接到控制中心，由控制中心统一管理和控制。
在本发明实施例中，在线综合测试***设置过程包括两个部分，第一个部分是阻尼器的监测传感器，这些传感器主要用于进行外形检测、阻尼力(扭力)检测、故障检测和寿命(耐高低温)检测过程中的信息监测，第二个部分是环境准备类型设备，这类设备主要是提供对应测试环境的，一般情况下环境准备与监测传感都需要全部准备好，才能够启动整个综合测试的，所以先需要明确在一个自适应阻尼器性能测试***中，需要全部准备的都有哪些。
图4是本发明一个实施例的一种阻尼器性能连续测试方法中的形成每个状态下每个测试编号对应测试所需时间的预估的流程图。
如图4所示，在一个或多个实施例中，优选地，所述形成每个状态下每个测试编号对应测试所需时间的预估，具体包括：
S401、获取全部的对应状态下某个测试编号对应的所需时间的记录值和初始值；
S402、设置第一次测试前的所需时间的预估为所述初始值；
S403、获取历史数据中第一次测试后，实际获取的所需时间的实际值；
S404、当所需时间的实际值高于所述所需时间的预估时，利用第一计算公式计算第二预估值；
S405、当所需时间的实际值不高于所述所需时间的预估时，利用第二计算公式计算第二预估值；
S406、利用第三计算公式计算更新判断裕度；
S407、根据所述第二预估值和所述更新判断裕度，重复进行第三次、第四次直到历史数据中最后一次测试的所需时间的预估，在重复进行第三次、第四次直到历史数据中最后一次测试的过程不断进行，若连续十次测试中所需时间的实际值高于所述所需时间的预估时都是高低不发生变化，则利用第四计算公式修正所述更新判断裕度，后继续重复后续的测试，直到历史数据中最后一次测试的所需时间的预估，此时则不再更新每个测试编号对应的所需时间的预估；
所述第一计算公式为:
Y2＝C+x1
其中，C为初始值，Y2为第二预估值，x1为更新判断裕度；
所述第二计算公式为：
Y2＝C-x1
所述第三计算公式为：
x1＝x1×0.5
所述第四计算公式为：
x1＝x1×8
在本发明实施例中，为了进行快速的评估，需要明确在不同的测试状态下，启动对应测试之后，所需的测试总时长是多久，这个在不同的启动状态下，是完全不一样的，但是，又很难由测试人员完全的确定，这方面采用两种方式，第一种是，在启动前没有历史数据时，这种情况下则通过经验，设置一个测试时间；若有历史数据之后，则根据历史数据进行修正，最终将会产生一个不断寻优的不同状态下的测试所需时间。
图5是本发明一个实施例的一种阻尼器性能连续测试方法中的获取全部的历史数据中不同类型测试之间的切换的平均准备时间的流程图。
如图5所示，在一个或多个实施例中，优选地，所述获取全部的历史数据中不同类型测试之间的切换的平均准备时间，具体包括：
S501、获得历史数据中不同类型测试之间的切换时间，若不存在时，则利用预设的经验值代替；
S502、若存在若干个切换时间，则取其平均值作为切换的平均准备时间；
S503、将切换的平均准备时间，存储到一个切换表中，切换表中第i行j列的元素为从i测试切换到j测试所需的平均准备时间。
在本发明实施例中，由于不太类型的测试之间切换所需的准备时间是不太的，但是，应该是差距不大的，这种情况下，需要做的核心是通过表格去记录，这个切换时间，并求取平均值，最终作为一个切换表，切换表中第i行j列的元素为从i测试切换到j测试所需的平均准备时间。
图6是本发明一个实施例的一种阻尼器性能连续测试方法中的设置全部需要测试的项目，形成若干个待测序列，选择最优的待测序列作为测试顺序的流程图。
如图6所示，在一个或多个实施例中，优选地，所述设置全部需要测试的项目，形成若干个待测序列，选择最优的待测序列作为测试顺序，具体包括：
S601、确定全部需要测试的项目，提取每个项目的编号，形成全部可能的待测序列，组成测试顺序集合；
S602、根据经验预先设置最可能的阻尼器的环境，利用第五计算公式提取最优的测试序列；
S603、按照所述最优的测试序列执行，一个测试后，判断当前时刻实际的阻尼器的环境，并根据当前状态，更新每个测试编号对应测试所需时间的预估，重新利用第六计算公式获得最优的测试序列，作为测试顺序；
所述第五计算公式为：
[A]＝ARGMIN1(ΣS+Σ[A])
其中，[A]为最优的测试序列，Σ[A]为测试遍历集合中每个[A]的平均准备时间加和，S为所需时间的预估，ΣS为[A]的所需时间的预估，ARGMIN1为提取测试遍历集合每个[A]对应ΣS+Σ[A]最小值时的最优的测试序列的函数；
所述第六计算公式为：
[A-n]＝ARGMIN2(ΣS+Σ[A-n])
其中，[A-n]为已经完成n个测试后的最优的测试序列，Σ[A-n]为[A-n]的平均准备时间加和，S为所需时间的预估，ΣS为[A-n]的所需时间的预估，ARGMIN1为提取测试遍历集合每个[A-n]对应ΣS+Σ[A-n]最小值时的最优的测试序列的函数。
在本发明实施例中，最优路线测试的过程是一个遍历的过程，首先，形成全部的可能的测试顺序的集合，其次，确认每个测试作为第一个试验所需的准备时间，其次，考虑现有每个测试结束后，最可能的阻尼器的环境，进而阻尼器的环境获得切换到下一个测试的准备时间和下一个测试的总时长，利用寻优的第五计算公式，确定最优的测试顺序，但是，时间在阻尼器测试过程中，可能会出现测试结束后，运行状态与预先确定的状态不同，这种情况下，按照当前时刻的状态，重新利用第六计算公式，进行寻优，确定剩余的最优测试路线，指导全部测试结束。
图7是本发明一个实施例的一种阻尼器性能连续测试方法中的根据所述测试顺序进行全部的阻尼器的测试，当出现异常时按照预设规则处理异常的流程图。
如图7所示，在一个或多个实施例中，优选地，所述根据所述测试顺序进行全部的阻尼器的测试，当出现异常时按照预设规则处理异常，具体包括：
S701、当出现阻尼器已经损坏时，认为测试未通过，不再继续进行测试；
S702、当出现阻尼器为损坏，但是测试数据没有或者数据无法判断结果时，将已经完成的测试减除后，利用剩余的测试遍历集合进行寻优，直到完成剩余测试。
在本发明实施例中，当测试过程中出现测试故障，如何处理呢，最核心的故障可能是阻尼器已经损坏了，这种情况下，将会出具测试失败或不通过的结果，其次，若未损坏，但是测试失败了，数据没有或者数据不正常，需要重新测试，则将已经完成的测试减除后，利用剩余的测试遍历集合进行寻优，并确定完整的测试。
根据本发明实施例第二方面，提供一种阻尼器性能连续测试***。
图8是本发明一个实施例的一种阻尼器性能连续测试***的结构图。
在一个或多个实施例中，优选地，所述一种阻尼器性能连续测试***包括：
项目设置模块801，用于设置具体的测试项目，并对每个类型项目编号；
综合测试模块802，用于设置综合测试***结构，至少包括阻尼器监视传感器和阻尼器的环境准备设备；
快速评估模块803，用于形成每个状态下每个测试编号对应测试所需时间的预估；
时间分析模块804，用于获取全部的历史数据中不同类型测试之间的切换的平均准备时间；
最优路线分析模块805，用于设置全部需要测试的项目，形成若干个待测序列，选择最优的待测序列作为测试顺序；
故障处理模块806，用于根据所述测试顺序进行全部的阻尼器的测试，当出现异常时按照预设规则处理异常。
在本发明实施例中，通过一系列的模块化设计，实现一个适用于不同结构下的***，该***能够通过采集、分析和控制，实现闭环的、可靠的、高效的执行。
根据本发明实施例第三方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储计算机程序指令，所述计算机程序指令在被处理器执行时实现如本发明实施例第一方面中任一项所述的方法。
根据本发明实施例第四方面，提供一种电子设备。图9是本发明一个实施例中一种电子设备的结构图。图9所示的电子设备为通用阻尼器性能连续测试装置。如图9所示，电子设备900包括中央处理单元(CPU)901，其可以根据存储在只读存储器(ROM)902中的计算机程序指令或者从存储单元908加载到随机访问存储器(RAM)903中的计算机程序指令，来执行各种适当的动作和处理。在RAM 903中，还可存储电子设备900操作所需的各种程序和数据。CPU 901、ROM 902以及RAM903通过总线904彼此相连。输入/输出(I/O)接口905也连接至总线904。
电子设备900中的多个部件连接至I/O接口905，包括：输入单元906、输出单元907、存储单元908，处理单元901执行上文所描述的各个方法和处理，例如本发明实施例第一方面描述的方法。例如，在一些实施例中，本发明实施例第一方面描述的方法可被实现为计算机软件程序，其被存储于机器可读介质，例如存储单元908。在一些实施例中，计算机程序的部分或者全部可以经由ROM 902和/或通信单元909而被载入和/或安装到电子设备900上。当计算机程序加载到RAM 903并由CPU 901执行时，可以执行本发明实施例第一方面描述的方法的一个或多个操作。备选地，在其他实施例中，CPU901可以通过其他任何适当的方式(例如，借助于固件)而被配置为本发明实施例第一方面描述的方法的一个或多个动作。
本发明的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：
本发明方案中，设置了一套阻尼器的综合测试***，该***中除了包括测试设备外，还包括测试设备实时测试所需时间评估***。
本发明方案中，设置了一整套与阻尼器测试***相配合的测试方案优化方法，该方法可以快速的提取出何时开始阻尼器的哪种测试，最快的解决对于人员的经验不足或人员规划时产生的测试低效率问题。
本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、***、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(***)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (8)
1.一种阻尼器性能连续测试方法，其特征在于，该方法包括：
设置具体的测试项目，并对每个类型项目编号；
设置综合测试***结构，至少包括阻尼器监视传感器和阻尼器的环境准备设备；
形成每个状态下每个测试编号对应测试所需时间的预估；
获取全部的历史数据中不同类型测试之间的切换的平均准备时间；
设置全部需要测试的项目，形成若干个待测序列，选择最优的待测序列作为测试顺序；
根据所述测试顺序进行全部的阻尼器的测试，当出现异常时按照预设规则处理异常；
其中，所述形成每个状态下每个测试编号对应测试所需时间的预估，具体包括：
获取全部的对应状态下某个测试编号对应的所需时间的记录值和初始值；
设置第一次测试前的所需时间的预估为所述初始值；
获取历史数据中第一次测试后，实际获取的所需时间的实际值；
当所需时间的实际值高于所述所需时间的预估时，利用第一计算公式计算第二预估值；
当所需时间的实际值不高于所述所需时间的预估时，利用第二计算公式计算第二预估值；
利用第三计算公式计算更新判断裕度；
根据所述第二预估值和所述更新判断裕度，重复进行第三次、第四次直到获得历史数据中最后一次测试的所需时间的预估，在重复进行第三次、第四次直到历史数据中最后一次测试的过程不断进行，若连续十次测试中所需时间的实际值高于所述所需时间的预估时的高低关系不发生变化，则利用第四计算公式修正所述更新判断裕度，继续根据所述第二预估值和所述更新判断裕度，重复进行第三次、第四次直到获得历史数据中最后一次测试的所需时间的预估，此时则不再更新每个测试编号对应的所需时间的预估；
所述第一计算公式为:
Y2＝C+x1
其中，C为初始值，Y2为第二预估值，x1为更新判断裕度；
所述第二计算公式为：
Y2＝C-x1
所述第三计算公式为：
x1＝x1×0.5
所述第四计算公式为：
x1＝x1×8
其中，所述设置全部需要测试的项目，形成若干个待测序列，选择最优的待测序列作为测试顺序，具体包括：
确定全部需要测试的项目，提取每个项目的编号，形成全部可能的待测序列，组成测试顺序集合；
根据经验预先设置最可能的阻尼器的环境，利用第五计算公式提取最优的测试序列；
按照所述最优的测试序列执行，一个测试后，判断当前时刻实际的阻尼器的环境，并根据当前状态，更新每个测试编号对应测试所需时间的预估，重新利用第六计算公式获得最优的测试序列，作为测试顺序
所述第五计算公式为：
[A]＝ARGMIN1(ΣS+Σ[A])
其中，[A]为最优的测试序列，Σ[A]为测试遍历集合中每个[A]的平均准备时间加和，S为所需时间的预估，ΣS为[A]的所需时间的预估，ARGMIN1为提取测试遍历集合每个[A]对应ΣS+Σ[A]最小值时的最优的测试序列的函数；
所述第六计算公式为：
[A-n]＝ARGMIN2(ΣS+Σ[A-n])
其中，[A-n]为已经完成n个测试后的最优的测试序列，Σ[A-n]为[A-n]的平均准备时间加和，S为所需时间的预估，ΣS为[A-n]的所需时间的预估，ARGMIN1为提取测试遍历集合每个[A-n]对应ΣS+Σ[A-n]最小值时的最优的测试序列的函数。
2.如权利要求1所述的一种阻尼器性能连续测试方法，其特征在于，所述设置具体的测试项目，并对每个类型项目编号，具体包括：
获取阻尼器性能测试项目至少包括外形检测、阻尼力检测、故障检测和寿命检测；
将外形检测编号为1开始，；
将阻尼力检测编号为101开始；
将故障检测编号为201开始；
将寿命检测编号为301开始。
3.如权利要求1所述的一种阻尼器性能连续测试方法，其特征在于，所述设置综合测试***结构，至少包括阻尼器监视传感器和阻尼器的环境准备设备，具体包括：
为外形检测、阻尼力检测、故障检测和寿命检测提供在线的监视传感器；
为外形检测、阻尼力检测、故障检测和寿命检测提供在线测试的环境准备设备；
将全部的监视传感器与环境准备设备通过5G网络连接到控制中心，由控制中心统一管理和控制。
4.如权利要求1所述的一种阻尼器性能连续测试方法，其特征在于，所述获取全部的历史数据中不同类型测试之间的切换的平均准备时间，具体包括：
获得历史数据中不同类型测试之间的切换时间，若不存在时，则利用预设的经验值代替；
若存在若干个切换时间，则取其平均值作为切换的平均准备时间；
将切换的平均准备时间，存储到一个切换表中，切换表中第i行j列的元素为从i测试切换到j测试所需的平均准备时间。
5.如权利要求1所述的一种阻尼器性能连续测试方法，其特征在于，所述根据所述测试顺序进行全部的阻尼器的测试，当出现异常时按照预设规则处理异常，具体包括：
当出现阻尼器已经损坏时，认为测试未通过，不再继续进行测试；
当出现阻尼器为损坏，但是测试数据没有或者数据无法判断结果时，将已经完成的测试减除后，利用剩余的测试遍历集合进行寻优，直到完成剩余测试。
6.一种阻尼器性能连续测试***，其特征在于，该***用于实施如权利要求1-5中任一项所述的方法，该***包括：
项目设置模块，用于设置具体的测试项目，并对每个类型项目编号；
综合测试模块，用于设置综合测试***结构，至少包括阻尼器监视传感器和阻尼器的环境准备设备；
快速评估模块，用于形成每个状态下每个测试编号对应测试所需时间的预估；
时间分析模块，用于获取全部的历史数据中不同类型测试之间的切换的平均准备时间；
最优路线分析模块，用于设置全部需要测试的项目，形成若干个待测序列，选择最优的待测序列作为测试顺序；
故障处理模块，用于根据所述测试顺序进行全部的阻尼器的测试，当出现异常时按照预设规则处理异常。
7.一种计算机可读存储介质，其上存储计算机程序指令，其特征在于，所述计算机程序指令在被处理器执行时实现如权利要求1-5中任一项所述的方法。
8.一种电子设备，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器用于存储一条或多条计算机程序指令，其中，所述一条或多条计算机程序指令被所述处理器执行以实现如权利要求1-5任一项所述的方法。
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