CN116437742B - 一种oled显示器件结构及其制备方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种OLED显示器件的像素定义层结构及其制备方法,包括:包括驱动基板,位于驱动基板上的作为OLED器件阳极的像素图形化电极;在所述驱动基板和像素图形化电极上依次形成第一PDL层和第二PDL层、第三PDL层、第四PDL层;第二PDL层、第三PDL层、第四PDL层上存在两个开口,开口1位于第一PDL层开口上,开口2位于子像素之间的沟道区域。实现了阻断OLED器件底部功能层的情况下,保持阴极不断裂,横向电学传输性能完好,从而在不牺牲亮度情况下提升色域;同时实现了将大视角出射光汇聚为正视角出射光,提高正视角光取出率。

Description

一种OLED显示器件结构及其制备方法
技术领域
本发明涉及显示器件设备的技术领域,尤其涉及OLED显示器件结构及其制备方法。
背景技术
有机发光二极管(OLED)是21世纪初起开始兴起的显示技术,具有轻薄、能耗低、显示效果好等优势,目前被广泛应用于手机、平板等领域。
硅基OLED微显示器由于使用单晶硅作为其驱动背板,载流子迁移率高,相比于常规大尺寸OLED显示屏,可以实现非常高的分辨率,在AR、VR领域有着广泛的应用前景。
主流的硅基OLED显示屏的控制方式都为OLED器件阴极正面制备并提供恒定负压,OLED器件阳极独立分布在各个子像素,由驱动电路控制各子像素阳极电压,从而控制各个子像素OLED器件发光。
理想情况下,因为阳极独立分布,各子像素发光应该互不干扰;但为防止阴极断裂,通常情况下PDL(Pixel Define Layer,像素定义层)斜坡角度<50 °,这导致OLED器件底部功能层也互相连接,如空穴传输层、空穴注入层,这些功能层往往导电性能较好。这导致阳极给电像素的电压横向传导至不给电像素,导致像素电学串扰。
因此在保持OLED器件阴极连接通畅情况下,阻隔OLED器件底部功能层导电十分重要。
除此之外,由于硅基OLED器件主流应用方向为近眼显示领域,在该应用场景几乎无侧视角使用屏幕需求,而OLED器件出光角度在120 °左右,导致在硅基OLED显示大视角发光实际为无效发光。因此,将OLED器件大视角发光修正为正视角出光,提升正视角光取出率,对于提升有效亮度十分重要。
发明内容
本发明提供了一种OLED器件结构及其制备方法,相比于传统的PDL层可以实现两个功能:①阻断OLED器件底部功能层的情况下,保持阴极不断裂,横向电学传输性能完好;②将大视角出射光汇聚为正视角出射光,提高正视角光取出率。
为实现上述效果,本发明提供了一种OLED器件结构,包括驱动基板,位于驱动基板上的作为OLED器件阳极的像素图形化电极;在所述驱动基板和像素图形化电极上依次形成第一PDL层和第二PDL层、第三PDL层、第四PDL层。
优选的是,本发明的像素图形化电极材料为Ti、AL、Ag、ITO、TiN的一种或多种,其厚度在30~200nm之间。优选的是,本发明的第一PDL层厚度为200~500nm。优选的是,本发明的第一PDL层的开口位于图形化电极上,其开口宽度小于电极宽度。
优选的是,本发明的第一PDL层形截面为梯形形状,其底部切角角度在30~50 °之间。
优选的是,本发明的第二PDL层材质为无机物,厚度在5~20nm之间;第三PDL层材质为高反射率金属,厚度在10~50nm之间;第四PDL层材质为高透过率无机物,厚度在10~50nm之间。
优选的是,本发明的第二PDL层、第三PDL层、第四PDL层分别具有2个开口,开口1位于第一PDL层开口上,开口2位于子像素之间的沟道区域。
优选的是,本发明的第一PDL层开口尺寸小于其所在像素的像素图形化电极尺寸,尺寸差异在500~700nm之间;所述第二PDL层、第三PDL层、第四PDL层具有两个开口,开口1尺寸小于第一PDL层开口尺寸,尺寸差异在100~300nm之间,开口2尺寸在300~500nm之间。
优选的是,本发明的第二PDL层、第三PDL层、第四PDL层在开口位置形成的台阶坡度角在80°~100°之间。
一种OLED器件像素定义层结构的制备方法,包括如下步骤:步骤S1:通过光刻及刻蚀工艺在驱动基板上形成像素图形化电极;步骤S2:在像素电极上生长第一PDL层;步骤S3:通过光刻、刻蚀方法形成图形化的第一PDL层;步骤S4:在图形化的第一PDL层上依次生长第二PDL层、第三PDL层、第四PDL层;步骤S5:通过光刻、刻蚀方法形成图形化的第二PDL层、第三PDL层、第四PDL层。
传统PDL只有单层膜层,坡度角通常<50 °且反射率几乎为0,只能在确定OLED器件开口的同时保障OLED器件阴极连接顺畅。本发明一方面通过多层PDL及两次光刻、刻蚀过程实现了两级坡度角的台阶结构,底层大坡度角台阶使得OLED器件底部功能层断裂,上层小坡度角台阶保证阴极不断裂,横向电学传输性能完好,实现不牺牲亮度情况下提升色域;另一方面通过金属材质的第三PDL层,使得PDL具有较高的反射率,结合PDL斜角可将大视角出射光汇聚为正视角出射光,提高正视角光取出率。
附图说明
图1至图7是采用本发明的制备方法各步骤对应得到的OLED器件结构的结构示意图;
图8是本发明阻断OLED底层功能层的效果示意图;
图9是仅具备第一PDL层的器件结构示意图;
图10是本发明实施例一聚光效果示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的结构和制备工艺进行详细说明:一种OLED器件结构,包括驱动基板,位于驱动基板上的作为OLED器件阳极的像素图形化电极;在所述驱动基板和像素图形化电极上依次形成第一PDL层和第二PDL层、第三PDL层、第四PDL层。
本发明的像素图形化电极材料为Ti、AL、Ag、ITO、TiN的一种或多种,其厚度在30~200nm之间。
本发明的第一PDL层厚度为200~500nm。第一PDL层的开口位于图形化电极上,其开口宽度小于电极宽度。第一PDL层形截面为梯形形状,其底部切角角度在30~50°之间。
本发明的第二PDL层材质为无机物,厚度在5~20nm之间;第三PDL层材质为高反射率金属,厚度在10~50nm之间;第四PDL层材质为高透过率无机物,厚度在10~50nm之间。
本发明的第二PDL层、第三PDL层、第四PDL层分别具有2个开口,开口1位于第一PDL层开口上,开口2位于子像素之间的沟道区域。第一PDL层开口尺寸小于其所在像素的像素图形化电极尺寸,尺寸差异在500~700nm之间;所述第二PDL层、第三PDL层、第四PDL层具有两个开口,开口1尺寸小于第一PDL层开口尺寸,尺寸差异在100~300nm之间,开口2尺寸在300~500nm之间。
本发明的第二PDL层、第三PDL层、第四PDL层在开口位置形成的台阶坡度角在80 °~100°之间。
一种OLED器件像素定义层结构的制备方法,包括如下步骤:步骤S1:通过光刻及刻蚀工艺在驱动基板上形成像素图形化电极;步骤S2:在像素电极上生长第一PDL层;步骤S3:通过光刻、刻蚀方法形成图形化的第一PDL层;步骤S4:在图形化的第一PDL层上依次生长第二PDL层、第三PDL层、第四PDL层;步骤S5:通过光刻、刻蚀方法形成图形化的第二PDL层、第三PDL层、第四PDL层。下面结合附图对本发明的OLED器件像素定义层结构及制备方法作更进一步的解释和说明。
实施例
图1至图7是采用本发明的制备方法各步骤对应得到的OLED器件结构的结构示意图。
参考图1,提供具有硅基OLED驱动电路的基板100。110为驱动电路引线结构,负责将驱动电压传导至硅基OLED器件的阳极,120为像素图形化电极,位于所述驱动基板上,为OLED器件阳极。
参考图2,在所述驱动电路基板上生长第一PDL层200,所述第一PDL层材料为无机介质材料,如SIN、SIO等,所述第一PDL层200的厚度在200~500nm之间。
参考图3,通过光刻方法在第一PDL层200上制备第一图形化层205,所述第一图形化层205开口位于子像素上,其开口尺寸小于像素阳极尺寸,尺寸差异在500~700nm之间,所述图形化层材料为光刻胶。
参考图4,通过等离子体刻蚀工艺将第一PDL层200进行图形化,并通过湿法工艺去除光刻胶,形成图形化的第一PDL层201。所述等离子体刻蚀工艺产生的第一PDL层截面为梯形,其斜坡角度在30°~50°之间。
需要说明的是,通过等离子体刻蚀工艺将SIN/SIO膜层刻斜的方法为半导体行业常规工艺,比如使用CF4、O2等气体进行刻蚀,改变CF4/O2气体比例,下电极功率等参数。
参考图5,在第一PDL层201上生长第二PDL层210、第三PDL层220、第四PDL层230,其中第二PDL层210的材质为无机化合物,如:SIN、SIO,厚度在5~20nm之间;第三PDL层材质为高反射率金属,如:Al、Ag,厚度在10~50nm之间;第四PDL层材质为透过率较高的无机化合物,如:SIO,厚度在10~50nm之间。
参考图6,通过光刻方法在第四PDL层230上制备第四图形化层235,所述第四图形化层235具有两个开口,如图6所示:开口1位于子像素上,其开口尺寸小于第一PDL层201的开口尺寸,尺寸差异在100~300nm之间;开口2位于子像素之间的沟道区域,其开口宽度尺寸在300~500nm之间;所述第四图形化层235的材料为光刻胶。
参考图7,通过等离子体刻蚀工艺将第二PDL层210、第三PDL层220、第四PDL层230进行图形化,形成图形化的第二图形化层211、第三图形化层221、第五图形化层231。
针对该刻蚀工艺需要说明的是:在开口1位置,从上往下的膜层材料依次为介质/金属/介质/金属(电极) ,即第四PDL层230/第三PDL层220/第二PDL层210/像素图形化电极120,只需调试金属和介质材质选择比 ,通过3次刻蚀即可将像素图形化电极120上的PDL层去除,且不损伤电极表面。所述金属和介质材质高选择比刻蚀工艺为半导体行业常规工艺,本发明不在赘述。
值得说明的是,本发明的第二PDL层210的材质为无机物,其与第三PDL层刻蚀选择比较大,可作为第三PDL层的刻蚀截止层,进而在第三PDL层刻蚀过程中保护金属材质电极不被刻蚀。
需要进一步说明的,开口2的作用是:第三PDL层220为金属材质导电性很高,且开口1位置刻蚀后其直接和OLED器件膜层接触。开口2通过刻蚀将像素间的第二PDL层210处断开,防止相邻像素间的OLED器件间部分膜层电阻过小形成横向电学串扰参考图7,开口1刻蚀后形成台阶1,通过台阶1可将OLED底层膜层隔断解决横向电学串扰,所述台阶1的斜坡角度在80~100°之间。
图8为台阶1隔断OLED器件底层膜层310的效果示意图。图中320为OLED器件中层膜层,330为OLED器件顶层膜层。由于OLED器件膜层较薄,且为蒸镀法成膜,纵向生长速率远低于横向生长速率,所以在台阶1位置,由于台阶1侧壁角度大,使得OLED器件底层膜层断开。但对于OLED器件顶层膜层而言,由于OLED器件膜厚远厚于台阶1厚度,能够连接顺畅,对电学传输没有影响,所述OLED器件膜厚在300~500nm之间。
图9为常规只具备第一PDL层的器件结构示意图,由于缺乏台阶1的存在,OLED器件底层连接较好,其存在横向电学传输,产生电学串扰。
图10本发明第一实施效果聚光效果示意图,300为OLED器件。由于第三PDL层220为反射率较高的金属材质、且第四PDL层230为透过率较高的无机物,大角度的出射光遇到第三PDL层220时发生反射,出射角度变为接近垂直出射,提高了光取出率。
实现了在阻断OLED器件底部功能层的情况下,保持阴极不断裂,横向电学传输性能完好,从而在不牺牲亮度情况下提升色域;同时也实现了将大视角出射光汇聚为正视角出射光,提高正视角光取出率。

Claims (4)

1.一种OLED器件结构,其特征在于,包括驱动基板,位于驱动基板上的作为OLED器件阳极的像素图形化电极;在所述驱动基板和像素图形化电极上依次形成第一PDL层和第二PDL层、第三PDL层、第四PDL层;所述第一PDL层厚度为200~500nm;所述第一PDL层的开口位于像素图形化电极上,其开口宽度小于电极宽度;所述第一PDL层的截面为梯形形状,其底部切角角度在30~50°之间;所述第二PDL层材质为无机物,厚度在5~20nm之间;第三PDL层材质为高反射率金属,厚度在10~50nm之间;第四PDL层材质为高透过率无机物,厚度在10~50nm之间;
通过多层 PDL 及两次光刻、刻蚀过程实现的两级坡度角的台阶结构,底层大坡度角台阶使得 OLED 器件底部功能层断裂,上层小坡度角台阶保证阴极不断裂;
所述第二PDL层、第三PDL层、第四PDL层所形成的叠层具有2个开口,开口1位于第一PDL层开口上,开口2位于子像素之间的沟道区域;开口 1 刻蚀后形成的台阶 1,台阶 1 的斜坡角度在 80~100°之间;开口 2 通过刻蚀将像素间的第二 PDL 层处断开形成台阶 2。
2.根据权利要求1所述的OLED器件结构,其特征在于,所述像素图形化电极材料为Ti、AL、Ag、ITO、TiN的一种或多种,其厚度在30~200nm之间。
3.根据权利要求1所述的OLED器件结构,其特征在于,所述第一PDL层开口尺寸小于其所在像素的像素图形化电极尺寸,第一PDL层开口尺寸与其所在像素的像素图形化电极尺寸之间的差异在500~700nm之间;开口1尺寸小于第一PDL层开口尺寸,开口1尺寸与第一PDL层开口尺寸之间的差异在100~300nm之间,开口2尺寸在300~500nm之间。
4.一种制备权利要求1-3任一项所述的OLED器件结构的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1:通过光刻及刻蚀工艺在驱动基板上形成像素图形化电极;步骤S2:在像素电极上生长第一PDL层;步骤S3:通过光刻、刻蚀方法形成图形化的第一PDL层;步骤S4:在图形化的第一PDL层上依次生长第二PDL层、第三PDL层、第四PDL层;步骤S5:通过光刻、刻蚀方法形成图形化的第二PDL层、第三PDL层、第四PDL层;通过多层 PDL 及两次光刻、刻蚀过程实现的两级坡度角的台阶结构,底层大坡度角台阶使得 OLED 器件底部功能层断裂,上层小坡度角台阶保证阴极不断裂。
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