CN117251348A - 一种测试设备性能的方法与*** - Google Patents

一种测试设备性能的方法与*** Download PDF

Info

Publication number
CN117251348A
CN117251348A CN202311142963.0A CN202311142963A CN117251348A CN 117251348 A CN117251348 A CN 117251348A CN 202311142963 A CN202311142963 A CN 202311142963A CN 117251348 A CN117251348 A CN 117251348A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
port
file
test instrument
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202311142963.0A
Other languages
English (en)
Inventor
杨小辉
贾枫
李士林
姜永鹏
张桂英
许萌
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Northwestern Polytechnical University
Original Assignee
Northwestern Polytechnical University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Northwestern Polytechnical University filed Critical Northwestern Polytechnical University
Priority to CN202311142963.0A priority Critical patent/CN117251348A/zh
Publication of CN117251348A publication Critical patent/CN117251348A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/30—Monitoring
    • G06F11/34—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment
    • G06F11/3409—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment for performance assessment
    • G06F11/3414—Workload generation, e.g. scripts, playback

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)

Abstract

本发明提供了一种测试设备性能的方法与***，属于测试技术领域，包括：获取用于描述测试数据的ATML文件，提取ATML文件中的信号参数组集合、被测对象端口组集合、信号方向、路径映射组、测试仪器能力集合；根据信号类型、信号方向、信号属性为传递给测试仪器的测试信号在测试仪器能力集合中匹配对应的测试仪器能力；利用路径映射组将测试仪器的能力端口映射到资源端口,将测试仪器的资源端口映射到物理端口，在物理端口和被测对象端口组集合中的被测对象端口之间建立路径搜索；在测试设备时，利用计算机调用存储的测试仪器能力匹配、路径搜索的结果，控制测试***对设备进行测试。该方法***能够供不同测试需求下测试仪器重复使用。

Description

一种测试设备性能的方法与***
技术领域
本发明属于测试技术领域，具体涉及一种测试设备性能的方法与***。
背景技术
对于测试仪器、设备或***的性能测试，能够有助于确保产品质量、提升用户体验以及减少潜在的风险。传统的性能测试方法为人工测试，测试员通过手动操作设备，观察和记录其行为。这种方法对于小批量或个别测试可以很有效，但在大规模和复杂的测试中效率较低。因此需要利用计算机对测试仪器、设备或***进行自动测试。
自动测试***是一种用于自动执行软件或硬件测试的计算机***。它的主要目的是通过自动化执行测试用例，检测程序或***的功能、性能、稳定性以及其他方面的问题，以确保软件或硬件在交付给用户之前具有高质量和可靠性。
目前的自动测试***均为专用测试任务特殊研制，不同测试***间存在难以交互信息，通用性和兼容性差的问题。
发明内容
为了克服上述现有技术存在的不足，本发明提供了一种测试设备性能的方法。
为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种测试设备性能的方法，包括：
获取用于描述测试数据的ATML文件，提取ATML文件中的信号参数组集合、被测对象端口组集合、信号方向、路径映射组、测试仪器能力集合；
根据测试信号的信号类型、信号方向、信号属性为测试信号在测试仪器能力集合中匹配对应的测试仪器能力；利用路径映射组将测试仪器的能力端口映射到资源端口,将测试仪器的资源端口映射到物理端口；在物理端口和被测对象端口组集合中的被测对象端口之间建立路径搜索；存储测试仪器匹配结果和建立的路径搜索结果；
在测试设备时，利用计算机调用存储的测试仪器匹配、路径搜索的结果，控制测试***对设备进行测试。
进一步，所述ATML文件包括：测试描述文件TD、测试站文件TS、适配器文件TA、WireList文件、测试仪器描述文件TI、被测对象文件UUT。
进一步，所述信号参数组集合的结构为：
P1＝SignalType：[(Attribute1:value1)，(Attribute2:value2)……]
其中，SignalType为信号类型，Attribute为信号属性，value为信号属性对应的值；
所述被测对象端口组集合的结构为：
P2＝ConnectType：[(PortType1:port1)，(PortType2:port2)……]
其中，ConnectType为连接类型，PortType为端口类型，port为端口名称；
所述测试信号方向的结构为：
P3＝SignalDirection∈[Source，Sensor]
其中，Sensor为收方向，Source为发方向。
进一步，所述路径映射组包括：
MapTsTi、MapTaTs、MapUutTa、MapCapability、MapResources、MapTsTs、MapUutTs分别为TS到TI、TA到TS、UUT到TA、TI能力端口到TI资源端口、TI资源端口到TI物理端口、TS到TS、UUT到TS的接线映射。
进一步，所述根据测试信号的信号类型、信号方向、信号属性为测试信号在测试仪器能力集合中匹配对应的测试仪器能力；包括：
检查SignalType是否匹配；
检测SignalDirection是否匹配，若匹配则遍历检查Attribute全称是否能够完全匹配；
检查value是否满足要求，若满足则加入已匹配能力集合。
进一步，所述在物理端口和被测对象端口组集合中的被测对象端口之间建立路径搜索，包括：
查找MapTsTi得到测试仪器描述文件TI到测试站文件TS的接线关系；
查找MapTaTs得到测试站文件TS到适配器文件TA的接线关系；
查找MapUutTa得到TA到被测对象文件UUT的接线关系。
进一步，还包括：针对每一个测试仪器驱动，根据ATML要求和Ctypes映射规则，将驱动封装为模板；
根据测试站和测试仪器的UUID对生成的所有测试仪器驱动建立本地索引，将信号和端口作为实参传入驱动方法调用驱动。
进一步，还包括：如果物理端口没有直连到被测对象端口，利用矩阵开关分配算法为物理端口与被测对象端口匹配矩阵开关路径。
一种测试设备性能的***，其特征在于，包括：
文件解析模块，用于获取用于描述测试数据的ATML文件，提取ATML文件中的信号参数组集合、被测对象端口组集合、信号方向、路径映射组、测试仪器能力集合；
测试仪器匹配模块，用于根据测试信号的信号类型、信号方向、信号属性为测试信号在测试仪器能力集合中匹配对应的测试仪器能力；
路径搜索模块，用于利用路径映射组将测试仪器的能力端口映射到资源端口,将测试仪器的资源端口映射到物理端口；在物理端口和被测对象端口组集合中的被测对象端口之间建立路径搜索；
信息持久化模块，用于存储测试仪器匹配结果和建立的路径搜索结果；
执行模块，用于利用计算机调用存储的测试仪器匹配、路径搜索的结果，控制测试***对设备进行测试。
本发明提供的一种测试设备性能的方法与***具有以下有益效果：
本发明提取ATML文件中的测试行为信息后，将不同测试信号与测试行为信息中的测试仪器能力进行匹配，使得计算机能够根据不同类型的测试信号找到与其对应的测试仪器能力；将测试仪器和被测对象的信号接口进行抽象，使得测试程序本身与特定硬件无关，而只关注信号的功能和特性，解决了现有技术中，不同测试***间难以交互信息，通用性和兼容性差的问题。在此基础上进行测试仪器匹配和路径分配并保存，供不同测试需求下的测试仪器重复使用。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例及其设计方案，下面将对本实施例所需的附图作简单地介绍。下面描述中的附图仅仅是本发明的部分实施例，对于本领域普通技术人员来说，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明的一种测试设备性能的方法***模块示意图；
图2为ATML文件结构关系示意图；
图3为本发明的路径搜索流程示意图；
图4为本发明的开关矩阵结构示意图；
图5为本发明的开关矩阵路径结构示意图。
具体实施方式
为了使本领域技术人员更好的理解本发明的技术方案并能予以实施，下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细说明。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案，而不能以此来限制本发明的保护范围。
实施例：
本发明提供了一种测试设备性能的方法与***，具体如图1所示，包括：获取用于描述测试数据的ATML文件，提取ATML文件中的信号参数组集合、被测对象端口组集合、信号方向、路径映射组、测试仪器能力集合；根据测试信号的信号类型、信号方向、信号属性为测试信号在测试仪器能力集合中匹配对应的测试仪器能力；利用路径映射组将测试仪器的能力端口映射到资源端口,将测试仪器的资源端口映射到物理端口；在物理端口和被测对象端口组集合中的被测对象端口之间建立路径搜索；存储测试仪器匹配结果和建立的路径搜索结果；在测试设备时，利用计算机调用存储的测试仪器匹配、路径搜索的结果，控制测试***对设备进行测试。
以下为本发明具体实施细节：
1)提取测试信息：
如图2所示为ATML文件结构，输入ATML文件(包括测试描述文件(TD)、测试站文件(TS)、适配器文件(TA)、WireList文件、测试仪器描述文件(TI)和被测对象文件(UUT))。
TD文件包含测试行为信息，由TestDescription/DetailedTestInformation/Actions下所有Action/Behavior/Operations/Operation结点描述，根据上述标签组提取输入参数(信号参数组、被测对象端口组，信号方向)如下：
TS文件包含TI到TS的接线，由TestStationDescription/NetworkList标签组描述；TA文件包含了TS到TA的接线，由TestAdapterDescription/NetworkList标签组描述；WireList文件包含UUT到TA的接线关系。由WireLists/WireList标签组描述；UUT文件包含了被测对象端口，由UUTDescription/Interface标签组描述；TI文件包含了测试仪器的能力信息和端口映射信息，测试仪器能力由InstrumentDescription/Capabilities描述，根据上述标签组提取的测试仪器能力如下：
Capabilitys＝∑TI/InstrumentDescription/Capability
端口映射信息由Capability/CapabilityMap和InstrumentDescription/NetworkList标签组描述。根据上述标签组提取的路径映射信息如下：
2)对信号进行测试仪器匹配：
对于传入参数组的一个信号Signal，遍历Capabilitys集合，首先检查Capability的SignalType是否匹配；其次检测SignalDirection是否匹配，若匹配则遍历检查Attribute全称是否能够完全匹配；若上述均匹配，检查value是否满足要求，若满足则将此测试仪器能力加入已匹配能力集合；最终得到所有满足要求的能力集合。
3)如图3所示，使用路径搜索模块对已匹配能力集合的每个能力端口进行路径搜索。首先进行端口映射，对每个端口根据MapResources将能力端口映射到资源端口，根据MapCapability将资源端口映射到物理端口。
4)对物理端口，首先根据MapTsTi得到TI到TS的接线关系，之后根据MapTaTs得到测试站文件TS到TA的接线关系，再根据MapUutTa得到TA到UUT的接线关系，与输入的第二个参数组(UUT端口)进行检查，判断路径搜索是否正确。
5)若测试仪器物理端口直连到被测对象端口，则直接进行步骤6，否则调用矩阵配置模块规划路径。如图4所示为矩阵开关结构和规定的矩阵路径，输入步骤4搜索到的TI接入矩阵的行端口row和UUT接入矩阵的端口col，将得到单开关路径
[1，1，row，col，-1]
对row所在行和col所在列同时遍历可得到所有三个开关的路径：
[1，3，row，i，j，i，j，col，-1]，i∈[1,col],j∈[1,row]
以此类推对i所在列和j所在行同时进行遍历可得到五个矩阵开关的路径。对于大多数情况，单开关和三个开关路径已经满足测试需求。
通过矩阵开关分配算法，减少了测试仪器的大量手工接线，能在较短时间内根据测试需求和测试仪器动态分配路径资源，且避免路径冲突导致的短接。
针对矩阵进行的动态路径分配，提出了一种使用最少矩阵开关的路径分配算法，相较于流行的深度优先算法，极大地提高了匹配速度；除进行动态匹配外，能快速给出所有可使用矩阵开关路径供用户二次选择
6)重复步骤2至步骤5，将参数组的所有Signal完成测试仪器匹配和路径搜索。如图5所示为JSON持久化信息通用结构，调用信息持久化模块将路径搜索信息保存为JSON文件供用户重复调用，例如：
{
"IO+DO+0x64+127.0.0.1+DIGITAL_SERIAL_d57f5eca-c180-4962-bc49-12f776d62cc0":
["IO:DO_CH_HI-1＝>TS:DIO#1_GRP7_CH_1＝>TA:DIO#1_GRP7_CH_1＝>TA:X1_XX2333Y90A_A＝>UUT:XX2333Y90A_A",
"IO:DO_CH_LO-1＝>TS:DIO#1_GRP7_COM＝>TA:DIO#1_GRP7_COM＝>TA:X1_XX2333Y90A_10GNDB4＝>UUT:XX2333Y90A_10GNDB4"]
}
上述格式为IO卡路径搜索信息的部分JSON文件结构，根据此文件描述路径信息，重复调用测试仪器资源时无需再次调用搜索算法，若测试行为有变动，则重新生成此文件。
7)调用驱动包装模块完成测试仪器驱动封装。输入测试站文件后将根据UUID提取所有TI文件，选择任意测试仪器后，选择测试仪器dll驱动、头文件后将验证依赖项，补全依赖项后根据Ctypes生成主驱动模板，之后依据步骤3所述方法提取TI文件中的能力和资源管脚，选择包装的驱动位数后将生成测试仪器能力驱动模板，模板中类名为测试仪器能力，方法名为要求的测试动词，之后由用户向方法中填写控制逻辑。
对现有自动测试平台跨平台性差，驱动调用逻辑较为复杂的特点，使用Ctypes模块对测试仪器驱动进行封装，满足驱动调用的跨平台需求。
本发明针对现有自动测试***跨平台测试困难、驱动调用逻辑较为复杂的特点，对测试仪器驱动逻辑进行了二次封装，屏蔽了部分复杂的驱动调用逻辑和跨平台操作逻辑，供自动测试***快速调用。
8)调用驱动管理模块，根据测试站和测试仪器的UUID对生成的所有测试仪器驱动建立本地索引，具体索引为：
./驱动位数/_TS的UUID/_TI的UUID/Capability.py
供不同测试站的相同测试仪器复用驱动，将信号组、端口组和测试仪器资源端口组作为实参传入测试仪器能力驱动方法实现驱动调用，完成控制逻辑调用。
以上所述实施例仅为本发明较佳的具体实施方式，本发明的保护范围不限于此，任何熟悉本领域的技术人员在本发明披露的技术范围内，可显而易见地得到的技术方案的简单变化或等效替换，均属于本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种测试设备性能的方法，其特征在于，包括：
获取用于描述测试数据的ATML文件，提取ATML文件中的信号参数组集合、被测对象端口组集合、信号方向、路径映射组、测试仪器能力集合；
根据信号类型、信号方向、信号属性为传递给测试仪器的测试信号在测试仪器能力集合中匹配对应的测试仪器能力；
利用路径映射组将测试仪器的能力端口映射到资源端口,将测试仪器的资源端口映射到物理端口，在物理端口和被测对象端口组集合中的被测对象端口之间建立路径搜索；
在测试设备时，利用计算机调用存储的测试仪器能力匹配、路径搜索的结果，控制测试***对设备进行测试。
2.根据权利要求1所述的一种测试设备性能的方法，其特征在于，所述ATML文件包括：测试描述文件TD、测试站文件TS、适配器文件TA、WireList文件、测试仪器描述文件TI、被测对象文件UUT。
3.根据权利要求1所述的一种测试设备性能的方法，其特征在于，
所述信号参数组集合的结构为：
P1＝SignalType：[(Attribute1:value1)，(Attribute2:value2)……]
其中，SignalType为信号类型，Attribute为信号属性，value为信号属性对应的值；
所述被测对象端口组集合的结构为：
P2＝ConnectType：[(PortType1:port1)，(PortType2:port2)……]
其中，ConnectType为连接类型，PortType为端口类型，port为端口名称；
所述测试信号方向的结构为：
P3＝SignalDirection∈[Source，Sensor]
其中，Sensor为收方向，Source为发方向。
4.根据权利要求2所述的一种测试设备性能的方法，其特征在于，所述路径映射组包括：
MapTsTi、MapTaTs、MapUutTa、MapCapability、MapResources、MapTsTs、MapUutTs分别为TS到TI、TA到TS、UUT到TA、TI能力端口到TI资源端口、TI资源端口到TI物理端口、TS到TS、UUT到TS的接线映射。
5.根据权利要求3所述的一种测试设备性能的方法，其特征在于，所述根据信号类型、信号方向、信号属性为传递给测试仪器的测试信号在测试仪器能力集合中匹配对应的测试仪器能力；包括：
检查SignalType是否匹配；
检测SignalDirection是否匹配，若匹配则遍历检查Attribute全称是否能够完全匹配；
检查value是否满足要求，若满足则加入已匹配能力集合。
6.根据权利要求4所述的一种测试设备性能的方法，其特征在于，所述在物理端口和被测对象端口组集合中的被测对象端口之间建立路径搜索，包括：
查找MapTsTi得到测试仪器描述文件TI到测试站文件TS的接线关系；
查找MapTaTs得到测试站文件TS到适配器文件TA的接线关系；
查找MapUutTa得到TA到被测对象文件UUT的接线关系。
7.根据权利要求1所述的一种测试设备性能的方法，其特征在于，还包括：
针对每一个测试仪器驱动，根据ATML要求和Ctypes映射规则，将驱动封装为模板；
根据测试站和测试仪器的UUID对生成的所有测试仪器驱动建立本地索引，将信号和端口作为实参传入驱动方法调用驱动。
8.根据权利要求1所述的一种测试设备性能的方法，其特征在于，还包括：如果物理端口没有直连到被测对象端口，利用矩阵开关分配算法为物理端口与被测对象端口匹配矩阵开关路径。
9.一种测试设备性能的***，其特征在于，包括：
文件解析模块，用于获取用于描述测试数据的ATML文件，提取ATML文件中的信号参数组集合、被测对象端口组集合、信号方向、路径映射组、测试仪器能力集合；
测试仪器匹配模块，用于根据信号类型、信号方向、信号属性为传递给测试仪器的测试信号在测试仪器能力集合中匹配对应的测试仪器能力；
路径搜索模块，用于利用路径映射组将测试仪器的能力端口映射到资源端口,将测试仪器的资源端口映射到物理端口，在物理端口和被测对象端口组集合中的被测对象端口之间建立路径搜索；
执行模块，用于利用计算机调用存储的测试仪器能力匹配、路径搜索的结果，控制测试***对设备进行测试。
CN202311142963.0A 2023-09-06 2023-09-06 一种测试设备性能的方法与*** Pending CN117251348A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202311142963.0A CN117251348A (zh) 2023-09-06 2023-09-06 一种测试设备性能的方法与***

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202311142963.0A CN117251348A (zh) 2023-09-06 2023-09-06 一种测试设备性能的方法与***

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN117251348A true CN117251348A (zh) 2023-12-19

Family

ID=89136060

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202311142963.0A Pending CN117251348A (zh) 2023-09-06 2023-09-06 一种测试设备性能的方法与***

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN117251348A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117472674A (zh) * 2023-12-27 2024-01-30 中国电子科技集团公司第十研究所 一种基于资源池的软件无线电测试方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117472674A (zh) * 2023-12-27 2024-01-30 中国电子科技集团公司第十研究所 一种基于资源池的软件无线电测试方法
CN117472674B (zh) * 2023-12-27 2024-04-02 中国电子科技集团公司第十研究所 一种基于资源池的软件无线电测试方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111078482B (zh) 通讯导航设备测试***、方法、设备和可读存储介质
CN111459982A (zh) 一种数据查询方法、装置、终端设备及存储介质
CN107659455B (zh) 一种iOS端Mock数据的方法、存储介质、设备及***
CN117251348A (zh) 一种测试设备性能的方法与***
CN111339731B (zh) 一种面向SoC的FPGA验证平台和验证方法
CN111176984A (zh) 一种面向信号的自动测试实现方法
CN113434355B (zh) 模块验证方法、uvm验证平台、电子设备及存储介质
CN108710571A (zh) 一种生成自动化测试代码的方法和装置
CN116049014A (zh) Amba总线的验证平台生成方法及装置
CN108776723B (zh) 测试***自检适配器连线生成方法、装置、设备及存储介质
US20220100646A1 (en) Test script for application under test having abstracted action group instantiations
US20130231885A1 (en) Test apparatus and test module
CN112566005B (zh) 一种音频芯片的测试方法、装置、电子设备和存储介质
CN113947047B (zh) 用于验证待测设计的接口连接方法及相关设备
CN113986753A (zh) 接口测试方法、装置、设备及存储介质
CN115062571A (zh) 应用于集成电路器件的数据区域动态选取方法、***、设备和计算机可读存储介质
CN117597669A (zh) 一种测试方法、***及装置
US20070011544A1 (en) Reprogramming of tester resource assignments
CN114356763A (zh) 一种适用于HybridApp的H5页面本地调试方法
CN113238940A (zh) 一种接口测试结果的比对方法、装置、设备和存储介质
CN111859985A (zh) Ai客服模型测试方法、装置、电子设备及存储介质
CN111258838A (zh) 验证组件生成方法、装置、存储介质及验证平台
CN113392024B (zh) 存储过程的测试方法、装置、设备及介质
CN114526925B (zh) 一种车辆的下线检测方法、装置、电子设备及存储介质
CN117271283A (zh) 一种设备性能测试方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination