CN117351859B - 一种显示模组用检测方法、装置及*** - Google Patents

一种显示模组用检测方法、装置及*** Download PDF

Info

Publication number
CN117351859B
CN117351859B CN202311650470.8A CN202311650470A CN117351859B CN 117351859 B CN117351859 B CN 117351859B CN 202311650470 A CN202311650470 A CN 202311650470A CN 117351859 B CN117351859 B CN 117351859B
Authority
CN
China
Prior art keywords
color
pixels
value
pixel
color value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202311650470.8A
Other languages
English (en)
Other versions
CN117351859A (zh
Inventor
熊朝威
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Shenshunxin Technology Co ltd
Original Assignee
Shenzhen Shenshunxin Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Shenshunxin Technology Co ltd filed Critical Shenzhen Shenshunxin Technology Co ltd
Priority to CN202311650470.8A priority Critical patent/CN117351859B/zh
Publication of CN117351859A publication Critical patent/CN117351859A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN117351859B publication Critical patent/CN117351859B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/2007Display of intermediate tones
    • G09G3/2074Display of intermediate tones using sub-pixels
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00Control of display operating conditions
    • G09G2320/06Adjustment of display parameters
    • G09G2320/0666Adjustment of display parameters for control of colour parameters, e.g. colour temperature

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

本发明涉及计算机领域,特别是涉及一种显示模组用检测方法、装置及***,其中方法先将显示区域划分为若干个分区,选取一个分区作为测试分区,进而将测试分区的反光像素和非反光像素区分开来,然后将非反光像素和反光像素各自的潜在缺陷像素筛选出来;随后,控制显示模组滚动显示非纯色的滚动色条,对于每一个色条区域中的像素,将该像素色值与第二平均色值的当前差值与前面求出来的色值偏差进行比对,以确定两个偏差的各个分量之间是否成比例,进而能够将不合格的像素筛选并标记出来;本方法解决了摄像头镜头反光而对检测造成影响的问题,无论是针对反光的像素还是非反光的像素,都能将其中的不合格像素筛选出来,显著提升了测试的准确性。

Description

一种显示模组用检测方法、装置及***
技术领域
本发明涉及计算机领域,特别是涉及一种显示模组用检测方法、装置及***。
背景技术
显示模组由多层结构叠设而成,生产得到成品后需要对显示模组的显示效果进行检测,便于提早发现显示模组的显示缺陷。
生产中一般是采用图像采集的方式,先点亮显示模组显示特定的图案,再采集显示模组的图像,通过分析图像与标准图像的差异可以找出是否存在缺陷点,判断显示模组是否合格。在此过程中需要解决的一个问题是,为了采集到的图像干扰最少,会关闭其它干扰的光源,使摄像头置于显示模组的正上方,但是点亮的显示模组作为光源会照亮摄像头的相关器件,这些器件反过来会在显示模组表面投射出光影,这些光影会影响后续的图像比较识别的准确性。
因此,现有的显示模组用检测方法存在检测准确性低的问题。
发明内容
基于此,有必要针对上述的问题,提供一种显示模组用检测方法、装置及***。
本发明实施例是这样实现的,一种显示模组用检测方法,所述方法包括:
S1:将显示模组的显示区域划分为若干个分区,并取一个分区作为测试分区;
S2: 控制测试分区显示设定颜色的色光,移动摄像头至测试分区的中心的正上方,采集第一图像并识别第一图像中各个像素的色值;
S3: 将与测试分区的中心像素色值相同的像素作为非反光像素,其余像素为反光像素;
S4:变换测试分区的显示色光,采集第二图像并计算第二图像中非反光像素的第一平均色值,计算各个像素的色值与第一平均色值的色值差值,依据各个色值差值筛选出潜在缺陷像素,余下的非反光像素为剩余非反光像素,余下的反光像素为剩余反光像素;
S5: 控制测试分区显示滚动色条,采集第三图像并识别各条滚动色条的色条区域,取一个色条区域作为测试色条区域;
S6: 计算测试色条区域中各个剩余非反光像素的第二平均色值;
S7: 分别计算各个剩余反光像素、潜在缺陷像素的色值与第二平均色值的当前差值,并依据各个当前差值以及对应的色值差值在各个剩余反光像素和潜在缺陷像素中确定不合格像素并标记输出;
S8: 取另一个色条区域作为测试色条区域,执行步骤 S6 至步骤 S8,直至将测试分区的每一个色条区域检测完毕;
S9: 取另一个分区作为测试分区,执行步骤 S2 至步骤 S8直至将显示模组每一个分区域检测完毕。
在其中一个实施例中,本发明提供了一种显示模组用检测装置,所述种显示模组用检测装置中的各个模块用于执行显示模组用检测方法的步骤;所述种显示模组用检测装置包括:
第一处理模块,用于将显示模组的显示区域划分为若干个分区,并取一个分区作为测试分区;
第二处理模块,用于 控制测试分区显示设定颜色的色光,移动摄像头至测试分区的中心的正上方,采集第一图像并识别第一图像中各个像素的色值;
第三处理模块,用于将与测试分区的中心像素色值相同的像素作为非反光像素,其余像素为反光像素;
第四处理模块,用于变换测试分区的显示色光,采集第二图像并计算第二图像中非反光像素的第一平均色值,计算各个像素的色值与第一平均色值的色值差值,依据各个色值差值筛选出潜在缺陷像素,余下的非反光像素为剩余非反光像素,余下的反光像素为剩余反光像素;
第五处理模块,用于控制测试分区显示滚动色条,采集第三图像并识别各条滚动色条的色条区域,取一个色条区域作为测试色条区域;
第六处理模块,用于计算测试色条区域中各个剩余非反光像素的第二平均色值;
第七处理模块,用于分别计算各个剩余反光像素、潜在缺陷像素的色值与第二平均色值的当前差值,并依据各个当前差值以及对应的色值差值在各个剩余反光像素和潜在缺陷像素中确定不合格像素并标记输出;
第八处理模块,用于取另一个色条区域作为测试色条区域,执行步骤 S6 至步骤S8,直至将测试分区的每一个色条区域检测完毕;
第九处理模块,用于取另一个分区作为测试分区,执行步骤 S2 至步骤 S8直至将显示模组每一个分区域检测完毕。
在其中一个实施例中,本发明提供了一种显示模组用检测***,所述显示模组用检测***用于检测显示模组,所述显示模组用检测***包括:
可动摄像头,用于采集显示模组运行时的图像;
计算机设备,与可动摄像头和显示模组连接,用于执行所述的显示模组用检测方法。
本发明提供了一种显示模组用检测方法、装置及***,所述方法包括将显示模组的显示区域划分为若干个分区,并取一个分区作为测试分区; 控制测试分区显示设定颜色的色光,移动摄像头至测试分区的中心的正上方,采集第一图像并识别第一图像中各个像素的色值; 将与测试分区的中心像素色值相同的像素作为非反光像素,其余像素为反光像素;变换测试分区的显示色光,采集第二图像并计算第二图像中非反光像素的第一平均色值,计算各个像素的色值与第一平均色值的色值差值,依据各个色值差值筛选出潜在缺陷像素;控制测试分区显示滚动色条,采集第三图像并识别各条滚动色条的色条区域,取一个色条区域作为测试色条区域; 计算测试色条区域中各个剩余非反光像素的第二平均色值;分别计算各个剩余反光像素、潜在缺陷像素的色值与第二平均色值的当前差值,并依据各个当前差值以及对应的色值差值在各个剩余反光像素和潜在缺陷像素中确定不合格像素并标记输出;重复上述步骤,直至将测试分区的每一个色条区域检测完毕; 取另一个分区作为测试分区,重复上述步骤直至将显示模组每一个分区域检测完毕;在本发明中,本方法通过对比像素在显示不同类型色光的情况下的色值偏差确定像素的显示是否正常,解决了摄像头镜头反光而对检测造成影响的问题,无论是针对反光的像素还是非反光的像素,都能将其中的不合格像素筛选出来,显著提升了测试的准确性。
附图说明
图1为一个实施例中提供的显示模组用检测方法的第一流程图;
图2为一个实施例中提供的显示模组用检测方法的第二流程图;
图3为一个实施例中提供的显示模组用检测方法的显示区域第一示意图;
图4为一个实施例中提供的显示模组用检测方法的显示区域第二示意图;
图5为一个实施例中提供的显示模组用检测方法的显示区域第三示意图;
图6为一个实施例中注塑运行数据管理分析装置的模块图;
图7为一个实施例中注塑运行数据管理分析***的组成图;
图8为一个实施例中计算机设备的内部结构框图。
实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
可以理解,本发明所使用的术语“第一”、“第二”等可在本文中用于描述各种元件,但除非特别说明,这些元件不受这些术语限制。这些术语仅用于将第一个元件与另一个元件区分。举例来说,在不脱离本发明的范围的情况下,可以将第一xx脚本称为第二xx脚本,且类似地,可将第二xx脚本称为第一xx脚本。
如图1-2所示,在一个实施例中,提出了一种显示模组用检测方法,所述方法包括:
S1:将显示模组的显示区域划分为若干个分区,并取一个分区作为测试分区;
S2:控制测试分区显示设定颜色的色光,移动摄像头至测试分区的中心的正上方,采集第一图像并识别第一图像中各个像素的色值;
S3:将与测试分区的中心像素色值相同的像素作为非反光像素,其余像素为反光像素;
S4:变换测试分区的显示色光,采集第二图像并计算第二图像中非反光像素的第一平均色值,计算各个像素的色值与第一平均色值的色值差值,依据各个色值差值筛选出潜在缺陷像素,余下的非反光像素为剩余非反光像素,余下的反光像素为剩余反光像素;
S5: 控制测试分区显示滚动色条,采集第三图像并识别各条滚动色条的色条区域,取一个色条区域作为测试色条区域;
S6: 计算测试色条区域中各个剩余非反光像素的第二平均色值;
S7: 分别计算各个剩余反光像素、潜在缺陷像素的色值与第二平均色值的当前差值,并依据各个当前差值以及对应的色值差值在各个剩余反光像素和潜在缺陷像素中确定不合格像素并标记输出;
S8: 取另一个色条区域作为测试色条区域,执行步骤 S6 至步骤 S8,直至将测试分区的每一个色条区域检测完毕;
S9: 取另一个分区作为测试分区,执行步骤 S2 至步骤 S8直至将显示模组每一个分区域检测完毕。
在本实施例中,本方法在计算机设备中执行,计算机设备可以是独立的物理服务器或终端,也可以是多个物理服务器构成的服务器集群,可以是提供云服务器、云数据库、云存储和CDN等基础云计算服务的云服务器;本申请通过摄像头采集显示模组的图像,摄像头为可动摄像头,可以在计算机设备的控制下移动至显示模组的显示区域上各个分区上方的位置,以采集各个分区的图像,进而对各个分区进行检测;由于中心像素正对摄像头,即便摄像头会反光至中心像素,其所反射的光也是中心像素本身的光,因此对中心像素的色值不会形成影响,即中心像素可以被视为非反光像素;在步骤S4中显示的色光为纯色光,即其对应像素的色值的红、绿、蓝三个分量中,只有一个分量有数值,其它两个分量都为0;滚动色条为并排满布在显示区域中的有色显示条带,各个色条同时按照次序从显示区域的一条边滚入,从另一条边滚出,如此循环往复,滚动色条为非纯色,即其对应像素的色值的红、绿、蓝三个分量中,至少有两个分量有数值;在测试时,只有测试分区显示色光,其它分区关闭色光,以避免其它分区的色光对显示色光造成影响;另外在确定了不合格像素后,根据采集的图像上该不合格像素与显示区域边界之间的相对距离确定不合格像素的像素位置,也可以以显示模组左下角的角点为圆心,以显示区域的两条相互垂直的边界为坐标轴建立坐标系,进而将该不合格像素的坐标作为像素位置,最后将像素位置一同输出。
在本申请中,如图3所示,先将显示区域划分为若干个分区,以对各个分区逐一进行检测;首先,选取一个分区作为测试分区,通过各个像素与中心像素的色值差将测试分区的反光像素和非反光像素区分开来,然后在纯色显示光色的条件下以非反光像素的第一平均色值作为标准,依据与该第一平均色值的色值差值将非反光像素和反光像素各自的潜在缺陷像素筛选出来;随后,控制显示模组滚动显示非纯色的滚动色条,由于显示模组在实际工作中显示的颜色主要也是非纯色,通过这种方式实现了对显示模组的实践测试,测试结果更具有说服力;在测试中,对于每一个色条区域中的像素,以剩余非反光像素的第二平均色值作为标准,将该像素色值与第二平均色值的当前差值与前面求出来的色值偏差进行比对,以确定两个偏差的各个分量之间是否成比例(通常出现异常的像素,其当前差值与色值差值的各个分量的差值较大,不成比例),进而能够将不合格的像素筛选并标记出来;计算机设备将不合格的像素输出,以供人工再次检测其是否合格;本方法通过对比像素在显示不同类型色光的情况下的色值偏差确定像素的显示是否正常,解决了摄像头镜头反光而对检测造成影响的问题,无论是针对反光的像素还是非反光的像素,都能将其中的不合格像素筛选出来,显著提升了测试的准确性。
作为一个优选的实施例,在步骤S3之后,控制测试分区显示另一种设定颜色的色光,并调用摄像头采集另一张第一图像并识别该第一图像中各个像素的色值,执行步骤S3;
将在两种设定颜色的色光下色值均与中心像素的色值相同的像素作为非反光像素,其余的像素为反光像素。
在本实施例中,第一种设定颜色是紫光,第二种设定颜色是纯绿光;在两次显示不同颜色的色光的情况下,识别出来的反光像素可能会存在微小差异,为了保险起见,将两次中任意一次被识别为反光像素的像素作为反光像素,提升了识别的准确性。
作为一个优选的实施例,显示色光为纯红光,所述计算各个像素的色值与第一平均色值的色值差值,依据各个色值差值筛选出潜在缺陷像素包括:
S41:计算各个非反光像素的色值与第一平均色值的色值差值,并将色值差值大于第一设定差值的非反光像素确定为潜在缺陷像素;
S42:计算各个反光像素的色值与第一平均色值的色值差值,将色值差值大于第二设定差值的反光像素确定为潜在缺陷像素。
变换测试分区的显示色光为纯绿光,采集第二图像并计算第二图像中非反光像素的第一平均色值,并执行步骤S41至步骤S42;
变换测试分区的显示色光为纯蓝光,采集第二图像并计算第二图像中非反光像素的第一平均色值,并执行步骤S41至步骤S42;
对于任意一个像素,若该像素在任意一次变换测试分区的显示色光后被确定为潜在缺陷像素,则该像素为潜在缺陷像素;
其中,由于显示色光为纯色光,每一个色值差值为色值中某一个颜色分量的差值。
在本实施例中,由于反光像素其像素色值更容易产生受到光的影响,因此第二设定差值可以比第一设定差值设定得更大,比如第一设定差值为5,第二设定差值为10;由于每一次筛选潜在缺陷像素都可能会存在偏差,本方法在显示三种色光的情况下分别筛选一次潜在缺陷像素,若该像素在任意一次变换测试分区的显示色光后被确定为潜在缺陷像素,则该像素为潜在缺陷像素,尽量减少了因单次筛选而带来的偏差,提升了筛选准确性。
如图4-5所示,作为一个优选的实施例,各个分区为大小一致的矩形分区,对于任意一个分区,该分区的边界与相邻分区的边界重合,或者,该分区的范围与相邻分区的范围部分重合;
各条滚动色条的宽度一致,并且滚动色条的宽度小于分区的最短边,每一个分区中至少包括2条滚动色条的色条区域;任意两条相邻滚动色条的颜色不同并且两者的长边重合,每一条滚动色条的长边与显示区域的一条边平行,并且滚动色条的长边与显示区域的该条边长度相同,使得排布在显示区域中的各条滚动色条满布显示区域;控制各条滚动色条沿滚动色条的宽边方向在显示区域滚动,进而使处于控制测试分区内的滚动色条滚动;
在滚动色条滚动的过程中,记录每一时间点各条滚动色条的位置;
将处于测试分区中的滚动色条作为第一滚动色条,依据第三图像的采集时间点确定在该时间点各条滚动色条的位置,进而确定各条第一滚动色条的位置,并依据第一滚动色条的位置确定各条第一滚动色条的边界,从而确定各条第一滚动色条的色条区域。
在此实施例中,分区划分的方法是根据显示屏的长宽比定的,最理想的状态是划分出来的每个分区的长等于宽,且每个分区的大小一致,但是分区的数量同时不能太少或者太多,一般在4-10个左右;进行划分的时候,由于两个分区的边界距离每个分区的中心都较远,可以采用重合划分的方式,一个分区的长和/或宽的四分之一(或者三分之一、五分之一等)与相邻分区重合,以保证对每一个分区的检测效果;滚动色条可以是与显示区域的宽边平行,并沿显示区域的长边滚动,或者,滚动色条可以是与显示区域的长边平行,并沿显示区域的宽边滚动。
作为一个优选的实施例,在步骤S6之后还包括计算测试色条区域中各个剩余非反光像素的第二平均色值,将色值与第二平均色值的差值超过第一设定范围的剩余非反光像素确定为不合格像素,并将不合格像素标记输出。
在本实施例中,剩余非反光像素的色值与第二平均色值的差值即剩余非反光像素各个色值分量与第二平均色值的对应色值分量的差值,第一设定范围可以是-10至10;由于经过一次筛选的剩余非反光像素中仍然可能存在不合格像素,通过本实施例的步骤可以对其中的不合格像素进行进一步筛选,提升了检测的准确性。
作为一个优选的实施例,计算任意一个剩余反光像素的色值与第二平均色值的当前差值,并依据当前差值与对应的色值差值的差值确定该剩余反光像素是否合格的步骤如下:
S70:取该剩余反光像素为第一像素;
S71:计算第一像素的色值的红色分量与第二平均色值的红色分量的第一分量差值;
S72:计算第一像素的色值的绿色分量与第二平均色值的绿色分量的第二分量差值;
S73:计算第一像素的色值的蓝色分量与第二平均色值的蓝色分量的第三分量差值;
S74:判断第一分量差值、第二分量差值和第三分量差值各自与第一像素在对应颜色的显示色光下的色值差值是否都同符号,若否,则第一像素不合格;若是,则判断各个分量差值的绝对值是否都小于设定分量差值的绝对值,若是,则第一像素合格,若否,则第一像素不合格。
在本实施例中,举例说明,若第一分量差值、第二分量差值和第三分量差值分别为-10、-15、-18,第一像素在对应颜色的显示色光下的色值差值分别为,-12、-18、-24,则各个值都是负号,符号相同,若设定分量差值的绝对值为20,而三个分量差值的绝对值为10、15、18,均小于20,因此该第一像素合格;由于经过一次筛选的剩余反光像素中仍然可能存在不合格像素,通过本实施例的步骤可以对其中的不合格像素进行进一步筛选,提升了检测的准确性。
作为一个优选的实施例,计算任意一个潜在缺陷像素的色值与第二平均色值的当前差值,并依据当前差值与对应的色值差值的差值确定该潜在缺陷像素是否合格的步骤如下:
取该潜在缺陷像素为第一像素,执行步骤S71至步骤S73,进而求得对应的第一分量差值、第二分量差值和第三分量差值,通过以下公式计算各个分量差值对应的第一偏差率:
其中,为第i分量差值对应的第一偏差率,/>为第i分量差值,/>为第i分量差值对应的第二平均色值中对应颜色分量的分量值,i为1、2、3中任意一个数;
取该潜在缺陷像素在纯红色显示色光下的色值差值为第一色值差值,取该潜在缺陷像素在纯绿色显示色光下的色值差值为第二色值差值,取该潜在缺陷像素在纯蓝色显示色光下的色值差值为第三色值差值,通过以下公式计算各个色值差值对应的第二偏差率:
其中,为第i色值差值对应的第二偏差率,/>为第i色值差值,/>为第i色值差值对应的第一平均色值中对应颜色分量的分量值,i为1、2、3中任意一个数;
取第一比值、第二比值/>以及第三比值/>,通过以下公式计算比值标准差:
其中,T为比值标准差,为/>、/>以及/>的平均值;
判断T是否大于设定标准差,若大于,则该潜在缺陷像素不合格,若小于,则该潜在缺陷像素合格。
在本实施例中,对于没有出现异常的像素,其在不同的显示状况下各个色值分量出现的偏差程度是接近于一致的,若像素出现了问题,在不同显示情况下色值分量出现的偏差程度就会产生较大的出入,因此本实施例通过第一比值、第二比值以及第三比值的计算将各个色值分量在前后显示情况的下的偏差进行比较,并进一步对三个比值求标准差,即可以体现偏差程度的大小,将标准差限定在一个设定标准差(比如0.05),即可对偏差程度进行有效限定,进而将小于此设定标准差对应的第一像素判定为合格像素。
如图6所示,在一个实施例中,提供了一种显示模组用检测装置,所述种显示模组用检测装置中的各个模块用于执行显示模组用检测方法的步骤;所述种显示模组用检测装置包括:
第一处理模块,用于将显示模组的显示区域划分为若干个分区,并取一个分区作为测试分区;
第二处理模块,用于 控制测试分区显示设定颜色的色光,移动摄像头至测试分区的中心的正上方,采集第一图像并识别第一图像中各个像素的色值;
第三处理模块,用于将与测试分区的中心像素色值相同的像素作为非反光像素,其余像素为反光像素;
第四处理模块,用于变换测试分区的显示色光,采集第二图像并计算第二图像中非反光像素的第一平均色值,计算各个像素的色值与第一平均色值的色值差值,依据各个色值差值筛选出潜在缺陷像素,余下的非反光像素为剩余非反光像素,余下的反光像素为剩余反光像素;
第五处理模块,用于控制测试分区显示滚动色条,采集第三图像并识别各条滚动色条的色条区域,取一个色条区域作为测试色条区域;
第六处理模块,用于计算测试色条区域中各个剩余非反光像素的第二平均色值;
第七处理模块,用于分别计算各个剩余反光像素、潜在缺陷像素的色值与第二平均色值的当前差值,并依据各个当前差值以及对应的色值差值在各个剩余反光像素和潜在缺陷像素中确定不合格像素并标记输出;
第八处理模块,用于取另一个色条区域作为测试色条区域,执行步骤 S6 至步骤S8,直至将测试分区的每一个色条区域检测完毕;
第九处理模块,用于取另一个分区作为测试分区,执行步骤 S2 至步骤 S8直至将显示模组每一个分区域检测完毕。
本申请实施例提供的显示模组用检测装置中各模块实现各自功能的过程,具体可参考前述图1所示实施例的描述,此处不再赘述。
如图7所示,本发明提供了一种显示模组用检测***,所述显示模组用检测***用于检测显示模组,所述显示模组用检测***包括:
可动摄像头,用于采集显示模组运行时的图像;
计算机设备,与可动摄像头和显示模组连接,用于执行所述的显示模组用检测方法。
在本实施例中,可以在计算机设备的控制下移动至显示模组的显示区域上各个分区上方的位置,以采集各个分区的图像,进而对各个分区进行检测;计算机与可动摄像头相配合,同时控制显示模组进行显示,先将显示区域划分为若干个分区,以对各个分区逐一进行检测;首先,选取一个分区作为测试分区,通过各个像素与中心像素的色值差将测试分区的反光像素和非反光像素区分开来,然后在纯色显示光色的条件下以非反光像素的第一平均色值作为标准,依据与该第一平均色值的色值差值将非反光像素和反光像素各自的潜在缺陷像素筛选出来;随后,控制显示模组滚动显示非纯色的滚动色条,由于显示模组在实际工作中显示的颜色主要也是非纯色,通过这种方式实现了对显示模组的实践测试,测试结果更具有说服力;在测试中,对于每一个色条区域中的像素,以剩余非反光像素的第二平均色值作为标准,将该像素色值与第二平均色值的当前差值与前面求出来的色值偏差进行比对,以确定两个偏差的各个分量之间是否成比例(通常出现异常的像素,其当前差值与色值差值的各个分量的差值较大,不成比例),进而能够将不合格的像素筛选并标记出来;计算机设备将不合格的像素输出,以供人工再次检测其是否合格;本方法通过对比像素在显示不同类型色光的情况下的色值偏差确定像素的显示是否正常,解决了摄像头镜头反光而对检测造成影响的问题,无论是针对反光的像素还是非反光的像素,都能将其中的不合格像素筛选出来,显著提升了测试的准确性。
图8示出了一个实施例中计算机设备的内部结构图。如图8所示,该计算机设备包括该计算机设备包括通过***总线连接的处理器、存储器、网络接口、输入装置和显示屏。其中,存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该计算机设备的非易失性存储介质存储有操作***,还可存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时,可使得处理器实现本发明实施例提供的显示模组用检测方法。该内存储器中也可储存有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时,可使得处理器执行本发明实施例提供的显示模组用检测方法。计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏,计算机设备的 输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层,也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板,还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解,图8中示出的结构,仅仅是与本发明方案相关的部分结构的框图,并不构成对本发明方案所应用于其上的计算机设备的限定,具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中,本发明实施例提供的显示模组用检测装置可以实现为一种计算机程序的形式,计算机程序可在如图8所示的计算机设备上运行。计算机设备的存储器中可存储组成该显示模组用检测装置的各个程序模块,比如,图6所示的第一处理模块、第二处理模块、第三处理模块、第四处理模块、第五处理模块、第六处理模块、第七处理模块、第八处理模块、第九处理模块。各个程序模块构成的计算机程序使得处理器执行本说明书中描述的本发明各个实施例的显示模组用检测方法中的步骤。
例如,图8所示的计算机设备可以通过如图6所示的显示模组用检测装置中的第一处理模块执行步骤S1;计算机设备可通过第二处理模块执行步骤S2;计算机设备可通过第三处理模块执行步骤S3;计算机设备可通过第四处理模块执行步骤S4;计算机设备可通过第五处理模块执行步骤S5;计算机设备可通过第六处理模块执行步骤S6;计算机设备可通过第七处理模块执行步骤S7;计算机设备可通过第八处理模块执行步骤S8;计算机设备可通过第九处理模块执行步骤S9。
在一个实施例中,提出了一种计算机设备,所述计算机设备包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤:
S1:将显示模组的显示区域划分为若干个分区,并取一个分区作为测试分区;
S2:控制测试分区显示设定颜色的色光,移动摄像头至测试分区的中心的正上方,采集第一图像并识别第一图像中各个像素的色值;
S3:将与测试分区的中心像素色值相同的像素作为非反光像素,其余像素为反光像素;
S4:变换测试分区的显示色光,采集第二图像并计算第二图像中非反光像素的第一平均色值,计算各个像素的色值与第一平均色值的色值差值,依据各个色值差值筛选出潜在缺陷像素,余下的非反光像素为剩余非反光像素,余下的反光像素为剩余反光像素;
S5: 控制测试分区显示滚动色条,采集第三图像并识别各条滚动色条的色条区域,取一个色条区域作为测试色条区域;该显示模组用检测装置的各个程序模块
S6: 计算测试色条区域中各个剩余非反光像素的第二平均色值;
S7: 分别计算各个剩余反光像素、潜在缺陷像素的色值与第二平均色值的当前差值,并依据各个当前差值以及对应的色值差值在各个剩余反光像素和潜在缺陷像素中确定不合格像素并标记输出;
S8: 取另一个色条区域作为测试色条区域,执行步骤 S6 至步骤 S8,直至将测试分区的每一个色条区域检测完毕;
S9: 取另一个分区作为测试分区,执行步骤 S2 至步骤 S8直至将显示模组每一个分区域检测完毕。
在一个实施例中,提供一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时,使得处理器执行以下步骤:
S1:将显示模组的显示区域划分为若干个分区,并取一个分区作为测试分区;
S2:控制测试分区显示设定颜色的色光,移动摄像头至测试分区的中心的正上方,采集第一图像并识别第一图像中各个像素的色值;
S3:将与测试分区的中心像素色值相同的像素作为非反光像素,其余像素为反光像素;
S4:变换测试分区的显示色光,采集第二图像并计算第二图像中非反光像素的第一平均色值,计算各个像素的色值与第一平均色值的色值差值,依据各个色值差值筛选出潜在缺陷像素,余下的非反光像素为剩余非反光像素,余下的反光像素为剩余反光像素;
S5: 控制测试分区显示滚动色条,采集第三图像并识别各条滚动色条的色条区域,取一个色条区域作为测试色条区域;
S6: 计算测试色条区域中各个剩余非反光像素的第二平均色值;
S7: 分别计算各个剩余反光像素、潜在缺陷像素的色值与第二平均色值的当前差值,并依据各个当前差值以及对应的色值差值在各个剩余反光像素和潜在缺陷像素中确定不合格像素并标记输出;
S8: 取另一个色条区域作为测试色条区域,执行步骤 S6 至步骤 S8,直至将测试分区的每一个色条区域检测完毕;
S9: 取另一个分区作为测试分区,执行步骤 S2 至步骤 S8直至将显示模组每一个分区域检测完毕。
应该理解的是,虽然本发明各实施例的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,这些步骤可以以其它的顺序执行。而且,各实施例中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段,这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中,该程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本发明所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限,RAM以多种形式可得,诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink) DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (9)

1.一种显示模组用检测方法,其特征在于,所述方法包括:
S1:将显示模组的显示区域划分为若干个分区,并取一个分区作为测试分区;
S2:控制测试分区显示设定颜色的色光,移动摄像头至测试分区的中心的正上方,采集第一图像并识别第一图像中各个像素的色值;
S3:将与测试分区的中心像素色值相同的像素作为非反光像素,其余像素为反光像素;
S4:变换测试分区的显示色光,采集第二图像并计算第二图像中非反光像素的第一平均色值,计算各个像素的色值与第一平均色值的色值差值,依据各个色值差值筛选出潜在缺陷像素,余下的非反光像素为剩余非反光像素,余下的反光像素为剩余反光像素;
S5: 控制测试分区显示滚动色条,采集第三图像并识别各条滚动色条的色条区域,取一个色条区域作为测试色条区域;
S6: 计算测试色条区域中各个剩余非反光像素的第二平均色值;
S7: 分别计算各个剩余反光像素、潜在缺陷像素的色值与第二平均色值的当前差值,并依据各个当前差值以及对应的色值差值在各个剩余反光像素和潜在缺陷像素中确定不合格像素并标记输出;
S8: 取另一个色条区域作为测试色条区域,执行步骤 S6 至步骤 S8,直至将测试分区的每一个色条区域检测完毕;
S9: 取另一个分区作为测试分区,执行步骤 S2 至步骤 S8直至将显示模组每一个分区域检测完毕;
各个分区为大小一致的矩形分区,对于任意一个分区,该分区的边界与相邻分区的边界重合,或者,该分区的范围与相邻分区的范围部分重合;
各条滚动色条的宽度一致,并且滚动色条的宽度小于分区的最短边,每一个分区中至少包括2条滚动色条的色条区域;任意两条相邻滚动色条的颜色不同并且两者的长边重合,每一条滚动色条的长边与显示区域的一条边平行,并且滚动色条的长边与显示区域的该条边长度相同,使得排布在显示区域中的各条滚动色条满布显示区域;控制各条滚动色条沿滚动色条的宽边方向在显示区域滚动,进而使处于控制测试分区内的滚动色条滚动;
在滚动色条滚动的过程中,记录每一时间点各条滚动色条的位置;
将处于测试分区中的滚动色条作为第一滚动色条,依据第三图像的采集时间点确定在该时间点各条滚动色条的位置,进而确定各条第一滚动色条的位置,并依据第一滚动色条的位置确定各条第一滚动色条的边界,从而确定各条第一滚动色条的色条区域。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在步骤S3之后,控制测试分区显示另一种设定颜色的色光,并调用摄像头采集另一张第一图像并识别该第一图像中各个像素的色值,执行步骤S3;
将在两种设定颜色的色光下色值均与中心像素的色值相同的像素作为非反光像素,其余的像素为反光像素。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,显示色光为纯红光,所述计算各个像素的色值与第一平均色值的色值差值,依据各个色值差值筛选出潜在缺陷像素包括:
S41:计算各个非反光像素的色值与第一平均色值的色值差值,并将色值差值大于第一设定差值的非反光像素确定为潜在缺陷像素;
S42:计算各个反光像素的色值与第一平均色值的色值差值,将色值差值大于第二设定差值的反光像素确定为潜在缺陷像素。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,变换测试分区的显示色光为纯绿光,采集第二图像并计算第二图像中非反光像素的第一平均色值,并执行步骤S41至步骤S42;
变换测试分区的显示色光为纯蓝光,采集第二图像并计算第二图像中非反光像素的第一平均色值,并执行步骤S41至步骤S42;
对于任意一个像素,若该像素在任意一次变换测试分区的显示色光后被确定为潜在缺陷像素,则该像素为潜在缺陷像素;
其中,由于显示色光为纯色光,每一个色值差值为色值中某一个颜色分量的差值。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在步骤S6之后还包括计算测试色条区域中各个剩余非反光像素的第二平均色值,将色值与第二平均色值的差值超过第一设定范围的剩余非反光像素确定为不合格像素,并将不合格像素标记输出。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,计算任意一个剩余反光像素的色值与第二平均色值的当前差值,并依据当前差值与对应的色值差值的差值确定该剩余反光像素是否合格的步骤如下:
S70:取该剩余反光像素为第一像素;
S71:计算第一像素的色值的红色分量与第二平均色值的红色分量的第一分量差值;
S72:计算第一像素的色值的绿色分量与第二平均色值的绿色分量的第二分量差值;
S73:计算第一像素的色值的蓝色分量与第二平均色值的蓝色分量的第三分量差值;
S74:判断第一分量差值、第二分量差值和第三分量差值各自与第一像素在对应颜色的显示色光下的色值差值是否都同符号,若否,则第一像素不合格;若是,则判断各个分量差值的绝对值是否都小于设定分量差值的绝对值,若是,则第一像素合格,若否,则第一像素不合格。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,计算任意一个潜在缺陷像素的色值与第二平均色值的当前差值,并依据当前差值与对应的色值差值的差值确定该潜在缺陷像素是否合格的步骤如下:
取该潜在缺陷像素为第一像素,执行步骤S71至步骤S73,进而求得对应的第一分量差值、第二分量差值和第三分量差值,通过以下公式计算各个分量差值对应的第一偏差率:
其中,为第i分量差值对应的第一偏差率,/>为第i分量差值,/>为第i分量差值对应的第二平均色值中对应颜色分量的分量值,i为1、2、3中任意一个数;
取该潜在缺陷像素在纯红色显示色光下的色值差值为第一色值差值,取该潜在缺陷像素在纯绿色显示色光下的色值差值为第二色值差值,取该潜在缺陷像素在纯蓝色显示色光下的色值差值为第三色值差值,通过以下公式计算各个色值差值对应的第二偏差率:
其中,为第i色值差值对应的第二偏差率,/>为第i色值差值,/>为第i色值差值对应的第一平均色值中对应颜色分量的分量值,i为1、2、3中任意一个数;
取第一比值、第二比值/>以及第三比值/>,通过以下公式计算比值标准差:
其中,T为比值标准差,为/>、/>以及/>的平均值;
判断T是否大于设定标准差,若大于,则该潜在缺陷像素不合格,若小于,则该潜在缺陷像素合格。
8.一种显示模组用检测装置,其特征在于,所述种显示模组用检测装置中的各个模块用于执行权利要求1中的步骤;所述种显示模组用检测装置包括:
第一处理模块,用于将显示模组的显示区域划分为若干个分区,并取一个分区作为测试分区;
第二处理模块,用于 控制测试分区显示设定颜色的色光,移动摄像头至测试分区的中心的正上方,采集第一图像并识别第一图像中各个像素的色值;
第三处理模块,用于将与测试分区的中心像素色值相同的像素作为非反光像素,其余像素为反光像素;
第四处理模块,用于变换测试分区的显示色光,采集第二图像并计算第二图像中非反光像素的第一平均色值,计算各个像素的色值与第一平均色值的色值差值,依据各个色值差值筛选出潜在缺陷像素,余下的非反光像素为剩余非反光像素,余下的反光像素为剩余反光像素;
第五处理模块,用于控制测试分区显示滚动色条,采集第三图像并识别各条滚动色条的色条区域,取一个色条区域作为测试色条区域;
第六处理模块,用于计算测试色条区域中各个剩余非反光像素的第二平均色值;
第七处理模块,用于分别计算各个剩余反光像素、潜在缺陷像素的色值与第二平均色值的当前差值,并依据各个当前差值以及对应的色值差值在各个剩余反光像素和潜在缺陷像素中确定不合格像素并标记输出;
第八处理模块,用于取另一个色条区域作为测试色条区域,执行步骤 S6 至步骤 S8,直至将测试分区的每一个色条区域检测完毕;
第九处理模块,用于取另一个分区作为测试分区,执行步骤 S2 至步骤 S8直至将显示模组每一个分区域检测完毕。
9.一种显示模组用检测***,其特征在于,所述显示模组用检测***用于检测显示模组,所述显示模组用检测***包括:
可动摄像头,用于采集显示模组运行时的图像;
计算机设备,与可动摄像头和显示模组连接,用于执行如权利要求1-7任意一项权利要求所述的显示模组用检测方法。
CN202311650470.8A 2023-12-05 2023-12-05 一种显示模组用检测方法、装置及*** Active CN117351859B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202311650470.8A CN117351859B (zh) 2023-12-05 2023-12-05 一种显示模组用检测方法、装置及***

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202311650470.8A CN117351859B (zh) 2023-12-05 2023-12-05 一种显示模组用检测方法、装置及***

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN117351859A CN117351859A (zh) 2024-01-05
CN117351859B true CN117351859B (zh) 2024-02-09

Family

ID=89367039

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202311650470.8A Active CN117351859B (zh) 2023-12-05 2023-12-05 一种显示模组用检测方法、装置及***

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN117351859B (zh)

Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040019793A (ko) * 2002-08-29 2004-03-06 삼성전자주식회사 단판식 칼라 화상 표시장치
WO2005060266A1 (en) * 2003-12-15 2005-06-30 Koninklijke Philips Electronics N.V. High efficiency scrolling colour display system
WO2005060265A1 (en) * 2003-12-15 2005-06-30 Koninklijke Philips Electronics N.V. System for improving colour purity for a wide colour gamut scrolling colour projection system
WO2009001542A1 (ja) * 2007-06-27 2008-12-31 Olympus Medical Systems Corp. 画像情報の表示処理装置
JP2009171178A (ja) * 2008-01-16 2009-07-30 Shibasoku:Kk 信号発生装置、テストパターン及び映像機器の評価方法
CN101601074A (zh) * 2006-09-28 2009-12-09 皇家飞利浦电子股份有限公司 包括像素的图像的内容检测
CN107346040A (zh) * 2016-05-06 2017-11-14 深圳超多维光电子有限公司 裸眼3d显示设备的光栅参数的确定方法、装置及电子设备
CN107346041A (zh) * 2016-05-06 2017-11-14 深圳超多维光电子有限公司 裸眼3d显示设备的光栅参数的确定方法、装置及电子设备
CN108540794A (zh) * 2018-03-30 2018-09-14 上海玮舟微电子科技有限公司 显示设备排图参数的检测方法、装置、设备及存储介质
CN113888534A (zh) * 2021-11-17 2022-01-04 腾讯音乐娱乐科技(深圳)有限公司 一种图像处理方法、电子设备及可读存储介质
CN114119591A (zh) * 2021-12-02 2022-03-01 汕头轻工装备研究院 一种显示屏画面质量检测方法
CN114723671A (zh) * 2022-03-10 2022-07-08 深圳灿维科技有限公司 一种图像预处理方法、装置、计算机设备及存储介质
CN114923090A (zh) * 2022-06-01 2022-08-19 深圳市深顺欣科技有限公司 一种带图像缺陷自动检测功能的液晶显示屏
CN115424577A (zh) * 2022-11-03 2022-12-02 永林电子股份有限公司 基于全彩智能控制器的led均匀发光控制方法及***
CN117058151A (zh) * 2023-10-13 2023-11-14 山东骏程金属科技有限公司 一种基于图像分析的轮毂检测方法及检测***
CN117130186A (zh) * 2023-10-25 2023-11-28 深圳市晶鸿电子有限公司 一种lcd显示屏瑕疵缺陷智能检测方法

Patent Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040019793A (ko) * 2002-08-29 2004-03-06 삼성전자주식회사 단판식 칼라 화상 표시장치
WO2005060266A1 (en) * 2003-12-15 2005-06-30 Koninklijke Philips Electronics N.V. High efficiency scrolling colour display system
WO2005060265A1 (en) * 2003-12-15 2005-06-30 Koninklijke Philips Electronics N.V. System for improving colour purity for a wide colour gamut scrolling colour projection system
CN101601074A (zh) * 2006-09-28 2009-12-09 皇家飞利浦电子股份有限公司 包括像素的图像的内容检测
WO2009001542A1 (ja) * 2007-06-27 2008-12-31 Olympus Medical Systems Corp. 画像情報の表示処理装置
JP2009171178A (ja) * 2008-01-16 2009-07-30 Shibasoku:Kk 信号発生装置、テストパターン及び映像機器の評価方法
CN107346040A (zh) * 2016-05-06 2017-11-14 深圳超多维光电子有限公司 裸眼3d显示设备的光栅参数的确定方法、装置及电子设备
CN107346041A (zh) * 2016-05-06 2017-11-14 深圳超多维光电子有限公司 裸眼3d显示设备的光栅参数的确定方法、装置及电子设备
CN108540794A (zh) * 2018-03-30 2018-09-14 上海玮舟微电子科技有限公司 显示设备排图参数的检测方法、装置、设备及存储介质
CN113888534A (zh) * 2021-11-17 2022-01-04 腾讯音乐娱乐科技(深圳)有限公司 一种图像处理方法、电子设备及可读存储介质
CN114119591A (zh) * 2021-12-02 2022-03-01 汕头轻工装备研究院 一种显示屏画面质量检测方法
CN114723671A (zh) * 2022-03-10 2022-07-08 深圳灿维科技有限公司 一种图像预处理方法、装置、计算机设备及存储介质
CN114923090A (zh) * 2022-06-01 2022-08-19 深圳市深顺欣科技有限公司 一种带图像缺陷自动检测功能的液晶显示屏
CN115424577A (zh) * 2022-11-03 2022-12-02 永林电子股份有限公司 基于全彩智能控制器的led均匀发光控制方法及***
CN117058151A (zh) * 2023-10-13 2023-11-14 山东骏程金属科技有限公司 一种基于图像分析的轮毂检测方法及检测***
CN117130186A (zh) * 2023-10-25 2023-11-28 深圳市晶鸿电子有限公司 一种lcd显示屏瑕疵缺陷智能检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN117351859A (zh) 2024-01-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110533925A (zh) 车辆违法视频的处理方法、装置、计算机设备及存储介质
CN111370345B (zh) 芯片检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质
CN113781393B (zh) 屏幕缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
CN114519743A (zh) 一种面板缺陷区域提取方法、装置、设备及存储介质
CN108121648B (zh) 一种界面错误监控方法
CN117351859B (zh) 一种显示模组用检测方法、装置及***
CN113259742B (zh) 视频弹幕显示方法、装置、可读存储介质和计算机设备
CN116168034A (zh) 编织物的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
CN111145674B (zh) 显示面板的检测方法、电子设备和存储介质
CN117710346B (zh) 一种显示模组检测用区域提取方法、装置及***
CN114913118A (zh) 工业视觉检测方法、装置、电子设备以及存储介质
CN114040120A (zh) 用于面板元件检测的拍摄路径确定方法、装置和设备
CN112084364A (zh) 对象分析方法、局部图像搜索方法、设备及存储介质
CN110321405A (zh) 模型匹配方法、装置、计算机可读存储介质和计算机设备
CN110232681B (zh) 疵点展示方法、装置、计算机设备及存储介质
CN116609344B (zh) 摄像头排插的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
CN117849068A (zh) 一种显示模组检测用缺陷指示方法、装置和计算机设备
CN113486621B (zh) 像素电路的设计方法、装置、控制器及存储介质
US20240037770A1 (en) Measurement method and measurement apparatus
CN116030062B (zh) 基于热成像的压铸模具在线温度检测方法、装置及***
US11989908B2 (en) Visual positioning method, mobile machine using the same, and computer readable storage medium
CN117437602B (zh) 一种双图层数据标定方法、装置、设备及可读存储介质
US20240129637A1 (en) Display screen flicker detection
CN118052816A (zh) 一种pcba表面缺陷检测方法、***
CN108734700B (zh) 基板盲区缺陷检测方法、装置、计算机和存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant