CN117030034A - 一种检测热成像仪拖影时间的方法及*** - Google Patents
一种检测热成像仪拖影时间的方法及*** Download PDFInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 57
- 238000011120 smear test Methods 0.000 claims abstract description 64
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 54
- 238000001931 thermography Methods 0.000 claims abstract description 29
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 19
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 9
- 238000000465 moulding Methods 0.000 abstract description 7
- 238000013139 quantization Methods 0.000 abstract description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 6
- 230000004044 response Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 5
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000003631 expected effect Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/52—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using comparison with reference sources, e.g. disappearing-filament pyrometer
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/52—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using comparison with reference sources, e.g. disappearing-filament pyrometer
- G01J5/56—Electrical features thereof
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
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- G06T2207/10048—Infrared image
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30241—Trajectory
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Abstract
本发明公开了一种检测热成像仪拖影时间的方法及***,该方法包括:S1.利用待测热成像仪拍摄拖影测试设备旋转转盘的图像;S2.提取图像中拖影测试设备的热靶标中心运动轨迹的起点和终点;S3.根据所述的起点和终点计算得到拖影角度;S4.通过拖影角度计算得到待测热成像仪的拖影时间。本发明基于拖影测试设备得到热成像仪的拖影时间,通过热成像仪拖影时间直接评估热成像仪类产品的成像性能。本发明使用简单,检测过程方便,一次成型,结果稳定,具有较高的易用性,且成本低廉。本发明能够得到量化指标的拖影时间,还能够很直观地显示不同硬件设备、不同处理芯片、不同算法等因素对热成像仪成像拖影的影响,进而能够直接评估热成像仪的成像性能。
Description
技术领域
本发明属于热成像仪技术领域,具体涉及一种检测热成像仪拖影时间的方法及***。
背景技术
热成像仪的传感器的热响应时间、行读取时间、积分时间等因素都会造成热成像仪在拍摄运动状态的物体时产生严重的拖影;如果处理芯片和算法的时域滤波较大的话,也会产生严重的拖影。因此,准确计算民用电力、消防等领域的热成像仪拖影时间,对于热成像仪拍摄运动场景下的图像具有很好的指导意义,也可以在实际生成过程中提高热成像仪的良品率和运动场景下的成像性能。
目前,现有专利技术CN107144356A提供了一种非制冷红外焦平面探测器阵列热响应时间测试***及方法,该方法包括:黑体发出的辐射,经过斩波器斩波后照射到被测非制冷红外焦平面探测器阵列上,被测非制冷红外焦平面探测器阵列对不同频率的辐射产生不同的响应,通过采集不同斩波频率下被测非制冷红外焦平面探测器阵列的响应值,经过快速傅立叶变换FFT变换得到频域下相应频率点下的响应幅值,拟合得到热响应时间。现有的方法较为复杂,检测过程耗时耗力,而且需要用到斩波器,费用较高。另外现有方法测得的结果不能直观地显示和热成像仪对动态物体成像的性能之间的关系。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术之缺陷,为了直接评估热像仪类产品对于动态场景成像的能力,本发明提供了一种检测热成像仪拖影时间的方法及***,该方法不直接测试红外热成像仪的热响应时间,而是利用实际动态物体的成像效果来评估成像设备拍摄动态场景的性能。本发明使用简单,检测过程方便,一次成型,结果稳定,具有较高的易用性,且成本低廉。本发明能够得到量化指标的拖影时间,还能够很直观地显示不同硬件设备、不同处理芯片、不同算法等因素对热成像仪成像拖影的影响,进而评估热成像仪的成像性能。
为了到达预期效果,本发明采用了以下技术方案:
本发明公开了一种检测热成像仪拖影时间的方法,包括:
S1.利用待测热成像仪拍摄拖影测试设备旋转转盘的图像;
S2.提取图像中拖影测试设备的热靶标中心运动轨迹的起点和终点;
S3.根据所述起点和终点计算得到拖影角度;
S4.通过拖影角度计算得到待测热成像仪的拖影时间。
进一步地,所述S1具体包括:将待测热成像仪的光轴和拖影测试设备旋转转盘的旋转轴对齐,并将待测热成像仪放置在能够拍摄到拖影测试设备旋转转盘的位置拍摄图像。
进一步地,所述S2包括:提取拖影测试设备旋转转盘的图像边缘像素点并分成若干点集,根据点集进行拟合得到拖影测试设备的热靶标中心运动轨迹,提取热靶标中心运动轨迹的灰度值,并将灰度值最大像素点设为热靶标中心运动轨迹起点,沿着热靶标中心运动轨迹拖影方向搜索符合预设灰度值的点设为热靶标中心运动轨迹终点。
进一步地,所述终点的灰度值为:
Y16_end=(Y16_start-Y16_background)*M+Y16_background,
其中,Y16_start为起点的灰度值,Y16_background为图像背景的灰度值,M为常数,且取值范围为0.1~0.2。
进一步地,所述拖影角度为:
α=2*actan(0.5*DC1C2/DC1C3),
其中,C1为热靶标中心运动轨迹起点,C2为热靶标中心运动轨迹终点,C3为拖影测试设备旋转转盘圆心,DC1C2为起点C1和终点C2之间的距离,DC1C3为起点C1和旋转转盘圆心C3之间的距离。
进一步地,所述拖影时间=拖影角度/拖影测试设备旋转转盘的角速度。
进一步地,所述拖影测试设备旋转转盘匀速转动。
本发明还公开了一种检测热成像仪拖影时间的***,包括:
采集模块,用于采集待测热成像仪设置于拖影测试设备的预设位置所拍摄图像;
检测模块,用于提取图像中拖影测试设备的热靶标中心运动轨迹的起点和终点;根据所述起点和终点计算得到拖影角度;通过拖影角度计算得到待测热成像仪的拖影时间。
本发明还公开了一种评估热成像仪成像性能的方法,包括:通过上述任一方法得到待测热成像仪的拖影时间,根据拖影时间的长短评估待测热成像仪的成像性能优劣。
进一步地,所述根据拖影时间的长短评估待测热成像仪的成像性能优劣具体包括:
当拖影时间小于第一阈值时,则显示待测热成像仪的成像性能较好;
当拖影时间大于第一阈值且小于第二阈值时,则显示待测热成像仪的成像性能合格;
当拖影时间大于第二阈值时,则显示待测热成像仪的成像性能较差。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:本发明公开了一种检测热成像仪拖影时间的方法及***和一种评估热成像仪成像性能的方法及***,本发明基于拖影测试设备得到热成像仪的拖影时间,通过热成像仪拖影时间直接评估热成像仪类产品的成像性能。本发明不直接测试红外热成像仪的热响应时间,而是利用实际动态物体的成像效果来评估成像设备拍摄动态场景的性能。本发明使用简单,检测过程方便,一次成型,结果稳定,具有较高的易用性,且成本低廉。本发明能够得到量化指标的拖影时间,还能够很直观地显示不同硬件设备、不同处理芯片、不同算法等因素对热成像仪成像拖影的影响,进而能够直接评估热成像仪的成像性能。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1是本发明实施例提供的一种检测热成像仪拖影时间的方法的流程图。
图2是本发明实施例提供的一种检测热成像仪拖影时间的方法的拖影测试设备示意图。
图3是本发明实施例提供的一种检测热成像仪拖影时间的方法的热成像仪拍摄热靶标运动示意图。
图4是本发明实施例提供的一种检测热成像仪拖影时间的方法拟合的热靶标中心运动轨迹示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
参见图1至图4,本发明公开了一种检测热成像仪拖影时间的方法,包括:
S1.利用待测热成像仪拍摄拖影测试设备旋转转盘的图像;
S2.提取图像中拖影测试设备的热靶标中心运动轨迹的起点和终点;
S3.根据所述起点和终点计算得到拖影角度;
S4.通过拖影角度计算得到待测热成像仪的拖影时间。
示例性地,如图2所示,所述拖影测试设备包括机箱、旋转转盘和热靶标,所述机箱包括动力装置和加热装置,所述动力装置驱动旋转转盘做匀速转动,所述加热装置让热靶标达到预设温度。所述待测热成像仪可以是民用电力检测、消防等各领域的热成像仪产品。
示例性地,如图3所示,是本发明实施例提供的一种检测热成像仪拖影时间的方法的热成像仪拍摄热靶标运动示意图,图中显示的是热成像仪在拍摄旋转的热靶标的大致图样,在一帧图像中热靶标的整个运动轨迹中,高温圆形热靶标会存在一个最亮的点(即高温圆点中心,是为热靶标中心运动轨迹起点),随着旋转转盘的旋转会有一个明显的拖尾,随着残留的热量慢慢变少,像素亮度慢慢变暗,直至和背景的亮度一致,此时可以提取一个热靶标中心运动轨迹终点。
进一步地,所述S1具体包括:将待测热成像仪的光轴和拖影测试设备旋转转盘的旋转轴对齐,并将待测热成像仪放置在能够拍摄到拖影测试设备旋转转盘的位置拍摄图像。
具体地,将待测热成像仪设置于拖影测试设备的预设位置后,将拖影测试设备设定为工作状态并启动运行,调整待测热成像仪的焦距以使得能够清晰成像,待测热成像仪可以拍摄一帧或多帧Y16数据图像并保存以供后续计算拖影时间使用。为了提高检测结果的准确度,可拍摄多帧图像进行检测,以得到数值稳定的拖影时间。
进一步地,所述将拖影测试设备设定为工作状态具体:根据待测热成像仪的拍摄参数,将拖影测试设备旋转转盘设置为对应的转速,将拖影测试设备的热靶标设置为对应的温度。
优选的实施例中,所述S2包括:提取拖影测试设备旋转转盘的图像边缘像素点并分成若干点集,根据点集进行拟合得到拖影测试设备的热靶标中心运动轨迹,提取热靶标中心运动轨迹的灰度值,并将灰度值最大像素点设为热靶标中心运动轨迹起点,沿着热靶标中心运动轨迹拖影方向搜索符合预设灰度值的点设为热靶标中心运动轨迹终点。
具体地,热成像仪在拍摄拖影测试设备的热靶标时会形成一道强度逐渐变弱的拖影,强度最强处(即灰度值最大处)可以设为起点,提取拖影以外的区域的灰度值,沿着拖影方向确定一个符合预设灰度值的终点。
进一步地,所述终点的灰度值为:
Y16_end=(Y16_start-Y16_background)*M+Y16_background,
其中,Y16_start为起点的灰度值,Y16_background为图像背景的灰度值,M为常数,且取值范围为0.1~0.2。
值得注意的是,提取图像的边缘像素是为了提取出旋转转盘圆心和热靶标中心运动轨迹的灰度值,本发明的提取方法采用canny边缘提取法和大津阈值法。一般认为,根据已知圆心和圆上的两点,就可以确定唯一的圆。因为热靶标中心运动轨迹一定是个圆形,因此通过3个点集即可确定热靶标中心运动轨迹所在的唯一圆。
优选地,提取图像边缘像素点并分成3个不同点集,再通过ransac算法拟合确定热靶标中心运动轨迹所在的唯一圆形。
示例性地,如图4所示,大圆为旋转转盘边缘像素点的运动轨迹,小圆为热靶标的运动轨迹,大圆和小圆的拟合步骤一致,拟合一个大圆3和两个小圆1、2,以拟合大圆3为例,具体步骤如下:
将某边缘像素点集记为P,使用ransac算法,在P的基础上拟合圆3;
计算得到拟合圆3的圆心C3。
同理可得到两个小圆的圆心C1、C2,其中,C1为热靶标中心运动轨迹中灰度值最大处区域所拟合的圆心,即可以将C1设为热靶标中心运动轨迹起点;C2为热靶标中心运动轨迹符合预设灰度值区域所拟合的圆心,即可以将C2设为热靶标中心运动轨迹终点。
在一个实施例中,所述拖影角度为:
α=2*actan(0.5*DC1C2/DC1C3),
其中,C1为热靶标中心运动轨迹起点,C2为热靶标中心运动轨迹终点,C3为拖影测试设备旋转转盘圆心,DC1C2为起点C1和终点C2之间的距离,DC1C3为起点C1和旋转转盘圆心C3之间的距离。
在另一个实施例中,所述拖影时间=拖影角度/拖影测试设备旋转转盘的角速度,即T=α/ω。
采用本发明的上述方法能够得到待测热成像仪的量化指标的拖影时间,且使用简单,检测过程方便,一次成型,结果稳定,成本低廉,具有较高的易用性。
基于同一发明思路,本发明还公开了一种检测热成像仪拖影时间的***,包括:
采集模块,用于采集待测热成像仪设置于拖影测试设备的预设位置所拍摄图像;
检测模块,用于提取图像中拖影测试设备的热靶标中心运动轨迹的起点和终点;根据所述起点和终点计算得到拖影角度;通过拖影角度计算得到待测热成像仪的拖影时间。
示例性地,如图2所示,所述拖影测试设备包括机箱、旋转转盘和热靶标,所述机箱包括动力装置和加热装置,所述动力装置驱动旋转转盘做匀速转动,所述加热装置让热靶标达到预设温度。所述待测热成像仪可以是民用电力检测、消防等各领域的热成像仪产品。
示例性地,如图3所示,是本发明实施例提供的热成像仪拍摄热靶标运动示意图,图中显示的是热成像仪在拍摄旋转的热靶标的大致图样,在一帧图像中热靶标的整个运动轨迹中,高温圆形热靶标会存在一个最亮的点(即高温圆点中心),随着旋转转盘的旋转会有一个明显的拖尾,随着残留的热量慢慢变少,像素亮度慢慢变暗,直至和背景的亮度一致。
进一步地,所述S1具体包括:将待测热成像仪的光轴和拖影测试设备旋转转盘的旋转轴对齐,并将待测热成像仪放置在能够拍摄到拖影测试设备旋转转盘的位置拍摄图像。
具体地,将待测热成像仪设置于拖影测试设备的预设位置后,将拖影测试设备设定为工作状态并启动运行,调整待测热成像仪的焦距以使得能够清晰成像,待测热成像仪可以拍摄一帧或多帧Y16数据图像并保存以供后续计算拖影时间使用。为了提高检测结果的准确度,可拍摄多帧图像进行检测,以得到数值稳定的拖影时间。
进一步地,所述将拖影测试设备设定为工作状态具体:根据待测热成像仪的拍摄参数,将拖影测试设备旋转转盘设置为对应的转速,将拖影测试设备的热靶标设置为对应的温度。
优选的实施例中,所述S2包括:提取拖影测试设备旋转转盘的图像边缘像素点并分成若干点集,根据点集进行拟合得到拖影测试设备的热靶标中心运动轨迹,提取热靶标中心运动轨迹的灰度值,并将灰度值最大像素点设为热靶标中心运动轨迹起点,沿着热靶标中心运动轨迹拖影方向搜索符合预设灰度值的点设为热靶标中心运动轨迹终点。
具体地,热成像仪在拍摄拖影测试设备的热靶标时会形成一道强度逐渐变弱的拖影,强度最强处(即灰度值最大处)可以设为起点,提取拖影以外的区域的灰度值,沿着拖影方向确定一个符合预设灰度值的终点。
进一步地,所述终点的灰度值为:
Y16_end=(Y16_start-Y16_background)*M+Y16_background,
其中,Y16_start为起点的灰度值,Y16_background为图像背景的灰度值,M为常数,且取值范围为0.1~0.2。
值得注意的是,提取图像的边缘像素是为了提取出旋转转盘圆心和热靶标中心运动轨迹的灰度值,本发明的提取方法采用canny边缘提取法和大津阈值法。一般认为,根据已知圆心和圆上的两点,就可以确定唯一的圆。因为热靶标中心运动轨迹一定是个圆形,因此通过3个点集即可确定热靶标中心运动轨迹所在的唯一圆。
优选地,提取图像边缘像素点并分成3个不同点集,再通过ransac算法拟合确定热靶标中心运动轨迹所在的唯一圆形。
示例性地,如图4所示,大圆为旋转转盘边缘像素点的运动轨迹,小圆为热靶标的运动轨迹,大圆和小圆的拟合步骤一致,拟合一个大圆3和两个小圆1、2,以拟合大圆3为例,具体步骤如下:
将某边缘像素点集记为P,使用ransac算法,在P的基础上拟合圆3;
计算得到拟合圆3的圆心C3。
同理可得到两个小圆的圆心C1、C2,其中,C1为热靶标中心运动轨迹中灰度值最大处区域所拟合的圆心,即可以将C1设为热靶标中心运动轨迹起点;C2为热靶标中心运动轨迹符合预设灰度值区域所拟合的圆心,即可以将C2设为热靶标中心运动轨迹终点。
在一个实施例中,所述拖影角度为:
α=2*actan(0.5*DC1C2/DC1C3),
其中,C1为热靶标中心运动轨迹起点,C2为热靶标中心运动轨迹终点,C3为拖影测试设备旋转转盘圆心,DC1C2为起点C1和终点C2之间的距离,DC1C3为起点C1和旋转转盘圆心C3之间的距离。
在另一个实施例中,所述拖影时间=拖影角度/拖影测试设备旋转转盘的角速度,即T=α/ω。
采用本发明能够得到待测热成像仪的量化指标的拖影时间,且使用简单,检测过程方便,一次成型,结果稳定,成本低廉,具有较高的易用性。
基于同一发明思路,本发明还公开了一种评估热成像仪成像性能的方法,包括:通过上述任一方法得到待测热成像仪的拖影时间,根据拖影时间的长短评估待测热成像仪的成像性能优劣。一般认为,拖影时间越长,待测热成像仪的成像性能越差。
进一步地,所述根据拖影时间的长短评估待测热成像仪的成像性能优劣具体包括:
当拖影时间小于第一阈值时,则显示待测热成像仪的成像性能较好;
当拖影时间大于第一阈值且小于第二阈值时,则显示待测热成像仪的成像性能合格;
当拖影时间大于第二阈值时,则显示待测热成像仪的成像性能较差。
优选地,第一阈值为35毫秒,第二阈值为55毫秒。
本发明基于专门的拖影测试设备得到待测热成像仪的拖影时间,通过拖影时间可直接评估热成像仪类产品的成像性能。目前各类热成像仪产品的拖影时间主要受传感器性能以及时域算法的影响,采用本发明方法计算出具体量化的拖影时间后,可以根据实际检测结果对传感器的参数和时域算法进行相应的调整以缩短拖影时间,提高热成像仪的成像性能。本发明不直接测试红外热成像仪的热响应时间,而是利用实际动态物体的成像效果来评估成像设备拍摄动态场景的性能。本发明使用简单,检测过程方便,一次成型,结果稳定,具有较高的易用性,且成本低廉。本发明能够得到量化指标的拖影时间,还能够很直观地显示不同硬件设备、不同处理芯片、不同算法等因素对热成像仪成像拖影的影响,进而能够直接评估热成像仪的成像性能。
本发明还公开了一种评估热成像仪成像性能的***,包括:
采集模块,用于采集待测热成像仪的拖影时间;
评估模块,用于根据拖影时间的长短评估待测热成像仪的成像性能优劣。
进一步地,所述根据拖影时间的长短评估待测热成像仪的成像性能优劣具体包括:
当拖影时间小于第一阈值时,则显示待测热成像仪的成像性能较好;
当拖影时间大于第一阈值且小于第二阈值时,则显示待测热成像仪的成像性能合格;
当拖影时间大于第二阈值时,则显示待测热成像仪的成像性能较差。
优选地,第一阈值为35毫秒,第二阈值为55毫秒。
一般认为,拖影时间越长,待测热成像仪的成像性能越差。本发明基于专门的拖影测试设备得到待测热成像仪的拖影时间,通过拖影时间可直接评估热成像仪类产品的成像性能。目前各类热成像仪产品的拖影时间主要受传感器性能以及时域算法的影响,采用本发明方法计算出具体量化的拖影时间后,可以根据实际检测结果对传感器的参数和时域算法进行相应的调整以缩短拖影时间,提高热成像仪的成像性能。本发明不直接测试红外热成像仪的热响应时间,而是利用实际动态物体的成像效果来评估成像设备拍摄动态场景的性能。本发明使用简单,检测过程方便,一次成型,结果稳定,具有较高的易用性,且成本低廉。本发明能够得到量化指标的拖影时间,还能够很直观地显示不同硬件设备、不同处理芯片、不同算法等因素对热成像仪成像拖影的影响,进而能够直接评估热成像仪的成像性能。
基于同一发明思路,本发明还公开了一种电子设备,该电子设备可以包括:处理器、通信接口、存储器和通信总线,其中,处理器,通信接口,存储器通过通信总线完成相互间的通信。处理器可以调用存储器中的逻辑指令,以执行一种检测热成像仪拖影时间的方法,该方法包括:
S1.利用待测热成像仪拍摄拖影测试设备旋转转盘的图像;
S2.提取图像中拖影测试设备的热靶标中心运动轨迹的起点和终点;
S3.根据所述起点和终点计算得到拖影角度;
S4.通过拖影角度计算得到待测热成像仪的拖影时间。
此外,上述的存储器中的逻辑指令可以通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM,RandomAccessMemory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
另一方面,本发明实施例还提供一种计算机程序产品,所述计算机程序产品包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算机程序,所述计算机程序包括程序指令,当所述程序指令被计算机执行时,计算机能够执行上述各方法实施例所提供的一种检测热成像仪拖影时间的方法,该方法包括:
S1.利用待测热成像仪拍摄拖影测试设备旋转转盘的图像;
S2.提取图像中拖影测试设备的热靶标中心运动轨迹的起点和终点;
S3.根据所述起点和终点计算得到拖影角度;
S4.通过拖影角度计算得到待测热成像仪的拖影时间。
又一方面,本发明实施例还提供一种非暂态计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现以执行上述各实施例提供的一种检测热成像仪拖影时间的方法,该方法包括:
S1.利用待测热成像仪拍摄拖影测试设备旋转转盘的图像;
S2.提取图像中拖影测试设备的热靶标中心运动轨迹的起点和终点;
S3.根据所述起点和终点计算得到拖影角度;
S4.通过拖影角度计算得到待测热成像仪的拖影时间。
应该理解的是,虽然附图的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,其可以以其他的顺序执行。而且,附图的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段,这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,其执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其他步骤或者其他步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种检测热成像仪拖影时间的方法,其特征在于,包括:
S1.利用待测热成像仪拍摄拖影测试设备旋转转盘的图像;
S2.提取图像中拖影测试设备的热靶标中心运动轨迹的起点和终点;
S3.根据所述起点和终点计算得到拖影角度;
S4.通过拖影角度计算得到待测热成像仪的拖影时间。
2.如权利要求1所述的一种检测热成像仪拖影时间的方法,其特征在于,所述S1具体包括:将待测热成像仪的光轴和拖影测试设备旋转转盘的旋转轴对齐,并将待测热成像仪放置在能够拍摄到拖影测试设备旋转转盘的位置拍摄图像。
3.如权利要求2所述的一种检测热成像仪拖影时间的方法,其特征在于,所述S2包括:提取拖影测试设备旋转转盘的图像边缘像素点并分成若干点集,根据点集进行拟合得到拖影测试设备的热靶标中心运动轨迹,提取热靶标中心运动轨迹的灰度值,并将灰度值最大像素点设为热靶标中心运动轨迹起点,沿着热靶标中心运动轨迹拖影方向搜索符合预设灰度值的点设为热靶标中心运动轨迹终点。
4.如权利要求3所述的一种检测热成像仪拖影时间的方法,其特征在于,所述终点的灰度值为:
Y16_end=(Y16_start-Y16_background)*M+Y16_background,
其中,Y16_start为起点的灰度值,Y16_background为图像背景的灰度值,M为常数,且取值范围为0.1~0.2。
5.如权利要求3或4所述的一种检测热成像仪拖影时间的方法,其特征在于,所述拖影角度为:
α=2*actan(0.5*DC1C2/DC1C3),
其中,C1为热靶标中心运动轨迹起点,C2为热靶标中心运动轨迹终点,C3为拖影测试设备旋转转盘圆心,DC1C2为起点C1和终点C2之间的距离,DC1C3为起点C1和旋转转盘圆心C3之间的距离。
6.如权利要求1所述的一种检测热成像仪拖影时间的方法,其特征在于,所述拖影时间=拖影角度/拖影测试设备旋转转盘的角速度。
7.如权利要求6所述的一种检测热成像仪拖影时间的方法,其特征在于,所述拖影测试设备旋转转盘匀速转动。
8.一种检测热成像仪拖影时间的***,其特征在于,包括:
采集模块,用于采集待测热成像仪设置于拖影测试设备的预设位置所拍摄图像;
检测模块,用于提取图像中拖影测试设备的热靶标中心运动轨迹的起点和终点;根据所述起点和终点计算得到拖影角度;通过拖影角度计算得到待测热成像仪的拖影时间。
9.一种评估热成像仪成像性能的方法,其特征在于,包括:通过如权利要求1-6所述任一方法得到待测热成像仪的拖影时间,根据拖影时间的长短评估待测热成像仪的成像性能优劣。
10.如权利要求9所述的一种评估热成像仪成像性能的方法,其特征在于,所述根据拖影时间的长短评估待测热成像仪的成像性能优劣具体包括:
当拖影时间小于第一阈值时,则显示待测热成像仪的成像性能较好;
当拖影时间大于第一阈值且小于第二阈值时,则显示待测热成像仪的成像性能合格;
当拖影时间大于第二阈值时,则显示待测热成像仪的成像性能较差。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (1)
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Family
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Country Status (1)
Country | Link |
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CN (1) | CN117030034A (zh) |
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