CN117352414B - 一种二极管测试工艺 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种二极管测试工艺，涉及半导体生产加工以及测试技术领域，主要包括以下几个步骤：S5、压紧引脚：对步骤S4中将发光二极管底部的引脚粘贴住的两层编织带通过两侧压紧板向中间快速夹持并快速松开；通过测试台表面的两个编带压板往复交替按压，利用编带压板表面的弧形弯曲进行折叠导向使编织带按照S形层叠进行收纳，减少编织带点用面积的同时增加编织带收纳性能，同时通过将编织带按照S形层叠进行收纳减小编织带点用面积的同时，配合涂抹在发光二极管表面的红油墨水通过折弯后的发光二极管向上展示，可以便于后期人员采用视觉快速筛查出不发光的发光二极管，从而有效提高剔除效率。
Description
技术领域
本发明涉及半导体生产加工以及测试技术领域，具体为一种二极管测试工艺。
背景技术
二极管是用半导体材料(硅、硒、锗等)制成的一种电子器件。二极管有两个电极，正极，又叫阳极；负极，又叫阴极，给二极管两极间加上正向电压时，二极管导通，加上反向电压时，二极管截止。二极管的导通和截止，则相当于开关的接通与断开。
二极管目前在市场中又分为：光电二极管、发光二极管、点接触型二极管、面接触型二极管、平面型二极管、稳压管等结构，而发光二极管是一种常用的发光器件，简称为LED，是通过电子与空穴复合释放能量发光，它在照明领域应用广泛。发光二极管可高效地将电能转化为光能，在现代社会具有广泛的用途，如照明、平板显示、医疗器件等。
发光二极管与普通二极管一样是由一个PN结组成，也具有单向导电性。当给发光二极管加上正向电压后，从P区注入到N区的空穴和由N区注入到P区的电子，在PN结附近数微米内分别与N区的电子和P区的空穴复合，产生自发辐射的荧光。不同的半导体材料中电子和空穴所处的能量状态不同。当电子和空穴复合时释放出的能量多少不同，释放出的能量越多，则发出的光的波长越短。常用的是发红光、绿光或黄光的二极管。发光二极管的反向击穿电压大于5伏。它的正向伏安特性曲线很陡，使用时必须串联限流电阻以控制通过二极管的电流。
发光二极管的生产加工过程中由于大多数二极管元件的体积较小，并且具有两个引线或引脚，因此，工业中常使用编排的形式将每一个发光二极管进行串联排列，便于后期测试加工，如专利号201721284529.6公开了一种二极管编带成型装置，并公开了本实用新型结构简单，操作方便，上料装置将二极管送到带条上，成型压辊转动，并带动两个带条将二极管包裹在其中，凸轮转动，凸轮带动与其相抵设置的滑杆往复运动，两个滑杆通过连杆和转轴连接，因此其中一个滑杆的往复运动也会带动另一个滑杆做往复运动，这样滑杆就带动打孔板对二极管编带往复打孔，提高了生产效率，二极管编带又在压辊的带动下运动储存盒中，此装置工作方式简单而且生产效率高。
然而上述专利公开的对于二极管的输送在实际使用过程中仍存在一些不足之处，具体不足之处在于：
现有的，二极管在生产过程中会存在一些不发光的次品进行测试剔除，目前的对于二极管的测试主要采用工装辅助，手动安装连接发光二极管进行发光测试，这样的工作效率低，测试速度慢，测试效率低，测试精度低，误差高，因此，需要提供一种二极管测试工艺。
发明内容
针对现有技术中的问题，本发明的目的在于提供一种二极管测试工艺，解决上述背景技术中叙述到的：现有的，发光二极管在生产过程中会存在一些不发光的次品进行测试剔除，目前的对于发光二极管的测试主要采用工装辅助，手动安装连接发光二极管进行发光测试，这样的工作效率低，测试速度慢，测试效率低，测试精度低，误差高的技术问题。
本发明所要解决的技术问题采用以下的技术方案来实现：一种二极管测试工艺，该二极管测试工艺主要包括以下几个步骤：
S1、发光二极管排序：将若干个待测试的发光二极管放置于振动盘内，通过振动盘工作将若干个待测试的发光二极管进行整理排序使若干个待测试的发光二极管摆放一致，并向直线供料台左端连续供料；
S2、中转拾取并间歇供料：直线供料台左端通过中转组件往复拾取发光二极管向测试台表面输送，中转组件每一次往复行程拾取单个发光二极管，拾取的单个发光二极管需经过中转台进行间歇性停留一次，将连续转移转为间歇转移，并使间歇转移的单个发光二极管与间歇移动的编织带间歇移动规律一致；
S3、间歇输送两层编织带：通过两个间歇转动的动力轮压紧贴合的两层编织带表面，并通过动力轮间歇转动，利用动力轮表面与编织带表面接触的摩擦力推动编织带间歇输送；
S4、编织带内***发光二极管：对步骤S3中在测试台顶面间歇输送移动的两层编织带分别通过c右侧的两组供料带轮进行间歇型拉直输送，步骤S2中在中转台进行间歇性停留的发光二极管通过中转组件继续拾取并水平转移放置到的两组供料带轮接触的初始角位置，使发光二极管底部的引脚嵌入在两层编织带的中间，通过两层编织带向左继续移动，利用两层编织带的粘贴将发光二极管底部的引脚粘贴住；
S5、压紧引脚：对步骤S4中将发光二极管底部的引脚粘贴住的两层编织带通过两侧压紧板向中间快速夹持并快速松开，通过压紧板表面的气囊袋与编织带表面贴合并向两层编织带的中部施加压紧力，使发光二极管底部的引脚牢固地***在两层编织带的中间。
S6、发光测试：对步骤S5中两层编织带中间压紧后的发光二极管进行发光测试，***在两层编织带中间的发光二极管移动至测试板表面进行暂停间歇，通过测试板前侧的活动推块向测试板表面快速移动按压，通过活动推块上的折弯导电推块与发光二极管的引脚接触，将折弯导电推块表面的电池通过引脚传送给发光二极管，此时发光二极管正常发光，当发光二极管不发光时，此时拨弯顶块向后伸出并将发光二极管与引脚推弯，且通过拨弯顶块表面的红油墨水涂抹在不亮的发光二极管表面；
S7、发光二极管编织带叠压收纳：对步骤S6中测试完成的发光二极管进行折叠压紧收纳，通过测试台表面的两个编带压板往复交替按压，利用编带压板表面的弧形弯曲进行折叠导向使编织带按照S形层叠进行收纳；
S8、人工剔除次品：对步骤S7中折叠压紧的编织带进行视觉剔除不亮的发光二极管，通过步骤S6在发光二极管表面涂抹的红油墨水从而使人工视觉轻松快捷地剔除不亮的发光二极管，并将正常发光的二极管手动***在编织带中间原不亮的发光二极管位置完成替换；
做为本发明的一种优选技术方案，上述记载的步骤S1-S8还包括固定于地面的测试台，以及设置于所述测试台右侧的震动盘，所述测试台的顶端靠近测试台左侧固定有侧护板，所述测试台的顶端靠近测试台后侧固定有后护板，所述测试台的后侧设置有控制台，所述测试台的底部设置有支撑腿，
做为本发明的一种优选技术方案，所述测试台的右侧设置有震动盘，所述震动盘向外伸出有直线供料台，所述直线供料台左端与测试台右侧设置有中转组件；
做为本发明的一种优选技术方案，所述测试台顶端靠近测试台右侧安装有供料带轮，所述供料带轮共设有两组，每一组所述供料带轮上传送有编织带，每一组所述供料带轮的编织带另一端卷绕于各自的编带转轴上，每一个所述编带转轴转动连接于测试台顶端；
做为本发明的一种优选技术方案，所述供料带轮的左侧设置有两个压紧板，两个所述压紧板左侧设置有测试组件，所述测试组件左侧设置有间歇转动的两个动力轮，编织带依次从两个所述压紧板的中间、测试组件以及两个所述动力轮中间穿过。
做为本发明的一种优选技术方案，所述直线供料台包括开设于直线供料台顶端的二极管供料槽，所述直线供料台的二极管供料槽左侧转动连接有两个倾斜的活动挡板，每一侧的所述活动挡板通过铰支座转动连接于直线供料台的二极管供料槽内壁上，每一侧的所述活动挡板中部与二极管供料槽内壁之间固定有弹簧。
做为本发明的一种优选技术方案，所述中转组件包括设置于测试台右侧与直线供料台左侧中间位置的中转台，所述中转台的前侧壁带有永久性磁铁。
做为本发明的一种优选技术方案，所述中转组件还包括固定于测试台右侧的导向滑轨，所述导向滑轨的顶端前后两侧开设有第二导向滑槽，所述导向滑轨的顶端滑动连接有第二滑块，第二滑块卡接于导向滑轨的第二导向滑槽内，所述第二滑块的顶端固定有两个夹持机架，每一个所述夹持机架的顶端开设有直线滑孔，所述直线滑孔的内壁滑动连接有两个活动螺母套筒，所述夹持机架的其中一侧外壁固定有伺服电机二，所述伺服电机二向夹持机架的直线滑孔内伸出有双向螺纹丝杆，所述双向螺纹丝杆的表面滑动连接有两个反向螺纹连接的活动螺母套筒，每一个所述活动螺母套筒的底部设置有夹持爪；
所述夹持爪与发光二极管贴合的表面设置有与发光二极管相贴合的弧形轮廓面。
做为本发明的一种优选技术方案，所述动力轮包括固定于测试台底端的电动机，所述电动机向上伸出有拨轮，其中一个所述动力轮底部设置有槽轮，所述拨轮与槽轮间歇啮合连接，两个所述动力轮底部各设置有一个齿轮，两个所述动力轮底部通过齿轮啮合同步转动。
做为本发明的一种优选技术方案，所述测试组件包括固定于测试台顶端的测试板，所述测试板的前侧壁开设有折弯槽，所述测试板的前侧固设有固定滑块，所述固定滑块的顶面开设有直线导向滑槽，所述固定滑块的顶端滑动连接有活动滑块，所述固定滑块的顶端固定有气缸支架一，所述气缸支架一的表面固定安装有第一气压缸，所述第一气压缸向左伸出有活塞杆，所述第一气压缸的活塞杆顶端固定于活动滑块上，所述活动滑块的后侧固定有两个折弯导电推块，每一个所述折弯导电推块为金属块，其中一个所述折弯导电推块表面带有电流。
做为本发明的一种优选技术方案，所述活动滑块的后侧固定有直立于测试台顶面的活动推块，所述活动推块的后侧固定有顶簧，所述活动推块后侧的顶簧表面固定有压紧块。
做为本发明的一种优选技术方案，所述活动滑块的顶端固定有直立于活动滑块顶端的支缸支架二，所述支缸支架二的前侧固定有第二气压缸，所述第二气压缸后端面设置有活塞杆，所述第二气压缸的活塞杆顶端固定有拨弯顶块。
做为本发明的一种优选技术方案，所述拨弯顶块的后侧壁固定有红油海绵。拨弯顶块的顶端开设有注油口，注油口设置有橡胶塞密封，拨弯顶块的内部开设有与注油口连通的油腔，油腔内储存有红油墨水，拨弯顶块的后侧壁开设有与油腔连通的排油小孔，红油海绵设置在拨弯顶块后侧壁用于阻挡并吸收排油小孔排出的红油墨水。
做为本发明的一种优选技术方案，所述测试台的顶面左半片区域开设有两个直线导槽，两个所述直线导槽分别设置于靠近测试台顶面的前后两侧，每一个所述直线导槽内滑动连接有编带压板，每一个所述编带压板为中间平面、两边弧形向外弯曲的薄板结构；
所述测试台的底部固定有固定耳板，所述固定耳板的表面固定有拉簧，每一个所述编带压板的底部穿过直线导槽并在测试台的底部设置有滑块，所述滑块表面设置有拉绳锁扣，所述滑块的拉绳锁扣栓接有拉绳，所述拉绳的另一端卷绕于绕线盘表面，所述绕线盘设置有伺服电机一驱动旋转，所述伺服电机一固定于测试台底部。
做为本发明的一种优选技术方案，所述压紧板包括对称开设于测试台上的两个直线滑孔，压紧板共设有两个，两个所述压紧板分别设置于两个所述直线滑孔的顶部，每一个所述压紧板的底部设置有滑动连接于直线滑孔内的活动滑杆，每一个所述活动滑杆的底端开设有螺纹孔，所述测试台的底端固定有伺服电机三，所述伺服电机三向前伸出有双向螺纹丝杆二，两个所述活动滑杆底端开设的螺纹孔螺纹连接于双向螺纹丝杆二上。
与现有技术相比，本发明的有益效果在于：
一、本发明***在两层编织带中间的发光二极管移动至测试板表面进行暂停间歇，通过测试板前侧的活动推块向测试板表面快速移动按压，通过活动推块上的压紧块先压紧待测位置的两层编织带，通过顶簧的压缩会使得折弯导电推块继续向后伸出，折弯导电推块与发光二极管的引脚接触，将折弯导电推块表面的电池通过引脚传送给发光二极管，此时发光二极管正常发光，而向后伸出的折弯导电推块会将引脚直接推入折弯槽内，使引脚沿折弯槽内壁轮廓进行折弯，此效果在于能够在折弯导电推块与引脚接触进行测试发光的同时还能完成对引脚的折弯，实现发光二极管一次停歇完成两个步骤，引脚折弯后的发光二极管后期安装在电子元器件时更易于夹持或定位。且折弯导电推块与引脚接触并进行测试发光的同时将引脚的折弯可以增大引脚与折弯导电推块接触的面积，增大引脚与折弯导电推块表面接触的压力，提高对发光二极管的测试精准性，防止因为接触不良而导致测试结构出现错误或误差。
二、本发明当发光二极管不发光时，此时拨弯顶块向后快速伸出并将发光二极管进行推弯，发光二极管被推弯的过程中，发光二极管与引脚之间会产生一个折弯的结构，通过拨弯顶块表面的红油墨水涂抹在不亮的发光二极管表面并发光二极管折弯，涂抹在发光二极管表面的红油墨水通过折弯后的发光二极管向上展示，更便于后期人员视觉筛查剔除。
三、本发明通过在测试台的顶面设置有两个交替往复滑移的编带压板，每一个编带压板为中间平面、两边弧形向外弯曲的薄板结构；通过测试台表面的两个编带压板往复交替按压，利用编带压板表面的弧形弯曲进行折叠导向使编织带按照S形层叠进行收纳，减少编织带点用面积的同时增加编织带收纳性能，同时通过将编织带按照S形层叠进行收纳减小编织带点用面积的同时，配合涂抹在发光二极管表面的红油墨水通过折弯后的发光二极管向上展示，可以便于后期人员采用视觉快速筛查出不发光的发光二极管，从而有效提高剔除效率。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1为本发明二极管测试工艺的步骤流程图；
图2为本发明发光二极管生产测试装置的俯视结构示意图；
图3为本发明发光二极管生产测试装置的前视结构示意图；
图4为本发明拨轮与槽轮间歇啮合的结构示意图；
图5为本发明说明书附图3的A处局部放大图；
图6为本发明说明书附图2的B处局部放大图；
图7为本发明中转组件夹持发光二极管的左视结示意图；
图8为本发明测试板的左视结构示意图；
图中：震动盘1、直线供料台2、二极管供料槽201、活动挡板202、弹簧203、铰支座204、中转组件3、夹持机架301、夹持爪302、活动螺母套筒303、双向螺纹丝杆304、伺服电机二305、第二滑块306、导向滑轨307、第二导向滑槽308、直线滑孔309、中转台310、张紧轮4、测试台5、侧护板6、后护板7、控制台8、直线导槽9、编带压板10、固定耳板1001、拉簧1002、支撑腿1003、滑块1004、拉绳1005、伺服电机一1006、绕线盘1007、编织带11、动力轮12、电动机1201、拨轮1202、槽轮1203、测试板13、折弯槽1301、固定滑块1302、活动滑块1303、直线导向滑槽1034、第一气压缸1305、气缸支架一1306、折弯导电推块1307、支缸支架二1308、第二气压缸1309、拨弯顶块1310、红油海绵1311、活动推块1312、顶簧1313、压紧块1314、压紧板14、连接气嘴1401、直线滑孔1402、活动滑杆1403、伺服电机三1404、双向螺纹丝杆二1405、气囊袋1406、编带转轴16、供料带轮1601。
具体实施方式
为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本发明，需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互结合。
实施例1
请参阅图1，为一种二极管测试工艺的整体结构示意图；
一种二极管测试工艺，该二极管测试工艺主要包括以下几个步骤：
S1、发光二极管排序：将若干个待测试的发光二极管放置于振动盘内，通过振动盘工作将若干个待测试的发光二极管进行整理排序使若干个待测试的发光二极管摆放一致，并向直线供料台2左端连续供料；
S2、中转拾取并间歇供料：直线供料台2左端通过中转组件3往复拾取发光二极管向测试台5表面输送，中转组件3每一次往复行程拾取单个发光二极管，拾取的单个发光二极管需经过中转台310进行间歇性停留一次，将连续转移转为间歇转移，并使间歇转移的单个发光二极管与间歇移动的编织带11间歇移动规律一致；
S3、间歇输送两层编织带11：通过两个间歇转动的动力轮12压紧贴合的两层编织带11表面，并通过动力轮12间歇转动，利用动力轮12表面与编织带11表面接触的摩擦力推动编织带11间歇输送；
S4、编织带11内***发光二极管：对步骤S3中在测试台5顶面间歇输送移动的两层编织带11分别通过c右侧的两组供料带轮1601进行间歇型拉直输送，步骤S2中在中转台310进行间歇性停留的发光二极管通过中转组件3继续拾取并水平转移放置到的两组供料带轮1601接触的初始角位置，使发光二极管底部的引脚嵌入在两层编织带11的中间，通过两层编织带11向左继续移动，利用两层编织带11的粘贴将发光二极管底部的引脚粘贴住；
S5、压紧引脚：对步骤S4中将发光二极管底部的引脚粘贴住的两层编织带11通过两侧压紧板14向中间快速夹持并快速松开，通过压紧板14表面的气囊袋1406与编织带11表面贴合并向两层编织带11的中部施加压紧力，使发光二极管底部的引脚牢固地***在两层编织带11的中间。
S6、发光测试：对步骤S5中两层编织带11中间压紧后的发光二极管进行发光测试，***在两层编织带11中间的发光二极管移动至测试板13表面进行暂停间歇，通过测试板13前侧的活动推块1322向测试板13表面快速移动按压，通过活动推块1322上的折弯导电推块1307与发光二极管的引脚接触，将折弯导电推块1307表面的电池通过引脚传送给发光二极管，此时发光二极管正常发光，当发光二极管不发光时，此时拨弯顶块1310向后伸出并将发光二极管与引脚推弯，且通过拨弯顶块1310表面的红油墨水涂抹在不亮的发光二极管表面；
S7、发光二极管编织带11叠压收纳：对步骤S6中测试完成的发光二极管进行折叠压紧收纳，通过测试台5表面的两个编带压板10往复交替按压，利用编带压板10表面的弧形弯曲进行折叠导向使编织带11按照S形层叠进行收纳；
S8、人工剔除次品：对步骤S7中折叠压紧的编织带11进行视觉剔除不亮的发光二极管，通过步骤S6在发光二极管表面涂抹的红油墨水从而使人工视觉轻松快捷地剔除不亮的发光二极管，并将正常发光的二极管手动***在编织带11中间原不亮的发光二极管位置完成替换；
其中的，本发明***在两层编织带11中间的发光二极管移动至测试板13表面进行暂停间歇，通过测试板13前侧的活动推块1322向测试板13表面快速移动按压，通过活动推块1322上的压紧块1314先压紧待测位置的两层编织带11，通过顶簧1313的压缩会使得折弯导电推块1307继续向后伸出，折弯导电推块1307与发光二极管的引脚接触，将折弯导电推块1307表面的电池通过引脚传送给发光二极管，此时发光二极管正常发光，而向后伸出的折弯导电推块1307会将引脚直接推入折弯槽1301内，使引脚沿折弯槽1301内壁轮廓进行折弯，此效果在于能够在折弯导电推块1307与引脚接触进行测试发光的同时还能完成对引脚的折弯，实现发光二极管一次停歇完成两个步骤，引脚折弯后的发光二极管后期安装在电子元器件时更易于夹持或定位。且折弯导电推块1307与引脚接触并进行测试发光的同时将引脚的折弯可以增大引脚与折弯导电推块1307接触的面积，增大引脚与折弯导电推块1307表面接触的压力，提高对发光二极管的测试精准性，防止因为接触不良而导致测试结构出现错误或误差。
其中的，本发明当发光二极管不发光时，此时拨弯顶块1310向后快速伸出并将发光二极管进行推弯，发光二极管被推弯的过程中，发光二极管与引脚之间会产生一个折弯的结构，通过拨弯顶块1310表面的红油墨水涂抹在不亮的发光二极管表面并发光二极管折弯，涂抹在发光二极管表面的红油墨水通过折弯后的发光二极管向上展示，更便于后期人员视觉筛查剔除。
其中的，本发明通过在测试台5的顶面设置有两个交替往复滑移的编带压板10，每一个编带压板10为中间平面、两边弧形向外弯曲的薄板结构；通过测试台5表面的两个编带压板10往复交替按压，利用编带压板10表面的弧形弯曲进行折叠导向使编织带11按照S形层叠进行收纳，减少编织带11点用面积的同时增加编织带11收纳性能，同时通过将编织带11按照S形层叠进行收纳减小编织带11点用面积的同时，配合涂抹在发光二极管表面的红油墨水通过折弯后的发光二极管向上展示，可以便于后期人员采用视觉快速筛查出不发光的发光二极管，从而有效提高剔除效率。
实施例2
请参阅图2-8，本实施例与上述实施例1有相同之处，相同之处在本实施例中不再阐述，具体不同之处在于：
上述记载的步骤S1-S8还包括固定于地面的测试台5，以及设置于测试台5右侧的震动盘1，测试台5的顶端靠近测试台5左侧固定有侧护板6，测试台5的顶端靠近测试台5后侧固定有后护板7，测试台5的后侧设置有控制台8，测试台5的底部设置有支撑腿1003，
测试台5的右侧设置有震动盘1，震动盘1向外伸出有直线供料台2，直线供料台2左端与测试台5右侧设置有中转组件3；
测试台5顶端靠近测试台5右侧安装有供料带轮1601，供料带轮1601共设有两组，每一组供料带轮1601上传送有编织带11，每一组供料带轮1601的编织带11另一端卷绕于各自的编带转轴16上，每一个编带转轴16转动连接于测试台5顶端；
供料带轮1601的左侧设置有两个压紧板14，两个压紧板14左侧设置有测试组件，测试组件左侧设置有间歇转动的两个动力轮12，编织带11依次从两个压紧板14的中间、测试组件以及两个动力轮12中间穿过。
直线供料台2包括开设于直线供料台2顶端的二极管供料槽201，直线供料台2的二极管供料槽201左侧转动连接有两个倾斜的活动挡板202，每一侧的活动挡板202通过铰支座204转动连接于直线供料台2的二极管供料槽201内壁上，每一侧的活动挡板202中部与二极管供料槽201内壁之间固定有弹簧203，通过活动挡板202的阻挡，可以使中转组件3在未拾取发光二极管的时候能够对二极管供料槽201内的发光二极管进行阻挡，防止发光二极管掉落，同时当中转组件3拾取发光二极管的时候能够自动打开直线供料台2的二极管供料槽201，并当发光二极管从二极管供料槽201内水平移出时能够自动关上。
中转组件3包括设置于测试台5右侧与直线供料台2左侧中间位置的中转台310，中转台310的前侧壁带有永久性磁铁，中转过程中，通过中转台310的前侧壁带有永久性磁铁可以吸附发光二极管的引脚，从而使发光二极管牢固地放置在中转台310表面，通过永久性磁铁便于快拿快放发光二极管。
中转组件3还包括固定于测试台5右侧的导向滑轨307，导向滑轨307的顶端前后两侧开设有第二导向滑槽308，导向滑轨307的顶端滑动连接有第二滑块306，第二滑块306卡接于导向滑轨307的第二导向滑槽308内，第二滑块306的顶端固定有两个夹持机架301，每一个夹持机架301的顶端开设有直线滑孔1402，直线滑孔1402的内壁滑动连接有两个活动螺母套筒303，夹持机架301的其中一侧外壁固定有伺服电机二305，伺服电机二305向夹持机架301的直线滑孔1402内伸出有双向螺纹丝杆304，双向螺纹丝杆304的表面滑动连接有两个反向螺纹连接的活动螺母套筒303，每一个活动螺母套筒303的底部设置有夹持爪302；
夹持爪302与发光二极管贴合的表面设置有与发光二极管相贴合的弧形轮廓面，自动夹持，提高夹持的牢固性且能够保证在夹持的过程中不损伤发光二极管表面。
通过第二滑块306滑动连接在导向滑轨307上实现往复水平滑动，第二滑块306在导向滑轨307上往复滑动连接是通过独立的气压缸或螺纹丝杆配合伺服电机的驱动实现，通过导向滑轨307上设置的两个夹持机架301分别同步拾取直线供料台2的二极管供料槽201内的发光二极管和放置在中转台310上的发光二极管并将其同步转移，从直线供料台2的二极管供料槽201内拾取的发光二极管会移动至中转台310上，而同时从中转台310
上拾取的发光二极管会移动至在测试台5顶面的两组供料带轮1601接触的初始角位置，使发光二极管底部的引脚嵌入在两层编织带11的中间，通过两层编织带11向左继续移动实现***在两层编织带11的中间，其中，两层编织带11的贴合是通过每一层编织带11的贴合面涂抹有胶水，胶水在编织带11出场前就已经卷绕在编织带11表面，编织带11类似于粘贴的胶布。
动力轮12包括固定于测试台5底端的电动机1201，电动机1201向上伸出有拨轮1202，其中一个动力轮12底部设置有槽轮1203，拨轮1202与槽轮1203间歇啮合连接，两个动力轮12底部各设置有一个齿轮，两个动力轮12底部通过齿轮啮合同步转动。
测试组件包括固定于测试台5顶端的测试板13，测试板13的前侧壁开设有折弯槽1301，测试板13的前侧固设有固定滑块1302，固定滑块1302的顶面开设有直线导向滑槽1034，固定滑块1302的顶端滑动连接有活动滑块1303，固定滑块1302的顶端固定有气缸支架一1306，气缸支架一1306的表面固定安装有第一气压缸1305，第一气压缸1305向左伸出有活塞杆，第一气压缸1305的活塞杆顶端固定于活动滑块1303上，活动滑块1303的后侧固定有两个折弯导电推块1307，每一个折弯导电推块1307为金属块，其中一个折弯导电推块1307表面带有电流。
其中的，本发明***在两层编织带11中间的发光二极管移动至测试板13表面进行暂停间歇，通过测试板13前侧的活动推块1322向测试板13表面快速移动按压，通过活动推块1322上的压紧块1314先压紧待测位置的两层编织带11，通过顶簧1313的压缩会使得折弯导电推块1307继续向后伸出，折弯导电推块1307与发光二极管的引脚接触，将折弯导电推块1307表面的电池通过引脚传送给发光二极管，此时发光二极管正常发光，而向后伸出的折弯导电推块1307会将引脚直接推入折弯槽1301内，使引脚沿折弯槽1301内壁轮廓进行折弯，此效果在于能够在折弯导电推块1307与引脚接触进行测试发光的同时还能完成对引脚的折弯，实现发光二极管一次停歇完成两个步骤，引脚折弯后的发光二极管后期安装在电子元器件时更易于夹持或定位。且折弯导电推块1307与引脚接触并进行测试发光的同时将引脚的折弯可以增大引脚与折弯导电推块1307接触的面积，增大引脚与折弯导电推块1307表面接触的压力，提高对发光二极管的测试精准性，防止因为接触不良而导致测试结构出现错误或误差。
活动滑块1303的后侧固定有直立于测试台5顶面的活动推块1322，活动推块1322的后侧固定有顶簧1313，活动推块1322后侧的顶簧1313表面固定有压紧块1314。
活动滑块1303的顶端固定有直立于活动滑块1303顶端的支缸支架二1308，支缸支架二1308的前侧固定有第二气压缸1309，第二气压缸1309后端面设置有活塞杆，第二气压缸1309的活塞杆顶端固定有拨弯顶块1310。
其中的，本发明当发光二极管不发光时，此时拨弯顶块1310向后快速伸出并将发光二极管进行推弯，发光二极管被推弯的过程中，发光二极管与引脚之间会产生一个折弯的结构，通过拨弯顶块1310表面的红油墨水涂抹在不亮的发光二极管表面并发光二极管折弯，涂抹在发光二极管表面的红油墨水通过折弯后的发光二极管向上展示，更便于后期人员视觉筛查剔除。
其中的，本发明通过在测试台5的顶面设置有两个交替往复滑移的编带压板10，每一个编带压板10为中间平面、两边弧形向外弯曲的薄板结构；通过测试台5表面的两个编带压板10往复交替按压，利用编带压板10表面的弧形弯曲进行折叠导向使编织带11按照S形层叠进行收纳，减少编织带11点用面积的同时增加编织带11收纳性能，同时通过将编织带11按照S形层叠进行收纳减小编织带11点用面积的同时，配合涂抹在发光二极管表面的红油墨水通过折弯后的发光二极管向上展示，可以便于后期人员采用视觉快速筛查出不发光的发光二极管，从而有效提高剔除效率。
拨弯顶块1310的后侧壁固定有红油海绵1311。拨弯顶块1310的顶端开设有注油口，注油口设置有橡胶塞密封，拨弯顶块1310的内部开设有与注油口连通的油腔，油腔内储存有红油墨水，拨弯顶块1310的后侧壁开设有与油腔连通的排油小孔，红油海绵1311设置在拨弯顶块1310后侧壁用于阻挡并吸收排油小孔排出的红油墨水，通过红油海绵1311可以涂抹均匀且通过红油海绵1311能够使拨弯顶块1310的后侧壁始终吸附有红油墨水，便于快速涂抹，
其中的，本发明***在两层编织带11中间的发光二极管移动至测试板13表面进行暂停间歇，通过测试板13前侧的活动推块1322向测试板13表面快速移动按压，通过活动推块1322上的压紧块1314先压紧待测位置的两层编织带11，通过顶簧1313的压缩会使得折弯导电推块1307继续向后伸出，折弯导电推块1307与发光二极管的引脚接触，将折弯导电推块1307表面的电池通过引脚传送给发光二极管，此时发光二极管正常发光，根据本领域公知常识，二极管发光则两个折弯导电推块1307之间均会有电流通过，从而能够确定测试的结果，当两个折弯导电推块1307之间没有电流通过时，则表面发光二极管损坏，此时第二气压缸1309则工作。
测试台5的顶面左半片区域开设有两个直线导槽9，两个直线导槽9分别设置于靠近测试台5顶面的前后两侧，每一个直线导槽9内滑动连接有编带压板10，每一个编带压板10为中间平面、两边弧形向外弯曲的薄板结构；
测试台5的底部固定有固定耳板1001，固定耳板1001的表面固定有拉簧1002，每一个编带压板10的底部穿过直线导槽9并在测试台5的底部设置有滑块1004，滑块1004表面设置有拉绳1005锁扣，滑块1004的拉绳1005锁扣栓接有拉绳1005，拉绳1005的另一端卷绕于绕线盘1007表面，绕线盘1007设置有伺服电机一1006驱动旋转，伺服电机一1006固定于测试台5底部。
其中的，本发明通过在测试台5的顶面设置有两个交替往复滑移的编带压板10，每一个编带压板10为中间平面、两边弧形向外弯曲的薄板结构；通过测试台5表面的两个编带压板10往复交替按压，利用编带压板10表面的弧形弯曲进行折叠导向使编织带11按照S形层叠进行收纳，减少编织带11点用面积的同时增加编织带11收纳性能，同时通过将编织带11按照S形层叠进行收纳减小编织带11点用面积的同时，配合涂抹在发光二极管表面的红油墨水通过折弯后的发光二极管向上展示，可以便于后期人员采用视觉快速筛查出不发光的发光二极管，从而有效提高剔除效率。
压紧板14包括对称开设于测试台5上的两个直线滑孔1402，压紧板14共设有两个，每一个压紧板14的表面设置有气囊袋1406，并在每一个压紧板14的顶端开设有连接气嘴1401，连接气嘴1401与外部的气源连通为气囊袋1406并控制气囊袋1406内部的气压，或将连接气嘴1401密封使气囊袋1406内部的气压保持一个稳定状态，该方法不唯一，两个压紧板14分别设置于两个直线滑孔1402的顶部，每一个压紧板14的底部设置有滑动连接于直线滑孔1402内的活动滑杆1403，每一个活动滑杆1403的底端开设有螺纹孔，测试台5的底端固定有伺服电机三1404，伺服电机三1404向前伸出有双向螺纹丝杆二1405，两个活动滑杆1403底端开设的螺纹孔螺纹连接于双向螺纹丝杆二1405上。通过伺服电机三1404驱动双向螺纹丝杆二1405转动，带动两个直线滑孔1402内的两个压紧板14往复快速滑动并对中间进行夹持，通过压紧板14表面的气囊袋1406对带有引脚的编织带11进行夹持接触，通过气囊袋1406的柔性接触，从而使编织带11内的引脚进行夹持牢固，两个压紧板14往复快速滑动的频率与编织带11间歇移动的频率相配合。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中的描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
Claims (6)
1.一种二极管测试工艺，其特征在于，该二极管测试工艺包括以下几个步骤：
S1、发光二极管排序：将若干个待测试的发光二极管放置于振动盘内，通过振动盘工作将若干个待测试的发光二极管进行整理排序使若干个待测试的发光二极管摆放一致，并向直线供料台左端连续供料；
S2、中转拾取并间歇供料：直线供料台左端通过中转组件往复拾取发光二极管向测试台表面输送，中转组件每一次往复行程拾取单个发光二极管，拾取的单个发光二极管需经过中转台进行间歇性停留一次；
S3、间歇输送两层编织带：通过两个间歇转动的动力轮压紧贴合的两层编织带表面，并通过动力轮间歇转动，利用动力轮表面与编织带表面接触的摩擦力推动编织带间歇输送；
S4、编织带内***发光二极管：对步骤S3中在测试台顶面间歇输送移动的两层编织带分别通过c右侧的两组供料带轮进行间歇型拉直输送，步骤S2中在中转台进行间歇性停留的发光二极管通过中转组件继续拾取并水平转移放置到的两组供料带轮接触的初始角位置，使发光二极管底部的引脚嵌入在两层编织带的中间，通过两层编织带向左继续移动，利用两层编织带的粘贴将发光二极管底部的引脚粘贴住；
S5、压紧引脚：对步骤S4中将发光二极管底部的引脚粘贴住的两层编织带通过两侧压紧板向中间快速夹持并快速松开，通过压紧板表面的气囊袋与编织带表面贴合并向两层编织带的中部施加压紧力，使发光二极管底部的引脚牢固地***在两层编织带的中间；
S6、发光测试：对步骤S5中两层编织带中间压紧后的发光二极管进行发光测试，***在两层编织带中间的发光二极管移动至测试板表面进行暂停间歇，通过测试板前侧的活动推块向测试板表面快速移动按压，通过活动推块上的折弯导电推块与发光二极管的引脚接触，将折弯导电推块表面的电池通过引脚传送给发光二极管，此时发光二极管正常发光，当发光二极管不发光时，此时拨弯顶块向后伸出并将发光二极管与引脚推弯，且通过拨弯顶块表面的红油墨水涂抹在不亮的发光二极管表面；
该二极管测试工艺还包括：S7、发光二极管编织带叠压收纳：对步骤S6中测试完成的发光二极管进行折叠压紧收纳，通过测试台表面的两个编带压板往复交替按压，利用编带压板表面的弧形弯曲进行折叠导向使编织带按照S形层叠进行收纳；
S8、人工剔除次品：对步骤S7中折叠压紧的编织带进行视觉剔除不亮的发光二极管，通过步骤S6在发光二极管表面涂抹的红油墨水从而人工视觉剔除不亮的发光二极管，并将正常发光的二极管手动***在编织带中间原不亮的发光二极管位置完成替换。
2.根据权利要求1所述的一种二极管测试工艺，其特征在于：还包括固定于地面的测试台，以及设置于所述测试台右侧的震动盘， 所述测试台的顶端靠近测试台左侧固定有侧护板，所述测试台的顶端靠近测试台后侧固定有后护板，所述测试台的后侧设置有控制台。
3.根据权利要求1所述的一种二极管测试工艺，其特征在于：所述测试台的右侧设置有震动盘，所述震动盘向外伸出有直线供料台，所述直线供料台左端与测试台右侧设置有中转组件。
4.根据权利要求1所述的一种二极管测试工艺，其特征在于：所述测试台顶端靠近测试台右侧安装有供料带轮，所述供料带轮共设有两组，每一组所述供料带轮上传送有编织带，每一组所述供料带轮的编织带另一端卷绕于各自的编带转轴上，每一个所述编带转轴转动连接于测试台顶端。
5.根据权利要求4所述的一种二极管测试工艺，其特征在于：所述供料带轮的左侧设置有两个压紧板，两个所述压紧板左侧设置有测试组件，所述测试组件左侧设置有间歇转动的两个动力轮，编织带依次从两个所述压紧板的中间、测试组件以及两个所述动力轮中间穿过。
6.根据权利要求5所述的一种二极管测试工艺，其特征在于：所述直线供料台包括开设于直线供料台顶端的二极管供料槽，所述直线供料台的二极管供料槽左侧转动连接有两个倾斜的活动挡板，每一侧的所述活动挡板通过铰支座转动连接于直线供料台的二极管供料槽内壁上，每一侧的所述活动挡板中部与二极管供料槽内壁之间固定有弹簧。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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