CN116953418A - 射频测试方法、***、设备及计算机可读存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种射频测试方法、***、设备及计算机可读存储介质，涉及产品测试技术领域，所述射频测试方法应用于射频测试***，所述射频测试***包括测试产品和测试仪器，射频测试方法包括：获取测试产品中待测试产品对应的测试软件；在预设状态下确定测试软件中全部的测试项目，并依次基于测试项目确定控制指令；确定控制指令的顺序信息，并基于顺序信息和控制指令生成测试控制流程信息；其中，预设状态是指基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层的状态；根据测试控制流程信息对待测试产品进行射频测试得到射频测试结果。本申请提高了射频测试的效率，提高了测试软件的复用率。
Description
技术领域
本申请涉及产品测试技术领域，尤其涉及一种射频测试方法、***、设备及计算机可读存储介质。
背景技术
随着消费类电子产品的发展，用户对于电子产品的射频测试要求也越来越高，在希望满足电子产品正常射频测试的同时进一步提高电子产品的射频测试效率，这也对电子产品的射频测试提出了更高的要求。
传统的射频测试方式是通过使用产品对应的产品应用软件指令进入对应测试模式，并与测试仪器连接之后进行射频测试。这种射频测试方式存在很大的缺陷，存在必须使用产品对应的产品应用软件指令进入测试模式下才能实现射频测试的问题。即，这种射频测试方式会由于需要执行不同产品对应的产品应用软件指令之后才能进入测试模式，进而造成射频测试的效率不高，同时由于产品应用软件指令未标准化，进而造成测试软件复用性不高。
发明内容
本申请的主要目的在于提供一种射频测试方法、***、设备和计算机可读存储介质，旨在解决测试软件复用性不高的技术问题。
为实现上述目的，本申请提供一种射频测试方法，所述射频测试方法应用于射频测试***，所述射频测试***包括测试产品和测试仪器，所述射频测试方法的步骤包括：
获取所述测试产品中待测试产品对应的测试软件；
在预设状态下确定所述测试软件中全部的测试项目，并依次基于所述测试项目确定控制指令；
确定所述控制指令的顺序信息，并基于所述顺序信息和所述控制指令生成测试控制流程信息；其中，所述预设状态是指基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层的状态；
根据所述测试控制流程信息对所述待测试产品进行射频测试得到射频测试结果。
可选地，所述测试软件包括所述待测试产品的产品物理地址，所述在预设状态下确定所述测试软件中全部的测试项目的步骤之前，包括：
基于所述产品物理地址激活所述待测试产品，并检测所述待测试产品的当前模式是否为用户模式；
若所述待测试产品的当前模式为用户模式，则基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层，并执行所述在预设状态下确定所述测试软件中全部的测试项目的步骤；
若所述待测试产品的当前模式不为用户模式，则触发预设的重启指令，并在执行所述重启指令之后执行所述基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层的步骤。
可选地，预设的所述握手方式包括私有协议、信令和BLE配对，所述基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层的步骤，包括：
检测所述待测试产品的芯片层和所述测试仪器是否为首次握手；
若所述待测试产品的芯片层和所述测试仪器为首次握手，则基于所述私有协议握手所述待测试产品的芯片层；
若所述待测试产品的芯片层和所述测试仪器不为首次握手，则确定所述测试软件对应的测试选项；
若所述测试选项为BREDR模式对应的测试项测试，则基于所述信令握手所述待测试产品的芯片层；
若所述测试选项为BLE模式对应的测试项测试，则基于所述BLE配对握手所述待测试产品的芯片层。
可选地，所述控制指令包括控制模式指令和控制测试指令，所述根据所述测试控制流程信息对所述待测试产品进行射频测试得到射频测试结果的步骤，包括：
依次确定所述测试控制流程信息中的所述控制指令，并确定所述控制指令中的所述控制模式指令对应的测试模式；
在所述测试模式下基于所述控制指令中的所述控制测试指令对所述待测试产品进行射频测试得到单个测试结果，并确定各所述控制指令对应的全部单个测试结果，将各所述单个测试结果汇总得到射频测试结果。
可选地，所述获取所述测试产品中待测试产品对应的测试软件的步骤，包括：
获取全部的产品握手信息，并基于各所述产品握手信息在所述测试产品中识别待测试产品；
确定所述待测试产品对应的选定测试内容，并基于所述选定测试内容生成所述待测试产品对应的测试软件。
可选地，所述根据所述测试控制流程信息对所述待测试产品进行射频测试得到射频测试结果的步骤之后，包括：
确定所述测试软件中的下一站测试模式，并基于所述下一站测试模式生成模式控制指令；
基于所述握手方式中的私有协议和模式控制指令控制所述待测试产品。
此外，为实现上述目的，本发明还提供一种射频测试***，所述射频测试***包括测试产品和测试仪器，所述测试仪器包括：
获取模块，用于获取所述测试产品中待测试产品对应的测试软件；
第一处理模块，用于在预设状态下确定所述测试软件中全部的测试项目，并依次基于所述测试项目确定控制指令；
第二处理模块，用于确定所述控制指令的顺序信息，并基于所述顺序信息和所述控制指令生成测试控制流程信息；其中，所述预设状态是指基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层的状态；
确定模块，用于根据所述测试控制流程信息对所述待测试产品进行射频测试得到射频测试结果。
本申请还提供一种射频测试设备，所述射频测试设备包括：存储器、处理器、连接端口及射频端口，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的所述射频测试方法的程序，所述射频测试方法的程序被处理器执行时可实现如上述的射频测试方法的步骤，所述射频端口用于射频测试设备对DUT进行控制发送及射频信号的传输，所述连接端口用于测试软件对射频测试设备的控制。
本申请还提供一种计算机可读存储介质所述计算机可读存储介质上存储有实现射频测试方法的程序，所述实现射频测试方法的程序被处理器执行以实现如上述射频测试方法的步骤。
本申请的技术方案提供了一种射频测试方法，射频测试方法应用于射频测试***，射频测试***包括测试产品和测试仪器，测试仪器通过获取所述测试产品中待测试产品对应的测试软件；在预设状态下确定所述测试软件中全部的测试项目，并依次基于所述测试项目确定控制指令；确定所述控制指令的顺序信息，并基于所述顺序信息和所述控制指令生成测试控制流程信息；其中，所述预设状态是指基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层的状态；根据所述测试控制流程信息对所述待测试产品进行射频测试得到射频测试结果。通过预设的握手方式握手待测试产品的芯片层和测试仪器的状态下，基于待测试产品对应的测试软件进行射频测试得到射频测试结果，进而可以避免必须使用产品对应的产品应用软件指令进入测试模式下才能实现射频测试的现象，本申请的射频测试方法直接可以基于预设的握手方式握手待测试产品的芯片层和测试仪器的状态下，进而实现对待测试产品的射频测试，进而可以提高射频测试的效率，同时提高了测试软件的复用性。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的射频测试设备结构示意图；
图2为本申请射频测试方法的流程示意图；
图3为本申请射频测试方法的一流程图；
图4为本申请射频测试***中测试仪器的示意图；
图5为本申请射频测试***的一框架示意图；
图6为本申请射频测试方法的一测试框架示意图；
图7为本申请射频测试方法的一测试示意图；
图8为本申请射频测试方法的又一测试示意图；
图9为本申请射频测试方法的一测试步骤示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
参照图1，图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的射频测试设备结构示意图。
如图1所示，该射频测试设备可以包括：处理器0003，例如中央处理器（CentralProcessingUnit，CPU），通信总线0001、获取接口0002，处理接口0004，存储器0005。其中，通信总线0001用于实现这些组件之间的连接通信。获取接口0002可以包括信息采集***、获取单元比如计算机，可选获取接口0002还可以包括标准的有线接口）、无线接口，其中有线接口可以为RJ-45网口、GPIB接口、串口等，无线接口可以为耦合板等。处理接口0004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口。存储器0005可以是高速的随机存取存储器（RandomAccessMemory，RAM）存储器，也可以是稳定的非易失性存储器（Non-VolatileMemory，NVM），例如磁盘存储器。存储器0005可选的还可以是独立于前述处理器0003的存储***。
本领域技术人员可以理解，图1中示出的结构并不构成对射频测试设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
如图1所示，作为一种存储介质的存储器0005中可以包括操作***、获取接口模块、执行接口模块以及射频测试程序。
在图1所示的射频测试设备中，通信总线0001主要用于实现组件之间的连接通信；获取接口0002主要用于连接后台服务器，与后台服务器进行数据通信；处理接口0004主要用于连接部署端（用户端），与部署端进行数据通信；本发明射频测试设备中的处理器0003、存储器0005可以设置在射频测试设备中，所述射频测试设备通过处理器0003调用存储器0005中存储的射频测试程序，并执行本发明实施例提供的射频测试方法。
为了下述各实施例的描述清楚简洁，首先给出一种射频测试方法的实现的简要介绍：
在消费类电子产品生产过程中，对产品射频的校准以及综测是不可缺少的一部分。而目前在产线上自动化测试***中常用的测试方式都依赖于产品应用软件指令，因此基于产品应用软件指令的射频测试方式会存在不同机型使用相同系列芯片时，会由于机型产品应用软件和开发人员差异化，虽然各类产品使用相同系列的芯片，但在自动化测试上需重复投入负荷调试，产品应用软件没有迭代优化的继承属性，产品应用软件每次变更造成稳定性和效率降低的风险等。现有的射频测试方法至少存在以下缺陷：
1、负荷重复投入，即相同系列的芯片，自动化软件工程师需要重复开发和调试；
2、稳定性重复验证，即依赖产品应用软件指令，研发/客户发布新版产品应用软件指令，不同版本产品应用软件指令存在影响射频测试，造成误测问题，没有办法实现统一稳定版本；
3、测试效率差异，即相同系列芯片，指令操作和流程时间不同，主要是产品应用软件功能设计内容不同，造成自动化测试***上的指令测试，必须适配产品应用软件指令。也就是说假设产品A1使用B芯片，同时产品A2也使用B芯片，会因为产品A1和产品A2的产品应用软件指令，如到达测试模式的执行指令数量、类型和延时不同，自动化测试***上的指令测试会对于产品A1和产品A2需要单独设计，来适配产品应用软件的指令进而实现射频测试。一方面造成相同芯片的射频测试效率不高，另一方面由于不同产品需要使用不同产品应用软件指令才能完成射频测试进而造成射频测试的相同芯片的复用率不高。基于以上问题，提出了本申请的射频测试方法，使射频测试能够脱离产品应用软件指令的依赖，却又能为生产实现同样的效果。
本申请通过一种射频测试方法，射频测试方法应用于射频测试***，射频测试***包括测试产品和测试仪器，测试仪器通过获取所述测试产品中待测试产品对应的测试软件；在预设状态下确定所述测试软件中全部的测试项目，并依次基于所述测试项目确定控制指令；确定所述控制指令的顺序信息，并基于所述顺序信息和所述控制指令生成测试控制流程信息；其中，所述预设状态是指基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层的状态；根据所述测试控制流程信息对所述待测试产品进行射频测试得到射频测试结果。通过预设的握手方式握手待测试产品的芯片层和测试仪器的状态下，基于待测试产品对应的测试软件进行射频测试得到射频测试结果，进而可以避免必须使用产品对应的产品应用软件指令进入测试模式下才能实现射频测试的现象，进而可以避免产品应用软件指令的不标准化的现象，本申请的射频测试方法直接可以基于预设的握手方式握手待测试产品的芯片层和测试仪器的状态下，进而实现对待测试产品的射频测试，进而可以提高射频测试的效率，提高测试软件的复用性。
基于上述硬件结构，提出本发明射频测试方法实施例。
本发明实施例提供了一种射频测试方法，所述射频测试方法应用于射频测试***，所述射频测试***包括测试产品和测试仪器，参照图2，图2为本发明一种射频测试方法的流程示意图，所述射频测试方法的步骤包括：
步骤S10，获取所述测试产品中待测试产品对应的测试软件；
在本实施例中，在射频测试***，针对测试产品会确定测试软件SOFT，SOFT是结合测试所需，通过LabView合身定做出来的一款自动化测试软件。测试软件需要满足可支持BREDRBLE的测试项目内容的任意组合测试；可支持任意标准的修改设置；可支持一拖一至一拖四任意测试；可支持多种射频仪器实现综测；可支持结果表格显示；可支持测试log本地打印；可支持与公司内部MES（ManufacturingExecutionSystem，生产管理***）***对接。参照图8，图8为射频测试方法的又一测试示意图，设计的测试软件SOFT最终可以生成图8中的选择页面，进而可以基于射频测试步骤的选择实现针对不同的测试产品用户可以选择BREDRBLE的测试项目内容的任意组合测试、任意标准的修改设置等，BREDR为经典蓝牙模式， BLE为低功耗蓝牙模式，BREDR与BLE分别对应的不同的射频测试的测试项目。本申请的射频测试方法也可以是指蓝牙射频测试方法，通过蓝牙连接进而进行此测试应用于蓝牙射频测试***，在对产品进行射频测试时，用户可以对图8中的选择页面进行选择操作，进而就会确定测试产品中待测试产品对应的测试软件。参照图9，图9为射频测试方法的一测试步骤示意图，通过用户选择测试软件的步骤进行实现测试软件对待测试产品的射频控制。其中，测试产品是指多个需要测试的产品，待测试产品是指测试产品中正在测试或者将要测试的产品，测试软件是指控制测试仪器对测试产品进行测试的指令。进而可以通过确定待测试产品的测试软件，进而可以基于测试软件为待测试产品的射频测试提供了依据。
步骤S20，在预设状态下确定所述测试软件中全部的测试项目，并依次基于所述测试项目确定控制指令；
步骤S30，确定所述控制指令的顺序信息，并基于所述顺序信息和所述控制指令生成测试控制流程信息；其中，所述预设状态是指基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层的状态。
在本实施例中，在确定测试软件之后，就会在预设状态下根据测试软件确定测试控制流程信息，其中，预设状态是指基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层的状态，也就是整个测试流程在测试仪器与待测试产品的芯片层握手（握手分为不同握手次数和不同测试功能存在握手方式不同，此时握手在获取测试软件之后是由于要基于握手的待测试产品与测试仪器的次数和待测试产品要测试功能进行握手，可见第二实施例的介绍）之后执行确定待测试产品的测试控制流程信息的步骤，而无论是何种方式握手待测试产品的芯片层，均只有在握手之后执行确定待测试产品的测试控制流程信息的步骤，通过在预设状态下（即握手状态下）对获取的测试软件进行进一步的细化控制，测试控制流程信息是指测试软件中对射频测试的项目等，不同的射频测试的项目对应不同的控制模式及握手方式（存在不同此时项目、握手次数造成的握手方式不同）。值得说明的是，在预设状态下确定测试软件中全部的测试项目，只是存在建立预设状态的流程不同，如私有协议、信令和BLE配对等握手方式，而在预设状态下确定测试项目的流程一样的，通过确定测试软件用户选择的测试项目，如图8中用户在该页面勾选的内容为测试项目。通过在测试仪器与待测试产品的芯片层握手之后确定测试软件中全部的测试项目，进而依次基于测试项目确定控制指令，同时确定控制指令的顺序信息，最终基于顺序信息和控制指令生成测试控制流程信息，其中，控制指令包括控制模式指令和控制测试指令。其中，测试项目是指待测试产品的射频测试项目，控制指令是指测试项目的控制模式及控制器进入模式以及通信的方式，顺序信息是指对测试项目测试的顺序信息，控制模式指令是指控制待测试产品进入不同模式，控制测试指令是指在不同模式下控制待测试产品实现射频测试的控制指令。例如图8的界面，确定所需测试的测试项目，把这些测试项目生成出来，再通过图9 的拖拉拽，确定测试项目的顺序，之后，即生成了控制模式指令与控制测试指令。进而基于测试项目对应的顺序及控制指令生成测试控制流程信息，即基于测试控制流程信息依次控制待测试产品实现测试项目的测试，进而可以保证射频测试的效率。
示例性的，测试软件基于控制协议SCPI层控制射频仪器，射频仪器与DUT（DeviceUnderTest，待测试产品）芯片层在基于蓝牙协议栈LMP层控制，通过私有协议建立连接，自动化测试***的测试软件程控测试仪器选择测试模式和测试项目，触发启动测试，并控制相关外设和结果数据分析判断。其中，DUT即是待测试产品，测试模式和测试项目是指控制待测试产品所处的模式以及进行测试的项目，控制相关外设是指控制待测试产品激活开机，可以是通过GPIO口控制待测试产品开机。此处以首次连接为例：测试仪器与DUT芯片层通过私有协议建立连接，（由以下三部分组成，测试软件下述为SOFT，待测试产品下述为DUT， 射频仪器下述为INSTRUMENT）在DUT的固件里，以及INSTRUMENT的固件里面需集成含有私有协议，可以通过提前将私有协议烧录入DUT的固件和INSTRUMENT的固件。生产测试时DUT开机且处于用户模式，INSTRUMENT处于开机后的默认模式。SOFT可以在图8的界面任意选择BREDRBLE的测试项测试，SOFT控制INSTRUMENT处于一种新的模式，即可以与DUT握手的模式。参照图7，图7为射频测试方法的一测试示意图，图中说明待测试产品的机型、批次、走向、测试仪器使用、组件、站别和过站等信息，进而可以在图中对物理地址进行设定，进而可以实现对待测试产品的连接。通过发送DUT的物理地址给INSTRUMENT，建立起于DUT握手OK的状态。进而SOFT中的控制指令INSTRUMENT，通过私有协议通知DUT所需进入的测试模式；同时SOFT中的控制指令INSTRUMENT，通过私有协议通知DUT所需的测试项目内容；并在射频测试结束之后SOFT控制INSTRUMENT，通过私有协议通知DUT测试完成并断开连接后处于的状态；SOFT控制INSTRUMENT断开待测试产品并收集测试结果，进而完成待测试产品的射频测试。进而可以通过测试仪器与DUT芯片层通过私有协议建立连接实现射频测试，可以提高产品射频测试的效率，使用此方法，通过芯片层的通讯，可脱离了不同产品应用软件影响，从而也提高了测试软件的复用性。
步骤S40，根据所述测试控制流程信息对所述待测试产品进行射频测试得到射频测试结果。
在本实施例中，当确定测试控制流程信息之后，就会根据测试控制流程信息对待测试产品进行射频测试得到射频测试结果，因为测试控制流程信息决定了模式控制及握手方式，因此就会基于测试控制流程信息对待测试产品进行射频测试。其中，射频测试结果是指基于测试控制流程信息对待测试产品进行射频测试得到的测试结果。可参照表1，表1为射频测试的项目内容及参考标准。
表1
以上表1为一种射频测试的项目内容及参考标准，也可以为其他的射频测试的项目内容及参考标准，在此不予限定。本实施例通过在产品固件以及仪器固件加入私有的协议，测试软件控制仪器的一系列操作后，完成了产线产品校准以及综测的相关测试项目内容的测试，可脱离产品应用软件的依赖。相同系列芯片，产线的自动化测试软件可实现一个测试软件完成；同时减少自动化端开发负荷以及产品射频测试稳定性验证。因为私有协议已集成在产品的固件里面，产线不需要重复烧录；值得说明的是，测试软件在测试完成之后为下一站提供所需的测试模式及无需使用繁琐的产品应用软件进行测试控制，可以提高产线的测试效率。
进一步，本实施例还提供了一种射频测试方法的一流程图，参照图3，在本实施例中，当需要对产品进行射频测试时，通过选择设备端口、配置文件，过站信息，并对测试程序进行初始化，其中，设备端口是指测试仪器及测试产品的端口，配置文件是指测试仪器及测试产品内部的配置的文件，过站信息是指整个检测产品的过站信息，如目前处于射频测试站点。进而在配置完准备工作之后，就会对测试产品进行测试，即前文记载的待测试产品。通过检测屏蔽箱是否关上，可以通过传感器进行检测，同时还会光栅检查产品是否放好，进而为开始射频检测准备。当准备工作完成之后，就会将待检测产品激活，也就是基于私有协议连接待检测产品和测试仪器，进而控制待检测产品开机。同时用户可以基于射频测试***中的矩阵开关对待检测产品进行检测控制，参照图5，图5为射频测试***的一框架示意图，矩阵开关是指图中的单刀双掷开关1和单刀双掷开关2，如图所示，四个测试产品DUT1-DUT4分别与单刀双掷开关1和单刀双掷开关2连接，进而可以选择性测试DUT1、DUT2、DUT3、DUT4，单刀双掷开关1和单刀双掷开关2可以通过电脑主机的串口/网口进行控制通断。在每一个测试DUT的位置包括了固定DUT的机架以及密封机架的屏蔽箱。因为综测仪本身可以同时测量两个DUT的射频，进而通过图中的设计，如DUT1和DUT3进行射频测试时，单刀双掷开关1或单刀双掷开关2控制两者输出的射频线与综测仪的两个测量的射频线连接，进而实现DUT1和DUT3的射频测试；同时用户可以对机架2和机架4中的测试芯片进行装载。进而在DUT1和DUT3完成测试之后，单刀双掷开关1或单刀双掷开关2控制此时已转载的DUT2和DUT4输出的射频线与综测仪的两个测量的射频线连接，进而实现DUT2和DUT4的射频测试，同时继续更换机架1和机架3中的测试芯片，进而可以在实际应用中大大提高射频测试的效率。最终将射频测试的结果通过网口上传电脑主机，以保证用户后续进行查看。整个矩阵开关的控制过程之后，可参照图3，通过矩阵开关的控制可以选择对应进行测试的产品的芯片，进而使仪器与产品握手，即综测仪等仪器与待测试产品的芯片层握手，进而通过综测仪等仪器实现对待测试产品的频偏校准、综测，如频率校准、信号强度校准、幅值和灵敏度的综测等。进而在完成校准和综测之后，断开产品与仪器的连接及通过软件指令使产品回到指定模式，指定模式可以是关机模式等，进而就完成了整个待测试产品的射频测试。后续可以基于算法或者人工进行数据分析及处理，并将此待测试产品的结果及测试数据上传MES，并显示测试结束，以便于进入下一个待测试产品的射频测试。基于产品与仪器握手之后进行射频测试，进而可以避免必须使用产品对应的产品应用软件指令进入测试模式下才能实现射频测试的现象，通过产品与仪器握手之后进行射频测试进而可以大大提高产品射频测试的效率。
示例性的，参照图6，图6为射频测试方法的一测试框架示意图，对整个基于产品和仪器握手之后的测试模块进行说明，此图中包含了基于产品和仪器握手的射频测试模块的说明，并未包含实际测试顺序。测试框架示意图包括了以下模块的选择及测试：
1、端口选择模块：用于对测试板卡通信端口选择以及产品通讯端口选择，进而可以根据板卡的数量以及产品的数量，任意增减端口数量；
2、仪器选择模块，用于对测试所需的仪器的选择，如A仪器或B仪器等，进而可以通过设计的测试软件可兼容多款仪器的测试；
3、金机校准线损补偿模块，金机校准线损在射频测试中必不可少，包括了期望功率差值补偿线损、仪器测试产品功率、板卡控制、产品通讯机常规参数导入等补偿，进而可以通过测试软件可实现自动校准功能，简化人为操作，如需3块金机，每块金机测试1次，先测试金机1，根据功率自动输出线损以及设置于仪器里面，再提示输入金机2，3，测出的功率看是否于期望功率差异再正负0.5db以内。在范围内，可测试pass，不在范围内，需继续校准；
4、仪器测试与测量模块，用于选择测试内容 ，输入所需的管控范围。如综测测量、校准测量、管控参数设置、测试项设置。可以基于现有的测试进行改进，主要是基于测试软件内部的测试项的可选择性，进而实现可任意测试项组合测试，使测试灵活快捷；
5、初始化模块，用于相关仪器初始化，板卡初始化，测试步骤导入等的功能。如附加功能加载（压测、复测、初始化项、一拖几、失败暂停等）、常规参数&线损文件加载、测试文件加载&解析、RFSwitch（矩阵开关）初始化、测试板卡初始化、仪器初始化、过站管控初始化等，进而基于初始化可以实现对整个测试的后续控制；
6、测试流模块，用于测试步骤的关联，跳转等。如条码扫描&过站&校验、机架控制（上下点，通信导通，机架码）、产品端通讯、校准测量流程控制、综测测量流程控制和logfile（记录文件）生成&MES数据上传等，通过测试软件的控制可支持任意测试项跳转；
7、自动分配模块，在一拖多的时，自动识别需开启自动分配，让多个产品测试自动有规律的与仪器握手测试。如通过信号量获取与释放实现RFSwitch控制；
8、产品通讯模块，测试软件可支持多种通信方式的产品，如蓝牙通讯和串口通讯等；
9、GPIO模块，用于对测试板卡的控制，如通过GPIO的控制实现待测试产品的开机；
10、RFID模块，用于多台机架测试时，识别测试数据是哪台机架测试，便于针对性的对机架状况分析，即确定待测试产品所在的架机码；
11、log数据模块，用于生成txt,csvlogfile，上存MES数据；
12、数据库模块，用于测试步骤等相关信息的配置，数据修改可追寻，可实现数据存、查、删除等操作。
进而在产品与仪器握手之后通过测试软件进行射频测试，以完成以上模块功能，进而可以保证射频测试的准确性，同时无需使用产品应用软件指令进而可以提高了产品射频测试的效率。
本实施例的射频测试方法，射频测试方法应用于射频测试***，射频测试***包括测试产品和测试仪器，测试仪器通过获取所述测试产品中待测试产品对应的测试软件；在预设状态下确定所述测试软件中全部的测试项目，并依次基于所述测试项目确定控制指令；确定所述控制指令的顺序信息，并基于所述顺序信息和所述控制指令生成测试控制流程信息；其中，所述预设状态是指基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层的状态，预设的所述握手方式包括私有协议、信令和BLE配对；根据所述测试控制流程信息对所述待测试产品进行射频测试得到射频测试结果。通过预设的握手方式握手待测试产品的芯片层和测试仪器的状态下，基于待测试产品对应的测试软件进行射频测试得到射频测试结果，进而可以避免必须使用产品对应的产品应用软件指令进入测试模式下才能实现射频测试的现象，本申请的射频测试方法直接可以基于预设的握手方式握手待测试产品的芯片层和测试仪器的状态下，进而实现对待测试产品的射频测试，进而可以提高射频测试的效率。
进一步地，基于本发明射频测试方法第一实施例，提出本发明射频测试方法第二实施例，所述测试软件包括所述待测试产品的产品物理地址，所述在预设状态下确定所述测试软件中全部的测试项目的步骤之前，包括：
步骤S21，基于所述产品物理地址激活所述待测试产品，并检测所述待测试产品的当前模式是否为用户模式；
步骤S22，若所述待测试产品的当前模式为用户模式，则基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层，并执行所述在预设状态下确定所述测试软件中全部的测试项目的步骤；
在本实施例中，因测试软件包括待测试产品的产品物理地址，就可以基于产品物理地址激活待测试产品，并检测待测试产品的当前模式是否为用户模式。当测试产品的当前模式为用户模式，则基于预设的握手方式握手待测试产品的芯片层和测试仪器，并执行所述在预设状态下确定所述测试软件中全部的测试项目的步骤。其中，产品物理地址是指待测试产品的物理地址，进而基于GPIO（General-purposeinput/output，输入输出口）控制待测试产品激活开机并进行后续射频测试，用户模式是指消费者使用产品的常规模式，在用户模式下直接能与射频仪器握手与模式转换，并执行对应的测试，进而可以提高了射频测试的测试效率。
步骤S23，若所述待测试产品的当前模式不为用户模式，则触发预设的重启指令，并在执行所述重启指令之后执行所述基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层的步骤。
在本实施例中，当测试产品的当前模式不为用户模式，则触发预设的重启指令，并基于重启指令对待测试产品进行重启之后执行基于预设的握手方式握手待测试产品的芯片层的步骤。重启指令是指重启待测试产品的指令，进而在重启之后进入用户模式与射频仪器握手后进行射频测试。
进一步的，预设的所述握手方式包括私有协议、信令和BLE配对，所述基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层的步骤，包括：
步骤S24，检测所述待测试产品的芯片层和所述测试仪器是否为首次握手；
步骤S25，若所述待测试产品的芯片层和所述测试仪器为首次握手，则基于所述私有协议握手所述待测试产品的芯片层；
在本实施例中，在基于预设的握手方式握手待测试产品的芯片层时，会对测试产品的芯片层和所述测试仪器的握手次数进行确定。当测试产品的芯片层和测试仪器为首次握手，则就会基于私有协议握手测试产品的芯片层，进而在握手之后基于测试软件进行射频测试，无需通过复杂的产品应用软件指令控制，进而可以提高产品射频测试的效率。
步骤S26，若所述待测试产品的芯片层和所述测试仪器不为首次握手，则确定所述测试软件对应的测试选项；
步骤S27，若所述测试选项为BREDR模式对应测试项测试，则基于所述信令握手所述待测试产品的芯片层；
步骤S28，若所述测试选项为BLE模式对应测试项测试，则基于所述BLE配对握手所述待测试产品的芯片层。
在本实施例中，当测试产品的芯片层和测试仪器不为首次握手，则会确定测试软件对应的测试选项，因为射频测试只有BREDR和BLE模式对应测试项测试，进而确定测试选项为BREDR模式对应测试项测试，则基于信令握手测试产品的芯片层，反之测试选项为BLE模式对应测试项测试，则基于BLE配对握手测试产品的芯片层。其中，测试选项可以为BREDR模式对应测试项和BLE模式对应测试项，进而可以确定不同的握手方式，保证握手的针对性。也即是测试仪器与待测试产品握手时，测试仪器初始化时，转换成支持私有协议测试模式，待测试产品进入用户模式时，需支持私有模式。此时握手需满足：初次握手使用私有协议；复测握手，BREDR测试选项下时使用信令握手；复测握手，BLE模式对应测试项测试选项下时使用BLE 配对握手。进而可以保证握手的准确性，同时提高了握手的针对性，进而提高产品射频测试的效率。
进一步地，基于本发明射频测试方法第一实施例和/或第二实施例，提出本发明射频测试方法第三实施例，所述控制指令包括控制模式指令和控制测试指令，所述根据所述测试控制流程信息对所述待测试产品进行射频测试得到射频测试结果的步骤，包括：
步骤a，依次确定所述测试控制流程信息中的所述控制指令，并确定所述控制指令对应的测试模式；
步骤b，在所述测试模式下对所述待测试产品进行射频测试得到单个测试结果，并确定各所述控制指令对应的全部单个测试结果，将各所述单个测试结果汇总得到射频测试结果。
在本实施例中，通过依次确定测试控制流程信息中的控制指令，并确定控制指令对应的测试模式，并在测试模式下对待测试产品进行射频测试得到单个测试结果，进而可以确定各个控制指令对应的全部单个测试结果，最终将单个测试结果汇总得到射频测试结果。其中，测试模式是指控制指令对应的测试时的模式，单个测试结果是指当个控制指令进行射频测试的结果。基于以上射频测试方式，存在以下控制流程的情形：
1、当测试仪器将测试项传输给待测试产品：测试仪器通过私有协议把所需要的测试项传给待测试产品；
2、当测试频偏校准：测试仪器通过私有协议，让待测试产品处于信令测试模式，用信令的模式测试出频偏和功率，比对范围的差异，继续通过私有协议，不断调整产品的Trim值，让频偏达到所需的范围内。（如果校准多次不能在范围内，通过私有协议，让待测试产品停下来后处于信令模式，待下次连接时用信令模式握手连接再重新校准），也就是先私有协议控制转换成信令模式；再进行信令模式测试通过私有协议控制传输Trim值；
3、当测试频偏校准与BREDR模式的测试项一起测试：频偏校准完成后，直接使用信令模式继续测试相关的测试项，测试完成后将通过私有协议，让待测试产品转换测试后的模式以及是否需设定预关机，也就是频偏校准完成之后私有协议控制转换测试后的模式，通过私有协议控制设定预关机，并在信令模式下测试；
4、测试BREDR模式的测试项：握手完成后，测试仪器通过私有协议，让待测试产品处于信令测试模式，测试完成后将通过私有协议，让待测试产品转换测试后的模式以及是否需设定预关机，也就是说私有协议控制转换成信令模式，并确定是否需要下一模式控制，需要则通过私有协议控制转换测试后的模式，并私有协议控制设定预关机，整个测试过程使用信令模式测试；
5、测试频偏校准与BREDRBLE模式的测试项一起测试：频偏校准完成后，直接使用信令模式继续测试BREDR模式相关的测试项，测试完成后将通过私有协议，让DUT转换 BLE配对模式以及测试后的模式以及是否需设定预关机，通过BLE配对测试BLE相关的测试项，也就是通过私有协议控制转换成信令模式进行测试，在确定是否需要下一模式控制，需要则通过私有协议控制转换测试后的模式，并私有协议控制设定预关机，整个测试过程使用私有协议控制转换成BLE配对模式和信令模式测试；
6、测试BLE模式的测试项：握手完成后，测试仪器通过私有协议，让待测试产品处于BLE 配对模式，测试完成后将通过私有协议，让待测试产品转换测试后的模式以及是否需设定预关机，也就是通过私有协议控制转换成BLE配对模式进行测试，在确定是否需要下一模式控制，需要则通过私有协议控制转换测试后的模式，并私有协议控制设定预关机，整个测试过程使用私有协议控制转换成BLE配对模式测试。
7、在以上1-6测试中，测试软件会向射频仪器定时发送查询指令，查询射频仪器的测试结果，一旦测试完成进行测试结果汇总，并分析判断。进而通过以上射频测试控制流程可以实现待测试产品的射频测试，进而无需使用产品应用软件指令进行射频测试，可以大大提高射频测试的效率。
进一步地，基于本发明射频测试方法第一实施例、第二实施例和/或第三实施例，提出本发明射频测试方法第四实施例，所述获取所述测试产品中待测试产品对应的测试软件的步骤，包括：
步骤c，获取全部的产品握手信息，并基于各所述产品握手信息在所述测试产品中识别待测试产品；
步骤d，确定所述待测试产品对应的选定测试内容，并基于所述选定测试内容生成所述待测试产品对应的测试软件。
在本实施例中，因测试软件可以实现一拖多的射频测试，故为了保证各个测试产品的射频测试顺利进行，需要对一拖多的射频测试进行控制。通过获取全部的产品握手信息，进而基于产品握手信息在所述测试产品中识别待测试产品，同时确定待测试产品对应的选定测试内容，并基于选定测试内容生成待测试产品对应的测试软件。其中，产品握手信息是指所有测试产品中与测试仪器握手的信息，进而可以基于产品握手信息确定哪个测试产品为正在测试或者将要测试的测试产品，进而将该产品识别为待测试产品。用户可以基于图8在定义针对该待测试产品的选定测试内容，选定测试内容即用户输入的射频测试的内容与项目，最终就会基于选定测试内容生成该待测试产品对应的测试软件。也就是用户可以对待测试产品进行自定义测试选项组合，进而可以提高产品射频测试的功能性，同时通过握手直接进行射频测试可以提高射频测试的效率。
进一步地，基于本发明射频测试方法第一实施例、第二实施例、第三实施例和/或第四实施例，提出本发明射频测试方法第五实施例，所述根据所述测试控制流程信息对所述待测试产品进行射频测试得到射频测试结果的步骤之后，包括：
步骤e，确定所述测试软件中的下一站测试模式，并基于所述下一站测试模式生成模式控制指令；
步骤f，基于所述握手方式中的私有协议和模式控制指令控制所述待测试产品。
在本实施例中，通过在测试软件中定义射频测试的下一站测试模式，进而可以基于下一站测试模式生成模式控制指令，以便于基于私有协议和模式控制指令控制待测试产品在射频测试结束之后直接进入下一站测试模式。其中，下一站测试模式是指射频测试结束之后需要进入的模式，模式控制指令是指控制待测试产品在射频测试结束之后进入下一站测试模式的指令。较比较现有基于产品应用软件指令进行复杂指令控制，进而可以提高整个射频测试及后续工站处理的效率。
本发明还提供一种射频测试***中测试仪器的示意图，参照图4，所述射频测试***包括测试产品和测试仪器，所述测试仪器包括：
获取模块A01，用于获取所述测试产品中待测试产品对应的测试软件；
第一处理模块A02，用于在预设状态下确定所述测试软件中全部的测试项目，并依次基于所述测试项目确定控制指令；
第二处理模块A03，确定所述控制指令的顺序信息，并基于所述顺序信息和所述控制指令生成测试控制流程信息；其中，所述预设状态是指基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层的状态；
确定模块A04，用于根据所述测试控制流程信息对所述待测试产品进行射频测试得到射频测试结果。
可选地，所述第一处理模块A02，还用于：
基于所述产品物理地址激活所述待测试产品，并检测所述待测试产品的当前模式是否为用户模式；
若所述待测试产品的当前模式为用户模式，则基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层，并执行所述在预设状态下确定所述测试软件中全部的测试项目的步骤；
若所述待测试产品的当前模式不为用户模式，则触发预设的重启指令，并在执行所述重启指令之后执行所述基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层的步骤。
可选地，所述第一处理模块A02，还用于：
检测所述待测试产品的芯片层和所述测试仪器是否为首次握手；
若所述待测试产品的芯片层和所述测试仪器为首次握手，则基于所述私有协议握手所述待测试产品的芯片层；
若所述待测试产品的芯片层和所述测试仪器不为首次握手，则确定所述测试软件对应的测试选项；
若所述测试选项为BREDR模式对应测试项测试，则基于所述信令握手所述待测试产品的芯片层；
若所述测试选项为BLE模式对应测试项测试，则基于所述BLE配对握手所述待测试产品的芯片层。
可选地，所述确定模块A04，还用于：
依次确定所述测试控制流程信息中的所述控制指令，并确定所述控制指令中的所述控制模式指令对应的测试模式；
在所述测试模式下基于所述控制指令中的所述控制测试指令对所述待测试产品进行射频测试得到单个测试结果，并确定各所述控制指令对应的全部单个测试结果，将各所述单个测试结果汇总得到射频测试结果。
可选地，所述获取模块A01，还用于：
获取全部的产品握手信息，并基于各所述产品握手信息在所述测试产品中识别待测试产品；
确定所述待测试产品对应的选定测试内容，并基于所述选定测试内容生成所述待测试产品对应的测试软件。
可选地，所述确定模块A04，还用于：
确定所述测试软件中的下一站测试模式，并基于所述下一站测试模式生成模式控制指令；
基于所述握手方式中的私有协议和模式控制指令控制所述待测试产品。
上述各程序模块所执行的方法可参照本发明射频测试方法各个实施例，此处不再赘述。
本发明还提供一种射频测试设备。
本发明射频测试设备包括：存储器、处理器、连接端口及射频端口，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的射频测试程序，所述射频测试程序被处理器执行时实现如上所述的射频测试方法的步骤, 所述射频接口用于射频测试设备对DUT进行控制发送及射频信号的传输，所述连接端口用于测试软件对射频测试设备的控制本发明还提供一种计算机可读存储介质，本发明计算机可读存储介质存储有射频测试程序，所述射频测试程序被处理器执行时实现如上所述的射频测试方法的步骤。
其中，在所述处理器上运行的射频测试程序被执行时所实现的方法可参照本发明射频测试方法各个实施例，此处不再赘述。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者***不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者***所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者***中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (9)
1.一种射频测试方法，其特征在于，所述射频测试方法应用于射频测试***，所述射频测试***包括测试产品和测试仪器，所述射频测试方法的步骤包括：
获取所述测试产品中待测试产品对应的测试软件；
在预设状态下确定所述测试软件中全部的测试项目，并依次基于所述测试项目确定控制指令；
确定所述控制指令的顺序信息，并基于所述顺序信息和所述控制指令生成测试控制流程信息；其中，所述预设状态是指基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层的状态；
根据所述测试控制流程信息对所述待测试产品进行射频测试得到射频测试结果。
2.如权利要求1所述的射频测试方法，其特征在于，所述测试软件包括所述待测试产品的产品物理地址，所述在预设状态下确定所述测试软件中全部的测试项目的步骤之前，包括：
基于所述产品物理地址激活所述待测试产品，并检测所述待测试产品的当前模式是否为用户模式；
若所述待测试产品的当前模式为用户模式，则基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层，并执行所述在预设状态下确定所述测试软件中全部的测试项目的步骤；
若所述待测试产品的当前模式不为用户模式，则触发预设的重启指令，并在执行所述重启指令之后执行所述基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层的步骤。
3.如权利要求2所述的射频测试方法，其特征在于，预设的所述握手方式包括私有协议、信令和BLE配对，所述基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层的步骤，包括：
检测所述待测试产品的芯片层和所述测试仪器是否为首次握手；
若所述待测试产品的芯片层和所述测试仪器为首次握手，则基于所述私有协议握手所述待测试产品的芯片层；
若所述待测试产品的芯片层和所述测试仪器不为首次握手，则确定所述测试软件对应的测试选项；
若所述测试选项为BREDR模式对应的测试项测试，则基于所述信令握手所述待测试产品的芯片层；
若所述测试选项为BLE模式对应的测试项测试，则基于所述BLE配对握手所述待测试产品的芯片层。
4.如权利要求1所述的射频测试方法，其特征在于，所述控制指令包括控制模式指令和控制测试指令，所述根据所述测试控制流程信息对所述待测试产品进行射频测试得到射频测试结果的步骤，包括：
依次确定所述测试控制流程信息中的所述控制指令，并确定所述控制指令中的所述控制模式指令对应的测试模式；
在所述测试模式下基于所述控制指令中的所述控制测试指令对所述待测试产品进行射频测试得到单个测试结果，并确定各所述控制指令对应的全部单个测试结果，将各所述单个测试结果汇总得到射频测试结果。
5.如权利要求1所述的射频测试方法，其特征在于，所述获取所述测试产品中待测试产品对应的测试软件的步骤，包括：
获取全部的产品握手信息，并基于各所述产品握手信息在所述测试产品中识别待测试产品；
确定所述待测试产品对应的选定测试内容，并基于所述选定测试内容生成所述待测试产品对应的测试软件。
6.如权利要求1-5任一项所述的射频测试方法，其特征在于，所述根据所述测试控制流程信息对所述待测试产品进行射频测试得到射频测试结果的步骤之后，包括：
确定所述测试软件中的下一站测试模式，并基于所述下一站测试模式生成模式控制指令；
基于所述握手方式中的私有协议和模式控制指令控制所述待测试产品。
7.一种射频测试***，其特征在于，所述射频测试***包括测试产品和测试仪器，所述测试仪器包括：
获取模块，用于获取所述测试产品中待测试产品对应的测试软件；
第一处理模块，用于在预设状态下确定所述测试软件中全部的测试项目，并依次基于所述测试项目确定控制指令；
第二处理模块，用于确定所述控制指令的顺序信息，并基于所述顺序信息和所述控制指令生成测试控制流程信息；其中，所述预设状态是指基于预设的握手方式握手所述待测试产品的芯片层的状态；
确定模块，用于根据所述测试控制流程信息对所述待测试产品进行射频测试得到射频测试结果。
8.一种射频测试设备，其特征在于，所述射频测试设备包括：存储器、处理器、连接端口及射频端口，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的射频测试程序，所述射频测试程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述射频测试方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有实现射频测试方法的程序，所述实现射频测试方法的程序被处理器执行以实现如权利要求1至6中任一项所述射频测试方法的步骤。
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