CN116840740B - 控制回路检测电路及方法、电子设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种控制回路检测电路及方法、电子设备，涉及控制回路检测技术领域。控制回路检测电路包括恒流源模块、第一二极管、开关本体控制回路、断线检测模块和处理模块；恒流源模块的输入端连接电源正极，恒流源模块的输出端与第一二极管的阳极电连接；开关本体控制回路包括相互并联的合闸线圈和防跳继电器，开关本体控制回路的输入端与第一二极管的阴极电连接，开关本体控制回路的输出端连接电源负极；断线检测模块的输入端与恒流源模块的输出端电连接，断线检测模块的输出端接地；断线检测模块包括光电耦合器；处理模块与断线检测模块电连接。根据本发明实施例的控制回路检测电路，能够准确检测合闸回路是否发生断线的情况。
Description
技术领域
本发明涉及控制回路检测技术领域，尤其是涉及一种控制回路检测电路及方法、电子设备。
背景技术
控制回路检测是指：检测开关分合闸时电气回路是否有断线，具不具备分合闸条件。传统的控制回路检测方法是利用一个很小的电流，使其经过开关本体分合闸线圈后，回到操作电源公共端；通过检测这个电流是否能形成回路来判断是否断线，如图1所示。
随着电力设备的发展完善，为了避免由于合闸回路手合或遥合接点粘连等原因，造成合闸输出端一直带有合闸电压，当开关因保护动作跳闸后，会马上又合，保护动作再跳，再合再跳，这样形成无止休的开关跳跃，引入了“防跳”功能。典型的防跳回路如图2所示，通过引入防跳继电器K7，当开关合闸后，K7的常闭触点K71断开，从而变相避免合闸回路接点粘连的情况，起到防“跳跃”的目的。然而由于继电器K7的介入，传统的控制回路检测方法无法再适用，因为当出现合闸回路断线的时候，检测电流还可以通过开关位置DL2、继电器K7形成回路，MCU无法检测到控制回路是否已经断线。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出了一种控制回路检测电路及方法、电子设备，能够在引入防跳继电器的情况下，准确检测合闸回路是否断线。
一方面，根据本发明实施例的控制回路检测电路，包括：
恒流源模块，所述恒流源模块的输入端连接电源正极，所述恒流源模块用于提供检测电流；
第一二极管，所述第一二极管的阳极与所述恒流源模块的输出端电连接；
开关本体控制回路，所述开关本体控制回路包括相互并联的合闸线圈和防跳继电器，所述开关本体控制回路的输入端与所述第一二极管的阴极电连接，所述开关本体控制回路的输出端连接电源负极；
断线检测模块，所述断线检测模块的输入端与所述恒流源模块的输出端电连接，所述断线检测模块的输出端接地；所述断线检测模块包括光电耦合器；
处理模块，所述处理模块与所述断线检测模块电连接；
其中，所述光电耦合器的电压等于所述第一二极管的压降与所述开关本体控制回路的压降之和；当所述合闸线圈所在的合闸回路未断线时，所述光电耦合器的电压小于所述光电耦合器的导通电压；当所述合闸线圈所在的合闸回路断线时，所述光电耦合器的电压大于所述光电耦合器的导通电压，所述光电耦合器导通，所述处理模块检测到合闸回路断线信号。
根据本发明的一些实施例，所述恒流源模块包括：
第一三极管，所述第一三极管的集电极通过若干个串联的第一电阻连接所述电源正极；
第二三极管，所述第二三极管的发射极与所述第一三极管的基极电连接，所述第二三极管的集电极与所述第一三极管的发射极电连接；
第二电阻，所述第二电阻的一端与所述第二三极管的发射极电连接，所述第二电阻的另一端与第二三极管的基极电连接；
第三电阻，所述第三电阻的一端与所述第二三极管的集电极电连接，所述第三电阻的另一端与所述第一二极管的阳极电连接；
稳压二极管，所述稳压二极管的阳极与所述第三电阻的另一端电连接，所述稳压二极管的阴极与所述第二三极管的基极电连接；
第四电阻，所述第四电阻的一端与所述第一三极管的集电极电连接，所述第四电阻的另一端与所述第二电阻的一端电连接。
根据本发明的一些实施例，所述第一三极管为NPN型晶体管，所述第二三极管为PNP型晶体管。
根据本发明的一些实施例，所述断线检测模块包括：
所述光电耦合器，所述光电耦合器的光敏三极管的集电极与所述处理模块电连接，所述光敏三极管的集电极还通过第五电阻连接工作电压，所述光敏三极管的发射极接地；
电容，与所述光电耦合器的发光二极管并联；
第二二极管，与所述电容并联；
第六电阻，所述第六电阻的一端分别与所述恒流源模块的输出端及所述第一二极管的阳极电连接，所述第六电阻的另一端与所述发光二极管的阳极电连接，所述发光二极管的阴极连接所述电源负极。
另一方面，根据本发明实施例的控制回路检测方法，基于上述的控制回路检测电路，所述控制回路检测方法包括以下步骤：
通过恒流源模块提供检测电流；
当合闸线圈所在的合闸回路断线时，所述检测电流通过第一二极管后，通过防跳继电器所在的回路流到电源负极；
此时断线检测模块的光电耦合器的电压大于所述光电耦合器的导通电压，所述光电耦合器导通，处理模块检测到合闸回路断线信号。
根据本发明的一些实施例，所述控制回路检测方法还包括以下步骤：
当所述合闸线圈所在的合闸回路未断线时，所述检测电流通过所述第一二极管后，通过开关本体控制回路中相互并联的所述合闸线圈和所述防跳继电器，流到电源负极；
此时所述光电耦合器的电压小于所述光电耦合器的导通电压，所述光电耦合器不导通，处理模块检测不到合闸回路断线信号。
根据本发明的一些实施例，所述恒流源模块包括：
第一三极管，所述第一三极管的集电极通过若干个串联的第一电阻连接电源正极；
第二三极管，所述第二三极管的发射极与所述第一三极管的基极电连接，所述第二三极管的集电极与所述第一三极管的发射极电连接；
第二电阻，所述第二电阻的一端与所述第二三极管的发射极电连接，所述第二电阻的另一端与第二三极管的基极电连接；
第三电阻，所述第三电阻的一端与所述第二三极管的集电极电连接，所述第三电阻的另一端与所述第一二极管的阳极电连接；
稳压二极管，所述稳压二极管的阳极与所述第三电阻的另一端电连接，所述稳压二极管的阴极与所述第二三极管的基极电连接；
第四电阻，所述第四电阻的一端与所述第一三极管的集电极电连接，所述第四电阻的另一端与所述第二电阻的一端电连接。
根据本发明的一些实施例，所述通过恒流源模块提供检测电流的步骤，具体包括：
根据所需的检测电流，设定所述第三电阻的阻值；
所述电源正极提供输入电压，所述输入电压通过所述恒流源模块后，获得所述检测电流；
通过设定所述第二电阻的阻值，使所述稳压二极管的偏置电流保持恒定，从而使所述检测电流保持恒定。
根据本发明的一些实施例，所述通过恒流源模块提供检测电流的步骤，还包括：
通过所述第一电阻滤除所述输入电压所存在的干扰信号。
另一方面，根据本发明实施例的电子设备，包括上述方面实施例所述的控制回路检测电路。
根据本发明实施例的控制回路检测电路及方法、电子设备，至少具有如下有益效果：通过引入断线检测模块，断线检测模块内部包括光电耦合器，光电耦合器的电压等于第一二极管的压降与开关本体控制回路的压降之和；在合闸回路未断线时，恒流源模块所提供的检测电流经过第一二极管以及开关本体控制回路，由于合闸线圈和防跳继电器相互并联，并联电阻较小，此时开关本体控制回路的压降较小，光电耦合器的电压小于所述光电耦合器的导通电压，光电耦合器不导通；当合闸回路断线时，恒流源模块所提供的检测电流经过第一二极管以及防跳继电器所在回路，防跳继电器的电阻大于合闸线圈和防跳继电器相并联的电阻，此时开关本体控制回路的压降较大，光电耦合器的电压大于光电耦合器的导通电压，光电耦合器导通，处理模块检测到合闸回路断线信号。根据本发明实施例的控制回路检测电路，能够在引入防跳继电器的同时，准确检测合闸回路是否发生断线的情况。
本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1为相关技术中的控制回路检测电路的电路原理图；
图2为引入防跳继电器后的控制回路的电路原理图；
图3为本发明实施例的控制回路检测电路的电路原理图；
图4为本发明实施例的控制回路检测方法的步骤流程图；
图5为本发明另一实施例的控制回路检测方法的步骤流程图；
附图标记：
恒流源模块100、开关本体控制回路200、断线检测模块300、处理模块400。
具体实施方式
本部分将详细描述本发明的具体实施例，本发明之较佳实施例在附图中示出，附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述，使人能够直观地、形象地理解本发明的每个技术特征和整体技术方案，但其不能理解为对本发明保护范围的限制。下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。对于以下实施例中的步骤编号，其仅为了便于阐述说明而设置，对步骤之间的顺序不做任何限定，实施例中的各步骤的执行顺序均可根据本领域技术人员的理解来进行适应性调整。
在本发明的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
本发明的说明书和权利要求书及所述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”和“第四”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、***、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
在本发明中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本发明的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
控制回路检测是指：检测开关分合闸时电气回路是否有断线，具不具备分合闸条件。传统的控制回路检测方法是利用一个很小的电流，使其经过开关本体分合闸线圈后，回到操作电源公共端；通过检测这个电流是否能形成回路来判断是否断线，如图1所示。
随着电力设备的发展完善，为了避免由于合闸回路手合或遥合接点粘连等原因，造成合闸输出端一直带有合闸电压，当开关因保护动作跳闸后，会马上又合，保护动作再跳，再合再跳，这样形成无止休的开关跳跃，引入了“防跳”功能。典型的防跳回路如图2所示，通过引入防跳继电器K7，当开关合闸后，K7的常闭触点K71断开，从而变相避免合闸回路接点粘连的情况，起到防“跳跃”的目的。然而由于继电器K7的介入，传统的控制回路检测方法无法再适用，因为当出现合闸回路断线的时候，检测电流也可以通过开关位置DL2、继电器K7形成回路，MCU无法检测到控制回路是否已经断线。
为此，本发明实施例提供了一种控制回路检测电路及方法、电子设备，通过引入断线检测模块，断线检测模块内部包括光电耦合器，光电耦合器的电压等于第一二极管的压降与开关本体控制回路的压降之和；在合闸回路未断线时，恒流源模块所提供的检测电流经过第一二极管以及开关本体控制回路，由于合闸线圈和防跳继电器相互并联，并联电阻较小，此时开关本体控制回路的压降较小，光电耦合器的电压小于所述光电耦合器的导通电压，光电耦合器不导通；当合闸回路断线时，恒流源模块所提供的检测电流经过第一二极管以及防跳继电器所在回路，防跳继电器的电阻大于合闸线圈和防跳继电器相并联的电阻，此时开关本体控制回路的压降较大，光电耦合器的电压大于光电耦合器的导通电压，光电耦合器导通，处理模块检测到合闸回路断线信号。根据本发明实施例的控制回路检测电路，能够在引入防跳继电器的同时，准确检测合闸回路是否发生断线的情况。
下面结合附图3-5，详细阐述本发明实施例的控制回路检测电路及方法、电子设备。
如图3所示，根据本发明实施例的控制回路检测电路，包括：恒流源模块100、第一二极管D2、开关本体控制回路200、断线检测模块300和处理模块400；恒流源模块100的输入端连接电源正极，恒流源模块100的输出端与第一二极管D2的阳极电连接，恒流源模块100用于提供检测电流；开关本体控制回路200包括相互并联的合闸线圈和防跳继电器K1，开关本体控制回路200的输入端与第一二极管D2的阴极电连接，开关本体控制回路200的输出端连接电源负极；断线检测模块300的输入端与恒流源模块100的输出端电连接，断线检测模块300的输出端接地；断线检测模块300包括光电耦合器U1；处理模块400与断线检测模块300电连接；其中，光电耦合器U1的电压等于第一二极管D2的压降与开关本体控制回路200的压降之和；当合闸线圈所在的合闸回路未断线时，光电耦合器U1的电压小于光电耦合器U1的导通电压；当合闸线圈所在的合闸回路断线时，光电耦合器U1的电压大于光电耦合器U1的导通电压，光电耦合器U1导通，处理模块400检测到合闸回路断线信号。
在实际应用中，合闸线圈的内阻通常为几欧姆到十几欧姆，内阻较小；而防跳继电器K1的内阻为几百欧姆到几千欧姆，内阻较大，利用两者的电阻特性，可以区分出检测电流是流经合闸线圈和防跳继电器K1所并联形成的回路，还是流经防跳继电器K1的回路。当合闸回路未断线时，恒流源模块100所提供的检测电流经过第一二极管D2以及开关本体控制回路200，由于合闸线圈和防跳继电器K1相互并联，并联电阻较小，此时开关本体控制回路200的压降较小，光电耦合器U1的电压小于光电耦合器U1的导通电压，光电耦合器U1不导通；当合闸回路断线时，恒流源模块100所提供的检测电流经过第一二极管D2以及防跳继电器K1所在的回路，防跳继电器K1的电阻大于合闸线圈和防跳继电器K1相并联时的电阻，此时开关本体控制回路200的压降较大，光电耦合器U1的电压大于光电耦合器U1的导通电压，光电耦合器U1导通，处理模块400检测到合闸回路断线信号。根据本发明实施例的控制回路检测电路，能够在引入防跳继电器的同时，准确检测合闸回路是否发生断线的情况。
具体地，如图3所示，在本发明的一些实施例中，恒流源模块100包括第一三极管Q1、第二三极管Q2、第二电阻R7、第三电阻R5、稳压二极管VD1和第四电阻R6，第一三极管Q1的集电极通过若干个串联的第一电阻连接电源正极；在本示例中，图中示出了两个相互串联的第一电阻，分别为R3和R4，需要说明的是，第一电阻的数量可以根据实际需要进行调节；同时，图中示出了用于提供24V的输入电压的电源正极，但是电源正极也可以根据需要，提供48V、110V等不同等级的输入电压，而不仅限于此。第一三极管Q1的基极与第二三极管Q2的发射极电连接，第二三极管Q2的集电极与第一三极管Q1的发射极电连接；第二电阻R7的一端与第二三极管Q2的发射极电连接，第二电阻R7的另一端与第二三极管Q2的基极电连接；第三电阻R5的一端与第二三极管Q2的集电极电连接，第三电阻R5的另一端与第一二极管D2的阳极电连接；稳压二极管VD1的阳极与第三电阻R5的另一端电连接，稳压二极管VD1的阴极与第二三极管Q2的基极电连接；第四电阻R6的一端与第一三极管Q1的集电极电连接，第四电阻R6的另一端与第二电阻R7的一端电连接。其中，第一三极管Q1为NPN型晶体管，第二三极管Q2为PNP型晶体管。
其中，第一电阻R3和R4可以采用大阻值、大封装的设计，阻值可以多达几千欧姆，第一电阻R3和R4是用来吸收输入电压的EMC中各种干扰，从而避免损坏后续的电路。第一三极管Q1的发射结电压（Ube1）与第三电阻R5上的压降（UR5）之和等于稳压二极管VD1的稳定电压值UZ（5.1V）和第二三极管Q2的发射结电压（Ube2）之和，即Ube1+UR5=UZ+Ube2，其中Ube1、Ube2和UZ均为器件固有参数，当环境温度不变时，近似为恒定电压。因此，UR5也为一个固定电压，通过设定第三电阻R5的阻值，可以设定所需的检测电流。然而，该电路可能被用在DC24V/DC48V/DC110/DC220V等电压等级的产品上，不同电压等级在稳压二极管VD1上的偏置电流的不同，这会导致所设定的恒流值发生偏移。要克服上述难题，需要利用PNP型晶体管，即第二三极管Q2，来减少这个偏置电流。第二三极管Q2的发射结电压为Ube2，通过第二电阻R7所设定的恒定偏置电流I＝Ube2/R7，显然，I不受输入电压变化的影响，从而恒定了稳压二极管VD1上的偏置电流。
对于不同等级的输入电压，如DC24V/DC48V/DC110/DC220V等电压等级，最终产生的检测电流均维持在1mA左右，即检测电流的大小不受输入电压等级的影响，满足所需的恒定电流。
如图3所示，在本发明的一些实施例中，断线检测模块300包括光电耦合器U1、电容C1、第二二极管D1和第六电阻R2；光电耦合器U1的光敏三极管的集电极与处理模块400电连接，光敏三极管的集电极还通过第五电阻R1连接工作电压3.3V，光敏三极管的发射极接地；电容C1与光电耦合器U1的发光二极管并联，第二二极管D1与电容C1并联；第六电阻R2的一端分别与恒流源模块100的输出端及第一二极管D2的阳极电连接，第六电阻R2的另一端与发光二极管的阳极电连接，发光二极管的阴极连接电源负极。其中，第一二极管D2为隔离二极管，起到的作用是将恒流源模块100与其他电路隔离开，防止产生干扰。
通过查看光电耦合器U1的数据手册可知，光电耦合器U1的正向导通压降为1.1-1.4V（绝大部分光耦的导通压降均在这个范围内），而光电耦合器U1的电压又等于第一二极管D2上的压降(0.7V)和开关本体控制回路上的压降之和。
假设合闸线圈的内阻为Ro=100Ω（正常开关的合闸线圈不会大于100Ω），防跳继电器K1的电阻为Rj=400Ω（正常的防跳继电器的电阻不会小于400Ω）；由图3可知，未发生合闸回路断线时，1mA检测电流在开关本体控制回路内产生的压降Uk=1mA*（Ro//Rj）<0.1v，光电耦合器U1的电压U=Uk+UD2<0.8V，UD2为第一二极管D2的压降，此时光电耦合器U1不导通。当发生合闸回路断线时，1mA检测电流在开关本体控制回路内产生的压降Uk=1mA*Rj>0.4v，此时光电耦合器U1的电压U=Uk+UD2>1.1V，光电耦合器U1导通；此时，处理模块400即可检测到合闸回路断线信号，得知合闸回路发生了断线的情况，从而能够起到保护控制回路的作用。其中，处理模块400可以采用MCU或者是其它常见的处理器。
根据本发明实施例的控制回路检测电路，能够在引入防跳继电器的同时，准确检测合闸回路是否发生断线的情况，克服了传统的检测电路无法在引入防跳继电器的情况下检测出是否发生断线的不足。
另一方面，基于上述的控制回路检测电路，本发明实施例还提出了一种控制回路检测方法，如图4所示，该方法包括以下步骤：
步骤S100：通过恒流源模块100提供检测电流；
步骤S200：当合闸线圈所在的合闸回路断线时，检测电流通过第一二极管D2后，通过防跳继电器K1所在的回路流到电源负极；
步骤S300：此时断线检测模块300的光电耦合器U1的电压大于光电耦合器U1的导通电压，光电耦合器U1导通，处理模块400检测到合闸回路断线信号。
具体地，为了使恒流源模块100能够提供所需的检测电流，恒流源模块100采用了如图3所示的电路设计，步骤S100具体包括以下子步骤：
步骤S101：根据所需的检测电流，设定第三电阻R5的阻值；
步骤S102：电源正极提供输入电压，输入电压通过恒流源模块100后，获得检测电流；
步骤S103：通过设定第二电阻R7的阻值，使稳压二极管VD1的偏置电流保持恒定，从而使检测电流保持恒定。
其中，在恒流源模块100中，第一电阻R3和R4可以采用大阻值、大封装的设计，阻值可以多达几千欧姆，第一电阻R3和R4是用来滤除输入电压的EMC中各种干扰信号，从而避免损坏后续的电路。第一三极管Q1的发射结电压（Ube1）与第三电阻R5上的压降（UR5）之和等于稳压二极管VD1的稳定电压值UZ（5.1V）和第二三极管Q2的发射结电压（Ube2）之和，即Ube1+UR5=UZ+Ube2，其中Ube1、Ube2和UZ均为器件固有参数，当环境温度不变时，近似为恒定电压。因此，UR5也为一个固定电压，通过设定第三电阻R5的阻值，可以获得所需的恒定的检测电流。然而，该电路可能被用在DC24V/DC48V/DC110/DC220V等电压等级的产品上，不同电压等级在稳压二极管VD1上的偏置电流的不同，这会导致所设定的恒流值发生偏移。要克服上述难题，需要利用PNP型晶体管，即第二三极管Q2，来减少这个偏置电流。第二三极管Q2的发射结电压为Ube2，通过第二电阻R7所设定的恒定偏置电流I＝Ube2/R7，显然，I不受输入电压变化的影响，从而恒定了稳压二极管VD1上的偏置电流。
恒流源模块100提供检测电流后，检测电流通过第一二极管D2流入开关本体控制回路200，当发生合闸回路断线时，检测电流通过防跳继电器K1流到电源负极，在开关本体控制回路内产生的压降Uk=1mA*Rj>0.4v，此时光电耦合器U1的电压U=Uk+UD2>1.1V，光电耦合器U1导通；此时，处理模块400即可检测到合闸回路断线信号，得知合闸回路发生了断线的情况，从而能够起到保护控制回路的作用。
如图5所示，在本发明的一些实施例中，控制回路检测方法还包括以下步骤：
步骤S400：当合闸线圈所在的合闸回路未断线时，检测电流通过第一二极管D2后，通过相互并联的合闸线圈和防跳继电器K1所在的开关本体控制回路200，流到电源负极；
步骤S500：此时光电耦合器U1的电压小于光电耦合器U1的导通电压，光电耦合器U1不导通，处理模块400检测不到合闸回路断线信号。
当未发生合闸回路断线时，恒流源模块100所提供的的检测电流，经过第一二极管D2后，通过开关本体控制回路200的合闸线圈和防跳继电器K1，流到电源负极，在开关本体控制回路200内产生的压降Uk=1mA*（Ro//Rj）<0.1v，光电耦合器U1的电压U=Uk+UD2<0.8V，此时光电耦合器U1不导通。
根据本发明实施例的控制回路检测方法，能够在引入防跳继电器的同时，准确检测合闸回路是否发生断线的情况，克服了传统的检测电路无法在引入防跳继电器的情况下检测出是否发生断线的不足。
另一方面，本发明实施例还提出了一种电子设备，包括上述方面实施例所述的控制回路检测电路。
尽管本文描述了具体实施方案，但是本领域中的普通技术人员将认识到，许多其它修改或另选的实施方案同样处于本公开的范围内。例如，结合特定设备或组件描述的功能和/或处理能力中的任一项可以由任何其它设备或部件来执行。另外，虽然已根据本公开的实施方案描述了各种示例性具体实施和架构，但是本领域中的普通技术人员将认识到，对本文所述的示例性具体实施和架构的许多其它修改也处于本公开的范围内。
上面结合附图对本发明实施例作了详细说明，但是本发明不限于上述实施例，在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。
Claims (10)
1.一种控制回路检测电路，其特征在于，包括：
恒流源模块，所述恒流源模块的输入端连接电源正极，所述恒流源模块用于提供检测电流；
第一二极管，所述第一二极管的阳极与所述恒流源模块的输出端电连接；
开关本体控制回路，所述开关本体控制回路包括相互并联的合闸线圈和防跳继电器，所述开关本体控制回路的输入端与所述第一二极管的阴极电连接，所述开关本体控制回路的输出端连接电源负极；
断线检测模块，所述断线检测模块的输入端与所述恒流源模块的输出端电连接，所述断线检测模块的输出端接地；所述断线检测模块包括光电耦合器；
处理模块，所述处理模块与所述断线检测模块电连接；
其中，所述光电耦合器的电压等于所述第一二极管的压降与所述开关本体控制回路的压降之和；当所述合闸线圈所在的合闸回路未断线时，所述光电耦合器的电压小于所述光电耦合器的导通电压；当所述合闸线圈所在的合闸回路断线时，所述光电耦合器的电压大于所述光电耦合器的导通电压，所述光电耦合器导通，所述处理模块检测到合闸回路断线信号。
2.根据权利要求1所述的控制回路检测电路，其特征在于，所述恒流源模块包括：
第一三极管，所述第一三极管的集电极通过若干个串联的第一电阻连接所述电源正极；
第二三极管，所述第二三极管的发射极与所述第一三极管的基极电连接，所述第二三极管的集电极与所述第一三极管的发射极电连接；
第二电阻，所述第二电阻的一端与所述第二三极管的发射极电连接，所述第二电阻的另一端与第二三极管的基极电连接；
第三电阻，所述第三电阻的一端与所述第二三极管的集电极电连接，所述第三电阻的另一端与所述第一二极管的阳极电连接；
稳压二极管，所述稳压二极管的阳极与所述第三电阻的另一端电连接，所述稳压二极管的阴极与所述第二三极管的基极电连接；
第四电阻，所述第四电阻的一端与所述第一三极管的集电极电连接，所述第四电阻的另一端与所述第二电阻的一端电连接。
3.根据权利要求2所述的控制回路检测电路，其特征在于，所述第一三极管为NPN型晶体管，所述第二三极管为PNP型晶体管。
4.根据权利要求1所述的控制回路检测电路，其特征在于，所述断线检测模块包括：
所述光电耦合器，所述光电耦合器的光敏三极管的集电极与所述处理模块电连接，所述光敏三极管的集电极还通过第五电阻连接工作电压，所述光敏三极管的发射极接地；
电容，与所述光电耦合器的发光二极管并联；
第二二极管，与所述电容并联；
第六电阻，所述第六电阻的一端分别与所述恒流源模块的输出端及所述第一二极管的阳极电连接，所述第六电阻的另一端与所述发光二极管的阳极电连接，所述发光二极管的阴极连接所述电源负极。
5.一种控制回路检测方法，基于如权利要求1至4任一项所述的控制回路检测电路，其特征在于，所述控制回路检测方法包括以下步骤：
通过恒流源模块提供检测电流；
当合闸线圈所在的合闸回路断线时，所述检测电流通过第一二极管后，通过防跳继电器所在的回路流到电源负极；
此时断线检测模块的光电耦合器的电压大于所述光电耦合器的导通电压，所述光电耦合器导通，处理模块检测到合闸回路断线信号。
6.根据权利要求5所述的控制回路检测方法，其特征在于，所述控制回路检测方法还包括以下步骤：
当所述合闸线圈所在的合闸回路未断线时，所述检测电流通过所述第一二极管后，通过开关本体控制回路中相互并联的所述合闸线圈和所述防跳继电器，流到电源负极；
此时所述光电耦合器的电压小于所述光电耦合器的导通电压，所述光电耦合器不导通，处理模块检测不到合闸回路断线信号。
7.根据权利要求5所述的控制回路检测方法，其特征在于，所述恒流源模块包括：
第一三极管，所述第一三极管的集电极通过若干个串联的第一电阻连接电源正极；
第二三极管，所述第二三极管的发射极与所述第一三极管的基极电连接，所述第二三极管的集电极与所述第一三极管的发射极电连接；
第二电阻，所述第二电阻的一端与所述第二三极管的发射极电连接，所述第二电阻的另一端与第二三极管的基极电连接；
第三电阻，所述第三电阻的一端与所述第二三极管的集电极电连接，所述第三电阻的另一端与所述第一二极管的阳极电连接；
稳压二极管，所述稳压二极管的阳极与所述第三电阻的另一端电连接，所述稳压二极管的阴极与所述第二三极管的基极电连接；
第四电阻，所述第四电阻的一端与所述第一三极管的集电极电连接，所述第四电阻的另一端与所述第二电阻的一端电连接。
8.根据权利要求7所述的控制回路检测方法，其特征在于，所述通过恒流源模块提供检测电流的步骤，具体包括：
根据所需的检测电流，设定所述第三电阻的阻值；
所述电源正极提供输入电压，所述输入电压通过所述恒流源模块后，获得所述检测电流；
通过设定所述第二电阻的阻值，使所述稳压二极管的偏置电流保持恒定，从而使所述检测电流保持恒定。
9.根据权利要求8所述的控制回路检测方法，其特征在于，所述通过恒流源模块提供检测电流的步骤，还包括：
通过所述第一电阻滤除所述输入电压所存在的干扰信号。
10.一种电子设备，其特征在于，包括如权利要求1至4任一项所述的控制回路检测电路。
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