CN116955030A - 测试计划分配方法及其***、电子设备、存储介质 - Google Patents

测试计划分配方法及其***、电子设备、存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种测试计划分配方法及其***、电子设备、存储介质，eMMC测试***包括上位机和测试板，测试板搭载多个eMMC装置；该方法包括：从预设的第一测试计划列表中确定测试任务和执行测试任务所需的第一资源信息；根据测试任务和第一资源信息对测试板中的eMMC装置进行测试；检测并记录测试任务的执行情况；在测试任务执行失败的情况下，获取并解析测试过程中所记录的日志信息，得到任务失败类型标志；在任务失败类型标志为第一标志或第二标志的情况下，更新第一测试计划列表，得到第二测试计划列表；根据第二测试计划列表对测试板中的eMMC装置进行重新测试；能够有效地提高测试效率。

Description

测试计划分配方法及其***、电子设备、存储介质
技术领域
本发明涉及eMMC测试技术领域，尤其是一种测试计划分配方法及其***、电子设备、存储介质。
背景技术
eMMC(Embedded Multi Media Card)为嵌入式多媒体卡。eMMC采用统一的MMC标准接口，把高密度NAND-Flash(Flash存储器的一种，其内部采用非线性宏单元模式，为固态大容量内存的实现提供了廉价有效的解决方案)存储器以及MMC-Controller(多媒体控制器)封装在一颗BGA(Ball Grid Array，焊球阵列封装)芯片中。eMMC的主要优势在于可以简化手机存储器的设计、更新速度快和加速产品的研发速度，因此广受手机厂商的青睐。为了解eMMC的运行性能，排除可能的故障，需要对eMMC的性能进行测试。
相关技术中，在eMMC测试过程中，通常情况下会根据预设好的计划列表进行测试，但测试资源有限，当测试过程中某一个测试任务失败时，可能会影响后续的测试出现超时或无法正常进行等情况，导致测试效率降低。
发明内容
以下是对本文详细描述的主题的概述。
本发明实施例提供了一种测试计划分配方法及其***、电子设备、存储介质，能够在测试计划中断且测试任务可重启的情况下，自动调整测试计划以使测试继续进行，有效地提高测试效率。
第一方面，本发明实施例提供了一种测试计划分配方法，应用于eMMC测试***，所述eMMC测试***包括上位机和测试板，其中，所述上位机和所述测试板通信连接，所述测试板搭载多个eMMC装置，所述方法包括：
从预设的第一测试计划列表中确定测试任务和执行所述测试任务所需的第一资源信息；其中，所述第一测试计划列表中包括多个测试任务和分配给各个所述测试任务的所述第一资源信息；
根据所述测试任务和所述第一资源信息对所述测试板中的所述eMMC装置进行测试；
检测并记录所述测试任务的执行情况；
在所述测试任务执行失败的情况下，获取并解析测试过程中所记录的日志信息，得到任务失败类型标志；
在所述任务失败类型标志为第一标志或第二标志的情况下，更新所述第一测试计划列表，得到第二测试计划列表；其中，所述第一标志表征所述测试任务中的用例崩溃，所述第二标志表征所述测试任务中的用例测试超时；
根据所述第二测试计划列表对所述测试板中的所述eMMC装置进行重新测试。
根据本发明的一些实施例，所述在所述任务失败类型标志为第一标志或第二标志的情况下，更新所述第一测试计划列表，得到第二测试计划列表，包括：
在所述任务失败类型标志为第一标志或第二标志的情况下，获取预配置的总测试任务数量和总资源信息；
根据在先记录的所述测试任务的所述执行情况、所述总测试任务数量和所述总资源信息，确定所述第一测试计划列表中未测试的剩余测试任务数量、以及可调配的总剩余资源信息；
从所述第一测试计划列表中删除测试完成的所述测试任务，根据预设分配规则、所述剩余测试任务数量和所述总剩余资源信息进行重新分配，得到所述第二测试计划列表，所述第二测试计划列表中包括剩余测试任务和所述各个剩余测试任务所需的第二资源信息。
根据本发明的一些实施例，所述总资源信息包括：预设的eMMC总数量和总计划时延；所述总剩余资源信息包括：eMMC剩余数量和剩余时延；所述根据在先记录的所述测试任务的所述执行情况、所述总测试任务数量和所述总资源信息，确定所述第一测试计划列表中未测试的剩余测试任务数量、以及可调配的总剩余资源信息，包括：
从记录的所述测试任务的所述执行情况中确定已完成任务数量、已用eMMC数量和已用时延；
根据总测试任务数量和所述已完成任务数量进行计算处理，得到所述剩余测试任务数量；
根据所述eMMC总数量和所述已用eMMC数量进行计算处理，得到eMMC剩余数量；
根据所述总计划时延和所述已用时延进行计算处理，得到所述剩余时延；
根据所述eMMC剩余数量和所述剩余时延确定所述总剩余资源信息。
根据本发明的一些实施例，所述根据预设分配规则、所述剩余测试任务数量和所述总剩余资源信息进行重新分配，得到所述第二测试计划列表，包括：
根据所述预设分配规则确定权重公差、测试任务优先顺序以及权重和值；
根据所述权重公差、所述测试任务优先顺序、所述权重和值和所述剩余测试任务数量确定各个剩余测试任务的分配权重系数；
根据所述分配权重系数为剩余的测试任务分配所述eMMC剩余数量和所述剩余时延，得到各个所述剩余测试任务所使用的所述第二资源信息。
根据本发明的一些实施例，所述任务失败类型标志包括：第三标志和第四标志，其中，所述第三标志表征所述测试任务中命令超时，所述第四标志表征所述测试任务中数据比较出错；所述得到任务失败类型标志之后，还包括：
在所述任务失败类型标志为所述第三标志或所述第四标志的情况下，确定当前执行失败的所述测试任务不符合重新测试条件，继续执行所述第一测试计划列表中的下一个所述测试任务。
根据本发明的一些实施例，所述检测并记录所述测试任务的执行情况之后，还包括：
在所述测试任务执行成功的情况下，确定所述第一测试计划列表中的下一个测试任务和所述下一个测试任务所需的所述第一资源信息；
根据所述下一个测试任务和所述下一个测试任务所需的所述第一资源信息，继续对所述测试板中的所述eMMC装置进行测试。
根据本发明的一些实施例，所述eMMC测试***还包括终端设备，所述终端设备与所述上位机通信连接；所述检测并记录所述测试任务的执行情况之后，还包括：
根据所述第一测试计划列表中各个所述测试任务的执行情况，生成第一测试综合报告；
将所述第一测试综合报告发送至所述终端设备。
第二方面，本发明实施例提供了一种eMMC测试***，包括：上位机和测试板，所述上位机和所述测试板通信连接，所述测试板搭载多个eMMC装置；
所述上位机用于：
从预设的第一测试计划列表中确定测试任务和执行所述测试任务所需的第一资源信息；其中，所述第一测试计划列表中包括多个测试任务和分配给各个所述测试任务的所述第一资源信息；
根据所述测试任务和所述第一资源信息对所述测试板中的所述eMMC装置进行测试；
检测并记录所述测试任务的执行情况；
在所述测试任务执行失败的情况下，获取并解析测试过程中所记录的日志信息，得到任务失败类型标志；
在所述任务失败类型标志为第一标志或第二标志的情况下，更新所述第一测试计划列表，得到第二测试计划列表；其中，所述第一标志表征所述测试任务中的用例崩溃，所述第二标志表征所述测试任务中的用例测试超时；
根据所述第二测试计划列表对所述测试板中的所述eMMC装置进行重新测试。
第三方面，本发明实施例提供了一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述的测试计划分配方法。
第四方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令被处理器执行实现如第一方面所述的测试计划分配方法。
本发明实施例包括：eMMC测试***包括通信连接的上位机和测试板，测试板搭载多个eMMC装置；通过利用eMMC测试***的上位机从预设的第一测试计划列表中确定测试任务和执行测试任务所需的第一资源信息；其中，第一测试计划列表中包括多个测试任务和分配给各个测试任务的第一资源信息；接着，根据测试任务和第一资源信息对测试板中的eMMC装置进行测试；然后，检测并记录测试任务的执行情况，并在测试任务执行失败的情况下，获取并解析测试过程中所记录的日志信息，得到任务失败类型标志；而后在任务失败类型标志为第一标志或第二标志的情况下，更新第一测试计划列表，得到第二测试计划列表；其中，第一标志表征测试任务中的用例崩溃，第二标志表征测试任务中的用例测试超时；根据第二测试计划列表对测试板中的eMMC装置进行重新测试，以提高测试效率。即是说，本发明实施例能够在测试计划中断且测试任务可重启的情况下，自动调整测试计划以使测试继续进行，有效地提高测试效率。
发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1是本发明一个实施例提供的用于执行测试计划分配方法的eMMC测试***的结构示意图；
图2是本发明一个实施例提供的eMMC测试***的具体结构示意图；
图3是本发明一个实施例提供的测试计划分配方法的流程示意图；
图4是图3中步骤S150的具体流程示意图；
图5是图3中步骤S230的具体流程示意图；
图6是本发明一个实施例提供的第一测试计划列表的示意图；
图7是本发明一个实施例提供的更新第一测试计划列表后得到的第二测试计划列表的示意图。
图8是本发明一个实施例提供的电子设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。
需要说明的是，在本发明的描述中虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。在本发明的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个及两个以上。描述到“第一”、“第二”只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中所使用的术语只是为了描述本发明实施例的目的，不是旨在限制本发明。
首先，对本发明中涉及的若干名词进行解释：
eMMC(Embedded Multi Media Card)是MMC协会订立、主要针对手机或平板电脑等产品的内嵌式存储器标准规格。eMMC在封装中集成了一个控制器，提供标准接口并管理闪存。
相关技术中，在eMMC测试过程中，通常情况下会根据预设好的计划列表进行测试，但测试资源有限，当测试过程中某一个测试任务失败时，可能会影响后续的测试出现超时或无法正常进行等情况，导致测试效率降低。
基于此，本发明提供了一种测试计划分配方法、eMMC测试***、电子设备、计算机可读存储介质，其中，eMMC测试***包括通信连接的上位机和测试板，测试板搭载多个eMMC装置；通过利用eMMC测试***的上位机从预设的第一测试计划列表中确定测试任务和执行测试任务所需的第一资源信息；其中，第一测试计划列表中包括多个测试任务和分配给各个测试任务的第一资源信息；接着，根据测试任务和第一资源信息对测试板中的eMMC装置进行测试；然后，检测并记录测试任务的执行情况，并在测试任务执行失败的情况下，获取并解析测试过程中所记录的日志信息，得到任务失败类型标志；而后在任务失败类型标志为第一标志或第二标志的情况下，更新第一测试计划列表，得到第二测试计划列表；其中，第一标志表征测试任务中的用例崩溃，第二标志表征测试任务中的用例测试超时；根据第二测试计划列表对测试板中的eMMC装置进行重新测试，以提高测试效率。即是说，本发明实施例能够在测试计划中断且测试任务可重启的情况下，自动调整测试计划以使测试继续进行，有效地提高测试效率。
下面结合附图，对本发明实施例作进一步阐述。
一方面，如图1所示，该eMMC测试***100包括上位机110和测试板120，其中，上位机110和测试板120通信连接，测试板120搭载多个eMMC装置。
其中，eMMC装置为待测试对象，测试板120用于执行对eMMC装置进行的测试；上位机110监控测试板120上的eMMC测试过程。
具体地，上位机用于：从预设的第一测试计划列表中确定测试任务和执行测试任务所需的第一资源信息；其中，第一测试计划列表中包括多个测试任务和分配给各个测试任务的第一资源信息；接着，根据测试任务和第一资源信息对测试板中的eMMC装置进行测试；然后，检测并记录测试任务的执行情况，并在测试任务执行失败的情况下，获取并解析测试过程中所记录的日志信息，得到任务失败类型标志；而后在任务失败类型标志为第一标志或第二标志的情况下，更新第一测试计划列表，得到第二测试计划列表；其中，第一标志表征测试任务中的用例崩溃，第二标志表征测试任务中的用例测试超时；根据第二测试计划列表对测试板中的eMMC装置进行重新测试，以提高测试效率。因此，本发明实施例提供的eMMC测试***能够在测试计划中断且测试任务可重启的情况下，自动调整测试计划以使测试继续进行，有效地提高测试效率。
如图2所示，eMMC测试***100包括上位机110、多个测试板120和终端设备130，其中，上位机110分别与多个测试板120、终端设备130通信连接，每个测试板120上都搭载有多个eMMC装置。
其中，上位机110可以根据预设的多个测试计划列表对应地对多个测试板120进行eMMC测试；当一个测试板120上的测试完成，则切换接口，对另一个测试板120进行测试。或者，同时对至少两个测试板120进行测试，以提高测试效率。
终端设备130用于接收执行测试计划列表的过程中生成的第一测试综合报告，以使测试人员通过该第一测试综合报告获知执行测试计划列表中的各个测试任务的执行情况，能够为后续制定新的测试计划列表提供可靠的参考。
本领域技术人员可以理解的是，图中示出的***结构并不构成对本发明实施例的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
以上所描述的***实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
本领域技术人员可以理解的是，本发明实施例描述的***架构以及应用场景是为了更加清楚的说明本发明实施例的技术方案，并不构成对于本发明实施例提供的技术方案的限定，本领域技术人员可知，随着***架构的演变和新应用场景的出现，本发明实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。
基于上述***结构，下面提出本发明的测试计划分配方法的各个实施例。
另一方面，如图3所示，该测试计划分配方法能够应用于如图1所示的eMMC测试***中。该eMMC测试***包括上位机和测试板，上位机和测试板通信连接，测试板搭载多个eMMC装置。该测试计划分配方法可以包括但不限于有步骤S110至步骤S160。
步骤S110：从预设的第一测试计划列表中确定测试任务和执行测试任务所需的第一资源信息；其中，第一测试计划列表中包括多个测试任务和分配给各个测试任务的第一资源信息。
步骤S120：根据测试任务和第一资源信息对测试板中的eMMC装置进行测试。
步骤S130：检测并记录测试任务的执行情况。
步骤S140：在测试任务执行失败的情况下，获取并解析测试过程中所记录的日志信息，得到任务失败类型标志。
步骤S150：在任务失败类型标志为第一标志或第二标志的情况下，更新第一测试计划列表，得到第二测试计划列表；其中，第一标志表征测试任务中的用例崩溃，第二标志表征测试任务中的用例测试超时。
步骤S160：根据第二测试计划列表对测试板中的eMMC装置进行重新测试。
可以理解的是，第一资源信息包括：第一eMMC数量和第一测试时延；测试任务中包括多个测试用例。具体地，通过步骤S120，根据第一eMMC数量调用至少一个eMMC装置，并在第一测试时延内，使eMMC装置与测试板之间的接口的状态持续为测试状态，执行测试任务中的测试用例。即在第一测试时延内，调用第一eMMC数量的eMMC装置，执行测试任务中的测试用例。
通过步骤S110至步骤S160，本发明实施例通过利用eMMC测试***的上位机，从预设的第一测试计划列表中确定测试任务和执行测试任务所需的第一资源信息；其中，第一测试计划列表中包括多个测试任务和分配给各个测试任务的第一资源信息；接着，根据测试任务和第一资源信息对测试板中的eMMC装置进行测试；然后，检测并记录测试任务的执行情况，并在测试任务执行失败的情况下，获取并解析测试过程中所记录的日志信息，得到任务失败类型标志；而后在任务失败类型标志为第一标志或第二标志的情况下，更新第一测试计划列表，得到第二测试计划列表；其中，第一标志表征测试任务中的用例崩溃，第二标志表征测试任务中的用例测试超时；根据第二测试计划列表对测试板中的eMMC装置进行重新测试，以提高测试效率。因此，本发明实施例能够在测试计划中断且测试任务可重启的情况下，自动调整测试计划以使测试继续进行，有效地提高测试效率。
根据本发明的一些实施例，参照图4，对步骤S150进行进一步说明，步骤S150包括但不限于有步骤S210至步骤S230。
步骤S210：在任务失败类型标志为第一标志或第二标志的情况下，获取预配置的总测试任务数量和总资源信息；
步骤S220：根据在先记录的测试任务的执行情况、总测试任务数量和总资源信息，确定第一测试计划列表中未测试的剩余测试任务数量、以及可调配的总剩余资源信息；
步骤S230：从第一测试计划列表中删除测试完成的测试任务，根据预设分配规则、剩余测试任务数量和总剩余资源信息进行重新分配，得到第二测试计划列表，第二测试计划列表中包括剩余测试任务和各个剩余测试任务所需的第二资源信息。
通过步骤S210至步骤S230，在任务失败类型标志为第一标志或第二标志的情况下，确定当前执行失败的测试任务符合重新测试条件，根据未测试的剩余测试任务数量、以及可调配的总剩余资源信息合理分配资源和测试任务，得到第二测试计划列表，以提高资源利用率且保障较高的测试效率。
具体地，总资源信息包括：预设的eMMC总数量和总计划时延；总剩余资源信息包括：eMMC剩余数量和剩余时延。
根据本发明的一些实施例，对步骤S220进行进一步说明，步骤S220：“根据在先记录的测试任务的执行情况、总测试任务数量和总资源信息，确定第一测试计划列表中未测试的剩余测试任务数量、以及可调配的总剩余资源信息”包括但不限于有以下步骤：
首先，从记录的测试任务的执行情况中确定已完成任务数量、已用eMMC数量和已用时延；
其次，根据总测试任务数量和已完成任务数量进行计算处理，得到剩余测试任务数量；
接着，根据eMMC总数量和已用eMMC数量进行计算处理，得到eMMC剩余数量；
然后，根据总计划时延和已用时延进行计算处理，得到剩余时延；
最后，根据eMMC剩余数量和剩余时延确定总剩余资源信息。
具体地，在得到已完成任务数量、已用eMMC数量和已用时延之后，用总测试任务数量减去已完成任务数量得到剩余测试任务数量，用eMMC总数量减去已用eMMC数量得到eMMC剩余数量，用总计划时延减去已用时延得到可调用的剩余时延，根据eMMC剩余数量和剩余时延生成总剩余资源信息，有利于为合理调整测试计划提供可靠的参考信息。
根据本发明的一些实施例，结合图5，对步骤S230进行进一步说明，步骤S230包括但不限于有步骤S310至步骤S330。
步骤S310：根据预设分配规则确定权重公差、测试任务优先顺序以及权重和值。
本步骤中，权重公差指的是执行顺序相邻的两个测试任务之间的分配权重系数的差值，权重公差可以提前配置本申请对此不作具体的限制；测试任务优先顺序同样提前配置，此处的优先顺序为从高到低；具体地，权重和值为1。
步骤S320：根据权重公差、测试任务优先顺序、权重和值和剩余测试任务数量确定各个剩余测试任务的分配权重系数。
本步骤中，根据权重公差、权重和值和剩余测试任务数量进行计算处理，可以得到数值递增的等差数列的首项、中间项和末项；将等差数列的首项确定为优先级别最低的剩余测试任务的分配权重系数；将等差数列的末项确定为优先级别最高的剩余测试任务的分配权重系数；按照优先顺序越低、分配权重系数越低的分配规则，将等差数列的中间项一一确定为其他剩余测试任务的分配权重系数。
步骤S330：根据分配权重系数为剩余的测试任务分配eMMC剩余数量和剩余时延，得到各个剩余测试任务所使用的第二资源信息。
本步骤中，第二资源信息包括：重新分配后的第二eMMC数量和第二测试时延；测试任务中包括多个测试用例。获取各个剩余测试任务的分配权重系数，将分配权重系数与eMMC剩余数量相乘，得到该剩余测试任务重新分配到的第二eMMC数量；将分配权重系数与剩余时延相乘，得到该剩余测试任务重新分配到的第二测试时延，即得到了各个剩余测试任务所使用的第二资源信息。
具体地，在步骤S330之后，根据第二测试计划列表进行重新测试，此过程中，根据重新分配的第二eMMC数量调用至少一个eMMC装置，并在重新分配的第二测试时延内，使eMMC装置与测试板之间的接口的状态持续为测试状态，执行剩余测试任务中的测试用例。
本发明实施例通过步骤S310至步骤S330，为剩余的测试任务分配eMMC剩余数量和剩余时延，能够得到重新规划的第二测试计划列表，有利于根据第二测试计划列表中的测试任务和第二资源信息测试eMMC装置，提高测试效率。
根据本发明的一些实施例，通过步骤S140得到任务失败类型标志之后，测试计划分配方法还包括但不限于有以下步骤：
在任务失败类型标志为第三标志或第四标志的情况下，确定当前执行失败的测试任务不符合重新测试条件，继续执行第一测试计划列表中的下一个测试任务。
在一些实施例中，任务失败类型标志包括：第三标志和第四标志，其中，第三标志表征测试任务中命令超时，第四标志表征测试任务中数据比较出错。
具体地，在任务失败类型标志为第三标志或第四标志的情况下，确定该中断的测试任务不符合重新测试条件；在该测试任务不符合重新测试条件的情况下，跳过该测试失败的测试任务，继续执行第一测试计划列表中的下一个测试任务，以保障第一测试计划列表中的后续测试能正常进行，有利于提高测试效率。
根据本发明的一些实施例，步骤S130：“检测并记录测试任务的执行情况”之后，测试计划分配方法还包括但不限于有以下步骤：
在测试任务执行成功的情况下，确定第一测试计划列表中的下一个测试任务和下一个测试任务所需的第一资源信息；根据下一个测试任务和下一个测试任务所需的第一资源信息，继续对测试板中的eMMC装置进行测试。
具体地，测试任务的执行情况包括执行成功和执行失败，在测试任务执行成功的情况下，确定第一测试计划列表中的下一个测试任务和下一个测试任务所需调用的第一资源信息，自动根据第一资源信息调用相应的资源执行下一个测试任务，继续进行测试，以此保持高效的测试效率。
根据本发明的一些实施例，eMMC测试***还包括终端设备，终端设备与上位机通信连接；步骤S130：“检测并记录测试任务的执行情况”之后，测试计划分配方法还包括但不限于有以下步骤：
根据第一测试计划列表中各个测试任务的执行情况，生成第一测试综合报告；将第一测试综合报告发送至终端设备。
具体地，将执行第一测试计划列表的过程中生成的第一测试综合报告发送至终端设备，以使测试人员通过该第一测试综合报告获知第一执行测试计划列表中的各个测试任务的执行情况，能够为后续制定新的测试计划列表提供可靠的参考。其中，第一测试综合报告包括测试任务实际占用的资源、测试任务失败信息和测试任务成功信息等信息，进一步地，测试任务失败信息还包括任务失败类型标志，能够使得测试人员获知导致测试任务失败的原因。
在一实施例中，在生成第二测试计划列表，并根据第二测试计划列表对测试板中的eMMC装置进行重新测试的过程中，会根据第二测试计划列表中各个测试任务的执行情况，生成第二测试综合报告；并将第二测试综合报告发送至终端设备，以使测试人员获知重测过程中各个测试任务的执行情况，同样地为后续制定新的测试计划列表提供可靠的参考。
举一示例，结合图6和图7对本发明实施例的测试计划分配方法、以及如何更新第一测试计划列表得到第二测试计划列表进行进一步说明。
图6所示的第一测试计划列表中包括：测试任务和对应的第一资源信息，第一资源信息包括：第一eMMC数量和第一测试时延。测试任务共八个，分别是测试任务A、测试任务B、测试任务C、测试任务D、测试任务E、测试任务F、测试任务G和测试任务H；八个测试任务分配到的第一eMMC数量分别是：10个、20个、30个、12个、16个、17个、21个和34个；八个测试任务分配到的第一测试时延分别是：T、2T、3T、1.2T、1.6T、1.7T、2.1T和3.4T。此外，从图6的第一测试计划列表还可以知道总资源信息，即预设的eMMC总数量是150个，总计划时延是15T。可以理解的是，T为一个计时周期，其数值可以自定义，本申请对T的取值不做限定。
另外，需要说明的是，预设的测试任务优先顺序是：测试任务A、测试任务B、测试任务C、测试任务D、测试任务E、测试任务F、测试任务G、测试任务H。
按照测试任务优先顺序，首先根据测试任务A的第一资源信息调用资源，执行测试任务A，在测试任务A和测试任务B测试完成且成功的情况下，根据测试任务C的第一资源信息调用资源，继续执行测试任务C。
在测试任务C测试失败，且解析日志信息得到的任务失败类型标志为第三标志或第四标志的情况下，确定当前执行失败的测试任务不符合重新测试条件，继续执行测试任务D。
在测试任务D测试失败，且解析日志信息得到的任务失败类型标志为第一标志或第二标志的情况下，确定当前执行失败的测试任务符合重新测试条件，更新第一测试计划列表。
更新第一测试计划列表时，首先获取预配置的总测试任务数量为8个；确定总资源信息中预设的eMMC总数量是150个，总计划时延是15T。
接着，根据在先执行的测试任务的执行情况，确定已完成任务数量为3个，已用eMMC数量为50个、已用时延为5T。则可调配的总剩余资源信息中，第一测试计划列表中未测试的剩余测试任务数量为5个，剩余时延为10T。
然后，从第一测试计划列表中删除测试完成的测试任务A、测试任务B和无法重启的测试任务C。
接着，从预设分配规则中确定权重公差为0.05，测试任务优先顺序不变，权重和值为1。
而后，根据权重公差、权重和值和剩余测试任务数量进行计算处理，可以得到数值递增的等差数列的首项、中间项和末项。具体地，根据等差数列的求和公式：Sn＝na1+n(n-1)d/2，其中d为公差，n为数列个数，a1为等差数列的首项。当d＝0.05，Sn＝1，n＝5；则可以计算出等差数列的首项为0.1，即可以得到等差数列{0.1，0.15，0.2，0.25，0.3}，该等差数列{0.1，0.15，0.2，0.25，0.3}即为待分配的分配权重系数。
接着，按照优先顺序越低、分配权重系数越低的分配规则，分别确定剩余的测试任务D、测试任务E、测试任务F、测试任务G、测试任务的H分配权重系数为：0.3、0.25、0.2、0.15、0.1。
然后，根据测试任务D、测试任务E、测试任务F、测试任务G、测试任务H各自的分配权重系数，确定剩余测试任务的重新分配到的第二eMMC数量和第二测试时延。例如，测试任务D分配到的第二eMMC数量为：100*0.3＝30个，分配到的第二测试时延为：10T*0.3＝3T。
最后，得到如图7所示的重新规划的第二测试计划列表。
图7所示的第二测试计划列表中包括：剩余测试任务和对应的第二资源信息，第二资源信息包括：重新分配后的第二eMMC数量和第二测试时延。剩余测试任务共5个，分别是测试任务D、测试任务E、测试任务F、测试任务G和测试任务H；5个剩余测试任务分配到的第二eMMC数量分别是：30个、25个、20个、15个、10个；5个剩余测试任务分配到的第二测试时延分别是：3T、2.5T、2T、1.5T、T。而后，根据重新规划的第二测试计划列表进行重新测试。
可以理解的是，该具体实施例描述的应用场景是为了更加清楚的说明本发明实施例的技术方案，并不构成对于本发明实施例提供的技术方案的限定，本领域技术人员可知，随着新应用场景的出现，本发明实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。
第三方面，参照图8，电子设备800包括：存储器820、处理器810及存储在存储器820上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器810执行计算机程序时实现如第一方面的测试计划分配方法。
处理器810和存储器820可以通过总线或者其他方式连接。
处理器810，可以采用通用的中央处理器、微处理器、应用专用集成电路、或者一个或多个集成电路等方式实现，用于执行相关程序，以实现本发明实施例所提供的技术方案。
存储器820作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序以及非暂态性计算机可执行程序。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施方式中，存储器820可选包括相对于处理器远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至该处理器。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
实现上述实施例的测试计划分配方法所需的非暂态软件程序以及指令存储在存储器中，当被处理器执行时，执行上述实施例中的测试计划分配方法，例如，执行以上描述的图3、图4、图5中所示的方法步骤。
以上所描述的装置实施例或者***实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
第四方面，本发明的一个实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被一个处理器或控制器执行，例如，被上述装置实施例中的一个处理器执行，可使得上述处理器执行上述实施例中的测试计划分配方法，例如，执行以上描述的图3、图4、图5中所示的方法步骤。
本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、***可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。某些物理组件或所有物理组件可以被实施为由处理器，如中央处理器、数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。
以上是对本发明的较佳实施进行了具体说明，但本发明并不局限于上述实施方式，熟悉本领域的技术人员在不违背本发明精神的前提下还可作出种种的等同变形或替换，这些等同的变形或替换均包含在本发明所限定的范围内。

Claims (10)

1.一种测试计划分配方法，其特征在于，应用于eMMC测试***，所述eMMC测试***包括上位机和测试板，其中，所述上位机和所述测试板通信连接，所述测试板搭载多个eMMC装置，所述方法包括：
从预设的第一测试计划列表中确定测试任务和执行所述测试任务所需的第一资源信息；其中，所述第一测试计划列表中包括多个测试任务和分配给各个所述测试任务的所述第一资源信息；
根据所述测试任务和所述第一资源信息对所述测试板中的所述eMMC装置进行测试；
检测并记录所述测试任务的执行情况；
在所述测试任务执行失败的情况下，获取并解析测试过程中所记录的日志信息，得到任务失败类型标志；
在所述任务失败类型标志为第一标志或第二标志的情况下，更新所述第一测试计划列表，得到第二测试计划列表；其中，所述第一标志表征所述测试任务中的用例崩溃，所述第二标志表征所述测试任务中的用例测试超时；
根据所述第二测试计划列表对所述测试板中的所述eMMC装置进行重新测试。
2.根据权利要求1所述的测试计划分配方法，其特征在于，所述在所述任务失败类型标志为第一标志或第二标志的情况下，更新所述第一测试计划列表，得到第二测试计划列表，包括：
在所述任务失败类型标志为第一标志或第二标志的情况下，获取预配置的总测试任务数量和总资源信息；
根据在先记录的所述测试任务的所述执行情况、所述总测试任务数量和所述总资源信息，确定所述第一测试计划列表中未测试的剩余测试任务数量、以及可调配的总剩余资源信息；
从所述第一测试计划列表中删除测试完成的所述测试任务，根据预设分配规则、所述剩余测试任务数量和所述总剩余资源信息进行重新分配，得到所述第二测试计划列表，所述第二测试计划列表中包括剩余测试任务和所述各个剩余测试任务所需的第二资源信息。
3.根据权利要求2所述的测试计划分配方法，其特征在于，所述总资源信息包括：预设的eMMC总数量和总计划时延；所述总剩余资源信息包括：eMMC剩余数量和剩余时延；所述根据在先记录的所述测试任务的所述执行情况、所述总测试任务数量和所述总资源信息，确定所述第一测试计划列表中未测试的剩余测试任务数量、以及可调配的总剩余资源信息，包括：
从记录的所述测试任务的所述执行情况中确定已完成任务数量、已用eMMC数量和已用时延；
根据总测试任务数量和所述已完成任务数量进行计算处理，得到所述剩余测试任务数量；
根据所述eMMC总数量和所述已用eMMC数量进行计算处理，得到eMMC剩余数量；
根据所述总计划时延和所述已用时延进行计算处理，得到所述剩余时延；
根据所述eMMC剩余数量和所述剩余时延确定所述总剩余资源信息。
4.根据权利要求3所述的测试计划分配方法，其特征在于，所述根据预设分配规则、所述剩余测试任务数量和所述总剩余资源信息进行重新分配，得到所述第二测试计划列表，包括：
根据所述预设分配规则确定权重公差、测试任务优先顺序以及权重和值；
根据所述权重公差、所述测试任务优先顺序、所述权重和值和所述剩余测试任务数量确定各个剩余测试任务的分配权重系数；
根据所述分配权重系数为剩余的测试任务分配所述eMMC剩余数量和所述剩余时延，得到各个所述剩余测试任务所使用的所述第二资源信息。
5.根据权利要求1所述的测试计划分配方法，其特征在于，所述任务失败类型标志包括：第三标志和第四标志，其中，所述第三标志表征所述测试任务中命令超时，所述第四标志表征所述测试任务中数据比较出错；所述得到任务失败类型标志之后，还包括：
在所述任务失败类型标志为所述第三标志或所述第四标志的情况下，确定当前执行失败的所述测试任务不符合重新测试条件，继续执行所述第一测试计划列表中的下一个所述测试任务。
6.根据权利要求5所述的测试计划分配方法，其特征在于，所述检测并记录所述测试任务的执行情况之后，还包括：
在所述测试任务执行成功的情况下，确定所述第一测试计划列表中的下一个测试任务和所述下一个测试任务所需的所述第一资源信息；
根据所述下一个测试任务和所述下一个测试任务所需的所述第一资源信息，继续对所述测试板中的所述eMMC装置进行测试。
7.根据权利要求6所述的测试计划分配方法，其特征在于，所述eMMC测试***还包括终端设备，所述终端设备与所述上位机通信连接；所述检测并记录所述测试任务的执行情况之后，还包括：
根据所述第一测试计划列表中各个所述测试任务的执行情况，生成第一测试综合报告；
将所述第一测试综合报告发送至所述终端设备。
8.一种eMMC测试***，其特征在于，包括：上位机和测试板，所述上位机和所述测试板通信连接，所述测试板搭载多个eMMC装置；
所述上位机用于：
从预设的第一测试计划列表中确定测试任务和执行所述测试任务所需的第一资源信息；其中，所述第一测试计划列表中包括多个测试任务和分配给各个所述测试任务的所述第一资源信息；
根据所述测试任务和所述第一资源信息对所述测试板中的所述eMMC装置进行测试；
检测并记录所述测试任务的执行情况；
在所述测试任务执行失败的情况下，获取并解析测试过程中所记录的日志信息，得到任务失败类型标志；
在所述任务失败类型标志为第一标志或第二标志的情况下，更新所述第一测试计划列表，得到第二测试计划列表；其中，所述第一标志表征所述测试任务中的用例崩溃，所述第二标志表征所述测试任务中的用例测试超时；
根据所述第二测试计划列表对所述测试板中的所述eMMC装置进行重新测试。
9.一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任意一项所述的测试计划分配方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令被处理器执行实现如权利要求1至7任意一项所述的测试计划分配方法。
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